本申请提供了一种电芯外观检测方法、装置、计算机设备及存储介质，其中，根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度；根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态。采用上述方法，以减少进行电芯外观检测时所需耗费的人力成本，同时提高进行电芯外观检测时的准确性。芯外观检测时的准确性。芯外观检测时的准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种电芯外观检测方法、装置、计算机设备及存储介质
[0001]本专利技术涉及电池质量检测领域，具体而言，涉及一种电芯外观检测方法、装置、计算机设备及存储介质。
技术介绍
[0002]目前，电池的应用越来越广泛，例如手机、笔记本、电动汽车等，形成了一个巨大的产业群。其中，电芯是电池的重要组成部分，是多种形态的电池的中间产品，通过pack工序可以组装成不同规格的电池，例如电动自行车用电池、电动轿车用电池等。
[0003]在电芯生产出来后，很多品质问题在电芯的外观上有体现，所以在电芯的生产工艺中，最后对电芯的外观检测是控制电芯品质的一个重要手段。目前，该检测工序全部是采用人工检测，这样增加了进行电芯外观检测时所需耗费的人力成本；同时，由于人工检测是主观性的活动，比如检测人员个体差异、检测环境的差异等，常常给电芯的外观质检带来波动和较大的不确定性，从而降低了进行电芯外观检测时的准确性。
技术实现思路
[0004]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种电芯外观检测方法、装置、计算机设备及存储介质，以减少进行电芯外观检测时所需耗费的人力成本，同时提高进行电芯外观检测时的准确性。
[0005]第一方面，本申请实施例提供了一种电芯外观检测方法，所述方法包括：
[0006]根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度；
[0007]根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态。
[0008]可选地，在根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度前，所述方法包括：
[0009]根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度，以及预先配置的标准凹陷面积、标准凹陷深度和标准凹陷梯度，确定出每个所述历史电芯样本的实际外观状态。
[0010]可选地，所述根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度，包括：
[0011]对于每个历史电芯样本，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷深度生成深度坐标点，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷梯度生成梯度坐标点；
[0012]根据每个所述历史电芯样本的深度坐标点构建深度坐标系，根据每个所述历史电
芯样本的梯度构建梯度坐标系；
[0013]基于每个所述历史电芯样本的实际外观状态，分别确定出所述深度坐标系中的第一最优分类直线，以及所述梯度坐标系中的第二最优分类直线；
[0014]根据所述第一最优分类直线与所述深度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷深度和第一凹陷面积，根据所述第二最优分类直线与所述梯度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷梯度和第二凹陷面积；
[0015]根据所述第一凹陷面积和所述第二凹陷面积确定出所述最优凹陷面积，其中，最优凹陷面积为满足以所述第一凹陷面积和所述第二凹陷面积所构成的面积区间内的凹陷面积。
[0016]可选地，所述根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态，包括：
[0017]判断所述待检测电芯的实际凹陷面积是否满足所述最优凹陷面积；
[0018]若所述待检测电芯的实际凹陷面积不满足所述最优凹陷面积，则将所述待检测电芯的外观状态确定为异常。
[0019]可选地，在判断所述待检测电芯的实际凹陷面积是否满足所述最优凹陷面积后，所述方法还包括：
[0020]若所述待检测电芯的实际凹陷面积满足所述最优凹陷面积，则判断所述待检测电芯的实际凹陷深度是否未超过所述最优凹陷深度，且所述实际凹陷梯度是否未超过最优凹陷梯度；
[0021]若所述待检测电芯的实际凹陷深度未超过所述最优凹陷深度，且所述实际凹陷梯度未超过最优凹陷梯度，则将所述待检测电芯的外观状态确定为正常。
[0022]可选地，在判断所述待检测电芯的实际凹陷深度是否未超过所述最优凹陷深度，且所述实际凹陷梯度是否未超过最优凹陷梯度后，所述方法还包括：
[0023]若所述待检测电芯的实际凹陷深度超过所述最优凹陷深度，或所述实际凹陷梯度超过最优凹陷梯度，则将所述待检测电芯的外观状态确定为异常。
[0024]第二方面，本申请实施例提供了一种电芯外观检测装置，所述装置包括：
[0025]最优凹陷参数确定模块，用于根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度；
[0026]电芯状态确定模块，用于根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态。
[0027]可选地，所述装置还包括：
[0028]历史状态确定模块，用于在所述最优凹陷参数确定模块根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度前，根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度，以及预先配置的标准凹陷面积、标准凹陷深度和标准凹陷梯度，确定出每个所述历史电芯样本的实际外观状
态。
[0029]可选地，所述最优凹陷参数确定模块在用于根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度时，具体用于：
[0030]对于每个历史电芯样本，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷深度生成深度坐标点，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷梯度生成梯度坐标点；
[0031]根据每个所述历史电芯样本的深度坐标点构建深度坐标系，根据每个所述历史电芯样本的梯度构建梯度坐标系；
[0032]基于每个所述历史电芯样本的实际外观状态，分别确定出所述深度坐标系中的第一最优分类直线，以及所述梯度坐标系中的第二最优分类直线；
[0033]根据所述第一最优分类直线与所述深度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷深度和第一凹陷面积，根据所述第二最优分类直线与所述梯度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷梯度和第二凹陷面积；
[0034]根据所述第一凹陷面积和所述第二凹陷面积确定出所述最优凹陷面积，其中，最优凹陷面本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种电芯外观检测方法，其特征在于，所述方法包括：根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度；根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度前，所述方法包括：根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度，以及预先配置的标准凹陷面积、标准凹陷深度和标准凹陷梯度，确定出每个所述历史电芯样本的实际外观状态。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据每个历史电芯样本的实际凹陷面积分别与实际凹陷深度、实际凹陷梯度的映射关系，以及每个所述历史电芯样本的实际外观状态，确定出电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度，包括：对于每个历史电芯样本，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷深度生成深度坐标点，根据该历史电芯样本的实际凹陷面积和实际凹陷梯度生成梯度坐标点；根据每个所述历史电芯样本的深度坐标点构建深度坐标系，根据每个所述历史电芯样本的梯度构建梯度坐标系；基于每个所述历史电芯样本的实际外观状态，分别确定出所述深度坐标系中的第一最优分类直线，以及所述梯度坐标系中的第二最优分类直线；根据所述第一最优分类直线与所述深度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷深度和第一凹陷面积，根据所述第二最优分类直线与所述梯度坐标系的坐标轴的交点确定出所述最优凹陷梯度和第二凹陷面积；根据所述第一凹陷面积和所述第二凹陷面积确定出所述最优凹陷面积，其中，最优凹陷面积为满足以所述第一凹陷面积和所述第二凹陷面积所构成的面积区间内的凹陷面积。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据电芯样本的最优凹陷面积、最优凹陷深度和最优凹陷梯度与待检测电芯的实际凹陷面积、实际凹陷深度和实际凹陷梯度确定出所述待检测电芯的外观状态，包括：判断所述待检测电芯的实际凹陷面积是否满足所述最优凹陷面积；若所述待检测电芯的实际凹陷面积不满足所述最优凹陷面积，则将所述待检测电芯的外观状态确...
【专利技术属性】
技术研发人员：请求不公布姓名，
申请(专利权)人：广东利元亨智能装备股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。