本发明专利技术涉及一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备，该方法包括：获取目标受弯构件的基准参数，基准参数包括受弯构件的几何尺寸与材料性能，几何尺寸包括受弯构件截面宽度与有效高度、配筋率，材料性能包括混凝土抗压强度、钢筋屈服强度；基于基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数；基于基准参数，结合相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数；根据抗弯承载力均值与变异系数确定抗力可靠指标。本发明专利技术不考虑荷载的随机性，充分考虑抗力的各项随机性影响因素，给出了相对受压区高度以及抗力变异系数的获取方法，较好的揭示了配筋率等基准参数对受弯构件抗力可靠指标的影响规律。基准参数对受弯构件抗力可靠指标的影响规律。基准参数对受弯构件抗力可靠指标的影响规律。
【技术实现步骤摘要】
受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备
[0001]本专利技术涉及工程结构可靠度分析
，特别是涉及一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备。
技术介绍
[0002]钢筋混凝土轴拉构件的承载力仅由钢筋提供，轴压构件和受剪构件的承载力由相互独立的钢筋项和混凝土项相加而成，以上三类构件的抗力变异系数计算较为简单。受弯构件的承载力均与相对受压区高度有关，而相对受压区高度受钢筋和混凝土的耦合影响，因此其抗力变异系数及可靠指标计算较为复杂。目前的可靠度计算方法同时考虑了抗力和荷载的随机性，影响因素过多，对变化规律的揭示不充分。
技术实现思路
[0003]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够较好的揭示受弯构件抗力可靠性指标的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备。
[0004]本专利技术提供了一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法，所述方法包括：
[0005]获取目标受弯构件的基准参数，所述基准参数包括受弯构件的几何尺寸与材料性能，所述几何尺寸包括受弯构件截面宽度与有效高度、配筋率，所述材料性能包括混凝土抗压强度、钢筋屈服强度；
[0006]基于所述基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数；
[0007]基于所述基准参数，结合所述相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数；
[0008]根据所述抗弯承载力均值与变异系数确定抗力可靠指标。
[0009]在其中一个实施例中，所述基于所述基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数，包括：
[0010]根据所述基准参数计算相对受压区高度对各参数的偏导数，为
[0011][0012]式中，ξ为相对受压区高度，b和h0分别为受弯构件截面宽度和有效高度，f
c
为混凝土抗压强度；F
s
为受拉钢筋的承载力，F
s
＝A
s
f
y
，A
s
为受拉钢筋面积，f
y
为受拉钢筋屈服强度；
[0013]计算相对受压区高度均值μ
ξ
，为
[0014][0015]式中，μ
b
、分别为受拉钢筋的承载力、受弯构件截面宽度、受弯构件有效高度和混凝土抗压强度的均值；
[0016]计算相对受压区高度均方差σ
ξ
，为
[0017][0018]式中，σ
b
、分别为受拉钢筋的承载力、受弯构件截面宽度、受弯构件有效高度和混凝土抗压强度的均方差；
[0019]确定相对受压区高度变异系数δ
ξ
，为
[0020][0021]在其中一个实施例中，所述基准参数，结合所述相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数，包括：
[0022]计算抗弯承载力对各参数的偏导数，为
[0023][0024][0025]式中，M
u
为抗弯承载力；
[0026]计算抗弯承载力均值为
[0027][0028]计算抗弯承载力均方差为
[0029][0030]确定抗弯承载力变异系数为
[0031][0032]在其中一个实施例中，所述根据所述抗弯承载力均值与变异系数确定抗力可靠指标，包括：
[0033]确定考虑计算模型不确定性的抗力变异系数δ
R
，为
[0034][0035]式中，δ
p
为计算模型不定性变异系数；
[0036]计算抗力均值系数k
R
和抗力分项系数γ
R
，为
[0037][0038][0039]式中，M
u,k
和M
u,d
分别为抗力的标准值和设计值；
[0040]确定抗力可靠指标β
R
，为
[0041][0042]本专利技术还提供了一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取装置，所述装置包括：
[0043]获取模块，用于获取目标受弯构件的基准参数，所述基准参数包括受弯构件的几何尺寸与材料性能，所述几何尺寸包括受弯构件截面宽度与有效高度、配筋率，所述材料性能包括混凝土抗压强度、钢筋屈服强度；
[0044]第一确定模块，用于基于所述基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数；
[0045]第二确定模块，用于基于所述基准参数，结合所述相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数；
[0046]第三确定模块，用于根据所述抗弯承载力均值与变异系数确定抗力可靠指标。
[0047]本专利技术还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述任一种所述的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法。
[0048]本专利技术还提供了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法。
[0049]本专利技术还提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一种所述的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法。
[0050]上述受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备，不考虑荷载的随机性，充分考虑抗力的各项随机性影响因素，给出了相对受压区高度变异系数以及抗力变异系数等抗力参数的获取方法，较好的揭示了受弯构件的几何尺寸与材料性能等基准参数对受弯构件抗力可靠指标的影响规律。
附图说明
[0051]为了更清楚地说明本专利技术或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0052]图1为本专利技术一个实施例的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法流程图；
[0053]图2为本专利技术一个实施例的受弯构件抗力参数与可靠指标获取装置示意图；
[0054]图3为一个实施例的计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0055]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地说明，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0056]下面结合图1
‑
图3描述本专利技术的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法、装置及电子设备。
[0057]如图1所示，在一个实施例中，一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法，包括以下步骤：
[0058]步骤S110，获取目标受弯构件的基准参数，基准参数包括受弯构件的几何尺本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法，其特征在于，所述方法包括：获取目标受弯构件的基准参数，所述基准参数包括受弯构件的几何尺寸与材料性能，所述几何尺寸包括受弯构件截面宽度与有效高度、配筋率，所述材料性能包括混凝土抗压强度、钢筋屈服强度；基于所述基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数；基于所述基准参数，结合所述相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数；根据所述抗弯承载力均值与变异系数确定抗力可靠指标。2.根据权利要求1所述的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法，其特征在于，所述基于所述基准参数确定相对受压区高度均值、均方差和变异系数，包括：根据所述基准参数计算相对受压区高度对各参数的偏导数，为式中，ξ为相对受压区高度，b和h0分别为受弯构件截面宽度和有效高度，f
c
为混凝土抗压强度；F
s
为受拉钢筋的承载力，F
s
＝A
s
f
y
，A
s
为受拉钢筋面积，f
y
为受拉钢筋屈服强度；计算相对受压区高度均值μ
ξ
，为式中，μ
b
、分别为受拉钢筋的承载力、受弯构件截面宽度、受弯构件有效高度和混凝土抗压强度的均值；计算相对受压区高度均方差σ
ξ
，为式中，σ
b
、分别为受拉钢筋的承载力、受弯构件截面宽度、受弯构件有效高度和混凝土抗压强度的均方差；确定相对受压区高度变异系数δ
ξ
，为3.根据权利要求2所述的受弯构件抗力参数与可靠指标获取方法，其特征在于，所述基于所述基准参数，结合所述相对受压区高度均值确定抗弯承载力均值、均方差和变异系数，包括：计算抗弯承载力对各参数...
【专利技术属性】
技术研发人员：蒋利学，张永群，陈溪，王卓琳，张东波，
申请(专利权)人：上海市建筑科学研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：
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