用于电气部件测试的插座制造技术

本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括：插座本体，插座本体的内部设置有第一探针收纳部和第二探针收纳部，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，插座本体的底部设置有凹槽，凹槽与第二探针收纳部连通，凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，接触探针包括接地探针和信号探针，接地探针收纳于第一探针收纳部，信号探针收纳于第二探针收纳部，信号探针与第二导电层之间设置有间距；基板，基板设置在插座本体的底部，基板包括绝缘层和第一贯穿电极，第一贯穿电极的一端与信号探针的第一端接触，第一贯穿电极在靠近插座本体的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针的第一端。号探针的第一端。号探针的第一端。

【技术实现步骤摘要】
用于电气部件测试的插座


[0001]本申请涉及电气部件测试
，特别涉及一种用于电气部件测试的插座。

技术介绍

[0002]在例如IC(Integrated Circuit，集成电路)封装体等电气部件的生产过程中，需要使用相关测试设备对其进行性能测试。该测试设备一般包括与另一电气部件(例如布线基板)电性连接的插座。
[0003]相关技术中的一种插座，包括插座主体和接触探针，其中，插座主体上形成有可容纳第一电气部件的容纳部，另外，插座主体上还形成有探针收纳孔，接触探针收纳于探针收纳孔。接触探针为金属材质，接触探针的一端用于与第一电气部件接触，另一端用于与第二电气部件接触，从而建立起第一电气部件与第二电气部件之间的电性连接。
[0004]接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座主体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄漏电流。但是导电层会对信号探针的高频特性产生一定的影响，信号探针与接地探针之间设置有一定的距离，使得信号探针与导电层之间距离较大，进而导致信号探针的高频特性不太理想，电气测试的可靠性较差。

技术实现思路

[0005]本申请实施例的目的在于提供一种用于电气部件测试的插座，以改善信号探针的高频特性。具体技术方案如下：
[0006]本申请实施例提供了一种用于电气部件测试的插座，包括插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；基板，所述基板设置在所述插座本体的底部，所述基板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的第一贯穿电极，所述第一贯穿电极的一端与所述信号探针的第一端接触，所述第一贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述信号探针的第一端。
[0007]在本申请实施例中，插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，其中，第一探针收纳部用于容纳接地探针，第二探针收纳部用于容纳信号探针，第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，接地探针与第一导电层接触并接地。插座本体的底部设置有凹槽，第二探针收纳部与凹槽连通，使得信号探针的一部分位于第二探针收纳部，另一部分位于凹槽内。凹槽的槽壁设置有第二导电层，信号探针与第二导电层之间设置有间距，以避免产生泄漏电流。与第一导电层相比较，通过在凹槽的槽壁设置第二导电层，使第二导电层与信号探针的距离较小，进而在电气测试过程中，改善信号探针的高频特性，提高
电气测试的可靠性。
[0008]另外，在上述结构中，第二探针收纳部与凹槽连通，意味着第二探针收纳部的长度缩短，由于第二探针收纳部用于对信号探针的轴向移动起导向作用，第二探针收纳部的长度缩短，使得第二探针收纳部对信号探针的导向作用减弱，从而导致信号探针的第一端容易歪斜。为了减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，在本申请实施例中，插座本体还包括基板，基板包括绝缘层以及安装在绝缘层上的第一贯穿电极，第一贯穿电极的一端与信号探针的第一端接触，利用第一贯穿电极的导电性能，实现信号探针与第二电气部件的电性连接。第一贯穿电极固定在绝缘层上，以防止产生泄漏电流。第一贯穿电极在靠近插座本体的一侧设置有容纳区域，容纳区域用于容纳信号探针的第一端，通过设置容纳区域对信号探针的第一端的移动范围进行限定，从而使信号探针处于较理想的竖直状态，减少在改善信号探针的高频特性时所出现的信号探针容易歪斜的情况，提高电气测试的可靠性。
[0009]在本申请的一些实施例中，所述第一贯穿电极包括第一接触部、第二接触部以及导电连接体，所述导电连接体穿设所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述导电连接体的靠近所述插座本体的一侧，所述第二接触部设置在所述导电连接体的远离所述插座本体的一侧。
[0010]在本申请的一些实施例中，所述第一接触部包括第一平板以及设置在所述第一平板上的凸起，所述第一平板用于与所述信号探针接触，所述凸起设置有多个，各所述凸起到所述信号探针的距离相等，所述容纳区域由多个所述凸起的靠近所述信号探针的一侧围成。
[0011]在本申请的一些实施例中，所述凸起的靠近所述信号探针的一侧的形状与所述信号探针的端部的形状相适配。
[0012]在本申请的一些实施例中，所述第一接触部包括第一平板，所述第一平板上设置有限位槽，所述容纳区域由所述限位槽构成。
[0013]在本申请的一些实施例中，所述限位槽贯穿所述第一平板且延伸至所述导电连接体。
[0014]在本申请的一些实施例中，所述限位槽贯穿所述第一平板、所述导电连接体以及所述第二接触部，以使所述信号探针直接与第二电气部件接触。
[0015]在本申请的一些实施例中，所述基板还包括安装在所述绝缘层上的第二贯穿电极，所述第二贯穿电极的一端与所述接地探针的第一端接触。
[0016]在本申请的一些实施例中，所述第二贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述接地探针的第一端。
[0017]在本申请的一些实施例中，所述插座本体包括第一本体部和第二本体部，所述第一本体部位于所述插座本体的上部，所述第二本体部位于所述插座本体的下部，所述凹槽位于所述第二本体部且贯穿所述第二本体部，所述第一探针收纳部贯穿所述第一本体部与所述第二本体部，所述第二探针收纳部贯穿所述第一本体部。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现
有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的实施例。
[0019]图1为本申请实施例的插座的结构示意图；
[0020]图2为本申请一种实施例的插座的剖视图；
[0021]图3为图2的A部分的放大图；
[0022]图4为本申请另一种实施例的插座的剖视图；
[0023]图5为图4的B部分的放大图。
具体实施方式
[0024]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员基于本申请所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0025]如
技术介绍
中描述，在相关技术中，接触探针分为接地探针和信号探针，在收纳接地探针的探针收纳孔的孔壁设置有导电层，接地探针与导电层连接并接地。信号探针用于传递测试信号，信号探针与插座本体的接触部分为绝缘材料，以防止产生泄本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于电气部件测试的插座，其特征在于，包括：插座本体，所述插座本体的内部设置有第一探针收纳部以及第二探针收纳部，所述第一探针收纳部的内壁设置有第一导电层，所述插座本体的底部设置有凹槽，所述凹槽与所述第二探针收纳部连通，所述凹槽的槽壁设置有第二导电层；接触探针，所述接触探针包括接地探针以及信号探针，所述接地探针收纳于所述第一探针收纳部，所述信号探针收纳于所述第二探针收纳部，所述信号探针与所述第二导电层之间设置有间距；基板，所述基板设置在所述插座本体的底部，所述基板包括绝缘层以及安装在所述绝缘层上的第一贯穿电极，所述第一贯穿电极的一端与所述信号探针的第一端接触，所述第一贯穿电极在靠近所述插座本体的一侧设置有容纳区域，所述容纳区域用于容纳所述信号探针的第一端。2.根据权利要求1所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一贯穿电极包括第一接触部、第二接触部以及导电连接体，所述导电连接体穿设所述绝缘层，所述第一接触部设置在所述导电连接体的靠近所述插座本体的一侧，所述第二接触部设置在所述导电连接体的远离所述插座本体的一侧。3.根据权利要求2所述的用于电气部件测试的插座，其特征在于，所述第一接触部包括第一平板以及设置在所述第一平板上的凸起，所述第一平板用于与所述信号探针接触，所述凸起设置有多个，各所述凸起到所述信号探针的距离相等，所述容纳区域由多个所述凸起的靠近所述信号探针的一侧围成...

【专利技术属性】
技术研发人员：安住玲雄，
申请(专利权)人：恩普乐斯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：