本发明专利技术涉及光学显微镜技术领域，具体为一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，包括光学显微镜主体、物镜延管、圆柱列腔、总汇环槽、微型气泵、平面保护镜片和分体延管罩，所述光学显微镜主体的下端连接固定有物镜延管，所述物镜延管的内部开设有圆柱列腔和总汇环槽，所述圆柱列腔竖直设置，所述圆柱列腔的下端向下贯穿；本发明专利技术自主清洁式光学显微镜，能够在将分体延管罩扣合后，驱动分体延管罩自主上升到位，并同时对平面保护镜片进行自主清洁，清除平面保护镜片下表面由于电路板芯片检测和焊接时松香或焊锡产生的烟尘附着，在每次显微镜使用完毕后，均能够自动维持平面保护镜片的清洁，保证下次使用时的视觉清晰效果。保证下次使用时的视觉清晰效果。保证下次使用时的视觉清晰效果。
【技术实现步骤摘要】
一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜
[0001]本专利技术涉及光学显微镜
，具体为一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜。
技术介绍
[0002]在电路板维修或生产过程中，需要对电路板表面的贴片芯片等各种元件进行观察，实际工作中，由于贴片元件体积较小，需要通过显微镜进行放大，从而进行检测和焊接等操作，例如公开号为CN208969328U的一种便于使用的工业显微镜，其中记载：一种便于使用的工业显微镜，包括底座，所述底座的顶部左侧固定安装有支撑杆，所述底座的顶部且位于支撑杆的右侧活动安装有载物底台，所述底座的顶部且位于支撑杆与载物底台之间固定安装有限位块，所述载物底台的顶部活动安装有载物顶台，所述载物底台的中部正面活动安装有顶台调节旋钮，所述底座的顶部且位于载物底台的右侧固定安装有底台固定块，所述支撑杆的中部表面活动安装有竖直调整块，所述竖直调整块的左侧活动安装有调整块旋钮，所述竖直调整块的右侧活动安装有镜筒旋钮，所述竖直调整块的内部且位于载物顶台顶部活动安装有延伸至竖直调整块外部的显微镜桶，所述显微镜桶的顶部固定安装有工业相机，所述工业相机的顶部固定连接有图像传输线。
[0003]例如上述专利中公开的显微镜，使用其在检测芯片缺陷后，进行焊接维修过程中，由于松香等助焊剂焊接产生的烟雾离显微镜的物镜较近，容易在显微镜的底部镜头表面附着堆积，长时间积累后，会对显微镜的视野清晰度产生影响。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，包括光学显微镜主体、物镜延管、圆柱列腔、总汇环槽、微型气泵、平面保护镜片和分体延管罩，所述光学显微镜主体的下端连接固定有物镜延管，所述物镜延管的内部开设有圆柱列腔和总汇环槽，所述圆柱列腔竖直设置，所述圆柱列腔的下端向下贯穿，所述圆柱列腔的上端与总汇环槽连通，所述光学显微镜主体的表面设置有微型气泵，所述微型气泵与所述总汇环槽连通，所述物镜延管的内部固定设置有平面保护镜片，所述物镜延管的外部罩设安装有分体延管罩，所述分体延管罩能够与物镜延管分离，所述分体延管罩与所述物镜延管之间气密接触，所述分体延管罩的内部设置有清洁刷架，所述分体延管罩的内部设置有气驱结构，所述气驱结构具有二级触发功能，当分体延管罩与物镜延管罩设配合到位后，气驱结构的二级触发功能触发，从而驱动清洁刷架旋转。
[0006]所述气驱结构内设置有三级触发结构，当所述三级触发结构触发后，能够对平面保护镜片的下表面进行喷气清洁。
[0007]所述气驱结构包括内隔层板、二级交互孔、触发顶轴、气封环和橡胶环片，所述内
隔层板固定设置在分体延管罩的内部位置，所述内隔层板的表面贯穿开设有二级交互孔，所述内隔层板的内部穿插设置有触发顶轴，所述触发顶轴的下端固定设置有气封环，所述气封环的上表面固定设置有橡胶环片，所述橡胶环片能够将二级交互孔的下部堵塞封闭。
[0008]所述气封环的下方设置有封环弹簧，所述封环弹簧对气封环施加上升的弹力，所述分体延管罩的内部下表面固定设置有驱动腔筒，所述驱动腔筒呈圆柱状，且其上部开口，下部封闭，所述驱动腔筒的内部设置有负压活塞，所述负压活塞与所述驱动腔筒的内壁表面气密接触。
[0009]所述驱动腔筒的上檐固定设置有内折压檐，所述内折压檐与所述负压活塞之间设置有活塞复位簧，所述活塞复位簧提供支撑弹力，所述内隔层板的下表面与驱动腔筒的内部下表面之间竖直固定有活塞卡轴，所述活塞卡轴气密穿插经过负压活塞，并限制负压活塞转动，所述驱动腔筒的下表面开设有均压气孔。
[0010]所述负压活塞的上表面中心位置固定设置有活塞中轴，所述内隔层板的上表面中心位置固定设置有层板扶套，所述层板扶套内穿插设置有清洁转管，所述清洁转管的内壁表面开设有螺旋壁槽，所述活塞中轴的外表面靠近上端位置固定设置有驱动凸柱，所述驱动凸柱插设在螺旋壁槽的内部。
[0011]所述清洁转管的下端固定设置有转管限位环，所述清洁转管的上端固定设置有转管弹簧环，所述清洁转管的外部套设安装有清洁压簧，所述清洁压簧位于转管弹簧环与层板扶套之间，所述清洁压簧施加支撑弹力，所述转管弹簧环的上表面固定设置有连接架管，所述清洁刷架与所述连接架管固定安装。
[0012]所述三级触发结构包括网孔板、滤气棉垫和弹簧沉槽，所述网孔板固定设置在均压气孔的内部，所述网孔板的下表面贴设固定有滤气棉垫，所述负压活塞的下表面开设有弹簧沉槽，所述弹簧沉槽内部设置有拉持弹簧。
[0013]所述拉持弹簧的下端连接设置有气闭封盖，所述拉持弹簧的上端与弹簧沉槽的内壁表面固定连接，所述拉持弹簧提供弹性拉力，所述活塞中轴的内部贯穿开设有中轴腔道，所述气闭封盖将中轴腔道的下端堵塞封闭，所述中轴腔道的内部穿插设置有三级触发杆，所述三级触发杆的外表面靠近上端位置固定设置有架管内叶，所述三级触发杆通过架管内叶与连接架管的内壁表面固定安装。
[0014]所述光学显微镜主体的上端设置有视频输出模块，所述视频输出模块的表面嵌设有气泵控制钮，所述清洁刷架的上表面设置有清洁棉条。
[0015]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：本专利技术自主清洁式光学显微镜，能够在将分体延管罩扣合后，驱动分体延管罩自主上升到位，并同时对平面保护镜片进行自主清洁，清除平面保护镜片下表面由于电路板芯片检测和焊接时松香或焊锡产生的烟尘附着，在每次显微镜使用完毕后，均能够自动维持平面保护镜片的清洁，保证下次使用时的视觉清晰效果。
[0016]通过设置的气驱结构，能够在初始时保持二级交互孔封闭，从而通过圆柱列腔的负压牵引实现主动上升；而当分体延管罩自主上升到位到位后，能够将二级交互孔开启，从而利用负压驱动清洁刷架旋转，使得清洁刷架对平面保护镜片的下表面进行清洁；通过设置的三级触发结构，能够在清洁刷架旋转停止后，主动触发，将负压转化为往平面保护镜片下表面喷射的气压，对平面保护镜片的下表面进行吹气清洁，除去清洁刷架刷下来的微尘。
附图说明
[0017]图1为本专利技术分体延管罩扣合示意图。
[0018]图2为本专利技术分体延管罩扣合另一角度示意图。
[0019]图3为本专利技术分体延管罩分离示意图。
[0020]图4为本专利技术分体延管罩分离另一角度示意图。
[0021]图5为本专利技术分体延管罩扣合立体半剖示意图。
[0022]图6为图5中A区域放大示意图。
[0023]图7为本专利技术分体延管罩扣合立体半剖主视图。
[0024]图8为图7中B区域放大示意图。
[0025]图9为图7中C区域放大示意图。
[0026]图10为本专利技术分体延管罩分离立体半剖示意图。
[0027]图中：1、光学显微镜主体；2、物镜延管；3、圆柱列腔；4、总汇环槽；5、微型气泵；6、平面保护镜片；7、分体延管罩；8、清洁刷架；701、内隔层板；702、二级交互孔；703本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，包括光学显微镜主体（1）、物镜延管（2）、圆柱列腔（3）、总汇环槽（4）、微型气泵（5）、平面保护镜片（6）和分体延管罩（7），其特征在于：所述光学显微镜主体（1）的下端连接固定有物镜延管（2），所述物镜延管（2）的内部开设有圆柱列腔（3）和总汇环槽（4），所述圆柱列腔（3）竖直设置，所述圆柱列腔（3）的下端向下贯穿，所述圆柱列腔（3）的上端与总汇环槽（4）连通，所述光学显微镜主体（1）的表面设置有微型气泵（5），所述微型气泵（5）与所述总汇环槽（4）连通，所述物镜延管（2）的内部固定设置有平面保护镜片（6），所述物镜延管（2）的外部罩设安装有分体延管罩（7），所述分体延管罩（7）能够与物镜延管（2）分离，所述分体延管罩（7）与所述物镜延管（2）之间气密接触，所述分体延管罩（7）的内部设置有清洁刷架（8），所述分体延管罩（7）的内部设置有气驱结构，所述气驱结构具有二级触发功能，当分体延管罩（7）与物镜延管（2）罩设配合到位后，气驱结构的二级触发功能触发，从而驱动清洁刷架（8）旋转。2.根据权利要求1所述的一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，其特征在于：所述气驱结构内设置有三级触发结构，当所述三级触发结构触发后，能够对平面保护镜片（6）的下表面进行喷气清洁。3.根据权利要求2所述的一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，其特征在于：所述气驱结构包括内隔层板（701）、二级交互孔（702）、触发顶轴（703）、气封环（704）和橡胶环片（705），所述内隔层板（701）固定设置在分体延管罩（7）的内部位置，所述内隔层板（701）的表面贯穿开设有二级交互孔（702），所述内隔层板（701）的内部穿插设置有触发顶轴（703），所述触发顶轴（703）的下端固定设置有气封环（704），所述气封环（704）的上表面固定设置有橡胶环片（705），所述橡胶环片（705）能够将二级交互孔（702）的下部堵塞封闭。4.根据权利要求3所述的一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，其特征在于：所述气封环（704）的下方设置有封环弹簧（706），所述封环弹簧（706）对气封环（704）施加上升的弹力，所述分体延管罩（7）的内部下表面固定设置有驱动腔筒（707），所述驱动腔筒（707）呈圆柱状，且其上部开口，下部封闭，所述驱动腔筒（707）的内部设置有负压活塞（708），所述负压活塞（708）与所述驱动腔筒（707）的内壁表面气密接触。5.根据权利要求4所述的一种芯片检测用的自主清洁式光学显微镜，其特征在于：所述驱动腔筒（707）的上檐固定设置有内折压檐（709），所述内折压檐（709）与所述负压活塞（708）之间设置有活塞复位簧（710），所述活塞复位簧（710）提供支撑弹力，所述内隔层板（701）的...
【专利技术属性】
技术研发人员：庄伟东，
申请(专利权)人：南京银茂微电子制造有限公司，
类型：发明
国别省市：
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