一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术涉及蓝宝石晶片加工技术领域，公开了一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，所述左右旋转组件安装在校位组件中校位滑台的平台上方，所述对夹组件安装在左右旋转组件中旋转座的支座上方，所述前后旋转组件以对称形式安装在对夹组件中两组对夹滑台的平台上方。本实用新型专利技术通过利用对夹组件推动前后旋转组件中两组夹臂的对合，能够以机械对夹的方式对蓝宝石晶片进行夹持固定，继而在左右旋转组件的左右传动、前后旋转组件的前后传动，能够对蓝宝石晶片进行左右、上下角度的调节，使其在灯光下进行不同角度的晶片缺陷检测工作，且通过利用校位组件的水平传动，能够控制晶片与灯光的距离，便于检测人员更直观的检测晶片内部缺陷。陷。陷。

【技术实现步骤摘要】
一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置


[0001]本技术涉及蓝宝石晶片加工
，具体是一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置。

技术介绍

[0002]蓝宝石晶体作为一种重要的技术晶体，已被广泛地应用于科学技术、国防与民用工业、电子技术的许多领域，比如透红外窗口材料，微电子领域的衬底基片，激光基质、光学元件及其它用途等。
[0003]而随着蓝宝石产品订单的增加和加工能力的提升，质检的工作量也大大提升，一些晶片的检测还是使用传统办法，检测人员手持晶片在灯光下照射来观察片子是否存在缺陷，该方法检测时间长，效率低，不能满足每天发货要求，且一些特殊缺陷只能通过固定的角度来检测，传统办法检测角度不固定。因此，本领域技术人员提供了一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，包括校位组件、左右旋转组件、对夹组件、前后旋转组件，其中；
[0006]所述左右旋转组件安装在校位组件中校位滑台的平台上方；
[0007]所述对夹组件安装在左右旋转组件中旋转座的支座上方；
[0008]所述前后旋转组件以对称形式安装在对夹组件中两组对夹滑台的平台上方。
[0009]作为本技术再进一步的方案：所述校位组件包括校位导轨，所述校位导轨的轨道内部转动连接有校位丝杆，所述校位丝杆的轴杆端套设有与校位导轨相适配的校位滑台，且校位丝杆的轴杆一端安装有校位手柄。
[0010]作为本技术再进一步的方案：所述左右旋转组件包括安装在校位滑台平台上方的刻度盘，所述刻度盘的圆盘中部安装有输出轴，且刻度盘通过输出轴与旋转座转动连接，所述刻度盘的盘面呈对称形式开设有两组导向滑槽，所述旋转座的支座两侧均安装有贯通导向滑槽的收紧旋钮。
[0011]作为本技术再进一步的方案：所述刻度盘的盘面位于边缘位置处标刻有弧度标识。
[0012]作为本技术再进一步的方案：所述对夹组件包括安装在旋转座支座上方的对夹导轨，所述对夹导轨的轨道中部转动连接有对夹丝杆，所述对夹丝杆的轴杆外侧对称套设有与对夹导轨相适配的两组对夹滑台，且对夹丝杆的轴杆一端安装有对夹手柄。
[0013]作为本技术再进一步的方案：所述对夹丝杆以中线为界，中线的两侧分别设置有相互对称排列的正、反丝牙，所述对夹丝杆通过正、反丝牙与两组对夹滑台对称套接。
[0014]作为本技术再进一步的方案：所述前后旋转组件包括对称安装在两组对夹滑台平台上方的两组支撑立座，两组所述支撑立座的顶部输出端均安装有旋转轴，两组所述旋转轴的对合输出端对称安装有两组夹臂，且两组旋转轴的其中一组输出端安装有旋转手柄。
[0015]与现有技术相比，本技术的有益效果是：
[0016]本技术通过利用对夹组件推动前后旋转组件中两组夹臂的对合，能够以机械对夹的方式对蓝宝石晶片进行夹持固定，继而在左右旋转组件的左右传动、前后旋转组件的前后传动，能够对蓝宝石晶片进行左右、上下角度的调节，使其在灯光下进行不同角度的晶片缺陷检测工作，且通过利用校位组件的水平传动，能够控制晶片与灯光的距离，便于检测人员更直观的检测晶片内部缺陷，其取代了传统人工手持进行检测的方式，检测更为便捷、高效，检测精度更高。
附图说明
[0017]图1为一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置的结构示意图；
[0018]图2为一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置中校位组件的结构示意图；
[0019]图3为一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置中左右旋转组件、对夹组件、前后旋转组件的装配示意图；
[0020]图4为一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置中左右旋转组件的结构示意图。
[0021]图中：1、校位导轨；2、校位手柄；3、校位丝杆；4、刻度盘；5、对夹导轨；6、对夹手柄；7、对夹丝杆；8、对夹滑台；9、支撑立座；10、夹臂；11、校位滑台；12、旋转座；13、导向滑槽；14、收紧旋钮；15、旋转轴；16、旋转手柄；17、输出轴。
具体实施方式
[0022]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0023]请参阅图1～4，本技术实施例中，一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，包括校位组件、左右旋转组件、对夹组件、前后旋转组件，其中，对夹组件安装在左右旋转组件中旋转座12的支座上方，对夹组件包括安装在旋转座12支座上方的对夹导轨5，对夹导轨5的轨道中部转动连接有对夹丝杆7，对夹丝杆7的轴杆外侧对称套设有与对夹导轨5相适配的两组对夹滑台8，且对夹丝杆7的轴杆一端安装有对夹手柄6，对夹丝杆7以中线为界，中线的两侧分别设置有相互对称排列的正、反丝牙，对夹丝杆7通过正、反丝牙与两组对夹滑台8对称套接，在利用辅助装置对蓝宝石晶片进行缺陷检测工作时，将待检测的蓝宝石晶片放置于两组夹臂10之间，而后转动对夹手柄6，带动对夹丝杆7转动，对夹丝杆7在转动过程中，利用其相互对称排列的正、反丝牙，将旋转推力转化为水平推力，推动两组对夹滑台8沿对夹导轨5方向对称滑动，使两组夹臂10对称闭合，对蓝宝石晶片进行对夹固定，以便于对蓝宝石晶片进行机械式检测工作。
[0024]左右旋转组件安装在校位组件中校位滑台11的平台上方，校位组件包括校位导轨
1，校位导轨1的轨道内部转动连接有校位丝杆3，校位丝杆3的轴杆端套设有与校位导轨1相适配的校位滑台11，且校位丝杆3的轴杆一端安装有校位手柄2，在利用辅助装置对蓝宝石晶片进行缺陷检测工作时，当将蓝宝石晶片安装完毕后，工作人员可转动校位手柄2，带动校位丝杆3转动，校位丝杆3在转动过程中，将旋转推力转化为水平推力，推动校位滑台11沿校位导轨1方向水平方向滑动，控制蓝宝石晶片与检测灯光的间距，便于检测人员更直观的检测晶片内部缺陷。
[0025]左右旋转组件包括安装在校位滑台11平台上方的刻度盘4，刻度盘4的圆盘中部安装有输出轴17，且刻度盘4通过输出轴17与旋转座12转动连接，刻度盘4的盘面呈对称形式开设有两组导向滑槽13，旋转座12的支座两侧均安装有贯通导向滑槽13的收紧旋钮14，刻度盘4的盘面位于边缘位置处标刻有弧度标识，在利用辅助装置对蓝宝石晶片进行缺陷检测工作时，当将蓝宝石晶片安装完毕后，利用输出轴17的中转传动，工作人员可推动旋转座12沿刻度盘4旋转，利用刻度盘4上的弧度标识，将蓝宝石晶片左右旋转至一定角度，以便于对蓝宝石晶片进行多角度的缺陷检测工作，继而当发现缺陷时，可通过拧动收紧旋钮14，使其保持收紧状态，对蓝宝石晶片的方位进行固定。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，其特征在于，包括校位组件、左右旋转组件、对夹组件、前后旋转组件，其中；所述左右旋转组件安装在校位组件中校位滑台(11)的平台上方；所述对夹组件安装在左右旋转组件中旋转座(12)的支座上方；所述前后旋转组件以对称形式安装在对夹组件中两组对夹滑台(8)的平台上方。2.根据权利要求1所述的一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，其特征在于，所述校位组件包括校位导轨(1)，所述校位导轨(1)的轨道内部转动连接有校位丝杆(3)，所述校位丝杆(3)的轴杆端套设有与校位导轨(1)相适配的校位滑台(11)，且校位丝杆(3)的轴杆一端安装有校位手柄(2)。3.根据权利要求1所述的一种蓝宝石晶片缺陷检测辅助装置，其特征在于，所述左右旋转组件包括安装在校位滑台(11)平台上方的刻度盘(4)，所述刻度盘(4)的圆盘中部安装有输出轴(17)，且刻度盘(4)通过输出轴(17)与旋转座(12)转动连接，所述刻度盘(4)的盘面呈对称形式开设有两组导向滑槽(13)，所述旋转座(12)的支座两侧均安装有贯通导向滑槽(13)的收紧旋钮(14)。4.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：王亚东，侯绍刚，白玄石，宋旭波，彭存振，魏超，宋繁龙，李大伟，
申请(专利权)人：山东新升光电科技有限责任公司，
类型：新型
国别省市：