本申请实施例提供了一种功能组件的测试方法及装置、存储介质、电子设备，其中，该方法包括：接收上位机发送的测试指令，其中，所述测试指令中包括待测功能组件的组件信息，所述待测功能组件设置在所述上位机中；响应所述测试指令，从继电器阵列中确定与所述待测功能组件的组件信息匹配的目标继电器；驱动所述目标继电器，以导通所述目标继电器与所述待测功能组件，其中，在所述目标继电器与所述待测功能组件导通时，所述待测功能组件启动工作，以对所述待测功能组件进行测试。通过本申请，解决了功能组件测试效率低的问题，进而达到了提高功能组件测试效率的效果。能组件测试效率的效果。能组件测试效率的效果。
【技术实现步骤摘要】
功能组件的测试方法及装置、存储介质、电子设备
[0001]本申请实施例涉及计算机领域，具体而言，涉及一种功能组件的测试方法及装置、存储介质、电子设备。
技术介绍
[0002]随着主板技术的不断发展，主板允许接入的设备也不断增加，对应的，主板安装的功能组件也愈加复杂，如何对主板上各功能组件的工作状态进行检测成为了新的技术问题。
[0003]在相关技术中，往往通过固定主板，人工插拔测试的方法对主板中的功能组件进行测试，然而这样的测试方式存在以下问题：第一，功能组件数量庞大，作用繁复，对测试人员要求较高；第二，人工插拔需要依次处理各种外接硬件，存在效率低下的问题。
[0004]针对上述问题，相关技术中尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
[0005]本申请实施例提供了一种功能组件的测试方法及装置、存储介质、电子设备，以至少解决相关技术中功能组件测试效率低的问题。
[0006]根据本申请的一个实施例，提供了一种功能组件测试方法，包括：接收上位机发送的测试指令，其中，上述测试指令中包括待测功能组件的组件信息，上述待测功能组件设置在上述上位机中；响应上述测试指令，从继电器阵列中确定与上述待测功能组件的组件信息匹配的目标继电器；驱动上述目标继电器，以导通上述目标继电器与上述待测功能组件，其中，在上述目标继电器与上述待测功能组件导通时，上述待测功能组件启动工作，以对上述待测功能组件进行测试。
[0007]在一个示例性实施例中，响应上述测试指令，从继电器阵列中确定与上述待测功能组件的组件信息匹配的目标继电器，包括：从组件关系表中查找与上述待测功能组件的组件信息匹配的继电器信息，其中，上述组件关系表中包括预先存储的上述待测功能组件的组件信息与上述继电器信息之间的对应关系；响应上述测试指令，以从上述继电器阵列中查找与上述继电器信息匹配的继电器，得到上述目标继电器。
[0008]在一个示例性实施例中，上述组件关系表中包括以下至少之一：键盘矩阵图，其中，上述键盘矩阵图中包括在上述待测功能组件包括键盘时，上述键盘中每个按键和对应的继电器之间的对应关系；触摸板关系表，其中，上述触摸板关系表中包括在上述待测功能组件包括触摸板时，上述触摸板中每个按键和对应的继电器之间的对应关系；开机复位关系表，其中，上述开机复位关系表中包括在上述待测功能组件包括开机复位小板时，上述开机复位小板中开机与复位键和对应的继电器之间的对应关系；麦克风关系表，其中，上述麦克风关系表中包括在上述待测功能组件包括麦克风时，上述麦克风中睡眠芯片和对应的继电器之间的对应关系。
[0009]在一个示例性实施例中，驱动上述目标继电器，以导通上述目标继电器与上述待
测功能组件，包括：通过上述下位机中的预设端口控制半导体器件与上述目标继电器导通，以驱动上述目标继电器；在上述目标继电器驱动时，通过上述目标继电器控制上述待测功能组件启动工作。
[0010]根据本申请的另一个实施例，提供了一种功能组件测试方法，包括：向下位机发送测试指令，其中，上述测试指令中包括待测功能组件的组件信息，上述待测功能组件设置在上位机中；在确定目标继电器与上述待测功能组件导通，且上述待测功能组件启动工作时，获取上述待测功能组件的工作状态；基于上述待测功能组件的工作状态对上述待测功能组件进行测试。
[0011]在一个示例性实施例中，在确定目标继电器与上述待测功能组件导通，且上述待测功能组件启动工作时，获取上述待测功能组件的工作状态，包括：在确定目标继电器与上述待测功能组件导通，且上述待测功能组件启动工作时，获取上述待测功能组件的工作电平，其中，在上述工作电平从由高电平转变为低电平的情况下，上述待测功能组件处于正常工作状态。
[0012]在一个示例性实施例中，基于所述待测功能组件的工作状态对所述待测功能组件进行测试，包括：从所述工作状态获取所述待测功能组件的工作电平；在所述待测功能组件的工作电平从由高电平转变为低电平的情况下，确定所述待测功能组件处于正常工作状态。
[0013]根据本申请的又一个实施例，提供了一种功能组件测试方法，包括：接收下位机发送的驱动指令，其中，上述驱动指令包括目标继电器的信息，上述目标继电器与待测功能组件连接；响应上述驱动指令，导通上述目标继电器中与上述待测功能组件连接的继电器端口，其中，在上述目标继电器与上述待测功能组件导通时，上述待测功能组件启动工作，在上述待测功能组件启动工作时，通过上述下位机对上述待测功能组件进行测试。
[0014]根据本申请的一个实施例，提供了一种功能组件测试装置，包括：上位机，其中，上述上位机中设置待测功能组件；下位机，上述下位机与上述上位机连接，用于接收上述上位机发送的测试指令，上述测试指令中包括上述待测功能组件的组件信息；继电器阵列，上述继电器阵列中包括多个继电器，其中，在上述下位机驱动多个上述继电器中的目标继电器时，上述目标继电器与上述待测功能组件导通，在上述目标继电器与上述待测功能组件导通时，上述待测功能组件启动工作，在上述待测功能组件启动工作时，上述上位机用于对上述待测功能组件进行测试。
[0015]在一个示例性实施例中，上述上位机包括：半导体器件，其中，上述半导体器件在上述下位机中的预设端口的控制下与上述目标继电器导通；
[0016]在一个示例性实施例中，上述目标继电器包括：多个继电器端口，上述多个继电器端口与上述待测功能组件连接，其中，在上述继电器端口与上述待测功能组件导通时，上述待测功能组件启动工作。
[0017]根据本申请的又一个实施例，还提供了一种计算机可读存储介质，上述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，其中，上述计算机程序被设置为运行时执行上述任一项方法实施例中的步骤。
[0018]根据本申请的又一个实施例，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器，上述存储器中存储有计算机程序，上述处理器被设置为运行上述计算机程序以执行上述任一项
方法实施例中的步骤。
[0019]通过本申请，上位机通过向下位机发送测试指令，再由下位机管理继电器导通与功能组件连接的端口，模拟了外接设备与功能组件的正常交互，避免了人工手段测试功能组件可能存在的多次插拔，解决了相关技术中存在的功能组件测试效率低的问题，达到了有效提高了功能组件的测试效率的效果。
附图说明
[0020]图1是根据本申请实施例的功能组件测试方法的移动终端的硬件结构框图；
[0021]图2是根据本申请实施例的功能组件测试方法的流程图一；
[0022]图3是根据本申请实施例的功能组件测试方法的流程图二；
[0023]图4是根据本申请实施例的功能组件测试方法的流程图三；
[0024]图5是根据本申请实施例的功能组件测试装置的结构框图；
[0025]图6是根据本申请实施例的功能组件测试方法的硬件连接图；
[0026]图7是根据本申请实施例的功能组件测试方法的功能组件图；
[0027]图8是根据本申请实施例的功能组件本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种功能组件的测试方法，其特征在于，包括：接收上位机发送的测试指令，其中，所述测试指令中包括待测功能组件的组件信息，所述待测功能组件设置在所述上位机中；响应所述测试指令，从继电器阵列中确定与所述待测功能组件的组件信息匹配的目标继电器；驱动所述目标继电器，以导通所述目标继电器与所述待测功能组件，其中，在所述目标继电器与所述待测功能组件导通时，所述待测功能组件启动工作，以对所述待测功能组件进行测试。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，响应所述测试指令，从继电器阵列中确定与所述待测功能组件的组件信息匹配的目标继电器，包括：从组件关系表中查找与所述待测功能组件的组件信息匹配的继电器信息，其中，所述组件关系表中包括预先存储的所述待测功能组件的组件信息与所述继电器信息之间的对应关系；响应所述测试指令，以从所述继电器阵列中查找与所述继电器信息匹配的继电器，得到所述目标继电器。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述组件关系表中包括以下至少之一：键盘矩阵图，其中，所述键盘矩阵图中包括在所述待测功能组件包括键盘时，所述键盘中每个按键和对应的继电器之间的对应关系；触摸板关系表，其中，所述触摸板关系表中包括在所述待测功能组件包括触摸板时，所述触摸板中每个按键和对应的继电器之间的对应关系；开机复位关系表，其中，所述开机复位关系表中包括在所述待测功能组件包括开机复位小板时，所述开机复位小板中开机与复位键和对应的继电器之间的对应关系；麦克风关系表，其中，所述麦克风关系表中包括在所述待测功能组件包括麦克风时，所述麦克风中睡眠芯片和对应的继电器之间的对应关系。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，驱动所述目标继电器，以导通所述目标继电器与所述待测功能组件，包括：通过所述下位机中的预设端口控制半导体器件与所述目标继电器导通，以驱动所述目标继电器；在所述目标继电器驱动时，通过所述目标继电器控制所述待测功能组件启动工作。5.一种功能组件的测试方法，其特征在于，包括：向下位机发送测试指令，其中，所述测试指令中包括待测功能组件的组件信息，所述待测功能组件设置在上位机中；在确定目标继电器与所述待测功能组件导通，且所述待测功能组件启动工作时，获取所述待测功能组件的工作状态；基于所述待测功能组件的工作状态对所述待测功能组件进行测试。6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，在确定目标继电器与所述待测功能组件导通，且所述待测功能组件启动工作时，获取所述待测功能组件的工作状态，包括：在确定目标继电器与所述待测功能组件导通，且所述...
【专利技术属性】
技术研发人员：蔡烈波，
申请(专利权)人：苏州浪潮智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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