本申请公开了一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法、装置及电子设备，该方法包括：采集获得在籽晶进入熔接工序时的图像数据；基于籽晶目标特征检测模型对图像数据进行处理，获得与图像数据相匹配的籽晶状态数据；基于籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，以使得基于控制指令对籽晶熔接工序进行控制。在本申请中籽晶目标特征检测模型为基于对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程图像进行训练，得到的能够预测出籽晶状态数据的模型，籽晶状态数据包括籽晶类型以及籽晶像素高度。通过籽晶目标特征检测模型实时检测判断当前籽晶熔接状态，对籽晶熔接过程进行自动控制，提升了控制效率和精度。度。度。
【技术实现步骤摘要】
一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法、装置及电子设备
[0001]本申请涉及光伏和半导体单晶拉制
，特别是涉及一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法、装置及电子设备。
技术介绍
[0002]在单晶生长领域，籽晶预热工序结束后到籽晶熔接工序主要是通过人工操作完成，因人的主观因素容易造成籽晶熔接标准不统一，同时需要大量工人时刻关注并操作，对生产成本、产量及生产效率造成一定的影响。此外，对于利用牵引绳计算出来的籽晶物理位置控制籽晶熔接的过程中，由于原生籽晶部分长度标准不确定，籽晶位置值计算存在一定偏差，导致控制效果不佳。
[0003]可见，采用上述方式控制籽晶熔接，由于控制效果不准确，容易出现重锤熔于液面，出现安全事故。
技术实现思路
[0004]针对于上述问题，本申请提供一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法、装置及电子设备，提升了控制籽晶自动熔接的效率和准确率。
[0005]为了实现上述目的，本申请提供了如下技术方案：
[0006]一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法，包括：
[0007]采集获得在籽晶进入熔接工序时的图像数据；
[0008]基于籽晶目标特征检测模型对所述图像数据进行处理，获得与所述图像数据相匹配的籽晶状态数据，其中，所述籽晶目标特征检测模型为基于对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程图像进行训练，得到的能够预测出籽晶状态数据的模型，所述籽晶状态数据包括籽晶类型以及籽晶像素高度；
[0009]基于所述籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，以使得基于所述控制指令对籽晶熔接工序进行控制。
[0010]可选地，所述方法还包括：
[0011]获得图像数据集，所述图像数据集包括工业相机端对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程进行采集获得的多张图像；
[0012]对所述图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息，所述标注信息包括表征籽晶未接触液面整体部分的第一标注信息，表征熔接完成到原生籽晶部分的第二标注信息，表征旧籽晶原生籽晶部分的第三标注信息以及表征旧籽晶接触液面籽晶整体部分的第四标注信息中的一种；
[0013]基于所述图像数据集中每一图像的标注信息以及所述图像数据集，生成图像训练样本；
[0014]将所述图像数据集中每一图像的图像特征作为训练特征，并将所述每一图像的标注信息作为训练目标，对所述图像训练样本进行训练，得到籽晶目标特征检测模型。
[0015]可选地，还包括：
[0016]对所述图像数据集中的每一图像进行图像增强预处理，得到预处理后的图像数据集；
[0017]其中，所述对所述图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息，包括：
[0018]对所述预处理后的图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息。
[0019]可选地，所述对所述图像数据集中的每一图像进行图像增强预处理，得到预处理后的图像数据集，包括：
[0020]对所述图像数据集中的每一图像进行图像预处理，得到第一图像数据集，所述图像预处理包括图像缩放、图像平移或图像旋转中的一种或多种；
[0021]基于所述第一图像数据集中当前图像的数量，确定是否对所述第一图像数据集进行样本扩充；
[0022]如果是，基于对所述第一图像数据集进行图像样本扩充，得到预处理后的图像数据集。
[0023]可选地，所述对所述图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息，包括：
[0024]对所述图像数据集中的图像进行状态划分，得到每一状态下的图像数据子集；
[0025]对每一状态下的图像数据子集进行特征标注，得到标注信息。
[0026]可选地，所述基于所述籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，包括：
[0027]基于籽晶进入熔接工序时对应的各个工序阶段，获得与当前工序阶段对应的阈值参数；
[0028]基于与当前工序阶段对应的籽晶状态数据和所述阈值参数，生成与所述当前工序阶段对应的籽晶熔接控制指令。
[0029]可选地，所述当前工序阶段为表征籽晶处于熔接过程的工序阶段，所述基于与当前工序阶段对应的籽晶状态数据和所述阈值参数，生成与所述当前工序阶段对应的籽晶熔接控制指令，包括：
[0030]基于与所述籽晶处于熔接过程的工序阶段对应的籽晶状态数据和籽晶下降速度阈值，确定籽晶熔接速度控制指令，以使得基于所述籽晶熔接速度控制指令控制籽晶下降速度。
[0031]可选地，所述当前工序阶段为表征籽晶接触液面后的熔接工序阶段，所述基于与当前工序阶段对应的籽晶状态数据和所述阈值参数，生成与所述当前工序阶段对应的籽晶熔接控制指令，包括：
[0032]若与所述籽晶接触液面后的熔接工序阶段对应的籽晶状态数据中的像素数值若小于像素高度阈值，生成重锤保护控制指令，以使得基于所述重锤保护控制指令控制籽晶暂停熔接。
[0033]一种拉晶过程中籽晶熔接控制装置，包括：
[0034]采集单元，用于采集获得在籽晶进入熔接工序时的图像数据；
[0035]处理单元，用于基于籽晶目标特征检测模型对所述图像数据进行处理，获得与所述图像数据相匹配的籽晶状态数据，其中，所述籽晶目标特征检测模型为基于对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程图像进行训练，得到的能够预测出籽晶状态数据的模型，所述籽晶状态数据包括籽晶类型以及籽晶像素高度；
[0036]生成单元，用于基于所述籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，以使得基于所述控制指令对籽晶熔接工序进行控制。
[0037]一种电子设备，包括：
[0038]存储器，用于存储程序；
[0039]处理器，用于执行所述程序，所述程序具体用于实现如上述中任意一项所述的拉晶过程中籽晶熔接控制方法。
[0040]相较于现有技术，本申请提供了一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法、装置及电子设备，该方法包括：采集获得在籽晶进入熔接工序时的图像数据；基于籽晶目标特征检测模型对图像数据进行处理，获得与图像数据相匹配的籽晶状态数据；基于籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，以使得基于控制指令对籽晶熔接工序进行控制。在本申请中籽晶目标特征检测模型为基于对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程图像进行训练，得到的能够预测出籽晶状态数据的模型，籽晶状态数据包括籽晶类型以及籽晶像素高度。通过籽晶目标特征检测模型实时检测判断当前籽晶熔接状态，对籽晶熔接过程进行自动控制，提升了控制效率和精度。
附图说明
[0041]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0042]图1为本申请实施例提供的一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法的流程示意图；
[0043]图2至图5为本申请各个实施例提供的籽晶特征区域示意图；
[0044]图6为本申本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种拉晶过程中籽晶熔接控制方法，其特征在于，包括：采集获得在籽晶进入熔接工序时的图像数据；基于籽晶目标特征检测模型对所述图像数据进行处理，获得与所述图像数据相匹配的籽晶状态数据，其中，所述籽晶目标特征检测模型为基于对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程图像进行训练，得到的能够预测出籽晶状态数据的模型，所述籽晶状态数据包括籽晶类型以及籽晶像素高度；基于所述籽晶状态数据，生成籽晶熔接控制指令，以使得基于所述控制指令对籽晶熔接工序进行控制。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：获得图像数据集，所述图像数据集包括工业相机端对籽晶熔接开始到籽晶熔接结束的全过程进行采集获得的多张图像；对所述图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息，所述标注信息包括表征籽晶未接触液面整体部分的第一标注信息，表征熔接完成到原生籽晶部分的第二标注信息，表征旧籽晶原生籽晶部分的第三标注信息以及表征旧籽晶接触液面籽晶整体部分的第四标注信息中的一种；基于所述图像数据集中每一图像的标注信息以及所述图像数据集，生成图像训练样本；将所述图像数据集中每一图像的图像特征作为训练特征，并将所述每一图像的标注信息作为训练目标，对所述图像训练样本进行训练，得到籽晶目标特征检测模型。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：对所述图像数据集中的每一图像进行图像增强预处理，得到预处理后的图像数据集；其中，所述对所述图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息，包括：对所述预处理后的图像数据集中每一图像进行特征标注，得到标注信息。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述图像数据集中的每一图像进行图像增强预处理，得到预处理后的图像数据集，包括：对所述图像数据集中的每一图像进行图像预处理，得到第一图像数据集，所述图像预处理包括图像缩放、图像平移或图像旋转中的一种或多种；基于所述第一图像数据集中当前图像的数量，确定是否对所述第一图像数据集进行样本扩充；如果是，基于对所述第一图像数据集进行图像样本扩充，得到预处理后的图像数据集。5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述对所述图像数据集中每一图像...
【专利技术属性】
技术研发人员：郑庆红，赵杰，苑启哲，杨振雷，
申请(专利权)人：保定景欣电气有限公司，
类型：发明
国别省市：
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