一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法，属于电子设备测试技术领域。本发明专利技术包括：S10：对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度进行预测；S20：对电子设备内部各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测；S30：基于电子设备内部各电子器件的重要程度，对电子设备在各时刻发生故障的概率进行预测：S40：根据S30中预测的电子设备在各时刻发生故障的概率，选择是否向测试端界面发送预警信息。本发明专利技术通过对各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测，基于预测值能够在电子器件被大幅度腐蚀前对对应电子器件进行维修和保养处理，有利于提高电子设备的使用寿命，本发明专利技术相较于现有技术而言，对电子设备的测试结果更加精确。测试结果更加精确。测试结果更加精确。

【技术实现步骤摘要】
一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法


[0001]本专利技术涉及电子设备测试
，具体为一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法。

技术介绍

[0002]电子设备是指通过电子技术控制和处理信号、能量和信息的设备。这些设备可以采用数字电路、模拟电路、微处理器等技术，以实现各种不同的功能和应用。
[0003]电子设备中包含多种电子器件，而电子器件在潮热环境下容易被腐蚀，从而导致电子设备发生故障或存在潜在危险，而现有系统在对电子器件的腐蚀情况进行分析时，无法对电子器件的腐蚀程度进行精准确定，以及无法提前预知电子设备的故障时间，导致无法对电子设备进行提前维修和保养，缩短了电子设备的使用寿命。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种基于物联网的电子设备自动化测试预警系统及方法，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术提供如下技术方案：一种基于物联网的电子设备自动化测试预警方法，所述方法包括：S10：基于互联网对电子设备内部各电子器件所使用的材料，以及电子设备的额定功率进行采集，根据电子设备的运行情况和电子设备内部各电子器件的设置位置，对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度进行预测；S20：基于S10中预测的电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度，结合电子设备内部各电子器件被灰尘污染的情况，对电子设备内部各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测；S30：基于电子设备内部各电子器件的重要程度，对电子设备在各时刻发生故障的概率进行预测：S40：根据S30中预测的电子设备在各时刻发生故障的概率，选择是否向测试端界面发送预警信息。
[0006]进一步的，所述S10包括：S101：根据电子设备内部各电子器件所使用的材料和设置位置，对电子设备的三维模型进行构建，利用距离计算公式对各电子器件距离电子设备内表面的最短距离值进行计算，通过互联网对电子设备内部各电子器件对应的导热系数进行获取；S102：利用扫描式红外测温仪对电子设备外表面各位置的温度值进行采集，结合S101中计算的各电子器件距离电子设备内表面的最短距离值，对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度值进行确定，具体的确定公式为：T
ir
=t
ir
/[F
i
*e
Wr
‑
W
´
*e
‑
di
]；其中，i=1,2,
…
,n，表示电子器件对应的编号，n表示电子设备内部电子器件总数，
r表示时间，t
ir
表示与编号为i的电子器件距离最短的电子设备外表面在r时刻的温度值，F
i
表示编号为i的电子器件的导热系数，W
r
表示电子设备在时间为r时对应的实际工作功率，W
´
表示电子设备的额定功率，d
i
表示编号为i的电子器件距离电子设备内表面的最短距离值，e为自然常数，且e＞1，T
ir
表示编号为i的电子器件在r时刻的工作温度值，由于各电子器件之间存在热导效应，因此利用电子设备外表面采集的温度值，对距离电子外表面距离最短的电子器件的工作温度值进行计算，精确度较高。
[0007]进一步的，所述S20包括：S201：根据电子设备的运行状态，对电子设备在对应运行状态下对灰尘的吸收系数进行采集，结合电子设备所在位置在不同运行状态下空气中灰尘的分布情况，对电子设备内部各电子器件表面在各时刻吸附的灰尘含量进行预测，具体的预测公式为：K
i(R
´
+R+y)
={{[(h1*V)/S
´
]*S
i
}*R
´
/u}+{{[(h2*V)/S
´
]*S
i
}*R/u}；其中，h1表示电子设备在工作时电子设备所在位置每立方米空气中含有的灰尘含量，h2表示电子设备在关机状态时电子设备所在位置每立方米空气中含有的灰尘含量，R表示电子设备处于关机状态的时间长度值，R
´
表示电子设备处于工作状态的时间长度值，u表示电子设备内部与外界环境之间的气体交换间隔时间，S
i
表示编号为i的电子器件的表面积，V表示电子设备内腔的体积，S
´
表示电子设备内部灰尘能够进行粘附的面积总和，K
i(R
´
+R+y)
表示编号为i的电子器件表面在(R
´
+R+y)时刻吸附的灰尘含量，y表示电子设备开始使用的时间，K
i(R
´
+R+y)
的单位为毫克；S202：基于S102中预测的电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度，在各时刻对电子设备内部各电子器件被腐蚀的程度进行预测，具体的预测方法为：对电子设备所在位置在各时刻的相对湿度值C
r
进行采集，若C
r
与各电子器件的临界相对湿度之间的差值≥0，且对应电子器件在对应时刻的工作温度值大于电解液的形成温度，灰尘中的可溶解性盐吸水后附在电子器件的金属表面的微孔内，在潮热环境下形成电解液，则表示对应电子器件会被腐蚀，反之，则表示对应电子器件不会被腐蚀；根据S201中预测的电子设备内部各电子器件表面在各时刻吸附的灰尘含量，对对应电子器件表面在各时刻形成的电解液中的酸根离子含量进行确定，具体的确定公式为：P
1i
=K
i(R
´
+R+y)
*α，P
2i
=K
i(R
´
+R+y)
*β，其中，α表示每毫克灰尘中氯离子的含量，β表示每毫克灰尘中硫酸根离子的含量，P
1i
表示当时间为(R
´
+R+y)时编号为i的电子器件表面形成的电解液中的氯离子含量，P
2i
表示当时间为(R
´
+R+y)时编号为i的电子器件表面形成的电解液中的硫酸根离子含量，P
1i
、P
2i
的单位均为毫克；根据确定的当时间为(R
´
+R+y)时各电子器件表面形成的电解液中各类酸根离子的含量，以及电子设备所在位置在对应时间的相对湿度值，通过互联网技术对电解液的含量进行确定，利用x1=P
1i
/(P
1i
+X), x2=P
2i
/(P
2i
+X)分别对电解液中氯离子和硫酸根离子的浓度进行计算，基于计算结果，对各电子器件中金属在反应后对应的金属化合价进行确定，其中，X表示电解液的含量，x1表示电解液中氯离子的浓度，x2表示电解液中硫酸根离子的浓度，X的单位为毫克；根据各电子器件所使用的材料，当时间为(R
´
+R+y)时对电子设备内部各电子器件被腐蚀的程度进行预测，具体的预测公式为：E
i
=(本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于物联网的电子设备自动化测试预警方法，其特征在于：所述方法包括：S10：基于互联网对电子设备内部各电子器件所使用的材料，以及电子设备的额定功率进行采集，根据电子设备的运行情况和电子设备内部各电子器件的设置位置，对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度进行预测；S20：基于S10中预测的电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度，结合电子设备内部各电子器件被灰尘污染的情况，对电子设备内部各电子器件在各时刻被腐蚀的程度进行预测；S30：基于电子设备内部各电子器件的重要程度，对电子设备在各时刻发生故障的概率进行预测：S40：根据S30中预测的电子设备在各时刻发生故障的概率，选择是否向测试端界面发送预警信息。2.根据权利要求1所述的一种基于物联网的电子设备自动化测试预警方法，其特征在于：所述S10包括：S101：根据电子设备内部各电子器件所使用的材料和设置位置，对电子设备的三维模型进行构建，利用距离计算公式对各电子器件距离电子设备内表面的最短距离值进行计算，通过互联网对电子设备内部各电子器件对应的导热系数进行获取；S102：利用扫描式红外测温仪对电子设备外表面各位置的温度值进行采集，结合S101中计算的各电子器件距离电子设备内表面的最短距离值，对电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度值进行确定，具体的确定公式为：T
ir
=t
ir
/[F
i
*e
Wr
‑
W
´
*e
‑
di
]；其中，i=1,2,
…
,n，表示电子器件对应的编号，n表示电子设备内部电子器件总数，r表示时间，t
ir
表示与编号为i的电子器件距离最短的电子设备外表面在r时刻的温度值，F
i
表示编号为i的电子器件的导热系数，W
r
表示电子设备在时间为r时对应的实际工作功率，W
´
表示电子设备的额定功率，d
i
表示编号为i的电子器件距离电子设备内表面的最短距离值，e为自然常数，且e＞1，T
ir
表示编号为i的电子器件在r时刻的工作温度值。3.根据权利要求2所述的一种基于物联网的电子设备自动化测试预警方法，其特征在于：所述S20包括：S201：根据电子设备的运行状态，对电子设备在对应运行状态下对灰尘的吸收系数进行采集，结合电子设备所在位置在不同运行状态下空气中灰尘的分布情况，对电子设备内部各电子器件表面在各时刻吸附的灰尘含量进行预测，具体的预测公式为：K
i(R
´
+R+y)
={{[(h1*V)/S
´
]*S
i
}*R
´
/u}+{{[(h2*V)/S
´
]*S
i
}*R/u}；其中，h1表示电子设备在工作时电子设备所在位置每立方米空气中含有的灰尘含量，h2表示电子设备在关机状态时电子设备所在位置每立方米空气中含有的灰尘含量，R表示电子设备处于关机状态的时间长度值，R
´
表示电子设备处于工作状态的时间长度值，u表示电子设备内部与外界环境之间的气体交换间隔时间，S
i
表示编号为i的电子器件的表面积，V表示电子设备内腔的体积，S
´
表示电子设备内部灰尘能够进行粘附的面积总和，K
i(R
´
+R+y)
表示编号为i的电子器件表面在(R
´
+R+y)时刻吸附的灰尘含量，y表示电子设备开始使用的时间；S202：基于S102中预测的电子设备内部各电子器件在各时刻的工作温度，在各时刻对
电子设备内部各电子器件被腐蚀的程度进行预测，具体的预测方法为：对电子设备所在位置在各时刻的相对湿度值C
r
进行采集，若C
r
与各电子器件的临界相对湿度之间的差值≥0，且对应电子器件在对应时刻的工作温度值大于电解液的形成温度，灰尘中的可溶解性盐吸水后附在电子器件的金属表面的微孔内，在潮热环境下形成电解液，则表示对应电子器件会被腐蚀，反之，则表示对应电子器件不会被腐蚀；根据S201中预测的电子设备内部各电子器件表面在各时刻吸附的灰尘含量，对对应电子器件表面在各时刻形成的电解液中的酸根离子含量进行确定，具体的确定公式为：P
1i
=K
i(R
´
+R+y)
*α，P
2i
=K
i(R
´
+R+y)
*β，其中，α表示每毫克灰尘中氯离子的含量，β表示每毫克灰尘中硫酸根离子的含量，P
1i
表示当时间为(R
´
+R+y)时编号为i的电子器件表面形成的电解液中的氯离子含量，P
2i
表示当时间为(R
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+R+y)时编号为i的电子器件表面形成的电解液中的硫酸根离子含量；根据确定的当时间为(R
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+R+y)时各电子器件表面形成的电解液中各类酸根离子的含量，以及电子设备所在位置在对应时间的相对湿度值，通过互联网技术对电解液的含量进行确定，利用x1=P
1i
/(P
1i
+X), x2=P
2i
/(P
2i
+X)分...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘伟，汤小敏，郏金鹏，邹毅，
申请(专利权)人：常州满旺半导体科技有限公司，
类型：发明
国别省市：