一种用于协助硅后测试的芯片测试方法技术

本申请涉及集成电路测试领域，公开了一种用于协助硅后测试的芯片测试方法，可以大幅降低硅后测试难度。该方法包括：获取项目的模式描述文本。基于模式描述文本，通过脚本生成器调用功能仿真模板生成功能仿真用例。使用功能仿真用例进行寄存器转换级电路功能仿真，若功能仿真不通过则更正模式描述文本，再次生成寄存器转换级电路仿真用例，进行功能仿真，直至功能仿真通过。使用通过功能仿真的模式描述文本通过脚本生成器调用硅后测试模板生成与功能仿真用例同源的硅后测试用例。以及，使用硅后测试用例进行硅后测试。后测试用例进行硅后测试。后测试用例进行硅后测试。

【技术实现步骤摘要】
一种用于协助硅后测试的芯片测试方法


[0001]本申请涉及集成电路测试领域，具体涉及一种用于协助硅后测试的芯片测试方法。

技术介绍

[0002]本部分旨在为权利要求书中陈述的本申请的实施方式提供背景或上下文。此处的描述不因为包括在本部分中就承认是已被公开的现有技术。
[0003]复杂芯片的bring
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up（上电启动测试）或者复杂场景的配置（如多个子系统配合的性能测试），由于硅片无法直接观测内部信号，配置信息需要多次迭代才能成功，DV（Design Verification，功能验证，属于设计前端仿真）与硅后测试编程语言差异、关注粒度和角度不同，可能导致设计验证的测试用例无法直接用于硅后测试，而设计验证在RTL（Register
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transfer level，寄存器传输级）仿真中可以观测内部的任何信号，及时发现及纠正错误配置或者错误配置流程。

技术实现思路

[0004]本申请的目的在于提供一种用于协助硅后测试的芯片测试方法，可以大幅降低硅后测试难度，节省测试时间成本。
[0005]本申请公开了一种用于协助硅后测试的芯片测试方法，包括：获取项目的模式描述文本；基于所述模式描述文本，通过脚本生成器调用功能仿真模板生成功能仿真用例；使用所述功能仿真用例进行寄存器转换级电路功能仿真，若功能仿真不通过则更正所述模式描述文本，再次生成寄存器转换级电路仿真用例，进行功能仿真，直至功能仿真通过；使用通过功能仿真的所述模式描述文本通过所述脚本生成器调用硅后测试模板生成与所述功能仿真用例同源的硅后测试用例；使用所述硅后测试用例进行硅后测试。
[0006]在一个优选例中，还包括：获取相近项目的相近模式描述文本；基于所述相近模式描述文本，通过脚本生成器调用所述功能仿真模板生成所述功能仿真用例；使用所述功能仿真用例进行寄存器转换级电路功能仿真，若功能仿真不通过则更正所述相近模式描述文本，再次生成寄存器转换级电路仿真用例，进行功能仿真，直至功能仿真通过；使用通过功能仿真的所述相近模式描述文本通过所述脚本生成器调用硅后测试模板生成与所述功能仿真用例同源的硅后测试用例；使用所述硅后测试用例进行硅后测试。
[0007]在一个优选例中，还包括：所述脚本生成器根据所述模式描述文本提供的信息找到对应的标签并找到对应的库文件，所述库文件包括各团队的原子操作库文件；所述脚本生成器根据所述模式描述文本中对应的指令翻译为对应的操作并生成对应的用例供各个团队进行测试。
[0008]在一个优选例中，所述描述文本包括组合成所有芯片的配置流程的指令集。
[0009]在一个优选例中，所述描述文本被配置为用基础语言和文本配置文件描述配置流程。
[0010]在一个优选例中，硅后测试团队提供所述模式描述文本，功能验证团队根据所述模式描述文本生成测试用例，在验证环境中进行验证。
[0011]在一个优选例中，所述功能验证团队根据所述硅后测试团队提供的测试场景，编写所述模式描述文本，生成测试用例，在验证环境中进行验证。
[0012]在一个优选例中，所述功能仿真包括观测所述寄存器转换级电路内部信号并纠正错误配置或错误配置流程。
[0013]在一个优选例中，所述项目使用独立的文本配置文件。
[0014]在一个优选例中，所述描述文本包括项目对应标签及目录、测试用例名以及由原子操作组成的任务。
[0015]本申请还公开了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令被处理器执行时实现如前文描述的方法中的步骤。
[0016]本申请的实施方式中，用描述文本生成功能仿真用例，用功能仿真用例进行功能仿真，如果验证失败则修改描述文本，继续生成功能仿真用例仿真，直到仿真结果符合预期，再用仿真成功的描述文本对应的描述文本生成硅后测试用例，功能仿真相对于硅后测试有更多测观测信号，调试起来更容易。
[0017]进一步地，由于功能仿真用例和硅后测试用例的同源性，可以保证用于硅后测试的用例已经通过功能仿真，降低错误配置和错误配置流程发生的概率；进一步地，对于相近项目的验证，可以生成相近项目的描述文本进行功能仿真，该相近项目的描述文本对于相近项目可以进行复用。
[0018]硅后测试难度大大高于功能仿真，因为功能仿真可以以很小的代价观测到任意中间结果，容易调试，而硅后测试出问题时，可能是硬件的问题，也可能是测试用例的问题，通过上述方法可以大大减少测试用例出问题的可能性。
[0019]上述
技术实现思路
中公开的各个技术特征、在下文各个实施方式和例子中公开的各技术特征、以及附图中公开的各个技术特征，都可以自由地互相组合，从而构成各种新的技术方案（这些技术方案均应该视为在本说明书中已经记载），除非这种技术特征的组合在技术上是不可行的。例如，在一个例子中公开了特征A+B+C，在另一个例子中公开了特征A+B+D+E，而特征C和D是起到相同作用的等同技术手段，技术上只要择一使用即可，不可能同时采用，特征E技术上可以与特征C相组合，则，A+B+C+D的方案因技术不可行而应当不被视为已经记载，而A+B+C+E的方案应当视为已经被记载。
附图说明
[0020]图1是根据本申请的一个实施方式的流程示意图；图2是根据本申请的一个实施方式的流程示意图；图3是根据本申请的一个实施方式的流程示意图。
具体实施方式
[0021]在以下的叙述中，为了使读者更好地理解本申请而提出了许多技术细节。但是，本领域的普通技术人员可以理解，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本申请所要求保护的技术方案。
[0022]部分概念的说明：功能验证，也称为功能验证测试。在芯片测试中，前端设计用硬件描述语言Verilog将模块功能以代码来描述实现，也就是将芯片所需的功能通过机器可以理解的语言描述出来，形成RTL代码。功能验证主要负责就是验证前端设计工程师所出的RTL代码是否真正实现了芯片所要具备的功能。
[0023]硅后验证：在流片后，使样品在真实环境中进行验证，称为硅后验证。在硅后验证中，使用计算机上的软件工具配置芯片，并将测试代码下载到芯片中进行各种测试。
[0024]原子操作：是指不会被线程调度机制打断的操作；这种操作一旦开始，就一直运行到结束，中间不会有任何切换到另一个线程的操作。
[0025]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请的实施方式作进一步地详细描述。
[0026]本申请涉及一种用于协助硅后测试的芯片测试方法，其流程如图1所示，该方法包括以下步骤：在步骤101中，获取项目的模式描述文本。
[0027]在步骤102中，基于模式描述文本，通过脚本生成器调用功能仿真模板生成功能仿真用例。
[0028]在步骤103中，脚本生成器根据模式描述文本提供的信息找到对应的标签并找到对应的库文件，库文件包括各团队的原子操作库文件。
[本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于协助硅后测试的芯片测试方法，其特征在于，包括：获取项目的模式描述文本；基于所述模式描述文本，通过脚本生成器调用功能仿真模板生成功能仿真用例；所述脚本生成器根据所述模式描述文本提供的信息找到对应的标签并找到对应的库文件，所述库文件包括各团队的原子操作库文件；使用所述功能仿真用例进行寄存器转换级电路功能仿真，若功能仿真不通过则更正所述模式描述文本，再次生成寄存器转换级电路仿真用例，进行功能仿真，直至功能仿真通过；所述脚本生成器根据所述模式描述文本中对应的指令翻译为对应的操作并生成对应的用例供各个团队进行测试；使用通过功能仿真的所述模式描述文本通过所述脚本生成器调用硅后测试模板生成与所述功能仿真用例同源的硅后测试用例；使用所述硅后测试用例进行硅后测试。2.如权利要求1所述的用于协助硅后测试的芯片测试方法，其特征在于，还包括：获取相近项目的相近模式描述文本；基于所述相近模式描述文本，通过脚本生成器调用所述功能仿真模板生成所述功能仿真用例；使用所述功能仿真用例进行寄存器转换级电路功能仿真，若功能仿真不通过则更正所述相近模式描述文本，再次生成寄存器转换级电路仿真用例，进行功能仿真，直至功能仿真通过；使用通过功能仿真的所述相近模式描述文本通过所述脚本生成器调用硅后测试模板生成与所述功能仿真用例同源的硅后...

【专利技术属性】
技术研发人员：毛焰烽，历广绪，陈哲，张俊，
申请(专利权)人：上海类比半导体技术有限公司，
类型：发明
国别省市：