【技术实现步骤摘要】
一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统
[0001]本申请涉及到OLED领域,特别是涉及到一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统。
技术介绍
[0002]目前,随着OLED的gamma的校正算法的发展,gamma参数校正过程中人工干预程度越来越低。现有的一种gamma参数校正方法如下:根据最高灰阶的亮度值和最低灰阶的亮度值得到各绑点的亮度目标值,并根据亮度目标值值确定各绑点的亮度目标值和色坐标目标值;从绑点中选取调校绑点,对调校绑点输入一RGB寄存器初始值,得到调校绑点的亮度值,对调校绑点的R、G寄存器值进行调节,使调校绑点的亮度落在亮度目标值的第一误差范围内;获取调校绑点的色坐标,对调校绑点的RGB寄存器值进行调节,使调校绑点的色坐标落在亮度目标值的第二误差范围内;根据调校绑点RGB寄存器值计算和/或已经校正好的绑点的寄存器值计算其它绑点的RGB初始寄存器值;对每个绑点RGB初始寄存器值进行调整,使得每个绑点的亮度落在亮度目标值的第一误差范围内;利用搜索算法对每个绑点RGB初始寄存器值进行调整,使得每个绑点的色坐标落在亮度目标值的第二误差范围内;回读每个绑点的初始寄存器值,对每个绑点的RGB寄存器值进行微调,使得每个绑点的亮度和色标都落在第三误差范围内,得到每个绑点寄存器值,即校正参数。
[0003]对于亮度一致性要求较低的OLED显示模组,如用于摆放在餐桌的菜单显示平板、商用宣传屏、批量定制的用于测试用OLED模组等,在gamma参数校正过程中可以省略回读寄存器以及对RGB寄存器值微调的操作, ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,包括:S1:根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点;S2:获取所述多个目标绑点的检测亮度;根据所述多个目标绑点的检测亮度和亮度目标值获取每个目标绑点的第一误差;S3:获取所述多个目标绑点在gamma参数校正过程中的校正顺序;根据所述校正顺序对所述多个目标绑点排序,得到排序后的多个目标绑点;获取所述排序后的多个目标绑点中相邻两个目标绑点的检测亮度的亮度差值,得到多个亮度差值;根据所述多个亮度差值和所述多个目标绑点的数量获取所述多个目标绑点的平均亮度差值;S4:判断每个目标绑点的第一误差是否在第一范围内,且所述多个目标绑点的平均亮度差值是否在第二范围内;S5:若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性;S6:若所述第一误差在所述第一范围内,且所述平均亮度差值在第二范围内,根据每个目标绑点的位置确定所述OLED显示模组的多个检测区域;S7:获取每个检测区域的平均检测亮度;S8:判断所述每个检测区域的平均检测亮度是否在第三范围内,若是,判定所述OLED显示模组不存在不良特性。2.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,在所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,还包括:建立OLED显示模组在gamma参数校正过程中使用的搜索算法配置的不同的搜索次数阈值和不同的目标绑点的数量的第一映射关系,所述搜索次数阈值和所述目标绑点的数量为反比关系;所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S11:获取所述OLED显示模组在gamma参数校正过程中的搜索算法配置的搜索次数阈值;S12:根据所述第一映射关系和所述搜索次数阈值确定所述目标绑点的数量;S13:根据所述目标绑点的数量在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。3.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,所述OLED显示模组的每个绑点的校正参数具有多组;在若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性,其中,所述第一范围在所述第二范围内的步骤S5之后,还包括:S51:在预先存储的OLED显示模组的每个目标绑点的多组校正参数中随机确定每个目标绑点的下一校正参数;S52:将所述下一校正参数写入每个目标绑点对应的寄存器中,执行S3。4.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,在所述据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,包括:建立OLED显示模组的不同面积和目标绑点的不同数量阈值的第二映射关系;
所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S14:根据所述OLED显示模组的面积和所述第二映射关系确定所述OLED显示模组对应的数量阈值;S15:根据所述OLED显示模组对应的数量阈值在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。5.根据权利要求4所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,所述根据所述OLED显示模组对应的数量...
【专利技术属性】
技术研发人员:王子钧,肖琼,汤爱保,李尧,
申请(专利权)人:深圳市东陆科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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