一种X射线偏移的校正方法和装置制造方法及图纸

技术编号:3906467 阅读:232 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术公开了一种X射线偏移的校正方法,该方法包括以下步骤:A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并进行存储;B、在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量;C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。同时,本发明专利技术还公开了一种X射线偏移的校正装置,采用该方法和装置可提高X射线偏移的校正精度。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种X射线偏移的校正方法,该方法包括以下步骤:A、计算与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,并进行存储;B、在扫描过程中,实时采集准直器沿Z轴方向的偏移量;C、根据所存储的与每一Z坐标以及准直器沿Z轴方向每一个偏移量相对应的校正因子,以及实时采集的准直器沿Z轴方向的偏移量,对每一Z坐标处的实时扫描信号进行校正。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:邵军明
申请(专利权)人:上海西门子医疗器械有限公司
类型:发明
国别省市:31

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