采集设备的坏点检测方法、装置、设备及可读存储介质制造方法及图纸

本申请公开了一种采集设备的坏点检测方法、装置、设备及可读存储介质，涉及显示技术领域。采集设备的坏点检测方法包括：获取采集设备的成像模式和待检测图像中各个子像素的灰阶值，待检测图像为采集设备在黑画面下采集的图像；根据灰阶值，确定待检测图像中的至少一个待检测区域；根据成像模式将待检测区域划分为中心子区域和围绕中心子区域的边缘子区域；根据灰阶值，确定中心子区域的第一灰阶值之和与边缘子区域的第二灰阶值之和；根据第一灰阶值之和与第二灰阶值之和，确定中心子区域是否为坏点。根据本申请实施例，有利于提高采集设备坏点检测的准确率。备坏点检测的准确率。备坏点检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
采集设备的坏点检测方法、装置、设备及可读存储介质


[0001]本申请涉及显示
，具体涉及一种采集设备的坏点检测方法、装置、设备及可读存储介质。

技术介绍

[0002]目前，工业电荷耦合元件相机(Charge Coupled Device，CCD)等采集设备在使用过程中会出现CCD坏点。其中，CCD可以连接为CCD工业相机成像后呈现的最小数字信号，CCD坏点可以理解为单颗或多颗常亮CCD。相关技术中存在CCD坏点检测的准确率低的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例提供一种采集设备的坏点检测方法、装置、设备及可读存储介质，有利于提高CCD坏点检测的准确率。
[0004]第一方面，本申请实施例提供一种采集设备的坏点检测方法，采集设备的坏点检测方法包括：
[0005]获取采集设备的成像模式和待检测图像中各个子像素的灰阶值，待检测图像为采集设备在黑画面下采集的图像；
[0006]根据灰阶值，确定待检测图像中的至少一个待检测区域；
[0007]根据成像模式将待检测区域划分为中心子区域和围绕中心子区域的边缘子区域；
[0008]根据灰阶值，确定中心子区域的第一灰阶值之和与边缘子区域的第二灰阶值之和；
[0009]根据灰阶值之和与灰阶值之和，确定中心子区域是否为坏点。
[0010]在第一方面的一些可选实施方式中，根据灰阶值，确定待检测图像中的至少一个待检测区域，包括：
[0011]将满足第一预设条件的灰阶值所在的区域，确定为待检测区域。<br/>[0012]在第一方面的一些可选实施方式中，第一预设条件包括灰阶值大于第一灰阶阈值。
[0013]在第一方面的一些可选实施方式中，第一灰阶阈值为0。
[0014]在第一方面的一些可选实施方式中，在成像模式为2N次曝光成像模式的情况下，中心子区域包括2N个子像素，边缘子区域至少包括2(N+4)个子像素，其中N≥0。
[0015]在第一方面的一些可选实施方式中，待检测区域包括n行m列子像素，n和m均为正整数；
[0016]在N＝0的情况下：
[0017]若n和m均为奇数，中心子区域包括第(n+1)/2行第(m+1)/2列的子像素；
[0018]若n和m均为偶数，中心子区域包括第n/2行第m/2列的子像素、第n/2行第(m/2+1)列的子像素、第(n/2+1)行第m/2列的子像素以及第(n/2+1)行第(m/2+1)列的子像素中任一个；
[0019]若n为奇数且m为偶数，中心子区域包括第(n+1)/2行第m/2列的子像素或第(n+1)/2行第(m/2+1)列的子像素；
[0020]若n为偶数且m为奇数，中心子区域包括第n/2行第(m+1)/2列子像素或第(n/2+1)行第(m+1)/2列子像素。
[0021]在第一方面的一些可选实施方式中，待检测区域包括p行q列子像素，p和q均为正整数；
[0022]在N为奇数的情况下：
[0023]若p和q均为奇数，中心子区域包括第(p+1)/2行第(q+1)/2列的子像素在内且呈矩形分布的2N个子像素；
[0024]若p和q均为偶数，中心子区域包括第p/2行第q/2列子像素、第p/2行第(q/2+1)列子像素、第(p/2+1)行第q/2列子像素以及第(p/2+1)行第(q/2+1)列子像素中至少两个子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0025]若p为奇数且q为偶数，中心子区域包括第(p+1)/2行第q/2列的子像素和第(p+1)/2行第(q/2+1)列的子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0026]若p为偶数且q为奇数，中心子区域包括第p/2行第(q+1)/2列子像素和第(p/2+1)行第(q+1)/2列子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素。
[0027]在第一方面的一些可选实施方式中，N＝1或3。
[0028]在第一方面的一些可选实施方式中，待检测区域包括i行j列子像素，i和j均为正整数；
[0029]在N为偶数的情况下：
[0030]若i和j均为奇数，中心子区域包括第(i
‑
1)/2行第(j+1)/2列子像素、第(i+1)/2行第(j+1)/2列的子像素和第(i+3)/2行第(j+1)/2列子像素中任意相邻两个子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0031]若i和j均为偶数，中心子区域包括第i/2行第j/2列的子像素、第i/2行第(j+2)/2列的子像素、第(i/2+1)行第j/2列的子像素和第(i/2+1)行第(j+2)/2列的子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0032]若i为奇数且j为偶数，中心子区域包括第i/2行第(j
‑
1)/2列的子像素、第(i+1)/2行第(j
‑
1)/2列的子像素和第(i+3)/2行第(j
‑
1)/2列的子像素中任意相邻两个子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0033]若i为偶数且j为奇数，中心子区域包括第i/2行第(j+1)/2列子像素和第(i/2+1)行第(j+1)/2列子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；
[0034]在第一方面的一些可选实施方式中，N＝2。
[0035]在第一方面的一些可选实施方式中，根据第一灰阶值之和与第二灰阶值之和，确定中心子区域是否为坏点，包括：
[0036]在第一灰阶值之和满足第二预设条件，且第二灰阶值之和满足第三预设条件的情况下，确定中心子区域为坏点。
[0037]在第一方面的一些可选实施方式中，第二预设条件包括：第一灰阶值之和大于或等于第二灰阶阈值；
[0038]第三预设条件包括：第二灰阶值之和小于或等于第三灰阶阈值；第二灰阶阈值大
于第三灰阶阈值；
[0039]在第一方面的一些可选实施方式中，中心子区域包括2
N
个子像素，边缘子区域包括M个子像素，M≥2(N+4)，N≥0，第三灰阶阈值为M。
[0040]基于相同的专利技术构思，第二方面，本申请实施例还提供一种采集设备的坏点检测装置，采集设备的坏点检测装置包括：
[0041]获取模块，用于获取采集设备的成像模式和待检测图像中各个子像素的灰阶值，待检测图像为采集设备在黑画面下采集的图像；
[0042]第一确定模块，用于根据灰阶值，确定待检测图像中的至少一个待检测区域；
[0043]划分模块，用于根据成像模式将待检测区域划分为中心子区域和围绕中心子区域的边缘子区域；
[0044]第二确定模块，用于根据灰阶值，确定中心子区域的第一灰阶值之和与边缘子区域的第二灰阶值之和；
[0045]第三确定模块，用于根据第一灰阶值之和与第二灰阶值之和，确定中心子区域是否为坏点。<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种采集设备的坏点检测方法，其特征在于，包括：获取采集设备的成像模式和待检测图像中各个子像素的灰阶值，所述待检测图像为采集设备在黑画面下采集的图像；根据所述灰阶值，确定所述待检测图像中的至少一个待检测区域；根据所述成像模式将所述待检测区域划分为中心子区域和围绕所述中心子区域的边缘子区域；根据所述灰阶值，确定所述中心子区域的第一灰阶值之和与所述边缘子区域的第二灰阶值之和；根据所述第一灰阶值之和与所述第二灰阶值之和，确定所述中心子区域是否为坏点。2.根据权利要求1所述的采集设备的坏点检测方法，其特征在于，所述根据所述灰阶值，确定所述待检测图像中的至少一个待检测区域，包括：将满足第一预设条件的所述灰阶值所在的区域，确定为所述待检测区域；优选地，所述第一预设条件包括灰阶值大于第一灰阶阈值；优选地，第一灰阶阈值为0。3.根据权利要求1所述的采集设备的坏点检测方法，其特征在于，在所述成像模式为2
N
次曝光成像模式的情况下，所述中心子区域包括2
N
个子像素，所述边缘子区域至少包括2(N+4)个子像素，其中N≥0。4.根据权利要求3所述的采集设备的坏点检测方法，其特征在于，所述待检测区域包括n行m列子像素，n和m均为正整数；在N＝0的情况下：若n和m均为奇数，所述中心子区域包括第(n+1)/2行第(m+1)/2列的子像素；若n和m均为偶数，所述中心子区域包括第n/2行第m/2列的子像素、第n/2行第(m/2+1)列的子像素、第(n/2+1)行第m/2列的子像素以及第(n/2+1)行第(m/2+1)列的子像素中任一个；若n为奇数且m为偶数，所述中心子区域包括第(n+1)/2行第m/2列的子像素或第(n+1)/2行第(m/2+1)列的子像素；若n为偶数且m为奇数，所述中心子区域包括第n/2行第(m+1)/2列子像素或第(n/2+1)行第(m+1)/2列子像素。5.根据权利要求3所述的采集设备的坏点检测方法，其特征在于，所述待检测区域包括p行q列子像素，p和q均为正整数；在N为奇数的情况下：若p和q均为奇数，所述中心子区域包括第(p+1)/2行第(q+1)/2列的子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；若p和q均为偶数，所述中心子区域包括第p/2行第q/2列子像素、第p/2行第(q/2+1)列子像素、第(p/2+1)行第q/2列子像素以及第(p/2+1)行第(q/2+1)列子像素中至少两个子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；若p为奇数且q为偶数，所述中心子区域包括第(p+1)/2行第q/2列的子像素和第(p+1)/2行第(q/2+1)列的子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；若p为偶数且q为奇数，所述中心子区域包括第p/2行第(q+1)/2列子像素和第(p/2+1)
行第(q+1)/2列子像素在内且呈矩形分布的2
N
个子像素；优选地，N＝1或3。6.根据权利要求3所述的采集设备的坏点检测方法，其特征在于，所述待检测区域包括i行j列子像素，i...

【专利技术属性】
技术研发人员：常星，曲毅，徐浩冉，蔺兴栋，翁卫东，王晓伟，王洪亚，
申请(专利权)人：云谷固安科技有限公司，
类型：发明
国别省市：