防止平板探测器误触发上图的检测方法、设备及存储介质技术

本发明专利技术公开了防止平板探测器误触发上图的检测方法、设备及存储介质，控制所述平板探测器的传感器检测所述平板探测器的面板的图像灰度值变化，当所述图像中有灰度值变化幅度大于第一预设值时，暂停传感器对面板图像的检测；经过预定时长后，重新控制所述传感器逐行读取所述面板的图像，将读取的结果缓存到存储器中；统计所述面板产生变化的灰度值的个数大于第二预设值的个数，判断读取的面板图像为X射线曝光图像还是为干扰图像。本发明专利技术能够实现平板探测器在使用平板探测器的自动曝光触发功能时更加稳定，不会受到强烈电磁干扰或者震动导致误触发上图，同时避免不合格的图像传输至上位机。至上位机。至上位机。

【技术实现步骤摘要】
防止平板探测器误触发上图的检测方法、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及探测器误触发领域，尤其涉及防止平板探测器误触发上图的检测方法、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]X平板探测器曝光一般可分为外触发和内触发两种，外触发是指高压发生器控制平板探测器曝光；内触发是通过平板探测器上的闪烁材料把X射线转换为可见光，然后可见光经过光电传感器输出电流，再通过模数转换器(ADC)，把模拟信号转换为数字信号，最后输出电(数字)信号，平板探测器根据这个电信号来控制曝光，但由于光电传感器内触发灵敏度高，容易导致平板探测器发生误触发，采集到不合格的图像，不能满足用户的需求。
[0003]外触发的曝光方式需要采用高压发生器上的X射线开关信号控制平板探测器曝光，但由于必须采用高压发生器和平板探测器连接，导致使用不方便，因此采用具有自动曝光控制功能的平板探测器就可以解决上述问题。
[0004]然而，平板探测器自动曝光检测功能的原理一般是根据平板探测器传感器采集的面板图像灰度值来判断是否有X射线来触发探测器进行采集图像。但是平板探测器的面板非常容易受到干扰，在有强烈的电磁干扰或者震动的时候就会使平板探测器的传感器检测到的数值变大，则会被误认为产生了正常的X射线曝光行为，从而进行采集图像，并触发上图，那么在这种情况下采集到的图像是无效的。
[0005]因此，如何实现平板探测器在使用自动曝光检测的时候避免误触发上图，获取到稳定可靠的图像，且可以让使用者不用担心采集到的图像是否是不合格的图像已成为本领域的技术人员亟待解决的问题之一。

技术实现思路

[0006]为了克服现有技术的不足，本专利技术的目的之一在于提供一种防止平板探测器误触发上图的检测方法，提高平板探测器在使用自动曝光检测功能的稳定性；不会受到强烈电磁干扰或者震动导致误触发上图，同时避免不合格的图像传输至上位机。本专利技术的优势在于能够避免平板探测器在使用自动曝光检测功能时产生误触发的发生，可以保证每张采集到的图像都是合格的亮场(有X射线拍摄的图像)图像。
[0007]本专利技术的目的之二在于提供一种设备，执行上述一种防止平板探测器误触发上图的检测方法，提高平板探测器在使用自动曝光检测功能的稳定性。
[0008]本专利技术的目的之三在于提供一种存储介质，执行上述一种防止平板探测器误触发上图的检测方法，提高平板探测器在使用自动曝光检测功能的稳定性。
[0009]本专利技术的目的之一采用的技术方案如下：
[0010]防止平板探测器误触发上图的检测方法，包括以下步骤：
[0011]步骤S1、控制所述平板探测器的传感器检测所述平板探测器的面板的图像灰度值变化，当所述图像中有灰度值变化幅度大于第一预设值时，暂停传感器对面板图像的检测；
[0012]步骤S2、经过预定时长后，重新控制所述传感器逐行读取所述面板的图像，将读取的结果缓存到存储器中；
[0013]步骤S3、统计读取到的所述面板图像产生变化的灰度值的个数，当所述面板产生变化的灰度值的个数大于第二预设值时，判断读取的面板图像为X射线曝光图像，将所述缓存到存储器中的图像上传；否则，判断读取的面板图像为干扰图像，删除存储器中保存的图像，并返回步骤S1。
[0014]进一步地，所述第一预设值设置为900
‑
1100。
[0015]进一步地，所述第一预设值设置为1000。
[0016]进一步地，所述预定时长为实际预留的曝光时间。
[0017]进一步地，所述第二预设值设置为十万个。
[0018]本专利技术的目的之二采用如下技术方案实现：
[0019]一种电子设备，包括存储有计算机程序的存储器、处理器；所述计算机程序被所述处理器执行时实现防止平板探测器误触发上图的检测方法。
[0020]本专利技术的目的之三采用如下技术方案实现：
[0021]一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有可执行计算机程序，所述计算机程序运行时可实现防止平板探测器误触发上图的检测方法。
[0022]相比现有技术，本专利技术的有益效果在于：
[0023]本专利技术提供一种防止平板探测器误触发上图的检测方法、设备及存储介质，能够实现平板探测器在使用平板探测器的自动曝光触发功能时更加稳定，不会受到强烈电磁干扰或者震动导致误触发上图，同时避免不合格的图像传输至上位机。
附图说明
[0024]图1为本专利技术平板探测器误触发检测的流程图。
具体实施方式
[0025]下面，结合附图以及具体实施方式，对本专利技术做进一步描述，需要说明的是，在不相冲突的前提下，以下描述的各实施例之间或各技术特征之间可以任意组合形成新的实施例。
[0026]本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”、“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
[0027]需要说明的是，在本专利技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的
结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本专利技术要求的保护范围之内。本专利技术提供的防止平板探测器误触发上图的检测方法，可将合格的曝光亮场图传输至上位机，上位机一般为个人计算机。
[0028]实施例一
[0029]如图1所示，本实施例提供了一种防止平板探测器误触发的检测方法，包括以下步骤：
[0030]步骤S1、控制所述平板探测器的传感器检测所述平板探测器的面板的图像灰度值变化，当所述图像中有灰度值变化幅度大于第一预设值时，暂停传感器对面板图像的检测；
[0031]步骤S2、经过预定时长后，重新控制所述传感器逐行读取所述面板的图像，将读取的结果缓存到存储器中；
[0032]步骤S3、统计读取到的所述面板图像产生变化的灰度值的个数，当所述面板产生变化的灰度值的个数大于第二预设值时，判断读取的面板图像为X射线曝光图像，将所述缓存到存储器中的图像上传，否则，判断读取的面板图像为干扰图像，删除存储器中保存的图像，并返回步骤S1。
[0033]优选地，本实施例步骤S2中重新控制所述传感器逐行读取所述面板的图像，并不会直接上传到上位机，而是将读取的结果先缓存到存储器中。等图像采集完成后，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.防止平板探测器误触发上图的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤S1、控制所述平板探测器的传感器检测所述平板探测器的面板的图像灰度值变化，当所述图像中有灰度值变化幅度大于第一预设值时，暂停传感器对面板图像的检测；步骤S2、经过预定时长后，重新控制所述传感器逐行读取所述面板的图像，将读取的结果缓存到存储器中；步骤S3、统计读取到的所述面板图像产生变化的灰度值的个数，当所述面板产生变化的灰度值的个数大于第二预设值时，判断读取的面板图像为X射线曝光图像，将所述缓存到存储器中的图像上传；否则，判断读取的面板图像为干扰图像，删除存储器中保存的图像，并返回步骤S1。2.根据权利要求1所述的防止平板探测器误触发上图的检测方法，其特征在于，所述第一预设值设置为900
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1100。3.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯岩河，
申请(专利权)人：上海昊博影像科技有限公司，
类型：发明
国别省市：