一种显示基板检测方法技术

本申请实施例提供了一种显示基板检测方法，利用测试模块可以对显示基板第i列Source线自身的走线状态、以及第i列Source线与第j列Source线之间的走线状态进行测试，以检测Source线的异常情况，不仅为解析显示基板异常提供数据支撑，而且在生产显示基板阶段，也可以提前获取Source线的走线状态，从而避免良率损失，将风险前置。将风险前置。将风险前置。

【技术实现步骤摘要】
一种显示基板检测方法


[0001]本申请涉及显示
，特别是涉及一种显示基板检测方法。

技术介绍

[0002]随着OLED(Organic Electroluminescence Display，有机电致发光二极管)手机技术发展，大众对电子设备的尺寸，形态及显示效果需求就越来越紧迫，以上需求对屏幕的Source走线提出更多的需求，而无论是增多Source走线，还是减少相邻Source走线的间隔，均会提高Source走线断路和短路的风险。因此，如何检测Source走线状态是目前亟需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本申请实施例的目的在于提供一种显示基板检测方法，以实现检测Source走线状态。
[0004]具体技术方案如下：
[0005]第一方面，一种显示基板的检测方法，应用于测试模块，所述测试模块用于测试显示基板的Source线，其中，所述测试模块包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元；第一信号线，第二信号线，第三信号线，第一测试信号单元，第一反馈单元，第二反馈单元，其中，所述第一测试单元连接第i列Source线的一端测试引脚、所述第一信号线和所述第一测试信号单元，所述第二测试单元连接所述第i列Source线的另一端测试引脚、所述第二信号线和所述第一反馈单元；所述第三测试单元连接第j列Source线的一端测试引脚、所述第三信号线和所述第二反馈单元，i≠j；
[0006]所述方法包括：
[0007]向所述第一信号线、所述第二信号线，所述第三信号线提供有效电平信号，所述第一测试信号单元通过所述第一测试单元向第i列Source线提供测试信号；
[0008]所述第一反馈单元通过所述第二测试单元获取所述第i列Source线的反馈信号，所述第二反馈单元通过所述第三测试单元获取所述第j列Source线的反馈信号，在所述第i列Source线的反馈信号与所述第i列Source线的测试信号不相对应的情况下，确定所述第i列Source线存在断路点；在所述第j列Source线的反馈信号与所述第i列Source线的测试信号相对应的情况下，确定所述第i列Source线与所述第j列Source线存在短路点。
[0009]在一种可能的实施方式中，所述第一信号线、所述第二信号线、所述第三信号线为同一根信号线。
[0010]在一种可能的实施方式中，j＝i+3。
[0011]在一种可能的实施方式中，所述测试模块还包括第四测试单元、第五测试单元、第六测试单元；第四信号线，第五信号线，第六信号线，第二测试信号单元，第三反馈单元，第四反馈单元；其中，所述第四信号线与所述第一信号线不相同，所述第四测试单元连接第i+2列Source线的一端测试引脚、所述第四信号线和所述第二测试信号单元，所述第五测试单
元连接所述第i+2列Source线的另一端测试引脚、所述第五信号线和所述第三反馈单元；所述第六测试单元连接所述第i+1列Source线的一端测试引脚、所述第六信号线和所述第四反馈单元；
[0012]所述方法还包括：
[0013]向所述第四信号线、第五信号线、第六信号线提供有效电平信号，所述第二测试信号单元通过所述第四测试单元向所述第i+2列Source线提供测试信号；
[0014]所述第三反馈单元通过所述第五测试单元获取所述第i+2列Source线的反馈信号，所述第四反馈单元通过所述第六测试单元获取所述第i+1列Source线的反馈信号，在所述第i+2列Source线的反馈信号与所述第i+2列Source线的测试信号不相对应的情况下，确定所述第i+2列Source线存在断路点；在所述第i+1列Source线的反馈信号与所述第i+2列Source线的测试信号相对应的情况下，确定所述第i+2列Source线与所述第i+1列Source线存在短路点。
[0015]在一种可能的实施方式中，所述第四信号线、所述第五信号线、所述第六信号线为同一根信号线。
[0016]在一种可能的实施方式中，所述第一测试单元包括第一左晶体管，所述第二测试单元包括第一右晶体管，所述第三测试单元包括第二左晶体管；所述第四测试单元包括第三左晶体管，所述第五测试单元包括第三右晶体管，所述第六测试单元包括第四左晶体管；
[0017]所述第一左晶体管的栅极与所述第一信号线连接，所述第一左晶体管的第一极连接所述第一测试信号单元，所述第一左晶体管的第二极与所述第i列Source线的一端测试引脚连接；
[0018]所述第一右晶体管的栅极与所述第一信号线连接，所述第一右晶体管的第一极连接所述第一反馈单元，所述第一右晶体管的第二极与所述第i列Source线的另一端测试引脚连接；
[0019]所述第二左晶体管的栅极与所述第一信号线连接，所述第二左晶体管的第一极连接所述第二反馈单元，所述第二左晶体管的第二极与所述第i+3列Source线的一端测试引脚；
[0020]所述第三左晶体管的栅极与所述第四信号线连接，所述第三左晶体管的第一极连接所述第二测试信号单元，所述第三左晶体管的第二极与所述第i+2列Source线的一端测试引脚连接；
[0021]所述第三右晶体管的栅极与所述第四信号线连接，所述第三右晶体管的第一极连接所述第三反馈单元，所述第三右晶体管的第二极与所述第i+2列Source线的另一端测试引脚连接；
[0022]所述第四左晶体管的栅极与所述第四信号线连接，所述第四左晶体管的第一极连接所述第四反馈单元，所述第四左晶体管的第二极与所述第i+1列Source线的一端测试引脚；
[0023]所述第一反馈单元通过所述第二测试单元获取所述第i列Source线的反馈信号，所述第二反馈单元通过所述第三测试单元获取所述第j列Source线的反馈信号，包括：
[0024]所述第一反馈单元通过所述第一右晶体管获取所述第i列Source线的反馈信号，所述第二反馈单元通过所述第二左晶体管获取所述第j列Source线的反馈信号；
[0025]所述第三反馈单元通过所述第五测试单元获取所述第i+2列Source线的反馈信号，所述第四反馈单元通过所述第六测试单元获取所述第i+1列Source线的反馈信号，包括：
[0026]所述第三反馈单元通过所述第三右晶体管获取所述第i+2列Source线的反馈信号，所述第四反馈单元通过所述第四左晶体管获取所述第i+1列Source线的反馈信号。
[0027]在一种可能的实施方式中，所述测试模块还包括第七测试单元和第八测试单元；第五反馈单元，第六反馈单元；
[0028]所述第七测试单元连接所述第j列Source线的另一端测试引脚、所述第一信号线和所述第五反馈单元；所述第八测试单元连接所述第i+1列Source线的另一端测试引脚、所述第四信号线和所述第六反馈单元；
[0029]所述方法还包括：
[0030]在向所述第一信号线提供有效电平信号，所述第一测试信号单元通过所述第一测试单元向所述第i列本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种显示基板的检测方法，其特征在于，应用于测试模块，所述测试模块用于测试显示基板的Source线，其中，所述测试模块包括第一测试单元、第二测试单元、第三测试单元；第一信号线，第二信号线，第三信号线，第一测试信号单元，第一反馈单元，第二反馈单元，其中，所述第一测试单元连接第i列Source线的一端测试引脚、所述第一信号线和所述第一测试信号单元，所述第二测试单元连接所述第i列Source线的另一端测试引脚、所述第二信号线和所述第一反馈单元；所述第三测试单元连接第j列Source线的一端测试引脚、所述第三信号线和所述第二反馈单元，i≠j；所述方法包括：向所述第一信号线、所述第二信号线，所述第三信号线提供有效电平信号，所述第一测试信号单元通过所述第一测试单元向第i列Source线提供测试信号；所述第一反馈单元通过所述第二测试单元获取所述第i列Source线的反馈信号，所述第二反馈单元通过所述第三测试单元获取所述第j列Source线的反馈信号，在所述第i列Source线的反馈信号与所述第i列Source线的测试信号不相对应的情况下，确定所述第i列Source线存在断路点；在所述第j列Source线的反馈信号与所述第i列Source线的测试信号相对应的情况下，确定所述第i列Source线与所述第j列Source线存在短路点。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一信号线、所述第二信号线、所述第三信号线为同一根信号线。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，j＝i+3。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述测试模块还包括第四测试单元、第五测试单元、第六测试单元；第四信号线，第五信号线，第六信号线，第二测试信号单元，第三反馈单元，第四反馈单元；其中，所述第四信号线与所述第一信号线不相同，所述第四测试单元连接第i+2列Source线的一端测试引脚、所述第四信号线和所述第二测试信号单元，所述第五测试单元连接所述第i+2列Source线的另一端测试引脚、所述第五信号线和所述第三反馈单元；所述第六测试单元连接所述第i+1列Source线的一端测试引脚、所述第六信号线和所述第四反馈单元；所述方法还包括：向所述第四信号线、第五信号线、第六信号线提供有效电平信号，所述第二测试信号单元通过所述第四测试单元向所述第i+2列Source线提供测试信号；所述第三反馈单元通过所述第五测试单元获取所述第i+2列Source线的反馈信号，所述第四反馈单元通过所述第六测试单元获取所述第i+1列Source线的反馈信号，在所述第i+2列Source线的反馈信号与所述第i+2列Source线的测试信号不相对应的情况下，确定所述第i+2列Source线存在断路点；在所述第i+1列Source线的反馈信号与所述第i+2列Source线的测试信号相对应的情况下，确定所述第i+2列Source线与所述第i+1列Source线存在短路点。5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第四信号线、所述第五信号线、所述第六信号线为同一根信号线。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述第一测试单元包括第一左晶体管，所述第二测试单元包括第一右晶体管，所述第三测试单元包括第二左晶体管；所述第四测试单元包括第三左晶体管，所述第五测试单元包括第三右晶体管，所述第六测试单元包括第
四左晶体管；所述第一左晶体管的栅极与所述第一信号线连接，所述第一左晶体管的第一极连接所述第一测试信号单元，所述第一左晶体管的第二极与所述第i列Source线的一端测试引脚连接；所述第一右晶体管的栅极与所述第一信号线连接，所述第一右晶体管的第一极连接所述第一反馈单元，所述第一右晶体管的第二极与所述第i列Sou...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖立，李诗琪，陆旭，
申请(专利权)人：成都京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：