本申请公开了一种触摸屏校准参数的获取方法及装置，应用于电子信息领域，该方法包括：在液晶显示屏ＬＣＤ上显示预先设定的至少两个校准参考点；获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐标，并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点；若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重合，则调整所述采样点与对应的校准参考点之间的距离，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差，应用所述最小偏差更新所述校准参数。应用申请公开的方法和装置提高用户在校准时的使用体验，帮助用户获得更精确的校准参数。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子信息
，尤其涉及一种触摸屏校准参数的获取方法及装置。
技术介绍
现有技术中大部分终端交互设备都配有触摸屏，以向用户提供方便快捷的输入方 式。按照触摸屏的工作原理和传输信息的介质，可把触摸屏分成四种，它们是电阻式触摸 屏、红外线触摸屏和电容感应式触摸屏以及表面声波式触摸屏。 现在应用最多的还是电阻式触摸屏，其表面由两层涂满导电介质的透明材料组成 (0TI，氧化铟)，当触摸屏受到压力时所述两层透明材料导通，触摸屏控制芯片通过扫描触 摸屏的XY轴来获取受压点的电位，再进行A/D转换后得到通常所述的物理坐标，然后根据 触摸点X/Y轴的电位与对应位置的LCD点坐标的XY轴的比例关系，将触摸屏上经过A/D转 换后的电位值转化为LCD上的坐标点(即通常所说的逻辑坐标)。 一般情况下，即便是同一 款触摸屏，各触摸点之间的阻值也会不同的，而且随着使用时间的增加，触摸屏本身的阻值 也会发生变化，为了不影响触摸屏使用的精确度和灵敏度，校准参数也必须做相应修改。 目前采用的校准方法是，先在LCD上显示几个点，然后用户在触摸屏上点 击这几个点，程序根据LCD上显示的点和用户点击的点来计算新的校准参数。专利 CN200810149571. 6 "—种触摸屏校准参数的确定方法及其装置"，在程序中加入判断的机 制，给定用户点击的点一个范围，如果这个坐标点和显示在LCD上的点在这个范围内的话， 就认为该点是有效的。该方法过程是对传统的方法的改进，但实质还是多次对不同的单个 点进行操作，来完成校准。
技术实现思路
本专利技术实施例提供一种触摸屏校准参数的获取方法及装置，用于提供一种基于用户输入的触摸屏校准方法，提高校准参数的精确度。 本专利技术实施例提供一种触摸屏校准参数获取方法，包括 在液晶显示屏LCD上显示预先设定的至少两个校准参考点； 获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐标，并根据 该物理坐标和校准参数显示所述采样点； 若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重合，则调整所述采样点与对应的校 准参考点之间的距离，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差，应用所 述最小偏差更新所述校准参数。 当所述校准参考点为多个时，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最 小偏差包括 获取每个校准参考点与对应的采样点的距离，并确定各校准参考点与对应的采样 点的距离之和的最小值，将该最小值作为采样点与校准参考点的最小偏差。 当所述校准参考点为两个时，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最 小偏差包括 确定两个校准参考点与两个采样点在同一直线上； 获取第一校准参考点与对应的第一采样点的第一距离和第二校准参考点与对应的第二采样点的第二距离，将第一距离与第二距离的最小和作为最小偏差。根据上述方法本法专利技术实施例还提供一种触摸屏校准参数获取装置，包括 采样点显示模块，用于在液晶显示屏LCD上显示预先设定的至少两个校准参考点，获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐标，并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点； 校准参数确定模块，用于若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重合，则调 整所述采样点与对应的校准参考点之间的距离，确定被调整后的各采样点与对应的校准参 考点的最小偏差，应用所述最小偏差更新所述校准参数。 当所述校准参考点为两个时，所述校准参数确定模块确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差具体为 确定校准参考点与采样点在同一直线上； 获取第一校准参考点与对应的第一采样点的第一距离和第二校准参考点与对应的第二采样点的第二距离，将第一距离与第二距离和的最小值作为最小偏差。 当所述校准参考点为多个时，所述校准参数确定模块确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差具体为 获取每个校准参考点与对应的采样点的距离，并确定各校准参考点与对应的采样点的距离之和的最小值，将该最小值作为采样点与校准参考点的最小偏差。 应用本专利技术实施例提供的方法和装置，无需多次对不同的单个点进行操作来校准，可以直接通过一次对一组点进行操作，来完成校准。提高用户在校准时的使用体验，帮助用户获得更精确的校准参数。附图说明 图1为本专利技术实施例一种触摸屏校准参数获取方法的流程图； 图2为本专利技术实施例中校准参考点为两个时的模拟示意图； 图3为本专利技术实施例中校准参考点为两个，在进行采样点调整后的模拟示意图； 图4为本专利技术实施例中校准参考点为三个时模拟示意图； 图5为本专利技术实施例中没有校准偏差时的模拟示意图； 图6为本专利技术实施例中校准参考点为三个时，进行采样点调整后的模拟示意图； 图7为本专利技术实施例一种触摸屏校准参数获取装置的结构图。具体实施例方式本专利技术实施例中一种触摸屏校准参数获取方法，在液晶显示屏LCD上显示预先设 定的至少两个校准参考点；获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的 物理坐标，并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点；若确定显示的采样点与对应的 校准参考点不重合，则调整所述采样点与对应的校准参考点之间的距离，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差，应用所述最小偏差更新所述校准参数。 下面结合说明书附图对本专利技术的具体实施方式进行详细说明。如图1所示，本专利技术实施例一种触摸屏校准参数获取方法，具体的实施步骤包括 步骤101，在液晶显示屏LCD上显示预先设定的至少两个校准参考点； 该校准参考点是坐标固定的一组点，当用户校准触摸屏时，则在LCD平上显示这一组校准参考点，设为A组。 步骤102，获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐 标，并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点； 其中，所述校准参数为LCD与触摸屏之间相对位置的比例关系，即LCD显示的逻辑 坐标与触摸屏被点击位置的物理坐标之间的比例关系； 当用户在触摸屏上点击所述校准参考点的相应位置时，获取触摸屏上校准参考点 的相应位置被点击所得到的物理坐标，并根据校准参数，确定所述物理坐标与LCD对应位 置坐标的比例关系，将所述物理坐标值转化为LCD上的逻辑坐标，根据该逻辑坐标显示所 述采样点，将该组采样点设为B组。 步骤103，若显示的采样点与对应的校准参考点不重合，则调整所述校准参考点与 对应的校准参考点的距离，并确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差， 并将该最小偏差更新所述校准参数。 判断采样点与所述校准参考点是否重合的方法有多种，在本专利技术实施例中可通过 判断采样点的逻辑坐标与校准参考点的逻辑坐标是否相同来，确定采样点是否与校准参考 点重合，如果不相同，则不重合。 可以通过上下左右平移XY坐标，或者旋转B组点的其中一个点的方式，使B组点 和A组点的相对位置最小。 调整B组点时，可通过使用触摸屏、按键操作或直接输入调整参数的方式来实现， 但是在本专利技术实施例中并不局限于上述几种方式，只要是能够实现调整B组点的任何方式 都可应用到本专利技术实施例中。 在本专利技术实施例中，用户可以多次调整B组点直到A、B两组点之间的距离最小，用 户调整B组点的过程中，根据显示屏输入的数据来计算新的参数，然后与保存的参数比较， 选择最优的参数作为用户下次输入的校准参数。 在本专利技术实施例中所述校准本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触摸屏校准参数获取方法，其特征在于，包括：在液晶显示屏ＬＣＤ上显示预先设定的至少两个校准参考点；获取触摸屏上校准参考点的对应位置被点击所得到的采样点的物理坐标，并根据该物理坐标和校准参数显示所述采样点；若确定显示的采样点与对应的校准参考点不重合，则调整所述采样点与对应的校准参考点之间的距离，确定被调整后的各采样点与对应的校准参考点的最小偏差，应用所述最小偏差更新所述校准参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：卢凯，谢军，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]
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