一种摄像头杂光测试设备制造技术

本发明专利技术涉及摄像头测试技术领域，尤其是一种摄像头杂光测试设备，包括光源组件、遮光组件和拍摄组件；所述光源组件安装在安装架的顶部；所述遮光组件安装在安装架的内侧、以对光源组件发出的光线进行遮挡；所述拍摄组件安装在安装架的内侧、以对光源组件的进行拍摄。通过调整反光筒与黑箱之间的间隙大小可以调整导光筒内部的光线亮度，这样可以检测出拍摄组件在不同光线亮度的环境下的拍摄性能，也就可以提高对拍摄组件的检测效果。以提高对拍摄组件的检测效果。以提高对拍摄组件的检测效果。

【技术实现步骤摘要】
一种摄像头杂光测试设备


[0001]本专利技术涉及摄像头测试
，尤其涉及一种摄像头杂光测试设备。

技术介绍

[0002]随着科技的发展，拍照功能成为许多电子产品的一个重要功能，而实现拍照功能的硬件基础是摄像头模组，若摄像头模组存在杂光现象，则会引起照片出现炫光等问题，照片质量将严重下降；其中，杂光是指在拍摄光源或者强光物体时，边缘会出现光影或者一个完整物体的影子这主要是因为摄像头模组的镜片的材质导致，所以需要对摄像头模组进行测试；
[0003]经检索，中国专利申请号为CN202022636833.0中公开了“一种摄像头模组的杂光检测装置，包括底座，所述底座的一侧固定安装有箱体，所述箱体的一侧固定安装有支撑架，所述支撑架的一侧固定安装有固定板，所述固定板的一侧固定安装有移动板，所述移动板的一侧固定安装有位于固定板一侧的第一支撑板，所述第一支撑板的一侧固定安装有位于底座一侧的第一固定柱”；
[0004]该类专利主要通过摄像头模组直接对光源进行拍摄，然后将待检测摄像头模组拍摄到的图像直接在第一显示屏进行显示，从而通过图像的清晰度来判断摄像头模组的是否存在杂光问题；其中，当不同的摄像头模组对光源进行拍摄时，由于不同的摄像头模组的镜片材质不同，所以不同的摄像头模组在不同光照亮度下拍摄的图像的清晰度不同，而该类专利的光源的光照亮度一定，这就导致不同的摄像头模组在测试时无法判断出实际能够承受的光照亮度，从而无法测试出不同摄像头模组在不同光照亮度下的拍摄性能。

技术实现思路

[0005]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在无法测试出摄像头模组实际的拍摄性能的缺点，而提出的一种摄像头杂光测试设备。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0007]设计一种摄像头杂光测试设备，包括光源组件、遮光组件和拍摄组件；所述光源组件安装在安装架的顶部；所述遮光组件安装在安装架的内侧、以对光源组件发出的光线进行遮挡；所述拍摄组件安装在安装架的内侧、以对光源组件的进行拍摄。
[0008]优选的，所述光源组件包括安装筒、黑箱、发光源和导光件；所述安装筒固定安装在安装架的顶部，所述黑箱固定安装在安装筒内侧的顶端，所述发光源固定安装在黑箱的内侧，所述导光件安装在安装筒内侧的底端。
[0009]优选的，所述导光件包括凹透镜、导光筒、两个气缸、环状板和反光筒；所述凹透镜固定安装在黑箱内侧的底端，所述导光筒固定安装在安装筒内侧的底端，两个所述气缸分别固定安装在安装筒内侧的两端、且输出端均与环状板固定连接，所述环状板套设在导光筒外侧、且可与导光筒相对滑动，所述反光筒固定安装在环状板的顶部、且可套设在黑箱的外侧。
[0010]优选的，所述导光筒的底部开设有通孔。
[0011]优选的，所述遮光组件包括转轴和遮光板；所述转轴转动安装在安装架的内侧，所述遮光板固定安装在转轴的顶部，所述遮光板的外侧开设有四个透光孔，四个所述透光孔环绕着遮光板均匀分布，所述遮光板的底部固定安装有四个与透光孔一一对应的卡套。
[0012]优选的，四个所述透光孔的孔径大小各不相同、且均小于通孔的孔径大小。
[0013]优选的，所述遮光组件还包括齿轮、电机和不完全齿轮；所述齿轮固定安装在转轴的底部，所述电机固定安装在安装架的内侧、且输出轴与不完全齿轮固定连接，所述不完全齿轮可与齿轮啮合。
[0014]优选的，所述拍摄组件包括滑杆、安装板、摄像头模组和顶压件；所述滑杆滑动安装在安装架的内侧，所述安装板固定安装在滑杆的顶端，所述摄像头模组固定安装在安装板的顶部、且可与卡套配合，所述顶压件安装在滑杆的底端。
[0015]优选的，所述顶压件包括转动板、顶板、压球和弹簧；所述转动板与不完全齿轮同轴固定连接，所述顶板固定安装在转动板的顶部，所述顶板上开设有开口槽，所述开口槽的位置与不完全齿轮的齿部完全错开，所述压球固定安装在滑杆的底部、且可与顶板接触，所述弹簧套设在滑杆上、且顶端与安装架固定连接。
[0016]优选的，还包括显示器，所述摄像头模组与显示器信号连接。
[0017]本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备，有益效果在于：通过控制两个气缸使得环状板带动反光筒向下移动，也就使得反光筒的顶端与黑箱之间的间隙增大，这样可以使得凹透镜外沿折射的光线更多的从反光筒与黑箱之间的间隙导出，从而使得使得反光筒接收的光线减少，这就使得导光筒内部的光线亮度减弱，也就使得通孔位置的光线亮度减弱，由此可知，导光筒内部的光线亮度会随着反光筒与黑箱之间的间隙的增大而减小，所以通过调整反光筒与黑箱之间的间隙大小可以调整导光筒内部的光线亮度，这样可以检测出拍摄组件在不同光线亮度的环境下的拍摄性能，也就可以提高对拍摄组件的检测效果。
附图说明
[0018]图1为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的结构示意图；
[0019]图2为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的光源组件的结构示意图；
[0020]图3为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的导光件的结构示意图；
[0021]图4为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的凹透镜的光线折射示意图一；
[0022]图5为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的凹透镜的光线折射示意图二；
[0023]图6为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的遮光组件的结构示意图；
[0024]图7为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的拍摄组件的结构示意图；
[0025]图8为本专利技术提出的一种摄像头杂光测试设备的顶压件的结构示意图。
[0026]图中：安装架1、光源组件2、安装筒21、黑箱22、发光源23、导光件24、凹透镜241、导光筒242、通孔243、气缸244、环状板245、反光筒246、遮光组件3、转轴31、遮光板32、透光孔33、卡套34、齿轮35、电机36、不完全齿轮37、拍摄组件4、滑杆41、安装板42、摄像头模组43、顶压件44、转动板441、不完全顶板442、开口槽443、压球444、弹簧445、显示器5。
具体实施方式
[0027]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。
[0028]实施例1：
[0029]参照图1
‑
5，一种摄像头杂光测试设备，包括安装架1、光源组件2、遮光组件3和拍摄组件4；光源组件2安装在安装架1的顶部；遮光组件3安装在安装架1的内侧、以对光源组件2发出的光线进行遮挡；拍摄组件4安装在安装架1的内侧、以对光源组件2的进行拍摄；
[0030]光源组件2包括安装筒21、黑箱22、发光源23和导光件24；安装筒21固定安装在安装架1的顶部，黑箱22固定安装在安装筒21内侧的顶端，发光源23固定安装在黑箱22的内侧，导光件24安装在安装筒21内侧的底端；黑箱22可以避免发光源23发出的光线穿透黑箱22而导致光照亮度减弱，也就可以避本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种摄像头杂光测试设备，其特征在于，包括光源组件(2)，所述光源组件(2)安装在安装架(1)的顶部；遮光组件(3)，所述遮光组件(3)安装在安装架(1)的内侧、以对光源组件(2)发出的光线进行遮挡；拍摄组件(4)，所述拍摄组件(4)安装在安装架(1)的内侧、以对光源组件(2)的进行拍摄。2.根据权利要求1所述的摄像头杂光测试设备，其特征在于，所述光源组件(2)包括安装筒(21)、黑箱(22)、发光源(23)和导光件(24)；所述安装筒(21)固定安装在安装架(1)的顶部，所述黑箱(22)固定安装在安装筒(21)内侧的顶端，所述发光源(23)固定安装在黑箱(22)的内侧，所述导光件(24)安装在安装筒(21)内侧的底端。3.根据权利要求2所述的摄像头杂光测试设备，其特征在于，所述导光件(24)包括凹透镜(241)、导光筒(242)、两个气缸(244)、环状板(245)和反光筒(246)；所述凹透镜(241)固定安装在黑箱(22)内侧的底端，所述导光筒(242)固定安装在安装筒(21)内侧的底端，两个所述气缸(244)分别固定安装在安装筒(21)内侧的两端、且输出端均与环状板(245)固定连接，所述环状板(245)套设在导光筒(242)外侧、且可与导光筒(242)相对滑动，所述反光筒(246)固定安装在环状板(245)的顶部、且可套设在黑箱(22)的外侧。4.根据权利要求3所述的摄像头杂光测试设备，其特征在于，所述导光筒(242)的底部开设有通孔(243)。5.根据权利要求4所述的摄像头杂光测试设备，其特征在于，所述遮光组件(3)包括转轴(31)和遮光板(32)；所述转轴(31)转动安装在安装架(1)的内侧，所述遮光板(32)固定安装在转轴(31)的顶部，所述遮光板(32)的外侧开设有四个透光孔(33)，四个所述透光孔(33)...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤光普，
申请(专利权)人：深圳市米特半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：