本实用新型专利技术公开了一种带子母座的电路板探针转接装置，其包括安装底板，安装底板上设置有子座测试台，子座测试台的一端设置有子座探针模组挂架，子座探针模组挂架上设置有子座探针模组，子座探针模组上设置有多个子座测试连接凸点，子座探针模组的外侧设置有母座探针模组挂架，子座探针模组挂架与母座探针模组挂架平行，母座探针模组挂架上设置有母座探针模组，母座探针模组上设置有多个测试探针，测试探针的一端露出母座探针模组与子座测试连接凸点相对。该带子母座的电路板探针转接装置测试不同的电路板时只需要更换对应的子座探针模组和子座测试台即可，不需要再插拔母座探针模组上的探针和线缆，可以节省工作时间，延长探针和线缆的使用寿命。探针和线缆的使用寿命。探针和线缆的使用寿命。
【技术实现步骤摘要】
一种带子母座的电路板探针转接装置
[0001]本技术涉及电路板测试
，具体涉及一种带子母座的电路板探针转接装置。
技术介绍
[0002]在电子产品行业会用到带有零件的电路板，电路板在生产中需要进行性能测试，包括各个焊点间的导电性及回路功能等,必需用到测试设备及测试夹具，普通的测试设备一般是使用缆线与夹具上的连接器连接,再使用导线焊接到测试针板上的套管,探针是安装在套管里面的,然后是透过探针与PCB板的测试触点接触,电路板放在测试治具的探针板上进行测试，测试设备通过缆线与测试治具连接，在测试不同的电路板时候,必须更换不同的夹具.因此必须将缆线从连接器上拔下，再插到另一个测试夹具的连接器上,这样插拔缆线的工作量不但大，且会发生错误,经常性插拔,缆线接头也会发生故障,导致测试系统不稳定，影响线缆的使用寿命。
技术实现思路
[0003]本技术主要解决的技术问题是提供一种带子母座的电路板探针转接装置，该带子母座的电路板探针转接装置使用固定的探针母座，一次在探针母座即母座探针模组挂架上设置足够多的测试探针模组，而对应的子座可依据需要设置与母座测试探针模组对应的子座探针模组，在测试不同的电路板时只需要更换测试子座探针模组和子座测试台即可，不需要再插拔与测试设备之间相连的缆线，也就是缆线固定插在母座探针模组挂架后部的连接器上不动,透过标准尺寸的母座探针模组与子座探针模组之间的转接,这样可以节省更换测试探针模组和线缆的时间，并有效的延长缆线和测试探针的使用寿命。
[0004]为解决上述技术问题，本技术采用的一个技术方案是：提供一种带子母座的电路板探针转接装置，包括安装底板，所述安装底板上设置有子座测试台，所述子座测试台上设置有测试针板，所述子座测试台的一端设置有子座探针模组挂架，所述子座探针模组挂架上设置有子座探针模组，所述子座探针模组上设置有多个子座测试连接凸点，所述子座探针模组的外侧设置有母座探针模组挂架，所述子座探针模组挂架与母座探针模组挂架平行，所述母座探针模组挂架上设置有母座探针模组，所述母座探针模组上设置有多个测试探针，所述测试探针的一端露出所述母座探针模组与所述子座测试连接凸点一一相对，所述子座探针模组挂架及子座探针模组透过探针母座上设置的挂钩及母座动力机构将子座探针模组及子座探针模组挂架向母座探针模组挂架拉动并使母座测试探针与子座测试连接凸点紧密接触,达成电性导通的要求。
[0005]优选的，所述子座测试台是根据电路板的型号制作的，不同型号的电路板对应不同的子座测试台。
[0006]优选的，所述母座探针模组挂架的后部设置有连接器，所述子座测试台的一端设置有与被测试电路板连接的探针，所述探针通过导线与所述子座探针模组上的子座测试连
接凸点连接，所述子座测试连接凸点与母座探针模组上的测试探针接触连接，测试探针通过导线与连接器相连接,所述连接器再通过缆线与用于电路板测试的测试设备连接。
[0007]优选的，安装底板上设置有两处直线滑轨，所述两处直线滑轨与母座探针模组挂架垂直，所述两处直线滑轨上分别可滑动地设置有连接滑块，所述连接滑块的一端与子座探针模组挂架固定连接。
[0008]优选的，所述连接滑块上设置有轴孔，所述连接滑块的外侧竖直设置有安装支板，所述安装支板的底部固定在所述安装底板上，所述安装支板上设置有转盘安装孔，所述转盘安装孔内可转动地安装有转盘，所述转盘的边缘处设置有连接轴，所述连接轴的中心轴线与所述转盘的中心轴线平行，所述连接轴伸入所述轴孔内。
[0009]优选的，所述转盘的外侧设置有把手，所述把手的一端与所述转盘固定连接。
[0010]本技术的有益效果是：本技术的带子母座的探针转接电路板测试装置使用固定的探针模组的母座，一次在母座探针模组上设置足够多的测试探针，而对应的子座测试台可以按不同的被测试电路板更换，测试不同的电路板时只需要更换对应的子座测试台和子座探针模组即可，这样不需要再插拔测试母座上的缆线和测试探针，可以节省工作时间，延长线缆和探针的使用寿命。
附图说明
[0011]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：
[0012]图1是本技术带子母座的电路板探针转接装置的结构示意图；
[0013]图2是本技术带子母座的电路板探针转接装置在实施例中的结构示意图；
[0014]图3是本技术带子母座的电路板探针转接装置的局部结构示意图。
[0015]附图中各部件的标记如下：1、子座测试台，2、安装底板，3、测试针板，4、子座探针模组，5、母座探针模组挂架，6、测试探针，7、把手，8、子座测试连接凸点，9、安装支板，10、直线滑轨，11、连接滑块，12、轴孔，13、转盘安装孔、14、转盘，15、连接轴，16、子座探针模组挂架，17、母座探针模组，18、测试设备，19、挂钩。
具体实施方式
[0016]下面将对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本技术保护的范围。
[0017]本技术实施例：
[0018]请参阅图1至图3，本技术的带子母座的电路板探针转接装置包括安装底板，所述安装底板2上设置有子座测试台1，所述子座测试台1上设置有测试针板3，所述子座测试台1的一端设置有子座探针模组挂架16，所述子座探针模组挂架16上设置有子座探针模组4，所述子座探针模组4上设置有多个子座测试连接凸点8，所述子座探针模组4的外侧设
置有母座探针模组挂架5，所述子座探针模组挂架16与母座探针模组挂架5平行，所述母座探针模组挂架5上设置有母座探针模组17，所述母座探针模组17上设置有多个测试探针6，所述测试探针6的一端露出所述母座探针模组17与所述子座测试连接凸点8相对，所述母座探针模组挂架5向子座探针模组挂架16滑动并靠近子座探针模组挂架16时所述测试探针6的所述一端与子座测试连接凸点8接触。
[0019]优选的，所述子座测试台1是根据要测试的电路板的型号制作的，不同型号的电路板对应不同的子座测试台，根据测试的电路板的不同来更换对应的子座探针模组4、子座探针模组挂架16和子座测试台1，而母座探针模组17、母座探针模组挂架5和测试探针6不需要更换，不同的子座探针模组4、子座测试台1都可以与母座探针模组17上的测试探针6进行对应。
[0020]优选的，所述母座探针模组的测试探针6的另一端设置有导线(图中未标识)，所述导线与电路板测试设备18的连接器(图中未标识)连接，所述测试连接凸点8通过导线与子座测试台1上测试针板3上的探针连接，电路板放置在测试针板本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种带子母座的电路板探针转接装置，包括安装底板，所述安装底板上设置有子座测试台，所述子座测试台上设置有测试针板，其特征在于，所述子座测试台的一端设置有子座探针模组挂架，所述子座探针模组挂架上设置有子座探针模组，所述子座探针模组上设置有多个子座测试连接凸点，所述子座探针模组的外侧设置有母座探针模组挂架，所述子座探针模组挂架与母座探针模组挂架平行，所述母座探针模组挂架上设置有母座探针模组，所述母座探针模组上设置有多个测试探针，所述测试探针的一端露出所述母座探针模组与所述子座测试连接凸点相对。2.根据权利要求1所述的带子母座的电路板探针转接装置，其特征在于，所述子座测试台是根据电路板的型号制作的，不同型号的电路板对应不同的子座测试台。3.根据权利要求2所述的带子母座的电路板探针转接装置，其特征在于，所述母座探针模组挂架的后部设置有连接器，所述子座测试台的一端设置有与被测试电路板连接的探针，所述探针通过导线与所述子座探针模组上的子座测试连接凸点...
【专利技术属性】
技术研发人员：戴修平，谢镇安，詹贤文，
申请(专利权)人：系新电子技术苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：
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