间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质及计算机技术方案

本发明专利技术涉及一种间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质及计算机，其特征在于，包括以下步骤：调校步骤：根据操作指令控制测量单元产生位移动作且从第一被测对象位置动作至第二被测对象位置，得到所述测量单元的第一测量信号；通信步骤：获取所述第一测量信号并进行信号转换，得到第二测量信号以完成通信；数据处理步骤：获取所述第二测量信号及其对应的标准测量值，并根据设定约束条件计算得到实际测量值。能够实现单维度或多维度的高精度的测量，达到在精密测量应用环境中增加测量结果的精确度，使得测量过程更快速、准确以及最终的测量结果更精确的技术效果，能够有效避免人工测量或读数产生较大的误差。量或读数产生较大的误差。量或读数产生较大的误差。

【技术实现步骤摘要】
间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质及计算机


[0001]本专利技术涉及工业测量
，更具体地说，涉及一种间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质及计算机。

技术介绍

[0002]在工业现场，长度、厚度、间隙等高精度测量具有非常广泛的应用需求。相关技术中，间隙主要采用单维度测量方式，并且是通过人工读数方式或者数显结构方式来表达最终的测量结果。但是，通过这种测量方式难以实现高精度测量，并且存在测量维度单一(不能实现平面或者空间的高精度测量)、测量数据处理能力简单(无法对数据进行高精度的运算处理)的问题，不能满足复杂测量场景或精细测量场景的测量需求。

技术实现思路

[0003]本专利技术要解决的技术问题在于，提供一种间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质和计算机。
[0004]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：构造一种间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质和计算机。
[0005]在本专利技术所述的间隙数据测量和处理方法实施例中，包括以下步骤：
[0006]调校步骤：根据操作指令控制测量单元产生位移动作且从第一被测对象位置动作至第二被测对象位置，得到所述测量单元的第一测量信号；
[0007]通信步骤：获取所述第一测量信号并进行信号转换，得到第二测量信号以完成通信；
[0008]数据处理步骤：获取所述第二测量信号及其对应的标准测量值，并根据设定约束条件计算得到实际测量值。
[0009]进一步地，所述第一测量信号为物理信号；所述第二测量信号为数字信号；所述数据处理步骤之前包括：
[0010]获取并根据所述第二测量信号解码得到所述第二测量信号的通讯值。
[0011]进一步地，所述数据处理步骤包括：
[0012]获取所述第二测量信号的通讯值，并根据所述通讯值确定对应的标准测量值；
[0013]对所述通讯值以及所述标准测量值重新确立对应关系式，并根据所述对应关系式和所述通讯值计算所述实际测量值。
[0014]进一步地，所述对所述通讯值以及所述标准测量值重新确立对应关系式，并根据所述对应关系式和所述通讯值计算所述实际测量值包括：
[0015]根据所述通讯值、所述标准测量值进行曲线拟合得到拟合曲线，并确立所述对应关系式以及计算所述对应关系式的拟合系数；
[0016]根据所述通讯值和所述拟合系数按照所述对应关系式重新计算，得到实际测量值。
[0017]进一步地，所述计算所述对应关系式的拟合系数包括：
[0018]通过计算所述拟合曲线上的测量值数据与所述标准测量值之间误差的平方和并满足所述平方和最小，计算得出所述对应关系式的拟合系数。
[0019]进一步地，所述对应关系式的公式如下：
[0020]A＝k1B2+k2B+k3[0021]其中，A为所述实际测量值，k1为第一拟合系数、k2为第二拟合系数、k3为第三拟合系数，B为所述第二测量信号的通讯值。
[0022]进一步地，所述数据处理步骤还包括：
[0023]判断所述实际测量值是否满足设定条件；若是，则输出所述实际测量值；若否，重复所述调校步骤，直至所述实际测量值是否满足设定条件的判断结果为是。
[0024]进一步地，所述方法还包括显示步骤：
[0025]获取所述实际测量值并实时显示所述实际测量值；和/或，获取被测对象的图像并实时显示所述图像；和/或，获取并显示所述判断结果。
[0026]在本专利技术所述的间隙数据测量和处理系统实施例中，所述系统用于实现间隙数据测量和处理方法的任一步骤，包括：
[0027]控制单元，用于接收操作指令并产生控制信号；
[0028]测量单元，用于接收所述控制信号产生位移动作并输出第一测量信号；
[0029]通信模块，用于获取所述测量单元的第一测量信号并进行信号转换，得到第二测量信号并完成通信；
[0030]处理模块，用于获取所述第二测量信号并根据设定约束条件计算得到实际测量值。
[0031]进一步地，所述测量单元包括：
[0032]位移装置，用于根据所述控制信号产生位移动作；
[0033]测量装置，用于根据所述位移动作产生所述第一测量信号；
[0034]探测装置，用于探测所述位移装置从第一被测对象位置动作至第二被测对象位置的位置变化；
[0035]其中，所述测量装置与所述通信模块连接，所述探测装置与所述位移装置固定连接。
[0036]进一步地，该系统还包括：与所述数据处理模块连接的显示单元，用于获取并实时显示所述实际测量值；和/或，用于获取并实时显示被测对象的图像；和/或，用于获取并实时显示所述判断结果。
[0037]本专利技术还提供一种存储介质，所述存储介质存储有计算机程序，所述计算机程序适于处理器进行加载，以执行所述的间隙数据测量和处理方法的任一步骤。
[0038]本专利技术还提供一种计算机，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有计算机程序，所述处理器通过调用所述存储器中存储的所述计算机程序，执行所述的间隙数据测量和处理方法的任一步骤。
[0039]实施本专利技术的间隙数据测量和处理方法、系统、存储介质及计算机，具有以下有益效果：面对能够长度、厚度、间隙等复杂、精密测量场景，通过实施调校步骤：根据操作指令控制测量单元产生位移动作且从第一被测对象位置动作至第二被测对象位置，得到所述测
量单元的第一测量信号；能够实现单维度或多维度的测量以及高精度的测量；并通过通信步骤：获取所述第一测量信号并进行信号转换，得到第二测量信号以完成通信；以进行数据处理步骤：获取所述第二测量信号及其对应的标准测量值，并根据设定约束条件计算得到实际测量值。达到对测量的数据进行处理以增加精确度，使得测量过程更快速、准确以及最终的测量结果更精确的技术效果，能够有效避免人工测量或读数产生较大的误差。
附图说明
[0040]下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明，附图中：
[0041]图1是本专利技术实施例提供的间隙数据测量和处理方法的流程图；
[0042]图2是本专利技术实施例提供的间隙数据测量和处理系统的逻辑框图；
[0043]图3为本专利技术实施例提供的间隙数据测量和处理方法的通讯波形示意图；
[0044]图4为本专利技术实施例提供的间隙数据测量和处理方法拟合曲线示意图；
[0045]图5为本专利技术实施例提供的间隙数据测量和处理系统中容栅传感器的系统结构示意图；
[0046]图6为本专利技术实施例提供的三维精密云台的结构示意图；
[0047]图7为本专利技术实施例提供的模拟探测器的结构示意图；
[0048]图8为本专利技术实施例提供的主泵转速传感器安装过程的结构示意图；
[0049]图9为图8的局部放大图。
具体实施方式
[0050]为了对本专利技术的技术特征、目的和效果有更加清楚的理解，现对照附图详细说明本专利技术的具体实施方式。
[0051]如图1所示，图1为本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种间隙数据测量和处理方法，其特征在于，包括以下步骤：调校步骤：根据操作指令控制测量单元产生位移动作且从第一被测对象位置动作至第二被测对象位置，得到所述测量单元的第一测量信号；通信步骤：获取所述第一测量信号并进行信号转换，得到第二测量信号以完成通信；数据处理步骤：获取所述第二测量信号及其对应的标准测量值，并根据设定约束条件计算得到实际测量值。2.根据权利要求1所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述第一测量信号为物理信号；所述第二测量信号为数字信号；所述数据处理步骤之前包括：获取并根据所述第二测量信号解码得到所述第二测量信号的通讯值。3.根据权利要求2所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述数据处理步骤包括：获取所述第二测量信号的通讯值，并根据所述通讯值确定对应的标准测量值；对所述通讯值以及所述标准测量值重新确立对应关系式，并根据所述对应关系式和所述通讯值计算所述实际测量值。4.根据权利要求3所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述对所述通讯值以及所述标准测量值重新确立对应关系式，并根据所述对应关系式和所述通讯值计算所述实际测量值包括：根据所述通讯值、所述标准测量值进行曲线拟合得到拟合曲线，并确立所述对应关系式以及计算所述对应关系式的拟合系数；根据所述通讯值和所述拟合系数按照所述对应关系式重新计算，得到实际测量值。5.根据权利要求4所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述计算所述对应关系式的拟合系数包括：通过计算所述拟合曲线上的测量值数据与所述标准测量值之间误差的平方和并满足所述平方和最小，计算得出所述对应关系式的拟合系数。6.根据权利要求5所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述对应关系式的公式如下：A＝k1B2+k2B+k3，其中，A为所述实际测量值，k1为第一拟合系数、k2为第二拟合系数、k3为第三拟合系数，B为所述第二测量信号的通讯值。7.根据权利要求6所述的间隙数据测量和处理方法，其特征在于，所述数据处理步骤还包括：判...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈永伟，周新星，徐奇林，刘润峰，
申请(专利权)人：中广核核电运营有限公司，
类型：发明
国别省市：