本发明专利技术涉及存储芯片技术领域，具体公开了一种擦除干扰检测方法、修复方法、装置、芯片及电子设备，其中，检测方法包括步骤：在芯片完成上电后的首次擦除操作中，基于全地址检测进行擦除干扰检测；在芯片完成上电后的非首次擦除操作中，基于随机检测或轮询检测进行擦除干扰检测；该检测方法在芯片完成上电后的首次擦除操作中便进行擦除干扰的全地址检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能将芯片中因该擦除轮次及掉电前擦除行为产生的所有存在擦除干扰现象的存储单元检测出来以进行及时修复，能有效提高擦除干扰检测的可靠性、准确性。准确性。准确性。
【技术实现步骤摘要】
擦除干扰检测方法、修复方法、装置、芯片及电子设备
[0001]本申请涉及存储芯片
，具体而言，涉及一种擦除干扰检测方法、修复方法、装置、芯片及电子设备。
技术介绍
[0002]擦除操作是存储器芯片主要的一种操作模式，对于非易失存储器来说，在生命周期中，随着编程擦除的次数增多，往往擦除性能会变差，表现出来的现象就是擦除时间明显变长，容易导致未擦除区域内的数据出现变化，该现象业内称之为擦除干扰，擦除干扰会导致数据产生变化而引起芯片存储数据出错，所以在擦除操作中，擦除干扰的检测和修复不可或缺。
[0003]在平衡擦除时间和降低擦除干扰效果两种需求之间，现有厂家普遍选择使用随机地址产生电路在擦除操作中产生随机地址进行擦除干扰检测和修复，但这种擦除干扰检测方式在芯片上电后会产生相同的地址进行擦除干扰检测和修复，主要原因为现有随机地址是基于芯片上电获取的配置信息生成的，而对于芯片而言，上次上电和下次上电并无区别，故在上电后首次擦除干扰的检测和修复的地址是相同的，若芯片在未完成擦除干扰检测和修复的情况下出现掉电，则再次上电后的首次擦除操作只会对同一地址进行擦除干扰的检测和修复处理，无法有效修复掉电前存在擦除干扰问题的存储单元，且在多次掉电行为后擦除干扰现象越发加深，会导致芯片中存在大量出现存储数据出错的存储单元，导致现有的擦除干扰的检测和修复处理的可靠性不足。
[0004]针对上述问题，目前尚未有有效的技术解决方案。
技术实现思路
[0005]本申请的目的在于提供一种擦除干扰检测方法、修复方法、装置、芯片及电子设备，以提高擦除干扰检测方法的可靠性。
[0006]第一方面，本申请提供了一种擦除干扰检测方法，用于检测芯片是否存在擦除干扰现象，所述检测方法包括以下步骤：在芯片完成上电后的首次擦除操作中，基于全地址检测进行擦除干扰检测；在芯片完成上电后的非首次擦除操作中，基于随机检测或轮询检测进行擦除干扰检测。
[0007]本申请的擦除干扰检测方法在芯片完成上电后的首次擦除操作中便进行擦除干扰的全地址检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能将芯片中因该擦除轮次及掉电前擦除行为产生的所有存在擦除干扰现象的存储单元检测出来以进行及时修复，能有效提高擦除干扰检测的可靠性、准确性，且在芯片完成上电后的非首次擦除操作中进行擦除干扰的随机检测或轮询检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能保证芯片在上电后长时间运行下的擦除操作能高效进行。
[0008]所述的擦除干扰检测方法，其中，所述擦除操作对应的擦除区域的大小与所述随
机检测或所述轮询检测的检测区域的大小一致。
[0009]上述检测设计方式合理规划了检测对象的大小，如多次擦除操作的擦除区域总和覆盖了整个芯片的存储阵列，合理设计下的随机检测或轮询检测的检测区域总和也能覆盖整个芯片的存储阵列，相当于完成了整个存储阵列的擦除干扰检测，符合芯片检测需求并能保证擦除操作高效进行。
[0010]所述的擦除干扰检测方法，其中，所述擦除操作为块擦除或扇区擦除。
[0011]所述的擦除干扰检测方法，其中，当所述擦除操作为块擦除时，所述全地址检测的对象为擦除操作对应的块以外的且与该块基于同一个衬底连接的所有块。
[0012]所述的擦除干扰检测方法，其中，所述随机检测通过选中随机地址产生电路产生的地址进行。
[0013]所述的擦除干扰检测方法，其中，所述轮询检测基于预设顺序选中擦除操作对应的擦除区域以外的地址进行。
[0014]第二方面，本申请还提供了一种擦除干扰修复方法，用于检测并修复芯片中的擦除干扰现象，所述修复方法包括：在芯片完成上电后的首次擦除操作中，基于全地址检测进行擦除干扰检测及修复；在芯片完成上电后的非首次擦除操作中，基于随机检测或轮询检测进行擦除干扰检测及修复。
[0015]本申请的擦除干扰修复方法在芯片完成上电后的首次擦除操作中便进行擦除干扰的全地址检测及修复，能将芯片中因该擦除轮次及掉电前擦除行为产生的所有存在擦除干扰现象的存储单元检测出来并进行及时修复，能有效提高擦除干扰检测的可靠性、准确性，且在芯片完成上电后的非首次擦除操作中进行擦除干扰的随机检测或轮询检测及修复，能保证芯片在上电后长时间运行下的擦除操作能高效进行。
[0016]第三方面，本申请还提供了一种擦除干扰检测装置，用于检测芯片是否存在擦除干扰现象，所述检测装置包括：第一检测模块，用于在芯片完成上电后的首次擦除操作中，基于全地址检测进行擦除干扰检测；第二检测模块，用于在芯片完成上电后的非首次擦除操作中，基于随机检测或轮询检测进行擦除干扰检测。
[0017]本申请的擦除干扰检测装置在芯片完成上电后的首次擦除操作中便进行擦除干扰的全地址检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能将芯片中因该擦除轮次及掉电前擦除行为产生的所有存在擦除干扰现象的存储单元检测出来以进行及时修复，能有效提高擦除干扰检测的可靠性、准确性。
[0018]第四方面，本申请还提供了一种存储芯片，所述存储芯片包括控制电路和存储阵列，所述存储芯片基于所述控制电路运行如第一方面提供的检测方法或如第二方面提供的修复方法。
[0019]第五方面，本申请还提供了一种电子设备，包括如第四方面提供的存储芯片。
[0020]由上可知，本申请提供了一种擦除干扰检测方法、修复方法、装置、芯片及电子设备，其中，擦除干扰检测方法在芯片完成上电后的首次擦除操作中便进行擦除干扰的全地
址检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能将芯片中因该擦除轮次及掉电前擦除行为产生的所有存在擦除干扰现象的存储单元检测出来以进行及时修复，能有效提高擦除干扰检测的可靠性、准确性，且在芯片完成上电后的非首次擦除操作中进行擦除干扰的随机检测或轮询检测以对存在擦除干扰问题的存储单元进行擦除干扰修复，能保证芯片在上电后长时间运行下的擦除操作能高效进行。
附图说明
[0021]图1为本申请实施例提供的擦除干扰检测方法的流程图。
[0022]图2为本申请实施例提供的擦除干扰修复方法的流程图。
[0023]图3为本申请实施例提供的擦除干扰检测装置的结构示意图。
[0024]附图标记：301、计数模块；302、判断模块；303、第一检测模块；304、第二检测模块。
具体实施方式
[0025]下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0026]应注意到：相似的标号和字母在下面的附图本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种擦除干扰检测方法，用于检测芯片是否存在擦除干扰现象，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：在芯片完成上电后的首次擦除操作中，基于全地址检测进行擦除干扰检测；在芯片完成上电后的非首次擦除操作中，基于随机检测或轮询检测进行擦除干扰检测。2.根据权利要求1所述的擦除干扰检测方法，其特征在于，所述擦除操作对应的擦除区域的大小与所述随机检测或所述轮询检测的检测区域的大小一致。3.根据权利要求1所述的擦除干扰检测方法，其特征在于，所述擦除操作为块擦除或扇区擦除。4.根据权利要求3所述的擦除干扰检测方法，其特征在于，当所述擦除操作为块擦除时，所述全地址检测的对象为擦除操作对应的块以外的且与该块基于同一个衬底连接的所有块。5.根据权利要求1所述的擦除干扰检测方法，其特征在于，所述随机检测通过选中随机地址产生电路产生的地址进行。6.根据权利要求1所述的擦除干扰检测方法，其特征在于，所述轮询检测基于预设顺序选中擦除...
【专利技术属性】
技术研发人员：温靖康，鲍奇兵，高益，王振彪，吴彤彤，
申请(专利权)人：芯天下技术股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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