一种间歇寿命老化测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种间歇寿命老化测试系统，涉及试验设备技术领域，尤其适用于一种间歇寿命老化测试系统，包括：电源(1)、老化板(2)、测试机(3)、半导体分立器件(4)、高温试验模块(5)、报警装置(6)、操作台(7)、操作主机(8)。本实用新型专利技术测试系统简单，有效地节约了成本，实现了对电能的节约。实现了对电能的节约。实现了对电能的节约。

【技术实现步骤摘要】
一种间歇寿命老化测试系统


[0001]本技术涉及试验设备
，尤其适用于一种间歇寿命老化测试系统。

技术介绍

[0002]目前，间歇寿命试验是功率器件最重要的试验之一，但由于半导体行业起步较晚，无论是在材料、设计、工艺还是标准方面都比较落后，尤其是测试方法、试验方法几乎是空白。现有的间歇寿命试验的试验方法中只给出了试验框架和思路，可操作性极差，且关键步骤空白，无法有效指导测试或试验。
[0003]因此，如何解决上述问题，是本领域技术人员亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本技术提供了一种间歇寿命老化测试系统。
[0005]为了实现上述目的，本技术采用如下技术方案：
[0006]一种间歇寿命老化测试系统，包括：电源、老化板、测试机、半导体分立器件、高温试验模块、报警装置、操作台、操作主机；
[0007]所述电源的第一端口分别与所述半导体分立器件的第一端口、所述高温试验模块的第一端口、所述报警装置的第一端口电性连接；所述电源的第二端口与所述老化板的第一端口电性连接；所述老化板的第二端口与所述测试机的第一端口电性连接；所述测试机的第二端口与所述半导体分立器件的第三端口电性连接；所述半导体分立器件的第二端口与所述高温试验模块的第三端口电性连接；所述高温试验模块的第二端口与所述报警装置的第二端口电性连接；所述操作台的第一端口分别与所述半导体分立器件的第四端口和所述测试机的第三端口电性连接；所述操作台的第二端口分别与所述高温试验模块的第四端口、所述报警装置的第三端口电性连接，所述操作台的第三端口与所述操作主机电性连接。
[0008]可选的，所述老化板由老化板本体和老化小板组成。
[0009]可选的，所述老化小板通过排针和排针孔对接的结构安装在老化板本体上，每块老化小板上设有4个待测器件安装位。
[0010]可选的，所述测试机采用并联测试电路。
[0011]可选的，所述报警装置设置有温度报警器和蜂鸣器。
[0012]可选的，所述电源电压为0
‑
60V，电流为0
‑
20A。
[0013]可选的，所述老化板的数量为16块，规格为标准DPAK封装。
[0014]经由上述的技术方案可知，与现有技术相比，本技术公开提供了一种间歇寿命老化测试系统，
[0015]1、本技术技术方案测试系统简单，有效地节约了成本，实现了对电能的节约；
[0016]2、实现对半导体分立器件的有规律地、间歇地通电和断电，测试机能够测试芯片的失效率，进而得到芯片的间歇寿命，保证了试验的准确性；
[0017]3、老化板上设置老化小板和老化板本体，两者通过排针对接，可在老化不同封装
器件的情况下，只需要改变上面的老化小板即可，实现一板多用，互不影响。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0019]图1为本技术结构示意图；
[0020]其中1
‑
电源、2
‑
老化板、3
‑
测试机、4
‑
半导体分立器件、5
‑
高温试验模块、6
‑
报警装置、7
‑
操作台、8
‑
操作主机。
具体实施方式
[0021]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0022]参照图1所示，本技术公开了一种间歇寿命老化测试系统，
[0023]包括：电源1、老化板2、测试机3、半导体分立器件4、高温试验模块5、报警装置6、操作台7、操作主机8；
[0024]电源1的第一端口分别与半导体分立器件4的第一端口、高温试验模块5的第一端口、报警装置6的第一端口电性连接；电源1的第二端口与老化板2的第一端口电性连接；老化板2的第二端口与测试机3的第一端口电性连接；测试机3的第二端口与半导体分立器件4的第三端口电性连接；半导体分立器件4的第二端口与高温试验模块5的第三端口电性连接；高温试验模块5的第二端口与报警装置6的第二端口电性连接；操作台7的第一端口分别与半导体分立器件4的第四端口和测试机3的第三端口电性连接；操作台7的第二端口分别与高温试验模块5的第四端口、报警装置6的第三端口电性连接，操作台7的第三端口与操作主机8电性连接。
[0025]进一步的，老化板2由老化板本体和老化小板组成。
[0026]进一步的，老化小板通过排针和排针孔对接的结构安装在老化板本体上，每块老化小板上设有4个待测器件安装位。
[0027]进一步的，测试机3采用并联测试电路。
[0028]进一步的，报警装置6设置有温度报警器和蜂鸣器。
[0029]进一步的，电源1中电压为0
‑
60V，电流为0
‑
20A。
[0030]进一步的，老化板的数量为16块，规格为标准DPAK封装。
[0031]进一步的，高温试验模块5的温度超过100℃时，温度报警器报警，并切断高温试验模块5的供电电源1。
[0032]本技术具体实施过程为：将待检测的半导体分立器件4依次放入高温试验模块5、测试机3、老化板2，对半导体分立器件4进行高温老化及测定，通过操作台7上的操作主机8，对半导体分立器件4进行间歇寿命试验，最终在操作主机8上得出半导体分立器件4的
失效率，当温度报警器报警时，切断高温试验模块5的供电电源1；当间歇寿命试验系统处于非正常工作状态时，蜂鸣器发出报警声，按下急停按钮，关闭整个系统，避免安全事故的发生。
[0033]本说明书中各个实施例采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似部分互相参见即可。
[0034]对所公开的实施例的上述说明，使本领域专业技术人员能够实现或使用本技术。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本技术的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本技术将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种间歇寿命老化测试系统，其特征在于，包括：电源(1)、老化板(2)、测试机(3)、半导体分立器件(4)、高温试验模块(5)、报警装置(6)、操作台(7)、操作主机(8)；所述电源(1)的第一端口分别与所述半导体分立器件(4)的第一端口、所述高温试验模块(5)的第一端口、所述报警装置(6)的第一端口电性连接；所述电源(1)的第二端口与所述老化板(2)的第一端口电性连接；所述老化板(2)的第二端口与所述测试机(3)的第一端口电性连接；所述测试机(3)的第二端口与所述半导体分立器件(4)的第三端口电性连接；所述半导体分立器件(4)的第二端口与所述高温试验模块(5)的第三端口电性连接；所述高温试验模块(5)的第二端口与所述报警装置(6)的第二端口电性连接；所述操作台(7)的第一端口分别与所述半导...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴志刚，刘年富，陈益敏，魏徕，
申请(专利权)人：杭州高裕电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：