本申请公开了一种碳酸盐岩裂缝参数计算方法、装置、电子设备及介质。该方法可以包括：根据岩心或成像资料，确定裂缝发育段，进而确定多个裂缝指标；通过岩心或成像解释裂缝，对裂缝指标的曲线进行基线偏移校正，得到校正后裂缝指标；根据校正后裂缝指标，得到裂缝综合指标；根据裂缝综合指标，计算裂缝参数。本发明专利技术通过裂缝指标以及裂缝指标基线漂移法，得到裂缝综合指标曲线，并与深电阻率和重构基质电阻率差异法结合，得到裂缝孔隙度、渗透率和宽度等参数，对于提高裂缝的定性识别和定量解释精度及二者的匹配程度具有重要意义。度及二者的匹配程度具有重要意义。度及二者的匹配程度具有重要意义。
【技术实现步骤摘要】
碳酸盐岩裂缝参数计算方法、装置、电子设备及介质
[0001]本专利技术涉及测井方法与
，更具体地，涉及一种碳酸盐岩裂缝参数计算方法、装置、电子设备及介质。
技术介绍
[0002]在油气田开发过程中，裂缝是影响油气藏开发方案实施的重要因素。裂缝测井解释为地质建模和油藏数值模拟提供了重要的小尺度裂缝参数。
[0003]现有技术中，裂缝定性识别方面通常采用钻井取心、成像测井等方法，获得裂缝参数资料。但是，上述方法由于成本等因素，取心、成像测井资料少。在研究区常规曲线缺少浅电阻率，利用常规测井资料识别裂缝难度较大；传统的人工神经网络等裂缝定性识别方法和定量解释方法应用效果较差。
[0004]裂缝指标加权法或综合概率法在碳酸盐岩裂缝识别中有一定效果，该方法常用的裂缝指标有井径变化、自然电位负异常、声波时差变化率、三孔隙度比值、孔隙结构指数、杨氏模量、深浅电阻率差比等，但没有将密度异常作为裂缝指标，可能对碳酸盐岩储层的裂缝识别带来不确定性。
[0005]常用的裂缝指标做了正态变换和概率函数计算，但缺乏对裂缝指标基于裂缝响应的一致性校正处理，其应用效果并不理想。
[0006]此外，深浅电阻率差异法在定量解释裂缝孔隙度等参数中应用较多，但没有将裂缝概率作为前提条件，经常导致裂缝的定量解释与裂缝出现情况不一致的情况。
[0007]因此，有必要开发一种基于常规测井的碳酸盐岩裂缝识别方法、装置、电子设备及介质。
[0008]公开于本专利技术
技术介绍
部分的信息仅仅旨在加深对本专利技术的一般
技术介绍
的理解，而不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域技术人员所公知的现有技术。
技术实现思路
[0009]本专利技术提出了一种碳酸盐岩裂缝参数计算方法、装置、电子设备及介质，其能够通过裂缝指标以及裂缝指标基线漂移法，得到裂缝综合指标曲线，并与深电阻率和重构基质电阻率差异法结合，得到裂缝孔隙度、渗透率和宽度等参数，对于提高裂缝的定性识别和定量解释精度及二者的匹配程度具有重要意义。
[0010]第一方面，本公开实施例提供了一种碳酸盐岩裂缝参数计算方法，包括：
[0011]根据岩心或成像资料，确定裂缝发育段，进而确定多个裂缝指标；
[0012]通过岩心或成像解释裂缝，对所述裂缝指标的曲线进行基线偏移校正，得到校正后裂缝指标；
[0013]根据所述校正后裂缝指标，得到裂缝综合指标；
[0014]根据所述裂缝综合指标，计算裂缝参数。
[0015]优选地，所述裂缝指标包括密度异常差比值，通过公式(1)计算所述密度异常差比值：
[0016]ROHBbu_1＝(RHOBbu
‑
RHOB)/RHOBbu(1)
[0017]其中，ROHBbu_1为密度异常差比值，RHOBbu为滤波后密度，RHOB 为滤波前密度。
[0018]优选地，所述裂缝综合指标为：
[0019]FRAC_ZH＝∑a
i
FRAC_i
ꢀꢀꢀ
(2)
[0020]其中，FRAC_ZH为裂缝综合指标，FRAC_i为第i个校正后裂缝指标，a
i
为第i个校正后裂缝指标对应的权重。
[0021]优选地，所述裂缝参数包括孔隙度、张开度、渗透率。
[0022]优选地，基于深电阻率和基质电阻率差异法，结合所述裂缝综合指标，计算所述孔隙度：
[0023][0024]其中，Φ
f2
为孔隙度，R
mf
为泥浆滤液电阻率，R
LLD
为深侧向电阻率， R
基质
为基质电阻率，FRAC_ZH为裂缝综合指标，c为计算系数。
[0025]优选地，通过公式(4)计算低角度缝或斜交缝张开度：
[0026][0027]通过公式(5)计算高角度缝或直立缝张开度：
[0028][0029]其中，ε为张开度，R
m
为泥饼电阻率。
[0030]优选地，通过公式(6)计算渗透率：
[0031]K
f
＝bε2Φ
f2
ꢀꢀꢀꢀꢀꢀꢀ
(6)
[0032]其中，K
f
为渗透率，b为计算参数。
[0033]作为本公开实施例的一种具体实现方式，
[0034]第二方面，本公开实施例还提供了一种碳酸盐岩裂缝参数计算装置，包括：
[0035]裂缝指标确定模块，根据岩心或成像资料，确定裂缝发育段，进而确定多个裂缝指标；
[0036]校正模块，通过岩心或成像解释裂缝，对所述裂缝指标的曲线进行基线偏移校正，得到校正后裂缝指标；
[0037]加权模块，根据所述校正后裂缝指标，得到裂缝综合指标；
[0038]计算模块，根据所述裂缝综合指标，计算裂缝参数。
[0039]优选地，所述裂缝指标包括密度异常差比值，通过公式(1)计算所述密度异常差比值：
[0040]ROHBbu_1＝(RHOBbu
‑
RHOB)/RHOBbu(1)
[0041]其中，ROHBbu_1为密度异常差比值，RHOBbu为滤波后密度，RHOB 为滤波前密度。
[0042]优选地，所述裂缝综合指标为：
[0043]FRAC_ZH＝∑a
i
FRAC_i
ꢀꢀꢀꢀꢀ
(2)
[0044]其中，FRAC_ZH为裂缝综合指标，FRAC_i为第i个校正后裂缝指标， a
i
为第i个校正后裂缝指标对应的权重。
[0045]优选地，所述裂缝参数包括孔隙度、张开度、渗透率。
[0046]优选地，基于深电阻率和基质电阻率差异法，结合所述裂缝综合指标，计算所述孔隙度：
[0047][0048]其中，Φ
f2
为孔隙度，R
mf
为泥浆滤液电阻率，R
LLD
为深侧向电阻率， R
基质
为基质电阻率，FRAC_ZH为裂缝综合指标，c为计算系数。
[0049]优选地，通过公式(4)计算低角度缝或斜交缝张开度：
[0050][0051]通过公式(5)计算高角度缝或直立缝张开度：
[0052][0053]其中，ε为张开度，R
m
为泥饼电阻率。
[0054]优选地，通过公式(6)计算渗透率：
[0055]K
f
＝bε2Φ
f2
ꢀꢀꢀꢀ
(6)
[0056]其中，K
f
为渗透率，b为计算参数。
[0057]第三方面，本公开实施例还提供了一种电子设备，该电子设备包括：
[0058]存储器，存储有可执行指令；
[0059]处理器，所述处理器运行所述存储器中的所述可执行指令，以实现所述的碳酸盐岩裂缝参数计算方法。
[0060]第四方面，本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种碳酸盐岩裂缝参数计算方法，其特征在于，包括：根据岩心或成像资料，确定裂缝发育段，进而确定多个裂缝指标；通过岩心或成像解释裂缝，对所述裂缝指标的曲线进行基线偏移校正，得到校正后裂缝指标；根据所述校正后裂缝指标，得到裂缝综合指标；根据所述裂缝综合指标，计算裂缝参数。2.根据权利要求1所述的碳酸盐岩裂缝参数计算方法，其中，所述裂缝指标包括密度异常差比值，通过公式(1)计算所述密度异常差比值：ROHBbu_1＝(RHOBbu
‑
RHOB)/RHOBbu
ꢀꢀꢀꢀ
(1)其中，ROHBbu_1为密度异常差比值，RHOBbu为滤波后密度，RHOB为滤波前密度。3.根据权利要求1所述的碳酸盐岩裂缝参数计算方法，其中，所述裂缝综合指标为：FRAC_ZH＝∑a
i
FRAC_i
ꢀꢀꢀꢀ
(2)其中，FRAC_ZH为裂缝综合指标，FRAC_i为第i个校正后裂缝指标，a
i
为第i个校正后裂缝指标对应的权重。4.根据权利要求1所述的碳酸盐岩裂缝参数计算方法，其中，所述裂缝参数包括孔隙度、张开度、渗透率。5.根据权利要求4所述的碳酸盐岩裂缝参数计算方法，其中，基于深电阻率和基质电阻率差异法，结合所述裂缝综合指标，计算所述孔隙度：其中，Φ
f2
为孔隙度，为泥浆滤液电阻率，R
LLD
为深侧向电阻率，R
【专利技术属性】
技术研发人员：李艳华，司朝年，高君，孙建芳，张德民，虞云岩，张文才，季敏，姜凤光，
申请(专利权)人：中国石油化工股份有限公司石油勘探开发研究院，
类型：发明
国别省市：
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