显示面板、显示面板的电阻验证方法以及显示装置制造方法及图纸

本公开提供了显示面板、显示面板的电阻验证方法以及显示装置，其中，该方法包括：在接收到针对显示面板时钟信号走线的电阻调整指令后，确定所述电阻调整指令对应的目标电阻值；基于所述目标电阻值，在所述时钟信号走线对应的预留电阻区中确定镭射点；对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所述目标电阻值,从而无需人工更换电阻器件，并手动焊接，以节省了验证耗时，且不会由于人工焊接导致焊接异常，同时节省了电阻器件的成本。的成本。的成本。

【技术实现步骤摘要】
显示面板、显示面板的电阻验证方法以及显示装置


[0001]本公开涉及显示
，具体而言，涉及显示面板、显示面板的电阻验证方法以及显示装置。

技术介绍

[0002]GOA技术(Gate On Array)即栅极驱动电路制作在array阵列基板，使之能替代外接集成电路板((Integrated Circuit，IC)来完成水平扫描线的驱动。GOA技术能减少外接IC的焊接绑定(bonding)工序，有机会提升产能并降低产品成本，而且可以使显示面板更适合制作窄边框或无边框的显示产品。因此，可以采用GOA技术 将栅极驱动器制作在薄膜晶体管阵列基板上，节省空间及驱动IC的成本。
[0003]然而，在显示面板中，考虑到时钟信号（clock signal，以下简称CK）高低点位切换时间短，其电流相对大，使得产生热量较多，以致显示面板的显示区域的温度超过液晶清亮点，发生液晶极化，即液晶不会在电场的作用下旋转。目前常用的措施是在显示面板的源极驱动板（XB板，水平方向电路板，以下简称X
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Board）上焊接CK电阻，降低电流，从而降低温度。
[0004]考虑到在焊接CK电阻后，既要保证显示面板在高温环境下不出现液晶极化，又能保证低温环境下GOA正常驱动，因此，往往需要验证多组CK电阻，以验证最终采用的CK电阻值。然而，在相关的验证CK电阻的方案中，往往采用人工焊接的方式，以致耗时较长，同时人工焊接会出现焊接异常的状况，并造成电阻器件的成本浪费。

技术实现思路

[0005]本公开实施例至少提供显示面板、显示面板的电阻验证方法以及显示装置。
[0006]第一方面，本公开实施例提供了一种显示面板，包括：显示区与非显示区，其中所述非显示区设置有多条时钟信号走线，其特征在于，所述时钟信号走线的一端，还设置有预留电阻模块，其中，所述预留电阻模块在时钟信号走线沿长方向设置；所述预留电阻模块，将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为目标电阻值。
[0007]第二方面，本公开实施例提供了一种显示面板的电阻验证方法，包括：在接收到针对显示面板时钟信号走线的电阻调整指令后，确定所述电阻调整指令对应的目标电阻值；基于所述目标电阻值，在所述时钟信号走线对应的预留电阻区中确定镭射点；对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所述目标电阻值。
[0008]一种可选的实施方式中，所述对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值，包括：在所述预留电阻区中读取与所述镭射点相匹配的镭射标记；对所述镭射标记的位置进行切断，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所
述目标电阻值。
[0009]一种可选的实施方式中，所述方法还包括：获取多个测试电阻值，并在所述预留电阻区确定各个所述测试电阻值对应的切割点；在所述切割点对应的涂层上设置镭射标记。
[0010]一种可选的实施方式中，所述对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值，还包括：在所述预留电阻区中检测与所述镭射点相匹配的断点位置；对所述断点位置进行镭射处理，连接所述预留电阻区与所述时钟信号走线，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值。
[0011]一种可选的实施方式中，所述时钟信号走线中包括多条信号线路；所述对所述断点位置进行镭射处理，连接所述预留电阻区与所述时钟信号走线，包括：依次对每条信号线路的断点位置进行镭射处理，连接各条信号线路在所述预留电阻区中对应的电阻器件。
[0012]一种可选的实施方式中，所述预留电阻区中包括多个子电阻区；所述基于所述目标电阻值，在所述时钟信号走线对应的预留电阻区中确定镭射点，包括：在所述目标电阻值为多个测试电阻值的和的情况下，确定每个所述测试电阻值对应的目标子电阻区；获取每个所述目标子电阻区对应的断点位置，并基于所述断点位置确定镭射点。
[0013]一种可选的实施方式中，所述方法还包括：获取多个测试电阻值；为每个所述测试电阻值在所述预留电阻区中设置对应的子电阻区。
[0014]一种可选的实施方式中，所述方法还包括：基于所述时钟信号走线的第一位置，确定显示面板中与所述第一位置相邻的第二位置；根据所述第二位置确定所述预留电阻区。
[0015]第三方面，本公开实施例还提供一种显示装置，包括：第一确定单元，用于在接收到针对显示面板时钟信号走线的电阻调整指令后，确定所述电阻调整指令对应的目标电阻值；第二确定单元，用于基于所述目标电阻值，在所述时钟信号走线对应的预留电阻区中确定镭射点；镭射单元，用于对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所述目标电阻值。
[0016]第四方面，本公开实施例还提供一种电子设备，包括：处理器、存储器和总线，所述存储器存储有所述处理器可执行的机器可读指令，当电子设备运行时，所述处理器与所述存储器之间通过总线通信，所述机器可读指令被所述处理器执行时执行上述第一方面，或第一方面中任一种可能的实施方式中的步骤。
[0017]本申请实施例提供的上述技术方案与现有技术相比具有如下优点：本申请实施例提供的该方法，在接收到针对显示面板时钟信号走线的电阻调整指令后，可以确定该电阻调整指令对应的目标电阻值，接下来，可以基于该目标电阻值，在时钟信号走线中的预留电阻区中确定镭射点，并对该镭射点进行镭射处理，以将时钟信号走线的测试电阻值调整为该目标电阻值，从而无需人工更换电阻器件，并手动焊接，以节省了验证耗时，且不会由于人工焊接导致焊接异常，同时节省了电阻器件的成本。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本公开实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，此处的附图被并入说明书中并构成本说明书中的一部分，这些附图示出了符合本公开的实施例，并与说明书一起用于说明本公开的技术方案。应当理解，以下附图仅示出了本公开的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0019]图1示出了本公开实施例所提供的相关技术中一种显示面板结构的示意图；图2a示出了本公开实施例所提供的一种显示面板的架构图；图2b示了本公开实施例所提供的一种显示面板结构的示意图；图3示出了本公开实施例所提供的一种显示面板的电阻验证方法的流程图；图4a示出了本公开实施例所提供的一种预留电阻区的示意图；图4b示出了本公开实施例所提供的另一种预留电阻区的示意图；图5示出了本公开实施例所提供的一种显示面板的电阻验证装置的示意图；图6示出了本公开实施例所提供的一种电子设备的示意图。
[0020]附图标记：显示面板
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100、预留电阻区
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10、时钟信号走线
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20、显示区
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30、COF
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40、X
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board
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50、非显示区60、断点位置1本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示面板，包括显示区与非显示区，其中所述非显示区设置有多条时钟信号走线，其特征在于，所述时钟信号走线的一端，还设置有预留电阻模块，其中，所述预留电阻模块在时钟信号走线沿长方向设置；所述预留电阻模块，将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为目标电阻值。2.一种显示面板的电阻验证方法，其特征在于，包括：在接收到针对显示面板时钟信号走线的电阻调整指令后，确定所述电阻调整指令对应的目标电阻值；基于所述目标电阻值，在所述时钟信号走线对应的预留电阻区中确定镭射点；对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所述目标电阻值。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值，包括：在所述预留电阻区中读取与所述镭射点相匹配的镭射标记；对所述镭射标记的位置进行切断，以将所述时钟信号走线的测试电阻值调整为所述目标电阻值。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获取多个测试电阻值，并在所述预留电阻区确定各个所述测试电阻值对应的切割点；在所述切割点对应的涂层上设置镭射标记。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述镭射点进行镭射处理，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值，还包括：在所述预留电阻区中检测与所述镭射点相匹配的断点位置；对所述断点位置进行镭射处理，连接所述预留电阻区与所述时钟信号走线，以将所述时钟信号走线的测试电阻调整为所述目标电阻值。6.根据权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：卢昭阳，谢俊烽，
申请(专利权)人：惠科股份有限公司，
类型：发明
国别省市：