芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术提出了一种芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质，应用于编辑屏幕和待使用屏幕，编辑屏幕与待使用屏幕相连接，编辑屏幕显示指标界面和画布界面，指标界面有测试指标类别工具，画布界面的长宽比与待使用屏幕的长宽比相同，方法包括：导入测试芯片文件到编辑屏幕，响应于对测试指标类别工具的第一操作指令在画布界面中生成测试指标类别控件并获取测试芯片文件对应的测试图像；对测试指标类别控件进行位置调整；对测试图像进行尺寸调整处理；将测试指标类别控件的区域位置映射到待使用屏幕中得到目标区域；显示测试图像到目标区域。使得测试指标能自动、清晰地显示到多个屏幕中，提高显示测试指标的效率。提高显示测试指标的效率。提高显示测试指标的效率。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质


[0001]本专利技术涉及芯片测试界面显示
，特别涉及一种芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质。

技术介绍

[0002]当前人们通过将芯片测试指标显示在屏幕上，对其进行观察。但是在需要对多个测试指标进行观察的时候，需要用户人为移动测试指标对应的界面到不同的屏幕，并对其进行位置调整，放大缩小的操作，使得多个测试指标界面能同时并清晰地呈现在屏幕上，操作流程复杂，使用效率低。

技术实现思路

[0003]本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本专利技术提出芯片测试界面显示方法、装置、设备、存储介质。以使得测试指标能自动、清晰地显示到多个屏幕中，提高显示测试指标的效率。
[0004]第一方面，本专利技术实施例提供了一种芯片测试界面显示方法，应用于编辑屏幕和多个待使用屏幕，所述编辑屏幕分别与多个所述待使用屏幕相连接，所述编辑屏幕显示有指标界面和画布界面，所述指标界面包括多个测试指标类别工具，所述画布界面的长宽比与所述待使用屏幕的长宽比相同，所述方法包括：
[0005]导入测试芯片文件到所述编辑屏幕，响应于对所述测试指标类别工具的第一操作指令，在所述画布界面中生成对应的测试指标类别控件，并获取所述测试芯片文件对应的测试图像；
[0006]通过预设的布局模板对所述测试指标类别控件进行位置调整；
[0007]根据预设的调整比例对所述测试图像进行尺寸调整处理；
[0008]获取所述测试指标类别控件在所述画布界面中的区域位置，根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域；
[0009]显示所述测试图像到所述目标区域。
[0010]根据本专利技术的一些实施例，所述通过预设的布局模板对所述测试指标类别控件进行位置调整，还包括：
[0011]响应于对所述编辑屏幕中可选模板的第二操作指令，确定所述布局模板；
[0012]将所述布局模板中的所述测试指标类别控件与所述画布界面中的所述测试指标类别控件进行类别匹配；
[0013]根据匹配结果对所述画布界面中的所述测试指标类别控件进行尺寸调整，并将所述测试指标类别控件移动到对应的位置上；
[0014]获取所述测试指标类别控件的中心点在所述画布界面中的坐标，将坐标确定为所述区域位置，其中，以所述画布界面的右下角作为坐标原点。
[0015]根据本专利技术的一些实施例，所述可选模板的生成方法包括：
[0016]响应于对所述测试指标类别控件的第三操作指令，对所述测试指标类别控件的位置进行调整；
[0017]对所述测试指标类别控件进行尺寸调整；
[0018]响应于对所述画布界面的第四操作指令，将所述测试指标类别控件的布局保存为所述可选模板。
[0019]根据本专利技术的一些实施例，所述获取所述测试指标类别控件在所述画布界面中的区域位置，根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域，包括：
[0020]获取尺寸调整处理后的所述测试图像的图像长度和图像宽度；
[0021]比较所述图像长度与所述待使用屏幕的长度并向上取整得到第一比值，比较所述图像宽度与所述待使用屏幕的宽度并向上取整得到第二比值；
[0022]根据所述第一比值和所述第二比值之间的乘积确定需要唤醒的所述待使用屏幕的个数；
[0023]根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域。
[0024]根据本专利技术的一些实施例，所述指标界面中包括有导入工具和导出工具，所述测试指标类别工具中预设有数据转换规则，所述数据转换规则用于将数据转换为图像，所述导入测试芯片文件到所述编辑屏幕，响应于对所述测试指标类别工具的第一操作指令，在所述画布界面中生成对应的测试指标类别控件，并获取所述测试芯片文件对应的测试图像，包括：
[0025]响应于对所述导入工具的点击操作，导入所述测试芯片文件到所述导入工具；
[0026]响应于对所述测试指标类别工具的选择操作，通过所述数据转换规则将所述测试芯片文件中的测试数据转换为所述测试图像。
[0027]根据本专利技术的一些实施例，右下角的所述待使用屏幕的屏幕右下角设置有视频采集装置，所述芯片测试界面显示方法还包括：
[0028]从所述视频采集装置中获取采集到的用户的面部信息；
[0029]对所述面部信息进行视线跟踪分析得到视线停留位置和视线停留时长；
[0030]当所述视线停留时长大于预设的时长阈值，则获取并放大所述视线停留位置对应的所述待使用屏幕中的图像信息。
[0031]根据本专利技术的一些实施例，确定所述视线停留位置对应的所述待使用屏幕的方法，包括：
[0032]将所述视频采集装置的位置确定为坐标原点，将所述待使用屏幕的屏幕中心的坐标确定为中心坐标；
[0033]分别获取所述视线停留位置与多个所述待使用屏幕对应的所述中心坐标的位置距离及方位信息；
[0034]对所述方位信息和所述位置距离进行计算，确定所述视线停留位置对应的所述待使用屏幕。
[0035]第二方面，本专利技术实施例提供了一种芯片测试界面显示装置，包括少一个控制处
理器和用于与所述至少一个控制处理器通信连接的存储器；所述存储器存储有可被所述至少一个控制处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个控制处理器执行，以使所述至少一个控制处理器能够执行如上述第一方面所述的芯片测试界面显示方法。
[0036]第三方面，本专利技术实施例提供了一种电子设备，包括有如上述第二方面所述的芯片测试界面显示装置。
[0037]第四方面，本专利技术实施例提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于执行如上述第一方面所述的芯片测试界面显示方法。
[0038]根据本专利技术实施例的芯片测试界面显示方法，至少具有如下有益效果：应用于编辑屏幕和多个待使用屏幕，所述编辑屏幕分别与多个所述待使用屏幕相连接，所述编辑屏幕显示有指标界面和画布界面，所述指标界面包括多个测试指标类别工具，所述画布界面的长宽比与所述待使用屏幕的长宽比相同。通过导入测试芯片文件到所述编辑屏幕确定需要查看的芯片，响应于对所述测试指标类别工具的第一操作指令，在所述画布界面中生成对应的测试指标类别控件，并获取所述测试芯片文件对应的测试图像；通过预设的布局模板对所述测试指标类别控件进行位置调整；用户只需要对需要查看的测试指标对应的测试指标类别工具进行选择，就能自动获取对应的测试图像，并自动完成对对应测试指标类别控件的布局。根据预设的调整比例对所述测试图像进行尺寸调整处理；获取所述测试指标类别控件在所述画布界面中的区域位置，根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域；显示所述测试图像到所述目标区域。自动对测试图像的尺寸本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试界面显示方法，其特征在于，应用于编辑屏幕和多个待使用屏幕，所述编辑屏幕分别与多个所述待使用屏幕相连接，所述编辑屏幕显示有指标界面和画布界面，所述指标界面包括多个测试指标类别工具，所述画布界面的长宽比与所述待使用屏幕的长宽比相同，所述方法包括：导入测试芯片文件到所述编辑屏幕，响应于对所述测试指标类别工具的第一操作指令，在所述画布界面中生成对应的测试指标类别控件，并获取所述测试芯片文件对应的测试图像；通过预设的布局模板对所述测试指标类别控件进行位置调整；根据预设的调整比例对所述测试图像进行尺寸调整处理；获取所述测试指标类别控件在所述画布界面中的区域位置，根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域；显示所述测试图像到所述目标区域。2.根据权利要求1所述的芯片测试界面显示方法，其特征在于，所述通过预设的布局模板对所述测试指标类别控件进行位置调整，还包括：响应于对所述编辑屏幕中可选模板的第二操作指令，确定所述布局模板；将所述布局模板中的所述测试指标类别控件与所述画布界面中的所述测试指标类别控件进行类别匹配；根据匹配结果对所述画布界面中的所述测试指标类别控件进行尺寸调整，并将所述测试指标类别控件移动到对应的位置上；获取所述测试指标类别控件的中心点在所述画布界面中的坐标，将坐标确定为所述区域位置，其中，以所述画布界面的右下角作为坐标原点。3.根据权利要求2所述的芯片测试界面显示方法，其特征在于，所述可选模板的生成方法包括：响应于对所述测试指标类别控件的第三操作指令，对所述测试指标类别控件的位置进行调整；对所述测试指标类别控件进行尺寸调整；响应于对所述画布界面的第四操作指令，将所述测试指标类别控件的布局保存为所述可选模板。4.根据权利要求1所述的芯片测试界面显示方法，其特征在于，所述获取所述测试指标类别控件在所述画布界面中的区域位置，根据所述待使用屏幕与所述画布界面的面积比值关系，将所述区域位置映射到所述待使用屏幕中，得到目标区域，包括：获取尺寸调整处理后的所述测试图像的图像长度和图像宽度；比较所述图像长度与所述待使用屏幕的长度并向上取整得到第一比值，比较所述图像宽度与所述待使用屏幕的宽度并向上取整得到第二比值；根据所述第一比值和所述第二比值之间的乘积...

【专利技术属性】
技术研发人员：郑鑫，
申请(专利权)人：深圳市晶存科技有限公司，
类型：发明
国别省市：