一种染色体22q11.2区微缺失、微重复的测定方法技术

本发明专利技术属于生物工程领域，公开了一种染色体２２ｑ１１．２区微缺失、微重复的测定方法。该方法的步骤包括：抽提基因组ＤＮＡ；进行多重荧光定量ＰＣＲ复合扩增，复合扩增体系中包括了５个ＳＴＲ标记：Ｄ２２Ｓ８７３，２２Ｄ＿５＿１，２２Ｄ＿４＿５，２Ｄ＿４＿４，２２Ｄ＿４＿３和一个内参Ｇ６ＰＤＨ；取ＰＣＲ扩增产物变性使双链产物转化为可为毛细管电泳分析的单链，采用毛细管电泳对上述变性产物进行产物长度和产物量分析；采用量比值分析的方法和／或采用峰的位置及数量分析的方法判断是否为正常、微缺失或微重复。该方法可提高检测的可靠性，缩短检测时间，降低检测成本，便于临床大规模使用。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种染色体２２ｑ１１．２区微缺失、微重复的测定方法，其特征在于该方法包括下列步骤：　ａ．抽提基因组ＤＮＡ；　ｂ．多重荧光定量ＰＣＲ复合扩增：复合扩增体系中包括了５个ＳＴＲ标记：Ｄ２２Ｓ８７３，２２Ｄ＿５＿１，２２Ｄ＿４＿５，２２ Ｄ＿４＿４，２２Ｄ＿４＿３和一个内参Ｇ６ＰＤＨ；进行ＰＣＲ扩增；　ｃ．取ＰＣＲ扩增产物变性使双链产物转化为可为毛细管电泳分析的单链，采用毛细管电泳对上述变性产物进行产物长度和产物量分析；　ｄ．结果分析：　１）根据下列公式计 算量比值：　量比值＝被检测者ＳＴＲ位点峰面积／其内参的峰面积／正常对照ＳＴＲ位点峰面／其内参的峰面积　量比值０．７～１．３为正常二倍体个体；　量比值小于０．７为存在微缺失的个体；　量比值大于１．３为存在微重复的个体； 　和／或　２）根据峰的位置和数量进行判断，微缺失为在相应位置缺少峰；微重复有三种情形：相应位置出现峰高等于或接近１∶１∶１的三个峰、出现峰高等于或接近２∶１的二个峰、出现峰高等于或接近１∶２的二个峰；　其中：　Ｄ２２ Ｓ８７３的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．１，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．２；　２２Ｄ＿５＿１的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．３，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．４；　２２Ｄ＿４＿５的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　Ｎ Ｏ．５，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．６；　２２Ｄ＿４＿４的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．７，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．８；　２２Ｄ＿４＿３的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．９，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ ．１０；　Ｇ６ＰＤＨ的上游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．１１，下游引物序列为ＳＥＱ　ＩＤ　ＮＯ．１２。...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：许争峰，易龙，
申请(专利权)人：南京市妇幼保健院，
类型：发明
国别省市：84[中国|南京]