PIN针缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质制造方法及图纸

本申请实施例公开了一种PIN针缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，方法包括：通过3D线激光相机获得待测产品的深度图，待测产品包括至少一个PIN针和至少两个特征标志；至少两个特征标志用于建立基准坐标系；将深度图的浮点型图像数据转换为整型图像数据；根据PIN针的基准面区域和特征标志的基准面区域分别对应的整型图像数据拟合基准面，在基准面上根据整型图像数据及特征标志的区域建立基准坐标系；在基准坐标系中根据PIN针的区域分别获得每个PIN针的高度和位置度，位置度包括X轴位置度和Y轴位置度；根据每个PIN针的高度和位置度得到每个PIN针是否正常的检测结果。该方法计算量小，能够提高PIN针缺陷检测的准确性和效率。准确性和效率。准确性和效率。

【技术实现步骤摘要】
PIN针缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质


[0001]本申请涉及缺陷检测
，具体涉及一种PIN针缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质。

技术介绍

[0002]PIN针是一种在电子设备中极为常见的连接外部设备的部件，用来完成电信号的导电传输的一种金属物质，具有通信连接可靠、拆装便捷的优点，这些优点使其广泛应用于印刷电路板(PCB，Printed Circuit Board)、3C(计算机、通讯和消费电子产品)和汽车电子等行业。
[0003]插接PIN针的设备会设有对应的孔洞，PIN针插入孔洞实现连接，随着应用行业的快速发展，对PIN针的品质要求越来越高。
[0004]PIN针的高度和位置度出现偏差，就会导致例如插接异常、通信异常等问题，造成信息传递不稳定。因此，对于PIN针的缺陷检测显得尤为重要。
[0005]现有技术中，都是利用两组2D相机获得PIN针的图像，结构复杂，需要将两组2D相机获的图像进行整合，效率比较低。而且两组2D相机与产品的相对拍摄位置波动时对检测结果影响较大，因此，造成PIN针缺陷检测不准确。

技术实现思路

[0006]有鉴于此，本申请实施例提供一种PIN针缺陷检测方法、装置、设备及计算机可读存储介质，能够提高PIN针缺陷检测的准确性和效率。
[0007]第一方面，本申请实施例提供一种PIN针缺陷检测方法，包括：
[0008]通过3D线激光相机获得待测产品的深度图，待测产品包括至少一个PIN针和至少两个特征标志；至少两个特征标志用于建立基准坐标系；
[0009]将深度图的浮点型图像数据转换为整型图像数据；
[0010]根据PIN针的基准面区域和特征标志的基准面区域分别对应的整型图像数据拟合基准面，在基准面上根据整型图像数据及特征标志的区域建立基准坐标系；
[0011]在基准坐标系中根据PIN针的区域分别获得每个PIN针的高度和位置度，位置度包括X轴位置度和Y轴位置度；根据每个PIN针的高度和位置度得到每个PIN针是否正常的检测结果。
[0012]第二方面，本申请实施例还提供一种PIN针缺陷检测装置，包括：
[0013]获得模块，用于通过3D线激光相机获得待测产品的深度图，待测产品包括至少一个PIN针和至少两个特征标志；至少两个特征标志用于建立基准坐标系；
[0014]预处理模块，用于将深度图的浮点型图像数据转换为整型图像数据；
[0015]拟合模块，用于根据PIN针的基准面区域和特征标志的基准面区域分别对应的整型图像数据拟合基准面；
[0016]构建模块，用于在基准面上根据整型图像数据及特征标志的区域建立基准坐标
系；
[0017]计算模块，用于在基准坐标系中根据PIN针的区域分别获得每个PIN针的高度和位置度，位置度包括X轴位置度和Y轴位置度；
[0018]检测模块，用于根据每个PIN针的高度和位置度得到每个PIN针是否正常的检测结果。
[0019]第三方面，本申请实施例还提供一种计算机设备，计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行该计算机程序时实现以上方法的步骤。
[0020]第四方面，本申请实施例还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以上方法的步骤。
[0021]第五方面，本申请实施例还提供一种计算机程序产品，计算机程序产品包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以上方法的步骤。
[0022]由此可见，本申请实施例具有如下有益效果：
[0023]本申请实施例提供的PIN针缺陷检测方法，利用3D线激光相机可以仅用一张图像便可以得到待测产品的三维立体数据，可以直接用深度图的深度值来反应PIN针高度，获得PIN针的最高点与基准面的距离，即点与面之间的距离来获得PIN针高度，利用PIN针的坐标与基准坐标系中X轴和Y轴之间的距离来获得位置度。并且本申请为了利用2D的成熟算法，先将浮点型数据转换为整型数据，计算简单且准确。相对于传统的2D视觉，本申请提供的方法仅用处理一个图像，计算量小，而且仅用一个相机可以同时检测位置度和高度，能够提高PIN针缺陷检测的准确性和效率。
附图说明
[0024]图1为本申请实施例提供的一种PIN针缺陷检测方法的应用场景图；
[0025]图2为本申请实施例提供的一种PIN针图像采集的工装示意图；
[0026]图3为本申请实施例提供的一种待测产品的俯视简图；
[0027]图4为本申请实施例提供的一种PIN针缺陷检测方法的流程图；
[0028]图5为本申请实施例提供的一种待测产品的PIN针深度图；
[0029]图6为本申请实施例提供的一种基准面拟合的示意图；
[0030]图7为本申请实施例提供的一种位置补正原理图；
[0031]图8为本申请实施例提供的一种PIN针校正示意图；
[0032]图9为本申请实施例提供的一种PIN针缺陷检测装置的示意图；
[0033]图10本申请实施例提供的一种计算机设备的内部结构图；
[0034]图11本申请实施例提供的另一种计算机设备的内部结构图；
[0035]图12本申请实施例提供的一种计算机可读存储介质的内部结构图。
具体实施方式
[0036]为便于理解本申请实施例的技术方案，下面将先对本申请实施例涉及的技术名词进行说明。
[0037]3D线激光相机：一种通过单个或多个图像传感器捕获激光发生器投射在物体表面的激光线信息，基于三角测量原理重构物体表面轮廓信息的三维相机，每个激光点包含丰
富的测量信息如坐标、亮度等。
[0038]深度图：对目标物表面进行X和Y方向的采样，将Z方向信息通过灰度或色彩而形成的图像。
[0039]XY轴分辨率XY
‑
axes resolution：三维相机在XY坐标轴方向上所能分辨的真实物理尺度(单位：mm)。
[0040]Z轴分辨率/深度分辨率Z
‑
axis resolution：三维相机在Z坐标轴方向上所能分辨的真实物理尺度(单位:mm)。
[0041]动态重复性：有取放地对一片物料的相应测量项测试32次，并观察相应的测量项的数据跳动，数据跳动越小，动态重复性越好。
[0042]ROI：Region of Interest，感兴趣区域，机器视觉中，从被处理的图像以方框、圆、椭圆、不规则多边形等方式勾勒出需要处理的区域，称为感兴趣区域。
[0043]灰度阈值：是将图像中的所有亮度值根据指定的亮度值(即阈值)分成在阈值范围内和不在阈值范围内两类。
[0044]形态学腐蚀处理：数学形态学(Mathematical morphology)是一门建立在格论和拓扑学基础之上的图像分析学科，是数学形态学图像处理的基本理论。其基本的运算包括：二值腐蚀和膨胀、二值开闭本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种PIN针缺陷检测方法，其特征在于，包括：通过3D线激光相机获得待测产品的深度图，所述待测产品包括至少一个PIN针和至少两个特征标志；所述至少两个特征标志用于建立基准坐标系；将所述深度图的浮点型图像数据转换为整型图像数据；根据所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域分别对应的所述整型图像数据拟合基准面，在所述基准面上根据所述整型图像数据及所述特征标志的区域建立基准坐标系；在所述基准坐标系中根据所述PIN针的区域分别获得每个PIN针的高度和位置度，所述位置度包括X轴位置度和Y轴位置度；根据每个所述PIN针的高度和位置度得到每个所述PIN针是否正常的检测结果。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域分别对应的所述整型图像数据拟合基准面之前，所述方法还包括：根据预先获得的位置偏差对所述PIN针的区域、所述特征标志的区域、所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域进行位置补正，获得位置补正后的所述PIN针的区域、位置补正后的所述特征标志的区域、位置补正后的所述PIN针的基准面区域和位置补正后的所述特征标志的基准面区域；所述位置偏差包括X轴位置差、Y轴位置差和角度差。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括通过以下方式预先获得所述位置偏差：根据所述深度图创建形状模板；设定包括所述PIN针的区域、所述特征标志的区域、所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域在内的搜索区域；在所述搜索区域内使用所述形状模板搜索得到新的位置；根据所述新的位置和基准位置获得所述位置偏差。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域分别对应的所述整型图像数据拟合基准面，包括：从所述PIN针的基准面区域和所述特征标志的基准面区域分别对应的所述整型图像数据中剔除灰度值大于第一阈值的数据得到预处理后的数据；根据所述预处理后的数据使用形态学腐蚀算法得到更新区域的数据；根据所述更新区域的数据使用中值滤波算法滤除噪点，得到最终的拟合数据；根据所述拟合数据利用拟合平面算法拟合基准面。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述至少两个特征标志包括第一定位柱和第二定位柱；所述在所述基准面上根据所述整型图像数据及所述特征标志的区域建立基准坐标系，包括：在所述基准面上根据所述整型图像数据以所述第一定位柱为坐标系原点，以所述第一定位柱与所述第二定位柱确定的直线来确定X轴，Y轴通过原点且与所述X轴垂直；分...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡光湖，曹鹏飞，刘枢，吕江波，沈小勇，
申请(专利权)人：深圳思谋信息科技有限公司，
类型：发明
国别省市：