一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统技术方案

本发明专利技术公开一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统，包括老化水冷板、加热器、控制器、管壳式换热器、冷水进水管、热水供水管、冷水输入管和排水管。所述加热器设置在老化水冷板中，所述控制器与加热器连接。所述冷水进水管的两端分别与管壳式换热器中的螺旋换热管的出口、换热腔进口连通，所述热水供水管的两端分别与换热腔出口、管壳式换热器的内腔进口连通。所述冷水输入管与螺旋换热管入口连通，所述排水管与内腔出口连通。所述冷水输入管、排水管上均设置有第一阀门。所述换热系统能够充分利用激光器自身产生的热量来实现激光器的高温老化，且产生的热量还能实现一定程度的循环利用，有效降低了老化测试的能源消耗和成本。本。本。

【技术实现步骤摘要】
一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统


[0001]本专利技术涉及激光器老化测试设备领域，具体涉及一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统。

技术介绍

[0002]本专利技术
技术介绍
中公开的信息仅仅旨在增加对本专利技术的总体背景的理解，而不必然被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已经成为本领域一般技术人员所公知的现有技术。
[0003]半导体激光器在生产时、出厂前、实验时都要经过不同时间的老化测试，在老化过程中，激光器会产生大量的热量，产生的热量大部分被冷却水带走，在老化时这部分热量是工厂内工艺冷却循环水带走。现在随着技术的革新，半导体激光器老化要求也不同，高温老化需求也越来越多，市场上高温老化设备，有两类加热方式：第一类在水冷板内安装加热棒，使用加热棒辅助加热，温度能达到60℃左右。第二类是采用安装在水冷板上的TEC半导体制冷片加热，老化测试时激光器安装TEC半导体制冷片上，老化测试温度能达到100℃以上。
[0004]上述第一类的方式中，老化测试用的主要热量来源于加热棒产生的热量，产生的热量被工艺冷却水带走，不能回收利用，工艺水排出后还要降温再返回作为冷却水使用，整个过程会消耗大量能量，造成能源的浪费和企业成本增加。上述第二类的方式虽然具有控温精准、控温范围广的特点，但此方式设备成本高，多余的热量也法无循环利用，控温过程中TEC半导体制冷片也消耗大量能量，同样存在整个过程会消耗大量能量，造成能源的浪费和企业成本增加的不足。

技术实现思路

[0005]本专利技术提供一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统，其能够充分利用激光器自身产生的热量来实现激光器的高温老化，且产生的热量还能实现一定程度的循环利用，有效降低了老化测试的能源消耗和成本。为实现上述目的，本专利技术公开如下所示的技术方案。
[0006]一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统，包括：老化水冷板、加热器、控制器、管壳式换热器、冷水进水管、热水供水管、冷水输入管和排水管。其中：所述加热器设置在老化水冷板中，所述控制器与加热器连接，以控制加热器的加热温度。所述管壳式换热器的内腔中设置有螺旋换热管，所述冷水进水管的两端分别与螺旋换热管的出口、老化水冷板的换热腔进口连通，所述热水供水管的两端分别与老化水冷板的换热腔出口、管壳式换热器的内腔进口连通。所述冷水输入管与螺旋换热管的入口连通，所述排水管与管壳式换热器的内腔出口连通。所述冷水输入管、排水管上均设置有第一阀门，且该第一阀门与所述控制器连接，以控制第一阀门的启闭。
[0007]进一步地，还包括补水管道，所述补水管道与冷水进水管连通，且所述补水管道上
设置有第二阀门，该第二阀门与所述控制器连接，以控制第二阀门的启闭。
[0008]进一步地，所述老化水冷板内设置有布水管，所述冷水进水管与布水管的一端连通。所述老化水冷板的换热腔底部上具有若干均匀分布的所述换热腔进口，其与所述布水管连通，从而均匀地将来自冷水进水管的水分布在老化水冷板的换热腔内。
[0009]进一步地，所述老化水冷板的换热腔的侧壁上均匀分布有若干所述换热腔出口，其通过支管与所述热水供水管连通，从而将出水汇聚到热水供水管中。
[0010]进一步地，所述老化水冷板中具有安装孔，所述加热器插接在该安装孔内。
[0011]进一步地，所述热水供水管上连接有排气阀，以排出管道体系内多余的产生的气体，保持管道体系内压力稳定。
[0012]进一步地，所述热水供水管上连接有减压阀，以对整个管道系统进行卸压，保持管道体系内压力稳定。
[0013]进一步地，所述控制器与老化测试设备内的温度传感器连接，以根据该温度传感器检测的温度信息控制所述加热器和各阀门，进而调控老化测试设备内的老化温度。
[0014]与现有技术相比，本专利技术至少具有以下方面的有益效果：本专利技术的低能耗半导体激光器老化测试换热系统可以将激光器自身产生的热量用于激光器老化所需的高温环境，所述管壳式换热器利用热水供水管从老化水冷板中带出的热量对螺旋换热管中的冷水先预热，然后通过所述冷水进水管送入老化水冷板中为老化测试供热，从而可以有效减少所述加热器供热消耗的电能，同时实现热量在一定程度上的循环利用，有效降低了老化测试的能源消耗和成本。
附图说明
[0015]构成本专利技术的一部分的说明书附图用来提供对本专利技术的进一步理解，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。
[0016]图1是下列实施例1的换热装置的结构示意图。
[0017]图2是下列实施例1的管壳式换热器的结构示意图。
[0018]图3是下列实施例1的老化水冷板的结构示意图。
[0019]上述图中附图标记分别代表：1
‑
老化水冷板、2
‑
加热器、3
‑
控制器、4
‑
管壳式换热器、5
‑
冷水进水管、6
‑
热水供水管、7
‑
冷水输入管、8
‑
排水管、9
‑
第一阀门、10
‑
补水管道、11
‑
第二阀门、12
‑
布水管、13
‑
安装孔、14
‑
排气阀、15
‑
减压阀、101
‑
换热腔进口、102
‑
换热腔出口、401
‑
螺旋换热管、402
‑
内腔进口、403
‑
内腔出口。
具体实施方式
[0020]应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本专利技术提供进一步的说明。除非另有指明，本专利技术使用的所有技术和科学术语具有与本专利技术所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。
[0021]为了方便叙述，本专利技术中如果出现“上”、“下”、“左”“右”字样，仅表示与附图本身的上、下、左、右方向一致，并不对结构起限定作用，仅仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的设备或元件需要具有特定的方位，以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，任何与所记载内容相似或均等的方法及材料皆可
应用于本专利技术方法中。现结合说明书附图和具体实施方式对本专利技术的技术方案进一步说明。
[0022]参考图1、图2和图3，示例一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统，包括：老化水冷板1、加热器2、控制器3、管壳式换热器4、冷水进水管5、热水供水管6、冷水输入管7和排水管8。其中：
[0023]所述老化水冷板1中具有安装孔13，所述加热器2插接在该安装孔13内。在本实施例中，所述加热器2采用外壳为不锈钢材质的电加热棒，其具有加热速度快，控温准确，耐腐蚀等优势。所述加热器2的主要作用为老化测试供热。所述控制器3与加热器2连接，其用于控制加热器2的加热温度。
[0024]所述管壳式换热器4的内腔中设置有螺旋换热管401，其具有增大冷热水接触面积和接触时间本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种低能耗半导体激光器老化测试换热系统，其特征在于，包括：老化水冷板、加热器、控制器、管壳式换热器、冷水进水管、热水供水管、冷水输入管和排水管，其中：所述加热器设置在老化水冷板中，所述控制器与加热器连接；所述管壳式换热器的内腔中设置有螺旋换热管，所述冷水进水管的两端分别与螺旋换热管的出口、老化水冷板的换热腔进口连通；所述热水供水管的两端分别与老化水冷板的换热腔出口、管壳式换热器的内腔进口连通；所述冷水输入管与螺旋换热管的入口连通，所述排水管与管壳式换热器的内腔出口连通；所述冷水输入管、排水管上均设置有第一阀门，且该第一阀门与所述控制器连接。2.根据权利要求1所述的低能耗半导体激光器老化测试换热系统，其特征在于，还包括补水管道，所述补水管道与冷水进水管连通，且所述补水管道上设置有第二阀门，该第二阀门与所述控制器连接。3.根据权利要求1所述的低能耗半导体激光器老化测试换热系统，其特征在于，所述老化水冷板内设置有布水管，所述冷水进水...

【专利技术属性】
技术研发人员：秦华兵，邓成明，赵志鹏，刘琦，秦鹏，
申请(专利权)人：山东芯光光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：