仿真方法、装置、电子设备及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及一种仿真方法、装置、电子设备及存储介质，该方法包括：获取仿真系统的仿真界面中的目标模型；确定目标模型中的多个几何体；判断多个几何体中至少两个几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果；若判断结果为至少两个几何体之间存在空间位置坐标相同的点，则基于判断结果确定多个几何体中的目标几何面；将目标几何面作为目标模型的接触面；基于目标模型的接触面确定模型仿真参数，依据模型仿真参数对目标模型进行仿真。本申请提供的方案，能够通过目标模型中几何体之间的接触状态确定目标模型的接触面，进而依据接触面确定的模型仿真参数可以实现对目标模型的准确仿真。型的准确仿真。型的准确仿真。

【技术实现步骤摘要】
仿真方法、装置、电子设备及存储介质


[0001]本申请涉及仿真
，尤其涉及一种仿真方法、装置、电子设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在仿真领域中，常涉及对待仿真的目标模型施加载荷，通过模拟载荷在目标模型中的传递过程，实现对目标模型的仿真。
[0003]相关技术中，由于载荷在目标模型中各几何体之间传递时，很难真实的模拟各几何体之间的载荷的施加效果，导致目标模型的仿真结果准确性较低，难以满足实际仿真模拟需求。

技术实现思路

[0004]为解决或部分解决相关技术中存在的问题，本申请提供一种仿真方法、装置、电子设备及存储介质，能够实现对目标模型准确、真实的仿真过程。
[0005]本申请第一方面提供一种仿真方法，该方法包括：
[0006]获取仿真系统的仿真界面中的目标模型；
[0007]确定所述目标模型中的多个几何体；
[0008]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果；
[0009]若所述判断结果为至少两个所述几何体之间存在空间位置坐标相同的点，则基于所述判断结果确定所述多个几何体中的目标几何面；
[0010]将所述目标几何面作为所述目标模型的接触面；
[0011]基于所述目标模型的接触面确定模型仿真参数，依据所述模型仿真参数对所述目标模型进行仿真。
[0012]根据本申请提供的仿真方法，判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果，包括：<br/>[0013]分别确定每一所述几何体各自对应的外围体；
[0014]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果。
[0015]根据本申请提供的仿真方法，判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果，包括：
[0016]分别确定每一所述几何体各自对应的外围体；
[0017]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点；
[0018]若至少两个所述几何体各自对应的外围体之间存在空间位置坐标相同的点，则将至少两个所述几何体作为目标几何体；
[0019]判断至少两个所述目标几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结
果。
[0020]根据本申请提供的仿真方法，所述外围体包括第一外围体和第二外围体，所述第一外围体的体积大于所述第二外围体的体积；
[0021]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，包括：
[0022]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的第一外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到第一判断结果；
[0023]基于所述第一判断结果确定初筛几何体；其中，所述初筛几何体为各自对应的第一外围体之间存在空间位置坐标相同的点的至少两个几何体；
[0024]判断至少两个所述初筛几何体各自对应的第二外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点。
[0025]根据本申请提供的仿真方法，所述外围体包括第一外围体和第二外围体，所述第一外围体的体积大于所述第二外围体的体积；
[0026]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，包括：
[0027]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的第一外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点；
[0028]判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的第二外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点。
[0029]根据本申请提供的仿真方法，基于所述判断结果确定所述多个几何体中的目标几何面，包括：
[0030]若所述判断结果为至少两个所述几何体之间存在空间位置坐标相同的点，则确定所述空间位置坐标相同的点所在的几何面；
[0031]将所述空间位置坐标相同的点所在的几何面作为目标几何面。
[0032]根据本申请提供的仿真方法，基于所述目标模型的接触面确定模型仿真参数，包括：
[0033]依据所述目标模型的接触面，建立所述目标模型中与所述接触面相关联的至少两个几何体之间的接触关系；
[0034]基于所述至少两个几何体之间的接触关系，确定模型仿真参数。
[0035]本申请第二方面提供一种仿真装置，该装置包括：
[0036]获取模块，用于获取仿真系统的仿真界面中的目标模型；
[0037]确定模块，用于确定所述目标模型中的多个几何体；
[0038]判断模块，用于判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果；
[0039]第一处理模块，用于在所述判断结果为至少两个所述几何体之间存在空间位置坐标相同的点时，基于所述判断结果确定所述多个几何体中的目标几何面；
[0040]第二处理模块，用于将所述目标几何面作为所述目标模型的接触面；
[0041]仿真模块，用于基于所述目标模型的接触面确定模型仿真参数，依据所述模型仿真参数对所述目标模型进行仿真。
[0042]本申请第三方面提供一种电子设备，包括：
[0043]处理器；以及
[0044]存储器，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被所述处理器执行时，使所述处理器执行如上所述的方法。
[0045]本申请第四方面提供一种计算机可读存储介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被电子设备的处理器执行时，使所述处理器执行如上所述的方法。
[0046]本申请提供的技术方案可以包括以下有益效果：
[0047]通过获取仿真系统的仿真界面中的目标模型，确定目标模型中的多个几何体，并判断多个几何体中至少两个几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果，若判断结果为至少两个几何体之间存在空间位置坐标相同的点，则基于判断结果确定多个几何体中的目标几何面，将目标几何面作为目标模型的接触面，基于目标模型的接触面确定模型仿真参数，进而依据模型仿真参数对目标模型进行仿真，由于通过目标模型中几何体之间的接触状态可以确定目标模型的接触面，进而依据接触面确定的模型仿真参数可以实现对目标模型的准确仿真，从而提高了目标模型仿真过程的准确性。
[0048]应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
附图说明
[0049]通过结合附图对本申请示例性实施方式进行更详细地描述，本申请的上述以及其它目的、特征和优势将变得更加明显，其中，在本申请示例性实施方式中，相同的参考标号通常代表相同部件。
[0050]图1是本申请实施例示出的仿真方法的流程示意图；
[0051]图2是本申请实施例中某一零部件的几何体划分示意图；
[0052]图3是本申请实施例中第一几何体对应的外围体的本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种仿真方法，其特征在于，包括：获取仿真系统的仿真界面中的目标模型；确定所述目标模型中的多个几何体；判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果；若所述判断结果为至少两个所述几何体之间存在空间位置坐标相同的点，则基于所述判断结果确定所述多个几何体中的目标几何面；将所述目标几何面作为所述目标模型的接触面；基于所述目标模型的接触面确定模型仿真参数，依据所述模型仿真参数对所述目标模型进行仿真。2.根据权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果，包括：分别确定每一所述几何体各自对应的外围体；判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果。3.根据权利要求1所述的仿真方法，其特征在于，判断所述多个几何体中至少两个所述几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果，包括：分别确定每一所述几何体各自对应的外围体；判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点；若至少两个所述几何体各自对应的外围体之间存在空间位置坐标相同的点，则将至少两个所述几何体作为目标几何体；判断至少两个所述目标几何体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到判断结果。4.根据权利要求2或3所述的仿真方法，其特征在于，所述外围体包括第一外围体和第二外围体，所述第一外围体的体积大于所述第二外围体的体积；判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，包括：判断所述多个几何体中至少两个所述几何体各自对应的第一外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点，得到第一判断结果；基于所述第一判断结果确定初筛几何体；其中，所述初筛几何体为各自对应的第一外围体之间存在空间位置坐标相同的点的至少两个几何体；判断至少两个所述初筛几何体各自对应的第二外围体之间是否存在空间位置坐标相同的点。5.根据权利要求2或3所述的仿真方法，其特征在于，所述外围体包括第一外围体和...

【专利技术属性】
技术研发人员：张超，谭立方，
申请(专利权)人：安世亚太科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：