基于飞行时间的深度测量方法、装置、存储介质及电子设备制造方法及图纸

本申请公开了一种基于飞行时间的深度测量方法、装置、存储介质及电子设备，其中，该基于飞行时间的深度测量方法包括当接收到深度测量指令时，采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围；获取与深度范围相对应的延迟信息；根据延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理；利用延迟处理后的第二测量光脉冲对目标物体进行深度测量，得到目标物体的深度信息。本方案可以提高深度测量的精准度。方案可以提高深度测量的精准度。方案可以提高深度测量的精准度。

【技术实现步骤摘要】
基于飞行时间的深度测量方法、装置、存储介质及电子设备


[0001]本申请涉及距离传感
，具体涉及一种基于飞行时间的深度测量方法、装置、存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]飞行时间(Time of Flight，ToF)深度测量装置是通过计算光束从被发射到经目标目标物体反射被接收的时间差或相位差来计算目标目标物体的距离，以获得目标目标物体的深度信息。
[0003]传统的ToF深度测量装置通常包含一个发射光源以及深度相机，光源向目标空间发射光束以提供照明，深度相机则对反射回光束进行成像，深度测量装置通过计算光束由发射到反射接收所需要的时间来计算目标物体的距离，其中间接TOF(iTOF)在工艺和产业链上较为成熟而广泛应用，iTOF传感器通过接收返回的调制光信号并进行时域差分解调来计算深度。
[0004]然而，在利用iToF深度测量装置进行深度测量时，现实中的复杂场景会影响测量的精准度，比如当测量的深度量程较大时会出现反射光多路径干扰问题，将很难分辨出多次反射的光束的从而影响物体的测量精度。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种基于飞行时间的深度测量方法、装置、存储介质及电子设备，可以提高深度测量的精准度。
[0006]第一方面，本申请提供了一种基于飞行时间的深度测量方法，包括：
[0007]当接收到深度测量指令时，采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围；
[0008]获取与所述深度范围相对应的延迟信息；
[0009]根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理；
[0010]利用所述延迟处理后的所述第二测量光脉冲对所述目标物体进行深度测量，得到所述目标物体的深度信息。
[0011]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量方法中，所述获取与所述深度范围相对应的延迟信息，包括：
[0012]将所述深度范围输入至预设匹配固件中进行匹配，得到与所述深度范围相对应的延迟信息。
[0013]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量方法中，在所述将所述深度范围输入至预设匹配固件中进行匹配，得到与所述深度范围相对应的延迟信息之前，还包括：
[0014]构建预设匹配固件。
[0015]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量方法中，所述构建预设匹配固件，包括：
[0016]获取若干TOF传感器的测量参数和所述第二测量光脉冲的深度量程；
[0017]基于所述测量参数和所述深度量程进行计算，得到所述第二测量光脉冲在不同距
离区间所需的延迟信息；
[0018]根据所述距离区间和所述延迟信息构建关系映射表，并基于所述关系映射表生成所述预设匹配固件。
[0019]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量方法中，所述延迟信息为移相数，所述根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理，包括：
[0020]利用所述移相数对所述第二测量光脉冲进行移相处理，使所述第二测量光脉冲的深度量程后移，以将所述深度量程调整至大于或等于所述深度范围。
[0021]第二方面，本申请提供了一种基于飞行时间的深度测量装置，包括：
[0022]接收单元，用于当接收到深度测量指令时，采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围；
[0023]获取单元，用于获取与所述深度范围相对应的延迟信息；
[0024]延迟单元，用于根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理；
[0025]测量单元，用于利用所述延迟处理后的所述第二测量光脉冲对所述目标物体进行深度测量，得到所述目标物体的深度信息。
[0026]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量装置中，所述获取单元用于：
[0027]将所述深度范围输入至预设匹配固件中进行匹配，得到与所述深度范围相对应的延迟信息。
[0028]在本申请提供的基于飞行时间的深度测量装置中，还包括构建单元，所述构建单元用于构建所述预设匹配固件。
[0029]第三方面，本申请提供了一种存储介质，所述存储介质存储有多条指令，所述指令适于处理器进行加载，以执行上述任一项所述的基于飞行时间的深度测量方法。
[0030]第四方面，本申请提供了一种电子设备，包括存储器，处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，其中，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项所述的基于飞行时间的深度测量方法。
[0031]综上，本申请提供的基于飞行时间的深度测量方法采用当接收到深度测量指令时，采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围；获取与所述深度范围相对应的延迟信息；根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理；利用所述延迟处理后的所述第二测量光脉冲对所述目标物体进行深度测量，得到所述目标物体的深度信息。本方案通过采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围，之后再根据该深度范围对第二测量光脉冲进行延迟处理，使得可以采用延迟处理后的第二测量光脉冲对目标物体进行深度测量，从而得到目标物体的深度信息，进而提高深度测量的精准度。
附图说明
[0032]为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0033]图1是本申请实施例提供的基于飞行时间的深度测量方法的流程示意图。
[0034]图2是本申请实施例提供的迭代处理方法的流程示意图。
[0035]图3是本申请实施例提供的基于飞行时间的深度测量装置的结构示意图。
[0036]图4是本申请实施例提供的基于飞行时间的深度测量装置的另一结构示意图。
[0037]图5是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0038]这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本申请相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本申请的一些方面相一致的装置和方法的例子。
[0039]需要说明的是，在本文中，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者装置不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者装置所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个
……”
限定的要素，并不排除在包括该要素的过程、方法、物品或者装置中还存在另外的相同要素，此外，本申请不同实施例中具有同样命名的部件、特征、要素可能具有相同含义，也可能具有不同含义，其具体含义需以其在该具体实施例中的解释或者进一步结合该具体实施例中上下文进行确定。
[0040]应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于飞行时间的深度测量方法，其特征在于，包括：当接收到深度测量指令时，采用第一测量光脉冲确定目标物体的深度范围；获取与所述深度范围相对应的延迟信息；根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理；利用所述延迟处理后的所述第二测量光脉冲对所述目标物体进行深度测量，得到所述目标物体的深度信息。2.如权利要求1所述的基于飞行时间的深度测量方法，其特征在于，所述获取与所述深度范围相对应的延迟信息，包括：将所述深度范围输入至预设匹配固件中进行匹配，得到与所述深度范围相对应的延迟信息。3.如权利要求2所述的基于飞行时间的深度测量方法，其特征在于，在所述将所述深度范围输入至预设匹配固件中进行匹配，得到与所述深度范围相对应的延迟信息之前，还包括：构建预设匹配固件。4.如权利要求3所述的基于飞行时间的深度测量方法，其特征在于，所述构建预设匹配固件，包括：获取若干TOF传感器的测量参数和所述第二测量光脉冲的深度量程；基于所述测量参数和所述深度量程进行计算，得到所述第二测量光脉冲在不同距离区间所需的延迟信息；根据所述距离区间和所述延迟信息构建关系映射表，并基于所述关系映射表生成所述预设匹配固件。5.如权利要求1
‑
4任一项所述的基于飞行时间的深度测量方法，其特征在于，所述延迟信息为移相数，所述根据所述延迟信息对第二测量光脉冲进行延迟处理，包括：利用...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙超，韩海滨，丁浩，莫俊，
申请(专利权)人：炬佑智能科技苏州有限公司，
类型：发明
国别省市：