一种提高多头拼接精密加工精度的方法技术

本发明专利技术公开一种提高多头拼接精密加工精度的方法，包括：步骤一、设备安装；步骤二、卷料输送；步骤三、基准点加工：采用第一排振镜组的两端部的振镜在卷料上加工Mark点；步骤四、基准点定位：将卷料沿卷料输送方向步进一个透镜的加工幅面A的距离，通过两相机对两Mark点抓靶定位；步骤五、定位后两排振镜组的若干振镜同时对卷料进行加工；步骤六、加工完成后，将卷料沿卷料输送方向步进一个透镜的加工幅面A的距离；步骤七、定位后两排振镜组的若干振镜对卷料进行加工；步骤八、重复步骤六至步骤七，直至加工完成。本发明专利技术采用边加工边标记Mark点的方式进行加工，提高了加工精度，适用于高精度、需要拼接加工的应用场合。需要拼接加工的应用场合。需要拼接加工的应用场合。

【技术实现步骤摘要】
一种提高多头拼接精密加工精度的方法


[0001]本专利技术涉及精密加工
，特别是涉及一种提高多头拼接精密加工精度的方法。

技术介绍

[0002]目前一些卷料加工中大多数以卷料边缘或者材料表面预设一些Mark标识为定位基准进行抓靶加工，(收放卷的送料精度、平稳性、材料被拉伸变形等一些问题会直接影响加工精度)。
[0003]这样的加工方法往往用在一些精度要求较低的场合，无法适用一些高精度、需要拼接加工的应用场合。
[0004]为了消除收放卷送料过程的不稳定性对加工精度的影响，提出一种提高多头拼接精密加工精度的方法。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是提供一种提高多头拼接精密加工精度的方法，旨在解决或改善上述技术问题中的至少之一。
[0006]为实现上述目的，本专利技术提供了如下方案：本专利技术提供一种提高多头拼接精密加工精度的方法，包括以下步骤：
[0007]步骤一、设备安装：设备包括至少两排振镜组和至少两相机；每排所述振镜组包括若干并排设置的振镜；所述振镜的输出端安装有透镜；两所述相机并排设置，并且两所述相机均位于两排所述振镜组之间；所述相机与所述振镜相对设置；
[0008]步骤二、卷料输送：第一次加工时，将卷料沿卷料输送方向送入第一排振镜组处；
[0009]步骤三、基准点加工：采用第一排振镜组的两端部的振镜在卷料上加工Mark点；
[0010]步骤四、基准点定位：将卷料沿卷料输送方向步进一个所述透镜的加工幅面A的距离，使得加工的两Mark点移动至两所述相机的视野内，通过两所述相机对两Mark点抓靶定位；
[0011]步骤五、第一次加工：定位后两排振镜组的若干振镜同时对卷料进行加工；
[0012]步骤六、加工完成后，将卷料沿卷料输送方向步进一个所述透镜的加工幅面A的距离；
[0013]步骤七、第二次加工：定位后两排振镜组的若干振镜同时对卷料进行加工；
[0014]步骤八、重复步骤六至步骤七，直至加工完成。
[0015]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，每排所述振镜组包括四个并排设置的振镜，四个所述透镜等间距排布。
[0016]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，所述振镜组设有两排，两排所述振镜组交错排布。
[0017]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，两所述相机均位于两
排所述振镜组之间；两排所述振镜组内位于两端部的所述振镜之间均设有所述相机。
[0018]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，所述相机的中轴线与位于端部的所述透镜的中轴线空间平行；
[0019]所述相机的中轴线与位于端部的所述透镜的中轴线沿X轴方向的距离小于1/2A，其中A为所述透镜的加工幅面。
[0020]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，所述步骤二至所述步骤六中，通过收放卷机构将卷料沿卷料输送方向输送。
[0021]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，每排所述透镜组内相邻两所述透镜之间的间距小于所述透镜的加工幅面A的距离。
[0022]根据本专利技术提供的一种提高多头拼接精密加工精度的方法，若干所述透镜的整体加工幅面的宽度大于所述卷料的幅宽。
[0023]本专利技术公开了以下技术效果：
[0024]本专利技术采用第一排振镜组的两端部的振镜在卷料上加工Mark点，当卷料沿卷料输送方向步进一个透镜的加工幅面A的距离时，通过两相机对两Mark点抓靶定位，即采用边加工边标记Mark点的方式进行，标记的Mark点用作下一加工幅面的定位点，提高了加工精度，适用于高精度、需要拼接加工的应用场合。
附图说明
[0025]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0026]图1为本专利技术中设备的结构示意图；
[0027]其中，1、相机；2、振镜；3、卷料；4、透镜。
具体实施方式
[0028]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0029]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0030]参照图1，本专利技术提供一种提高多头拼接精密加工精度的方法，包括以下步骤：
[0031]步骤一、设备安装：设备包括至少两排振镜组和至少两相机1；每排振镜组包括若干并排设置的振镜2；振镜2的输出端安装有透镜4；两相机1并排设置，并且两相机1均位于两排振镜组之间；相机1与振镜2相对设置；
[0032]步骤二、卷料输送：第一次加工时，将卷料3沿卷料输送方向送入第一排振镜组处；图1中箭头方向即为卷料输送方向；
[0033]步骤三、基准点加工：采用第一排振镜组的两端部的振镜2在卷料3上加工Mark点；
[0034]步骤四、基准点定位：将卷料3沿卷料输送方向步进一个透镜4的加工幅面A的距离，使得加工的两Mark点移动至两相机1的视野内，通过两相机1对两Mark点抓靶定位；
[0035]步骤五、第一次加工：定位后两排振镜组的若干振镜2同时对卷料3进行加工；
[0036]步骤六、加工完成后，将卷料3沿卷料输送方向步进一个透镜4的加工幅面A的距离；
[0037]步骤七、第二次加工：定位后两排振镜组的若干振镜2同时对卷料3进行加工；
[0038]步骤八、重复步骤六至步骤七，直至加工完成；
[0039]如此设置，本专利技术采用第一排振镜组的两端部的振镜2在卷料3上加工Mark点，当卷料3沿卷料输送方向步进一个透镜4的加工幅面A的距离时，通过两相机1对两Mark点抓靶定位，即采用边加工边标记Mark点的方式进行，标记的Mark点用作下一加工幅面的定位点，提高了加工精度，适用于高精度、需要拼接加工的应用场合。
[0040]进一步优化方案，每排振镜组包括四个并排设置的振镜2，四个透镜4等间距排布。
[0041]进一步优化方案，振镜组设有两排，两排振镜组交错排布。
[0042]进一步优化方案，两相机1均位于两排振镜组之间；两排振镜组内位于两端部的振镜2之间均设有相机1。
[0043]进一步优化方案，相机1的中轴线与位于端部的透镜4的中轴线空间平行；
[0044]相机1的中轴线与位于端部的透镜4的中轴线沿X轴方向的距离小于1/2A，其中A为透镜4的加工幅面；使得振镜2加工的Mark点可以完全落入相机1的视野内，实现高精本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种提高多头拼接精密加工精度的方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤一、设备安装：设备包括至少两排振镜组和至少两相机(1)；每排所述振镜组包括若干并排设置的振镜(2)；所述振镜(2)的输出端安装有透镜(4)；两所述相机(1)并排设置，并且两所述相机(1)均位于两排所述振镜组之间；所述相机(1)与所述振镜(2)相对设置；步骤二、卷料输送：第一次加工时，将卷料(3)沿卷料输送方向送入第一排振镜组处；步骤三、基准点加工：采用第一排振镜组的两端部的振镜(2)在卷料(3)上加工Mark点；步骤四、基准点定位：将卷料(3)沿卷料输送方向步进一个所述透镜(4)的加工幅面A的距离，使得加工的两Mark点移动至两所述相机(1)的视野内，通过两所述相机(1)对两Mark点抓靶定位；步骤五、第一次加工：定位后两排振镜组的若干振镜(2)同时对卷料(3)进行加工；步骤六、加工完成后，将卷料(3)沿卷料输送方向步进一个所述透镜(4)的加工幅面A的距离；步骤七、第二次加工：定位后两排振镜组的若干振镜(2)同时对卷料(3)进行加工；步骤八、重复步骤六至步骤七，直至加工完成。2.根据权利要求1所述的提高多头拼接精密加工精度的方法，其特征在于：每排所述振镜组包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：李雪莲，
申请(专利权)人：武汉元禄光电技术有限公司，
类型：发明
国别省市：