一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备技术方案

本发明专利技术提供了一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备，包括：根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；根据预设的测量模式，确定各个采样点对应的循环次数，并在对应循环次数下测量存储器的输出信号；判断各采样点存储器的输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则将原输入信号继续循环输入；若不在，则调整输入信号的参数，在下一次循环时判断输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则按照调整参数的输入信号继续进行循环，若不在，则继续调整输入信号参数，在重复预设次数的输入信号参数调整下，若输出信号仍不在预设范围内，则中止疲劳特性测量。本发明专利技术能够实现多样化测量，且避免对存储器不必要的磨损。磨损。磨损。

【技术实现步骤摘要】
一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备


[0001]本专利技术属于存储器疲劳特性测量领域，更具体地，涉及一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备。

技术介绍

[0002]当前存储器市场中主要分为易失性存储器和非易失性存储器，两者的区别是在断电后存储器是否具有保持断电前存储状态。而当今的第四次工业革命时代，每天产生保存的数据量越来越大，这要求存储器要更好的性能、更低的功耗、更高的集成度以及更低的成本。此外，随着人工智能、大数据的深入发展，市场对存储器的性能要求越来越高，功能要求越来越多，发展新型存储器的要求也越来越强烈，对存储器的寿命要求越来越高，同时不同存储器之间的测试方法、要求又各有差异，因此针对不同器件手动调整测量的方式显得效率低下。
[0003]Keysight B1500A是Keysight公司旗下的半导体器件参数分析仪，是一种结合多种测量模式和分析为一体的测量仪器。Keysight B1500A有多个模块化插槽，可以根据实际要求添加或升级模块。Keysight B1500A拥有EasyEXPERT控制平台进行操作，除了可以进行基础的电流
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电压(IV)测试外，还可以进行电容
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电压(CV)测试和脉冲IV测试。尽管B1500A的官方案例存在相变存储器耐久性测试程序，但该程序使用WGFMU模块，无法进行多样化的测试方式、且测试过程的数据判断依赖于人为，在测量结果不符合预期时若未被及时发现，会导致对存储器过渡测量磨损和造成不必要的测量耗能。因此需要一种通用的，自动测量和判断的测量系统和方法。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种存储器疲劳特性测量方法、系统及电子设备，旨在解决现有存储器疲劳特性测量无法进行多样化测试，且测量结果不符合预期时无法及时中止测量，造成器件不必要的磨损和测量能耗浪费的问题。
[0005]为实现上述目的，第一方面，本专利技术提供了一种存储器疲劳特性测量方法，包括以下步骤：
[0006]根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；
[0007]根据预设的测量模式，确定各个采样点对应的循环次数，并在对应循环次数下测量存储器的输出信号；其中，所述预设测量模式包括：十倍程测量模式、线性测量模式及混合测量模式；所述十倍程测量模式为当循环次数在相邻的10的整数幂之间时，选取固定数目的采样点，且任意两个采样点对应循环次数的除数固定，即每十倍程的采样点数目固定且间隔相对固定；所述线性测量模式为各个采样点之间的循环次数间隔固定；所述混合测量模式为十倍程测量模式和线性测量模式交替使用；
[0008]判断各采样点存储器的输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则将原输入信号继续循环输入；若不在预设范围内，则调整输入信号的参数，在下一次循环时判断输
出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则按照调整参数的输入信号继续进行循环，若不在预设范围内，则继续调整输入信号参数，在重复预设次数的输入信号参数调整下，若输出信号仍不在预设范围内，则中止疲劳特性测量。
[0009]在一个可能的实现方式中，在十倍程测量模式下，设采样率为C/dec，则在10
n
到10
n+1
次循环中，第k个采样点对应的循环次数(N)
k
为：
[0010]在一个可能的实现方式中，所述输入信号为电压或脉冲电压；所述输出信号为电流、电容、脉冲电流或根据输入电压和输出电流计算得到的电阻。
[0011]在一个可能的实现方式中，在各个采样点判断输出信号以及当输出信号不在预设范围内时调整输入信号，以对存储器出现短暂反常响应情况进行及时调整，且在存储器经多次调整后仍旧无法正常响应时及时中止测量，避免对存储器造成不必要的测量磨损。
[0012]在一个可能的实现方式中，当总循环次数大于预设值时，所述测量模式可以被设定为十倍程测量模式，以保证测量的速率，否则所述测量模式可以被设定为线性测量模式，以保证测量的可靠性；
[0013]所述测量模式被设定为混合测量模式时，可以保证测量的可靠性和速率。
[0014]第二方面，本专利技术提供了一种存储器疲劳特性测量系统，包括：
[0015]输入信号提供单元，用于根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；
[0016]输出信号测量单元，用于根据预设的测量模式，确定各个采样点对应的循环次数，并在对应循环次数下测量存储器的输出信号；其中，所述预设测量模式包括：十倍程测量模式、线性测量模式及混合测量模式；所述十倍程测量模式为当循环次数在相邻的10的整数幂之间时，选取固定数目的采样点，且任意两个采样点对应循环次数的除数固定，即每十倍程的采样点数目固定且间隔相对固定；所述线性测量模式为各个采样点之间的循环次数间隔固定；所述混合测量模式为十倍程测量模式和线性测量模式交替使用；
[0017]输出信号判断单元，用于判断各采样点存储器的输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则将原输入信号继续循环输入；若不在预设范围内，则调整输入信号的参数，在下一次循环时判断输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则按照调整参数的输入信号继续进行循环，若不在预设范围内，则继续调整输入信号参数，在重复预设次数的输入信号参数调整下，若输出信号仍不在预设范围内，则中止疲劳特性测量。
[0018]在一个可能的实现方式中，所述输出信号测量单元在十倍程测量模式下，设采样率为C/dec，则在10
n
到10
n+1
次循环中，第k个采样点对应的循环次数(N)
k
为：
[0019]在一个可能的实现方式中，所述输出信号判断单元在各个采样点判断输出信号，以及当输出信号不在预设范围内时指示输入信号提供单元调整输入信号，以对存储器出现短暂反常响应情况进行及时调整，且在存储器经多次调整后仍旧无法正常响应时及时中止测量，避免对存储器造成不必要的测量磨损。
[0020]在一个可能的实现方式中，当总循环次数大于预设值时，所述输出信号测量单元采用的测量模式可以被设定为十倍程测量模式，以保证测量的速率，否则所述输出信号测
量单元采用的测量模式可以被设定为线性测量模式，以保证测量的可靠性；
[0021]所述输出信号测量单元采用的测量模式被设定为混合测量模式时，可以保证测量的可靠性和速率。
[0022]第三方面，本专利技术提供一种电子设备，包括：至少一个存储器，用于存储程序；至少一个处理器，用于执行存储器存储的程序，当存储器存储的程序被执行时，处理器用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
[0023]第四方面，本专利技术提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质存储有计算机程序，当计算机程序在处理器上运行时，使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实现方式所描述的方法。
[0024]第五方面，本专利技术提供一种计算机程序产品，当计算机程本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种存储器疲劳特性测量方法，其特征在于，包括以下步骤：根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；根据预设的测量模式，确定各个采样点对应的循环次数，并在对应循环次数下测量存储器的输出信号；其中，所述预设测量模式包括：十倍程测量模式、线性测量模式及混合测量模式；所述十倍程测量模式为当循环次数在相邻的10的整数幂之间时，选取固定数目的采样点，且任意两个采样点对应循环次数的除数固定，即每十倍程的采样点数目固定且间隔相对固定；所述线性测量模式为各个采样点之间的循环次数间隔固定；所述混合测量模式为十倍程测量模式和线性测量模式交替使用；判断各采样点存储器的输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则将原输入信号继续循环输入；若不在预设范围内，则调整输入信号的参数，在下一次循环时判断输出信号是否在预设范围内，若在预设范围内，则按照调整参数的输入信号继续进行循环，若不在预设范围内，则继续调整输入信号参数，在重复预设次数的输入信号参数调整下，若输出信号仍不在预设范围内，则中止疲劳特性测量。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在十倍程测量模式下，设采样率为C/dec，则在10
n
到10
n+1
次循环中，第k个采样点对应的循环次数3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述输入信号为电压或脉冲电压；所述输出信号为电流、电容、脉冲电流或根据输入电压和输出电流计算得到的电阻。4.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，在各个采样点判断输出信号以及当输出信号不在预设范围内时调整输入信号，以对存储器出现短暂反常响应情况进行及时调整，且在存储器经多次调整后仍旧无法正常响应时及时中止测量，避免对存储器造成不必要的测量磨损。5.根据权利要求1至3任一项所述的方法，其特征在于，当总循环次数大于预设值时，所述测量模式可以被设定为十倍程测量模式，以保证测量的速率，否则所述测量模式可以被设定为线性测量模式，以保证测量的可靠性；所述测量模式被设定为混合测量模式时，可以保证测量的可靠性和速率。6.一种存储器疲劳特性测量系统，其特征在于，包括：输入信号提供单元，用于根据疲劳特性测量需求向存储器循环提供相应的输入信号；输出信号测量单元，用于根据预设的测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：何强，蒋靖，王曦，缪向水，
申请(专利权)人：华中科技大学，
类型：发明
国别省市：