无参比物氧化诱期分析仪制造技术

本发明专利技术公开无参比物氧化诱期分析仪，涉及测试装置技术领域，包括下银加热块，所述下银加热块上开设在有装置通孔，所述下银加热块的顶部设置有金属片，所述金属片的顶部设置与上银加热块。本发明专利技术，炉体上盖被打开后便可以将样品置放到样品坩埚的内部当中，当完成此步骤后，将炉体上盖闭合，然后打开下银加热块和上银加热块上的加热炉丝的电源开关，那么在此过程中，加热炉丝开始对下银加热块和上银加热块的内部进行加热处理，而加热炉丝均匀地分布在了下银加热块和上银加热块的外部，将会对金属片上样品坩埚内部的样品进行加热，从而得出氧化诱导期时间，不需要加入参比物，节约时间。节约时间。节约时间。

【技术实现步骤摘要】
无参比物氧化诱期分析仪


[0001]本专利技术涉及测试装置
，尤其涉及无参比物氧化诱期分析仪。

技术介绍

[0002]氧化诱导时间是测定式样在高温氧气条件下开始发生自动催化氧化反应的时间，是衡量材料在成型加工、储存、焊接和使用中耐热降解能力的指标。氧化诱导期方法是一种采用差热分析法以塑料分子链断裂时的放热反应为依据，测试塑料在高温氧气中加速老化程度的方法。其原理是将塑料式样与惰性参比物置于差热分析仪中，使其在一定温度下用氧气迅速置换式样室内的惰性气体。测试由于式样氧化而引起的DTA曲线的变化，并获得氧化诱导期0IT，以评定塑料的防热老化性能。
[0003]在现有技术中，氧化诱期分析仪在正常使用的过程中一般都会将样品置放到分析仪内部的参比坩埚，然后开始加热，最后通过热量扫描仪对其进行测量，从而得出样品氧化诱导期的具体时间，然而每次都需要将参照物置放到参照物坩埚的内部，会浪费一定的时间。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，氧化诱期分析仪在正常使用的过程中一般都会将样品置放到分析仪内部的参比坩埚，然后开始加热，最后通过热量扫描仪对其进行测量，从而得出样品氧化诱导期的具体时间，然而每次都需要将参照物置放到参照物坩埚的内部，会浪费一定的时间的技术问题。
[0005]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：无参比物氧化诱期分析仪，包括下银加热块，所述下银加热块上开设在有装置通孔，所述下银加热块的顶部设置有金属片，所述金属片的顶部设置与上银加热块，所述上银加热块的底部设置有空腔和放置通孔，所述金属片的顶部设置有样品坩埚，所述放置通孔的顶部设置有炉体上盖，所述金属片的底部设置有参比温度测量热电偶和样品温度测量热电偶。
[0006]作为一种优选的实施方式，所述下银加热块的底部开设有两个装置通孔，所述参比温度测量热电偶和样品温度测量热电偶分别设置在两个装置通孔的内部。
[0007]作为一种优选的实施方式，所述样品坩埚位于样品温度测量热电偶的正上方。
[0008]作为一种优选的实施方式，所述下银加热块和上银加热块的外部设置有加热炉丝。
[0009]与现有技术相比，本专利技术的优点和积极效果在于，
[0010]本专利技术中，当装置开始正常工作的过程中，首先需要打开上银加热块顶部的炉体上盖，那么炉体上盖被打开后便可以将样品置放到样品坩埚的内部当中，当完成此步骤后，将炉体上盖闭合，然后打开下银加热块和上银加热块上的加热炉丝的电源开关，那么在此过程中，加热炉丝开始对下银加热块和上银加热块的内部进行加热处理，而加热炉丝均匀地分布在了下银加热块和上银加热块的外部，将会对金属片上样品坩埚内部的样品进行加
热，从而得出氧化诱导期时间，不需要加入参比物，节约时间。
附图说明
[0011]图1为本专利技术提供的无参比物氧化诱期分析仪的结构示意图。
[0012]图例说明：
[0013]1、下银加热块；2、上银加热块；3、空腔；4、样品坩埚；5、炉体上盖；6、装置通孔；7、参比温度测量热电偶；8、金属片；9、样品温度测量热电偶；10、加热炉丝。
具体实施方式
[0014]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0015]实施例1
[0016]如图1所示，本专利技术提供一种技术方案：无参比物氧化诱期分析仪，包括下银加热块1，下银加热块1上开设在有装置通孔6，下银加热块1的顶部设置有金属片8，金属片8的顶部设置与上银加热块2，上银加热块2的底部设置有空腔3和放置通孔，金属片8的顶部设置有样品坩埚4，放置通孔的顶部设置有炉体上盖5，金属片8的底部设置有参比温度测量热电偶7和样品温度测量热电偶9，下银加热块1的底部开设有两个装置通孔6，参比温度测量热电偶7和样品温度测量热电偶9分别设置在两个装置通孔6的内部，样品坩埚4位于样品温度测量热电偶9的正上方，下银加热块1和上银加热块2的外部设置有加热炉丝10。
[0017]在本实施例中，将样品置放到样品坩埚4当中，然后开始加热，那么在加热的过程中，因为加热炉丝10是均匀地分布在下银加热块1的内部当中的，当装置在正常使用的过程中，参比物不需要放置。
[0018]工作原理：
[0019]如图1所示，当装置开始正常工作的过程中，首先需要打开上银加热块2顶部的炉体上盖5，那么炉体上盖5被打开后便可以将样品置放到样品坩埚4的内部当中，当完成此步骤后，将炉体上盖5闭合，然后打开下银加热块1和上银加热块2上的加热炉丝10的电源开关，那么在此过程中，加热炉丝10开始对下银加热块1和上银加热块2的内部进行加热处理，而加热炉丝10均匀地分布在了下银加热块1和上银加热块2的外部，将会金属片8上的样品坩埚4内部的样品进行加热，从而得出氧化诱导期时间，不需要加入参比物，节约时间。
[0020]以上所述，仅是本专利技术的较佳实施例而已，并非是对本专利技术作其它形式的限制，任何熟悉本专业的技术人员可能利用上述揭示的
技术实现思路
加以变更或改型为等同变化的等效实施例应用于其它领域，但是凡是未脱离本专利技术技术方案内容，依据本专利技术的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与改型，仍属于本专利技术技术方案的保护范围。
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.无参比物氧化诱期分析仪，包括下银加热块(1)，其特征在于：所述下银加热块(1)上开设在有装置通孔(6)，所述下银加热块(1)的顶部设置有金属片(8)，所述金属片(8)的顶部设置与上银加热块(2)，所述上银加热块(2)的底部设置有空腔(3)和放置通孔，所述金属片(8)的顶部设置有样品坩埚(4)，所述放置通孔的顶部设置有炉体上盖(5)，所述金属片(8)的底部设置有参比温度测量热电偶(7)和样品温度测量热电偶(9)。2.根据权利要求1所...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙立鑫，
申请(专利权)人：北京正朗科技发展有限公司，
类型：发明
国别省市：