样本盘使用方法技术

本发明专利技术公开了一种样本盘使用方法，在提出样本检测申请时，可以采用位置主体模式和样本架主体模式；其中，位置主体模式如传统的检测方式将样本架固定在仪器圆盘内，用户通过以样本位编号构成的样本位置向检测系统提出样本测试申请；样本架主体模式则使圆弧形卡槽内的样本架可更换，用户通过样本架编号和样本位编号构成的样本位置向检测系统提出样本测试申请，在样本测试申请后，将整个样本架装载到任意圆弧形卡槽内，在卸载样本架后，则释放样本架中的所有样本位置，使用更加灵活多变，且样本架的数量可以根据实际需求设置，从而可以使实际的物理样本位置数量增加，能够有效简化操作。作。作。

【技术实现步骤摘要】
样本盘使用方法


[0001]本专利技术属于体外诊断
，具体的为一种样本盘使用方法。

技术介绍

[0002]市面上的样本盘多为固定式结构，即样本盘不可拆卸，不可取出，且样本、质控液、定标液大多只能放置在样本盘上的指定位置，使用灵活性较差。固定结构的样本盘无法从物理上增加样本位置的数量，只能通过在软件控制系统中设置虚拟盘的方式增加更多的样本位置，纵使虚拟盘(在软件上构建了多个样本盘，多个样本位置)的使用提供了更多可进行样本检测申请的位置，但实际上仍需要卸载已测试的样本后再装载待测样本，实质可支配样本位置没有增加，且操作仍旧繁琐。

技术实现思路

[0003]有鉴于此，本专利技术的目的在于提供一种样本盘使用方法，可选择不同的模式进行样本检测，具有使用灵活的优点，且能够从物理上增加样本位置的数量。
[0004]为达到上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0005]一种样本盘使用方法，所述样本盘包括仪器圆盘和样本架，所述仪器圆盘上间隔设有多个圆弧形卡槽，所有的所述圆弧形卡槽同轴；所述样本架为与所述圆弧形卡槽配合的圆弧形结构，所述样本架上设有多个用于放置样本管的样本位，所述使用方法包括以所述圆弧形卡槽为基准的位置主体模式和以样本架为基准的样本架主体模式；
[0006]位置主体模式中：
[0007]在所述圆弧形卡槽内放置固定的样本架，通过样本位置向检测系统申请样本测试，样本位置样本位编号构成；
[0008]装载样本时，若样本架上有空置状态的样本位，在空置状态的样本位上装载样本并向检测系统发出检测指令，仪器扫描样本位置，识别样本后进行测试；
[0009]卸载样本时，若对应样本位置上放置的样本测试完成后，将样本从对应的样本位上卸载以使该样本位恢复空置状态，同时在检测系统中释放样本，取消样本与该样本位置之间的关联关系；
[0010]样本架主体模式中：
[0011]通过样本位置向检测系统申请样本测试，所述样本位置由样本架编号和样本位编号构成；
[0012]装载样本架时，若仪器圆盘上有空置状态的圆弧形卡槽，则将样本架放入任意空置的圆弧形卡槽内，仪器扫描样本位置，识别样本后进行检测；
[0013]卸载样本架时，将样本架从圆弧形卡槽内卸载以使该圆弧形卡槽恢复空置状态，同时检测系统中释放该样本架上所有样本架位置的样本，取消样本与样本位置之间的关联关系。
[0014]进一步，样本测试的方式有常规测试和特殊测试，在常规测试时选用常规样本架，
在特殊测试时选用特殊样本架。
[0015]进一步，在样本架主体模式进行常规测试时，常规样本位置由常规样本架编号和常规样本架内的样本位编号构成；以设定的常规样本架顺序和常规样本架中的样本位顺序构成常规样本位置顺序，按照设定的常规样本位置顺序向检测系统申请常规样本测试；当所述常规样本位置进行常规样本测试申请后且常规样本位置未释放，则该常规样本位置处于占用状态，否则该常规样本位置处于空闲状态；当常规样本位置处于占用状态时，则按照设定顺序以下一个常规样本位置进行常规样本测试申请。
[0016]进一步，将常规样本位置从占用状态变更为空闲状态有主动释放和自动释放两种方式，所述主动释放为主动控制检测系统释放常规样本位置，所述自动释放为检测系统根据设定条件自动释放常规样本位置。
[0017]进一步，对于主动释放：若常规样本架上所有样本均已经测试过且不在测试中状态，但该常规样本架仍处于仪器圆盘上，则可主动控制检测系统释放该常规样本架中的所有常规样本位置。
[0018]进一步，对于自动释放：
[0019]若常规样本架从仪器圆盘上卸载，则检测系统自动释放该常规样本架中样本已经过测试的所有常规样本位置；
[0020]若常规样本位置已进行样本测试申请但在设定时间内未进行样本测试，则检测系统自动释放该常规样本位置；
[0021]若常规样本位置中的样本已经测试过但在设定时间内仍未测试完成，则检测系统在指定时间点自动释放该常规样本位置；
[0022]若常规样本位置已完成测试但未释放，则检测系统自动释放该常规样本位置。
[0023]进一步，进行常规测试的样本测试申请有手工申请模式和自动申请模式两种；
[0024]手工申请模式：
[0025]选择常规样本位置进行常规样本测试申请后，将常规样本放置在对应常规样本架的对应样本位内；
[0026]将常规样本架放置到仪器圆盘处于空置状态的任意圆弧形卡槽中；
[0027]启动测试后，检测系统根据常规样本检测申请时输入的常规样本位置，将常规样本检测申请的信息与放入仪器圆盘的常规样本架中的样本进行匹配后，再进行测试；
[0028]自动申请模式：
[0029]在连接双向LIS系统且支持条码扫码的情况下，直接将贴有样本条码标签的样本管放置到常规样本架上，再把需要测试的常规样本架放入仪器圆盘中处于空置状态的任意圆弧形卡槽中；启动测试后，检测系统通过扫描确定常规样本位置，并从LIS获取常规样本检测申请的信息以进行匹配和测试。
[0030]进一步，以样本架主体模式进行特殊测试时：特殊样本位置由特殊样本架编号和特殊样本架的样本位编号构成；特殊样本架用于装载特殊样本进行特殊测试，以特殊样本位置向检测系统申请特殊样本检测；一个特殊样本位置只能设置一个特殊样本，一个特殊样本只能设置一个特殊样本位置；当一个特殊样本设置一个新的特殊样本位置后，检测系统自动释放该特殊样本上一次设置的特殊样本位置。
[0031]进一步，特殊样本位置通过主动释放的方式取消特殊样本与特殊样本位置之间的
关联；且特殊样本测试完成后，将特殊样本与特殊样本架一起进行冷藏储存。
[0032]进一步，采用手工申请模式向检测系统申请特殊样本测试，
[0033]在特殊样本位置上设置指定的特殊样本，选择已设置特殊样本位置的特殊样本进行特殊样本测试申请；
[0034]将需要测试的特殊样本架装载在仪器圆盘处于空置状态的任意圆弧形卡槽中；
[0035]启动测试后，检测系统根据特殊样本测试申请对应的特殊样本位置，将特殊样本申请的信息与特殊样本架上的特殊样本进行匹配后，再进行测试。
[0036]本专利技术的有益效果在于：
[0037]本专利技术的样本盘使用方法，通过在仪器圆盘上设置多个圆弧形卡槽，同时设置可与圆弧形卡槽配合的样本架，如此，圆弧形卡槽上可以放置任意一种样本架(样本架有常规样本架和特殊样本架)，且仪器圆盘上不需要给特殊样本架预留固定的位置，从物理结构上使用更加方便；在检测系统上，在不进行此类检测时可以不装载此类的样本架，不占用测试通道，样本装载基于所有样本架的样本位置而不是仪器圆盘中固定的样本位置，且样本架的数量可以多于圆弧形卡槽的数量，从而在物理上增加样本位置的数量，使用更加灵活多变；
[0038]在提出样本检测申请时，可以采用位置主体模式和样本架主体模式；其中，位置主体模式如传统的检测方式将样本架固定在仪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种样本盘使用方法，所述样本盘包括仪器圆盘和样本架，所述仪器圆盘上间隔设有多个圆弧形卡槽，所有的所述圆弧形卡槽同轴；所述样本架为与所述圆弧形卡槽配合的圆弧形结构，所述样本架上设有多个用于放置样本管的样本位，其特征在于：所述使用方法包括以所述圆弧形卡槽为基准的位置主体模式和以样本架为基准的样本架主体模式；位置主体模式中：在所述圆弧形卡槽内放置固定的样本架，通过样本位置向检测系统申请样本测试，样本位置样本位编号构成；装载样本时，若样本架上有空置状态的样本位，在空置状态的样本位上装载样本并向检测系统发出检测指令，仪器扫描样本位置，识别样本后进行测试；卸载样本时，若对应样本位置上放置的样本测试完成后，将样本从对应的样本位上卸载以使该样本位恢复空置状态，同时在检测系统中释放样本，取消样本与该样本位置之间的关联关系；样本架主体模式中：通过样本位置向检测系统申请样本测试，所述样本位置由样本架编号和样本位编号构成；装载样本架时，若仪器圆盘上有空置状态的圆弧形卡槽，则将样本架放入任意空置的圆弧形卡槽内，仪器扫描样本位置，识别样本后进行检测；卸载样本架时，将样本架从圆弧形卡槽内卸载以使该圆弧形卡槽恢复空置状态，同时检测系统中释放该样本架上所有样本架位置的样本，取消样本与样本位置之间的关联关系。2.根据权利要求1所述的样本盘使用方法，其特征在于：样本测试的方式有常规测试和特殊测试，在常规测试时选用常规样本架，在特殊测试时选用特殊样本架。3.根据权利要求2所述的样本盘使用方法，其特征在于：在样本架主体模式进行常规测试时，常规样本位置由常规样本架编号和常规样本架内的样本位编号构成；以设定的常规样本架顺序和常规样本架中的样本位顺序构成常规样本位置顺序，按照设定的常规样本位置顺序向检测系统申请常规样本测试；当所述常规样本位置进行常规样本测试申请后且常规样本位置未释放，则该常规样本位置处于占用状态，否则该常规样本位置处于空闲状态；当常规样本位置处于占用状态时，则按照设定顺序以下一个常规样本位置进行常规样本测试申请。4.根据权利要求3所述的样本盘使用方法，其特征在于：将常规样本位置从占用状态变更为空闲状态有主动释放和自动释放两种方式，所述主动释放为主动控制检测系统释放常规样本位置，所述自动释放为检测系统根据设定条件自动释放常规样本位置。5.根据权利要求4所述的样本盘使用方法，其特征在于：对于主动释放：若常规样本架上所有样本均已经测试过且不在测试中状态，但该常规样本架仍处于仪器圆盘上，则可主动控制检测系统释放该常规样本架中...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈嘉惠，周丹萍，马德新，
申请(专利权)人：中元汇吉生物技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：