本发明专利技术提供一种零件尺寸测量方法、装置、设备及介质，涉及图像处理技术领域，方法包括：获取待测量零件的待测量零件图像；对待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算待测量零件图像的图像质量分数；若图像质量分数小于第一预设阈值，则将待测量零件图像进行灰度处理，得到灰度化图像；通过预设的图像修复模型对灰度化图像进行缺失信息插补，得到待测量零件图像的目标修复图像；通过预设的特征提取模型，对目标修复图像进行特征提取，得到待测量零件的零件尺寸特征；通过预设的尺寸测量模型处理零件尺寸特征，得到待测量零件的零件尺寸。本发明专利技术可以提高零件尺寸检测的准确度。本发明专利技术可以提高零件尺寸检测的准确度。本发明专利技术可以提高零件尺寸检测的准确度。
【技术实现步骤摘要】
一种零件尺寸测量方法、装置、设备及介质
[0001]本专利技术涉及图像处理
，尤其涉及一种零件尺寸测量方法、装置、设备及介质。
技术介绍
[0002]对于复杂结构零件，形状复杂且参数繁多，常规通用测量仪器往往通过夹持的方式进行测量，但是对于非常规形状的尺寸，会出现无法提供夹持位置的情况，测量准确度低。
技术实现思路
[0003]本专利技术提供一种零件尺寸测量方法、装置、设备及介质，用以解决现有技术中复杂结构零件尺寸测量准确度低的缺陷，实现提高零件尺寸检测准确度。
[0004]本专利技术提供一种零件尺寸测量方法，包括：获取第一图像采集设备采集的待测量零件的待测量零件图像；对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数；若所述图像质量分数小于第一预设阈值，则将所述待测量零件图像进行灰度处理，得到灰度化图像；通过预设的图像修复模型对所述灰度化图像进行缺失信息插补，得到所述待测量零件图像的目标修复图像；通过预设的特征提取模型，对所述目标修复图像进行特征提取，得到所述待测量零件的零件尺寸特征，所述零件尺寸特征包括：边缘线、轮廓线、角点中的至少一项；通过预设的尺寸测量模型处理所述零件尺寸特征，得到所述待测量零件的零件尺寸。
[0005]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数，包括：对所述待测量零件图像进行遮挡区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域是否被遮挡；若所述零件区域被遮挡，则获取所述零件区域中的遮挡区域，并根据所述遮挡区域计算遮挡分数；以及对所述待测量零件图像进行反光区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光；若所述零件区域中存在反光，则获取所述零件区域中的反光区域，并根据所述反光区域计算反光分数；根据所述遮挡分数和所述反光分数，计算所述待测量零件图像的图像质量分数。
[0006]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述对所述待测量零件图像进行遮挡区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域是否被遮挡，包括：获取所述第一图像采集设备采集所述待测量零件图像时的设备位置信息以及所述待测量零件的零件位置信息；根据所述设备位置信息和零件位置信息，确定所述待测量零件图像的图像类型；所述图像类型包括：正视图、侧视图、俯视图、仰视图中的至少一项；根据所述待测量零件图像的图像类型，获取所述待测量零件图像对应的零件形状；根据所述零件形状确定所述待测量零件图像中待测量零件的零件区域是否被遮挡。
[0007]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述待测量零件放置于传送装置的传送带上，以使所述待测量零件跟随所述传送带移动，所述第一图像采集设备和第二图像采集设备沿所述传送装置的传送方向依次设置；所述对所述待测量零件图像进行反光区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光，包括：获取所述第二图像采集设备采集的所述待测量零件的对比零件图像；将所述对比零件图像和所述待测量零件图像进行一对一像素点比较，确定所述待测量零件图像中的变化像素点；根据各所述变化像素点的位置信息，确定所述待测量零件图像中零件区域内变化像素点的像素点数量；根据所述零件区域内变化像素点的像素点数量，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光。
[0008]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述通过预设的尺寸测量模型处理所述零件尺寸特征，得到所述待测量零件的零件尺寸之后，所述方法还包括：根据所述待测量零件图像的图像类型，所述图像类型包括：正视图、侧视图、俯视图、仰视图中的至少一项；根据所述待测量零件图像的图像类型，从预设数据库中获取所述待测量零件的预设标准尺寸阈值；根据所述预设标准尺寸阈值与所述待测量零件的零件尺寸进行比较，确定所述待测量零件是否为合格；若所述待测量零件不合格，则将所述待测量零件设置为尺寸缺陷零件，并通过所述传送装置将所述尺寸缺陷零件移动至不良品区域；若所述待测量零件合格，则将所述待测量零件设置为合格零件，并通过所述传送装置将所述合格零件移动至良品区域。
[0009]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述通过预设的图像修复模型对所述灰度化图像进行缺失信息插补，得到所述待测量零件图像的目标修复图像之前，所述方法还包括：获取样本零件图像，所述样本零件图像为信息缺失图像；通过预训练的变分自编码器处理所述样本零件图像，获取所述样本零件图像的空
间概率分布；将所述空间概率分布作为预训练的生成对抗网络中判别器的监督信息；通过预训练的生成对抗网络处理所述样本零件图像以及所述监督信息，得到所述样本零件图像的预测修复图像；根据所述样本零件图像的所述预测修复图像以及所述样本零件图像的预设完整图像，对所述生成对抗网络进行参数调整，得到已训练的所述图像修复模型。
[0010]根据本专利技术提供的一种零件尺寸测量方法，所述对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数之前，所述方法还包括：对所述待测量零件图像进行模糊度检测，得到所述待测量零件图像的模糊度；若所述模糊度大于或等于第二预设阈值，则控制所述第一图像采集设备对所述待测量零件进行二次图像采集，并将采集到的零件图像作为所述待测量零件图像；若所述模糊度小于所述第二预设阈值，则继续执行对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数的步骤。
[0011]本专利技术还提供了一种零件尺寸测量装置，所述零件尺寸测量装置包括：获取模块，用于获取第一图像采集设备采集的待测量零件的待测量零件图像；质量检测模块，用于对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数；灰度化模块，用于若所述图像质量分数小于第一预设阈值，则将所述待测量零件图像进行灰度处理，得到灰度化图像；插补模块，用于通过预设的图像修复模型对所述灰度化图像进行缺失信息插补，得到所述待测量零件图像的目标修复图像；特征提取模块，用于通过预设的特征提取模型，对所述目标修复图像进行特征提取，得到所述待测量零件的零件尺寸特征，所述零件尺寸特征包括：边缘线、轮廓线、角点中的至少一项；尺寸测量模块，用于通过预设的尺寸测量模型处理所述零件尺寸特征，得到所述待测量零件的零件尺寸。
[0012]本专利技术还提供了一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上任一项所述的零件尺寸测量方法。
[0013]本专利技术还提供了一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种零件尺寸测量方法，其特征在于，包括：获取第一图像采集设备采集的待测量零件的待测量零件图像；对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数；若所述图像质量分数小于第一预设阈值，则将所述待测量零件图像进行灰度处理，得到灰度化图像；通过预设的图像修复模型对所述灰度化图像进行缺失信息插补，得到所述待测量零件图像的目标修复图像；通过预设的特征提取模型，对所述目标修复图像进行特征提取，得到所述待测量零件的零件尺寸特征，所述零件尺寸特征包括：边缘线、轮廓线、角点中的至少一项；通过预设的尺寸测量模型处理所述零件尺寸特征，得到所述待测量零件的零件尺寸。2.根据权利要求1所述的零件尺寸测量方法，其特征在于，所述对所述待测量零件图像进行反光区域和遮挡区域检测，以根据所述待测量零件图像中反光区域和/或遮挡区域计算所述待测量零件图像的图像质量分数，包括：对所述待测量零件图像进行遮挡区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域是否被遮挡；若所述零件区域被遮挡，则获取所述零件区域中的遮挡区域，并根据所述遮挡区域计算遮挡分数；以及对所述待测量零件图像进行反光区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光；若所述零件区域中存在反光，则获取所述零件区域中的反光区域，并根据所述反光区域计算反光分数；根据所述遮挡分数和所述反光分数，计算所述待测量零件图像的图像质量分数。3.根据权利要求2所述的零件尺寸测量方法，其特征在于，所述对所述待测量零件图像进行遮挡区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域是否被遮挡，包括：获取所述第一图像采集设备采集所述待测量零件图像时的设备位置信息以及所述待测量零件的零件位置信息；根据所述设备位置信息和零件位置信息，确定所述待测量零件图像的图像类型；所述图像类型包括：正视图、侧视图、俯视图、仰视图中的至少一项；根据所述待测量零件图像的图像类型，获取所述待测量零件图像对应的零件形状；根据所述零件形状确定所述待测量零件图像中待测量零件的零件区域是否被遮挡。4.根据权利要求2所述的零件尺寸测量方法，其特征在于，所述待测量零件放置于传送装置的传送带上，以使所述待测量零件跟随所述传送带移动，所述第一图像采集设备和第二图像采集设备沿所述传送装置的传送方向依次设置；所述对所述待测量零件图像进行反光区域检测，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光，包括：获取所述第二图像采集设备采集的所述待测量零件的对比零件图像；将所述对比零件图像和所述待测量零件图像进行一对一像素点比较，确定所述待测量
零件图像中的变化像素点；根据各所述变化像素点的位置信息，确定所述待测量零件图像中零件区域内变化像素点的像素点数量；根据所述零件区域内变化像素点的像素点数量，确定所述待测量零件图像中待测量零件对应的零件区域中是否存在反光。5.根据权利要求4所述的零件尺寸测量方法，其特征在于，所述通过预设的尺寸测量模型处理所述零件尺寸特征，得到所述待测量零件的零件尺寸之后，所述方法还包括：根据所述待测量零件图像的图像类型，所述图像类型包括：正视图、侧视图、俯视图、...
【专利技术属性】
技术研发人员：谭勇，肖溱鸽，苏辉南，
申请(专利权)人：中科航迈数控软件深圳有限公司，
类型：发明
国别省市：
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