一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统技术方案

技术编号:39175550 阅读:17 留言:0更新日期:2023-10-27 08:23
本申请涉及OLED领域,具体涉及到一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统,本方法通过确定目标绑点并对目标绑点进行初步检测的方式快速筛选出具有不良特性的OLED显示模组,对通过初步检测的OLED检测模组进行多个区域的详细检测,实现对OLED显示模组的精细化检测,可以在gamma参数校正智能化的情况下实现对gamma参数校正后的OLED显示模组的不良特性检测。检测。检测。

【技术实现步骤摘要】
一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统


[0001]本申请涉及到OLED领域,特别是涉及到一种OLED显示模组不良特性的检测方法及系统。

技术介绍

[0002]目前,随着OLED的gamma的校正算法的发展,gamma参数校正过程中人工干预程度越来越低。现有的一种gamma参数校正方法如下:根据最高灰阶的亮度值和最低灰阶的亮度值得到各绑点的亮度目标值,并根据亮度目标值值确定各绑点的亮度目标值和色坐标目标值;从绑点中选取调校绑点,对调校绑点输入一RGB寄存器初始值,得到调校绑点的亮度值,对调校绑点的R、G寄存器值进行调节,使调校绑点的亮度落在亮度目标值的第一误差范围内;获取调校绑点的色坐标,对调校绑点的RGB寄存器值进行调节,使调校绑点的色坐标落在亮度目标值的第二误差范围内;根据调校绑点RGB寄存器值计算和/或已经校正好的绑点的寄存器值计算其它绑点的RGB初始寄存器值;对每个绑点RGB初始寄存器值进行调整,使得每个绑点的亮度落在亮度目标值的第一误差范围内;利用搜索算法对每个绑点RGB初始寄存器值进行调整,使得每个绑点的色坐标落在亮度目标值的第二误差范围内;回读每个绑点的初始寄存器值,对每个绑点的RGB寄存器值进行微调,使得每个绑点的亮度和色标都落在第三误差范围内,得到每个绑点寄存器值,即校正参数。
[0003]对于亮度一致性要求较低的OLED显示模组,如用于摆放在餐桌的菜单显示平板、商用宣传屏、批量定制的用于测试用OLED模组等,在gamma参数校正过程中可以省略回读寄存器以及对RGB寄存器值微调的操作,同时缩小第一误差范围,或缩小第二误差范围,和/或限定快速搜索范围。这种方法可以在一定程度上保证在针对色坐标的调节之后的绑点的亮度和亮度目标值的误差在生产需求要求的误差范围内,减少gamma参数校正的时间,同时保证OLED显示模组具有较高的合格率。但是,由于没有进行微调,需要在OLED显示模组中筛选出亮度一致性不符合要求,即具有不良特性的OLED显示模组进行微调或者重新进行参数校正。

技术实现思路

[0004]本申请提出一种OLED显示模组不良特性的检测方法,包括以下步骤:S1:根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点;S2:获取所述多个目标绑点的检测亮度;根据所述多个目标绑点的检测亮度和亮度目标值获取每个目标绑点的第一误差;S3:获取所述多个目标绑点在gamma参数校正过程中的校正顺序;根据所述校正顺序对所述多个目标绑点排序,得到排序后的多个目标绑点;获取所述排序后的多个目标绑点中相邻两个目标绑点的检测亮度的亮度差值,得到多个亮度差值;根据所述多个亮度差值和所述多个目标绑点的数量获取所述多个目标绑点的平均亮度差值;S4:判断每个目标绑点的第一误差是否在第一范围内,且所述多个目标绑点的平
均亮度差值是否在第二范围内;S5:若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性;S6:若所述第一误差在所述第一范围内,且所述平均亮度差值在第二范围内,根据每个目标绑点的位置确定所述OLED显示模组的多个检测区域;S7:获取每个检测区域的平均检测亮度;S8:判断所述每个检测区域的平均检测亮度是否在第三范围内,若是,判定所述OLED显示模组不存在不良特性。
[0005]进一步地,在所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,还包括:建立OLED显示模组在gamma参数校正过程中使用的搜索算法配置的不同的搜索次数阈值和不同的目标绑点的数量的第一映射关系,所述搜索次数阈值和所述目标绑点的数量为反比关系;所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S11:获取所述OLED显示模组在gamma参数校正过程中的搜索算法配置的搜索次数阈值;S12:根据所述第一映射关系和所述搜索次数阈值确定所述目标绑点的数量;S13:根据所述目标绑点的数量在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。
[0006]进一步地,所述OLED显示模组的每个绑点的校正参数具有多组;在若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性,其中,所述第一范围在所述第二范围内的步骤S5之后,还包括:S51:在预先存储的OLED显示模组的每个目标绑点的多组校正参数中随机确定每个目标绑点的下一校正参数;S52:将所述下一校正参数写入每个目标绑点对应的寄存器中,执行S3。
[0007]进一步地,在所述据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,包括:建立OLED显示模组的不同面积和目标绑点的不同数量阈值的第二映射关系;所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S14:根据所述OLED显示模组的面积和所述第二映射关系确定所述OLED显示模组对应的数量阈值;S15:根据所述OLED显示模组对应的数量阈值在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。
[0008]进一步地,所述根据所述OLED显示模组对应的数量阈值在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点的步骤S15,包括:S151:在所述OLED显示模组中的多个绑点中随机确定初始绑点;S152:根据所述初始绑点确定所述多个目标绑点,所述多个目标绑点的数量大于所述数量阈值,且所述多个目标绑点校正顺序序号形成第一等差序列,所述第一等差序列的公差和所述OLED显示模组在gamma参数校正时采用的线性插值算法中涉及的绑点的校正
顺序序号形成的第二等差序列的公差不同。
[0009]进一步地,所述获取每个检测区域的平均检测亮度的步骤S7,包括:S71:将所述检测区域划分为多个子检测区域,每个所述子检测区域的面积大于预设面积阈值;S72:获取所述多个子检测区域的亮度;S73:将所述每个检测区域对应的多个子检测区域的亮度的平均值作为所述每个检测区域的平均检测亮度。
[0010]本申请还提出一种OLED显示模组不良特性的检测系统,包括:目标绑点确定模块,用于根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点;误差获取模块,用于获取所述多个目标绑点的检测亮度;根据所述多个目标绑点的检测亮度和亮度目标值获取每个目标绑点的第一误差;亮度差值获取模块,用于获取所述多个目标绑点在gamma参数校正过程中的校正顺序;根据所述校正顺序对所述多个目标绑点排序,得到排序后的多个目标绑点;获取所述排序后的多个目标绑点中相邻两个目标绑点的检测亮度的亮度差值,得到多个亮度差值;根据所述多个亮度差值和所述多个目标绑点的数量获取所述多个目标绑点的平均亮度差值;判断模块,用于判断每个目标绑点的第一误差是否在第一范围内,且所述多个目标绑点的平均亮度差值是否在第二范围内;所述判断模块还用于若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内时,判定所述OLED显示模组具有不良特性;区本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,包括:S1:根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点;S2:获取所述多个目标绑点的检测亮度;根据所述多个目标绑点的检测亮度和亮度目标值获取每个目标绑点的第一误差;S3:获取所述多个目标绑点在gamma参数校正过程中的校正顺序;根据所述校正顺序对所述多个目标绑点排序,得到排序后的多个目标绑点;获取所述排序后的多个目标绑点中相邻两个目标绑点的检测亮度的亮度差值,得到多个亮度差值;根据所述多个亮度差值和所述多个目标绑点的数量获取所述多个目标绑点的平均亮度差值;S4:判断每个目标绑点的第一误差是否在第一范围内,且所述多个目标绑点的平均亮度差值是否在第二范围内;S5:若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性;S6:若所述第一误差在所述第一范围内,且所述平均亮度差值在第二范围内,根据每个目标绑点的位置确定所述OLED显示模组的多个检测区域;S7:获取每个检测区域的平均检测亮度;S8:判断所述每个检测区域的平均检测亮度是否在第三范围内,若是,判定所述OLED显示模组不存在不良特性。2.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,在所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,还包括:建立OLED显示模组在gamma参数校正过程中使用的搜索算法配置的不同的搜索次数阈值和不同的目标绑点的数量的第一映射关系,所述搜索次数阈值和所述目标绑点的数量为反比关系;所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S11:获取所述OLED显示模组在gamma参数校正过程中的搜索算法配置的搜索次数阈值;S12:根据所述第一映射关系和所述搜索次数阈值确定所述目标绑点的数量;S13:根据所述目标绑点的数量在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。3.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,所述OLED显示模组的每个绑点的校正参数具有多组;在若所述第一误差不在第一范围内,或所述平均亮度差值不在第二范围内,判定所述OLED显示模组具有不良特性,其中,所述第一范围在所述第二范围内的步骤S5之后,还包括:S51:在预先存储的OLED显示模组的每个目标绑点的多组校正参数中随机确定每个目标绑点的下一校正参数;S52:将所述下一校正参数写入每个目标绑点对应的寄存器中,执行S3。4.根据权利要求1所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,在所述据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1之前,包括:建立OLED显示模组的不同面积和目标绑点的不同数量阈值的第二映射关系;
所述根据预设的绑点确定方法,在OLED显示模组的多个绑点中确定多个目标绑点的步骤S1,包括:S14:根据所述OLED显示模组的面积和所述第二映射关系确定所述OLED显示模组对应的数量阈值;S15:根据所述OLED显示模组对应的数量阈值在所述OLED的多个绑点中确定所述多个目标绑点。5.根据权利要求4所述的OLED显示模组不良特性的检测方法,其特征在于,所述根据所述OLED显示模组对应的数量...

【专利技术属性】
技术研发人员:王子钧肖琼汤爱保李尧
申请(专利权)人:深圳市东陆科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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