一种用于整流桥后级欠压检测电路制造技术

本实用新型专利技术公开了一种用于整流桥后级欠压检测电路，包括整流滤波电路、电压基准电路、电压检测电路以及光电耦合电路，所述整流滤波电路的输入端与前级整流桥连接，所述整流滤波电路的输出端与电压检测电路连接，所述电压检测电路与电压基准电路和光电耦合电路连接，所述光电耦合电路与后级电源芯片连接。本实用新型专利技术通过整流滤波电路得到平滑的有效电压信号输出至电压检测电路，结合电压基准电路进行欠压检测，并通过光电耦合电路实现对后级电源芯片的欠压保护，用成本低廉、结构简单的电路实现欠电压检测并防止电感饱和功能，使用光电耦合器隔离提高了电路抗干扰性，可靠性高，降低了电路元器件失效率和报废率，减少因元器件报废而对环境的污染。废而对环境的污染。废而对环境的污染。

【技术实现步骤摘要】
一种用于整流桥后级欠压检测电路


[0001]本技术涉及检测电路
，具体涉及一种用于整流桥后级欠压检测电路。

技术介绍

[0002]随着科技的飞速发展，开关电源与人们的关系日益密切，在人们的生活中发挥着越来越重要的作用。传统开关电源芯片一般不具有欠压保护功能，仅在指标上限制用户最低输入电压，即使有欠压保护功能，但芯片内部仅提供单一比较器结合外部电阻电容来实现开关电源的欠压保护功能。
[0003]其次，传统开关电源控制芯片一般不具有交流输入欠压保护功能，即使有相关功能，但不够健全，使产品调试难度加大，调试时间加长，抗干扰能力太弱，在满足欠压的同时也会牺牲产品启动等相关指标。

技术实现思路

[0004]针对现有技术中的缺陷，本技术提供一种用于整流桥后级欠压检测电路，包括整流滤波电路、电压基准电路、电压检测电路以及光电耦合电路，所述整流滤波电路的输入端与前级整流桥连接，所述整流滤波电路的输出端与电压检测电路连接，所述电压检测电路与电压基准电路和光电耦合电路连接，所述光电耦合电路与后级电源芯片连接。
[0005]优选地，所述整流滤波电路设有直流信号输入端口，所述直流信号输入端口与前级整流桥连接。
[0006]优选地，所述整流滤波电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一电容、第一二极管以及第一稳压管，所述第一二极管的阳极与直流信号输入正端口连接，第一二极管的阴极与第一电阻的第一端连接，第一电阻的第二端与第一电容的第一端、第一稳压管的阴极、第二电阻的第一端以及第三电阻的第一端连接，第一电容的第二端与第一稳压管的阳极、第二电阻的第二端以及直流信号输入负端口连接，第三电阻的第二端与电压检测电路连接。
[0007]优选地，还包括第一辅助电源端口和第二辅助电源端口，所述第一辅助电源端口与电压基准电路连接，所述第二辅助电源端口与光电耦合电路连接。
[0008]优选地，所述电压基准电路包括第四电阻、第五电阻以及电压基准源，所述第五电阻的第一端与第一辅助电源端口和电压检测电路连接，第五电阻的第二端与第四电阻的第一端、电压基准源的阴极以及电压基准源的参考极连接，第四电阻的第二端与电压检测电路连接，电压基准源的阳极接地。
[0009]优选地，所述电压检测电路包括第六电阻和运算放大器，所述运算放大器的反向输入端与第三电阻的第二端连接，运算放大器的正向输入端与第四电阻的第二端和第六电阻的第一端连接，运算放大器的输出端与第六电阻的第二端和光耦电路连接，运算放大器的电源正极与第五电阻的第一端连接，运算放大器的电源负极接地。
[0010]优选地，所述光耦电路包括第七电阻、第八电阻以及光电耦合器，所述光电耦合器分别与第六电阻的第二端、第七电阻的第一端以及第八电阻的第一端连接，第七电阻的第二端与第二辅助电源端口连接，第八电阻的第二端与直流信号输入负端口连接。
[0011]优选地，所述光电耦合电路还设有OUT端口，所述光电耦合器与OUT端口连接，OUT端口与后级电源芯片连接。
[0012]本技术的有益效果体现在：通过整流滤波电路进行整流滤波得到平滑的有效电压信号输出至电压检测电路，结合电压基准电路进行欠压检测，并通过光电耦合电路实现对后级电源芯片的欠压保护，用成本低廉、结构简单的电路实现欠电压检测并防止电感饱和功能，使用光电耦合器隔离提高了电路抗干扰性，可靠性高，降低了电路元器件失效率和报废率，为企业节约了人工调试成本，减少了因元器件报废而对环境的污染。
附图说明
[0013]为了更清楚地说明本技术具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。在所有附图中，类似的元件或部分一般由类似的附图标记标识。附图中，各元件或部分并不一定按照实际的比例绘制。
[0014]图1为本技术实施例提供的一种用于整流桥后级欠压检测电路的模块框图；
[0015]图2为本技术实施例提供的一种用于整流桥后级欠压检测电路的电路原理图。
具体实施方式
[0016]下面将结合附图对本技术技术方案的实施例进行详细的描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案，因此只作为示例，而不能以此来限制本技术的保护范围。
[0017]需要注意的是，除非另有说明，本申请使用的技术术语或者科学术语应当为本技术所属领域技术人员所理解的通常意义。
[0018]如图1所示，一种用于整流桥后级欠压检测电路，包括整流滤波电路、电压基准电路、电压检测电路以及光电耦合电路，所述整流滤波电路的输入端与前级整流桥连接，所述整流滤波电路的输出端与电压检测电路连接，所述电压检测电路与电压基准电路和光电耦合电路连接，所述光电耦合电路与后级电源芯片连接。
[0019]进一步地，如图2所示，所述整流滤波电路设有“直流波动信号”的直流信号输入端口，所述直流信号输入端口与前级整流桥连接，包括直流信号输入正端口Vin+和直流信号输入负端口Vin
‑
。
[0020]进一步地，所述整流滤波电路包括第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3、第一电容C1、第一二极管VD1以及第一稳压管VZ1。其中，第一二极管VD1的阳极与直流信号输入正端口Vin+连接，第一二极管VD1的阴极与第一电阻R1的第一端连接，第一电阻R1的第二端与第一电容C1的第一端、第一稳压管VZ1的阴极、第二电阻R2的第一端以及第三电阻R3的第一端连接，第一电容C1的第二端与第一稳压管VZ1的阳极、第二电阻R2的第二端以及直流信号输入负端口Vin
‑
连接，第三电阻R3的第二端与电压检测电路连接。
[0021]进一步地，还包括第一辅助电源端口VCC1和第二辅助电源端口VCC2，所述第一辅助电源端口VCC1与电压基准电路连接，所述第二辅助电源端口VCC2与光电耦合电路连接。
[0022]进一步地，所述电压基准电路包括第四电阻R4、第五电阻R5以及电压基准源N1。其中，第五电阻R5的第一端与第一辅助电源端口VCC1和电压检测电路连接，第五电阻R5的第二端与第四电阻R4的第一端、电压基准源N1的阴极以及电压基准源N1的参考极连接，第四电阻R4的第二端与电压检测电路连接，电压基准源N1的阳极接地。
[0023]进一步地，所述电压检测电路包括第六电阻R6和运算放大器N3。其中，运算放大器N3的反向输入端与第三电阻R3的第二端连接，运算放大器N3的正向输入端与第四电阻R4的第二端和第六电阻R6的第一端连接，运算放大器N3的输出端与第六电阻R6的第二端和光耦电路连接，运算放大器N3的电源正极与第一辅助电源端口VCC1连接，运算放大器N3的电源负极接地。
[0024]进一步地，所述光耦电路包括第七电阻R7、第八电阻R8以及光电耦合器N2。其中，光电耦合器N2内一次侧发光二极管的阳极与运算放大器N3的输出端连接，光电耦合器N2内一次侧发光二极管的阴极与第八电阻R8的第一端连接，光电耦合器N2内二次本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于整流桥后级欠压检测电路，其特征在于，包括整流滤波电路、电压基准电路、电压检测电路以及光电耦合电路，所述整流滤波电路的输入端与前级整流桥连接，所述整流滤波电路的输出端与电压检测电路连接，所述电压检测电路与电压基准电路和光电耦合电路连接，所述光电耦合电路与后级电源芯片连接。2.根据权利要求1所述的一种用于整流桥后级欠压检测电路，其特征在于，所述整流滤波电路设有直流信号输入端口，所述直流信号输入端口与前级整流桥连接。3.根据权利要求2所述的一种用于整流桥后级欠压检测电路，其特征在于，所述整流滤波电路包括第一电阻、第二电阻、第三电阻、第一电容、第一二极管以及第一稳压管，所述第一二极管的阳极与直流信号输入正端口连接，第一二极管的阴极与第一电阻的第一端连接，第一电阻的第二端与第一电容的第一端、第一稳压管的阴极、第二电阻的第一端以及第三电阻的第一端连接，第一电容的第二端与第一稳压管的阳极、第二电阻的第二端以及直流信号输入负端口连接，第三电阻的第二端与电压检测电路连接。4.根据权利要求3所述的一种用于整流桥后级欠压检测电路，其特征在于，还包括第一辅助电源端口和第二辅助电源端口，所述第一辅助电源端口与电压基准电路连接，所述第二辅助电源端口与光电耦合电路连接。5.根据权利要求4所述的一...

【专利技术属性】
技术研发人员：张廷革，朱艳红，
申请(专利权)人：北京益弘泰科技发展有限责任公司，
类型：新型
国别省市：