时序仿真方法、系统、计算机设备及可读存储介质技术方案

本发明专利技术涉及一种时序仿真方法、系统、计算机设备及可读存储介质，包括：获取多个测试向量；将多个测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，各组测试向量组合中，不同的测试向量均具有重复时间段和差异时间段；分别提取各测试向量组合中不同测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量；基于各提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照；基于对应的初始仿真快照，对各测试向量组合中各测试向量的差异时间段进行仿真。上述时序仿真方法，可以大大缩短了整个时序仿真过程中的时序仿真时间，显著提高了仿真效率。提高了仿真效率。提高了仿真效率。

【技术实现步骤摘要】
时序仿真方法、系统、计算机设备及可读存储介质


[0001]本专利技术涉及半导体
，特别是涉及一种时序仿真方法、系统、计算机设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，在对芯片进行时序验证时，譬如，在对DRAM(Dynamic Random Access Memory,动态随机存取存储器)进行全芯片时序验证时，会使用到种类众多的测试向量(Patterns)；而在目前时序验证过程中，需要逐一对各所述测试向量进行仿真验证，这就导致目前的时序验证存在时序验证时间较长及时序验证效率较低等问题。

技术实现思路

[0003]基于此，有必要提供一种时序仿真方法、系统、计算机设备及可读存储介质解决现有技术中的上述问题。
[0004]为了实现上述目的，一方面，本申请提供一种时序仿真方法，包括：
[0005]获取多个测试向量；
[0006]将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，各组所述测试向量组合中，不同的所述测试向量均具有重复时间段和差异时间段；
[0007]分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量；
[0008]基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照；
[0009]基于对应的初始仿真快照，对各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段进行仿真。
[0010]在其中一个实施例中，所述将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，包括：
[0011]将各所述测试向量进行比对；r/>[0012]将自起始时间具有预设时间的重复时间段的所述测试向量分至同一测试向量组合。
[0013]在其中一个实施例中，所述将自起始时间具有预设时间的重复时间段的所述测试向量分至同一测试向量组合，包括：
[0014]将自起始时间具有第一级预设时间的重复时间段的所述测试向量分至第一级的同一测试向量组合；
[0015]判断第一级的同一测试向量组合中是否有自起始时间具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量；所述第二级预设时间大于所述第一级预设时间；
[0016]若有，则将具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量分至第二级的同一测试向量组合。
[0017]在其中一个实施例中，所述将具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量分至
第二级的同一测试向量组合之后，还包括：
[0018]判断上一级的同一测试向量组合中是否有自起始时间具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量；所述下一级预设时间大于上一级预设时间；
[0019]若有，则将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合。
[0020]在其中一个实施例中，将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合之后，还包括：
[0021]重复将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合的步骤若干次，直至最高级的同一测试向量组合中的重复时间段达到预设长度。
[0022]在其中一个实施例中，各相邻级预设时间之间的差值相同。
[0023]在其中一个实施例中，所述分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量，包括：
[0024]提取各最高级的所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个所述提取向量。
[0025]在其中一个实施例中，所述测试向量包括用于测试或操作待测试芯片的数据，所述数据包括逻辑1和逻辑0。
[0026]在其中一个实施例中，所述基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照，包括：将各所述提取向量分别输入仿真器，所述仿真器用于基于输入的提取向量进行仿真，并输出初始仿真快照；
[0027]所述基于对应的初始仿真快照，对各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段进行仿真，包括：将所述初始仿真快照和各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段分别输入所述仿真器，所述仿真器还用于基于输入的测试向量的差异时间段和所述初始仿真快照进行仿真，并输出仿真结果。
[0028]本申请还提供一种时序仿真系统，包括：
[0029]获取模块，用于获取多个测试向量；
[0030]处理模块，与所述获取模块相连接，所述处理模块被配置为：
[0031]将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，各组所述测试向量组合中，不同的所述测试向量均具有重复时间段和差异时间段；
[0032]分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量；
[0033]基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照；
[0034]基于对应的初始仿真快照，对各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段进行仿真。
[0035]在其中一个实施例中，所述处理模块包括：
[0036]分组处理单元，与所述获取模块相连接，用于将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，各组所述测试向量组合中，不同的所述测试向量均具有重复时间段和差异时间段；
[0037]提取单元，与所述分组处理单元相连接，用于分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量；
[0038]仿真单元，与所述分组处理单元及所述提取单元相连接，用于基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照，并基于对应的初始仿真快照，对各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段进行仿真。
[0039]在其中一个实施例中，所述仿真单元包括：
[0040]第一仿真单元，与所述提取单元相连接，用于基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照；
[0041]第二仿真单元，与所述分组处理单元及所述第一仿真单元相连接，用于对各所述测试向量组合中的差异时间段进行仿真。
[0042]在其中一个实施例中，所述测试向量包括用于测试或操作待测试芯片的数据，所述数据包括逻辑1和逻辑0。
[0043]本申请还提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如上述方案中所述的时序仿真方法的步骤。
[0044]本申请还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一方案中所述的时序仿真方法的步骤。
[0045]本申请还提供一种计算机程序产品，包括计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述任一方案中所述的时序仿真方法的步骤。
[0046]上述时序仿真方法，通过将多个测试向量中具有重复时间段的测试向量进行分组得到多组测试向量组合，然后提前各测试向量组合中不同测试向量的重复时间段得到多个提取向量后对提取向量进行仿真，最后再对各测试向量组合中各测试向量的差异时间段进行仿真，在整个仿真过程中，同一测试向量组合中的不同测试向量的重复时间段可以一次进行仿真，大大缩短了整个时本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种时序仿真方法，其特征在于，包括：获取多个测试向量；将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，各组所述测试向量组合中，不同的所述测试向量均具有重复时间段和差异时间段；分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量；基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照；基于对应的初始仿真快照，对各所述测试向量组合中各所述测试向量的差异时间段进行仿真。2.根据权利要求1所述的时序仿真方法，其特征在于，所述将多个所述测试向量进行分组，以得到多组测试向量组合，包括：将各所述测试向量进行比对；将自起始时间具有预设时间的重复时间段的所述测试向量分至同一测试向量组合。3.根据权利要求2所述的时序仿真方法，其特征在于，所述将自起始时间具有预设时间的重复时间段的所述测试向量分至同一测试向量组合，包括：将自起始时间具有第一级预设时间的重复时间段的所述测试向量分至第一级的同一测试向量组合；判断第一级的同一测试向量组合中是否有自起始时间具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量；所述第二级预设时间大于所述第一级预设时间；若有，则将具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量分至第二级的同一测试向量组合。4.根据权利要求3所述的时序仿真方法，其特征在于，所述将具有第二级预设时间的重复时间段的测试向量分至第二级的同一测试向量组合之后，还包括：判断上一级的同一测试向量组合中是否有自起始时间具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量；所述下一级预设时间大于上一级预设时间；若有，则将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合。5.根据权利要求4所述的时序仿真方法，其特征在于，将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合之后，还包括：重复将具有下一级预设时间的重复时间段的测试向量分至下一级的同一测试向量组合的步骤若干次，直至最高级的同一测试向量组合中的重复时间段达到预设长度。6.根据权利要求5所述的时序仿真方法，其特征在于，各相邻级预设时间之间的差值相同。7.根据权利要求5所述的时序仿真方法，其特征在于，所述分别提取各所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个提取向量，包括：提取各最高级的所述测试向量组合中不同所述测试向量的重复时间段，以得到多个所述提取向量。8.根据权利要求1至7中任一项所述的时序仿真方法，其特征在于，所述测试向量包括用于测试或操作待测试芯片的数据，所述数据包括逻辑1和逻辑0。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的时序仿真方法，其特征在于，所述基于各所述提取向量进行仿真，得到对应的初始仿真快照，包括：将各所述提取...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐帆，
申请(专利权)人：长鑫存储技术有限公司，
类型：发明
国别省市：