一种电磁兼容性检测系统技术方案

本实用新型专利技术涉及设备检测技术领域，具体涉及一种电磁兼容性检测系统，具有显控单元、测试单元、测试环境单元和测试数据采集单元；显控单元分别与测试单元和测试数据采集单元电连接；测试环境单元分别与测试单元和测试数据采集单元电连接，本申请中通过显控单元设定合格参考值，通过测试单元对测试环境单元中的被测设备进行电磁兼容性测试，通过测试数据采集单元获取测试曲线，然后通过显控单元比较测试曲线和合格参考值，对相同型号的设备，只需设定一次合格参考值，便可直接批次进行电磁兼容检测，缩短了检测周期，解决了目前电磁兼容检测周期过长的问题。测周期过长的问题。测周期过长的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种电磁兼容性检测系统


[0001]本技术涉及设备检测
，具体涉及一种电磁兼容性检测系统。

技术介绍

[0002]电磁兼容性是现代电子设备最关键的指标之一，几乎所有的电子产品都要满足特定的电磁兼容指标要求。
[0003]由于电子产品制造过程中，影响产品电磁兼容性因素繁多，产品的电磁兼容一致性不像其它指标那样稳定，这样就会造成个别产品的电磁兼容性不合格。例如，某公司生产的电源适配器产品，需要满足GJB151B中RE102试验的要求。用户在验收时，发现某些产品的RE102试验不合格，导致该批次产品召回，给企业带来了经济和声誉的损失。
[0004]为了保证电子产品的质量，对电子产品进行检验十分必要。但是由于电子产品的电磁兼容试验成本较高、周期较长，不可能对所有产品进行电磁兼容检验。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种电磁兼容性检测系统，以克服目前电磁兼容检测周期长，成本高的问题。
[0006]为实现以上目的，本技术采用如下技术方案：
[0007]本申请提供了一种电磁兼容性检测系统，包括：显控单元、测试单元、测试环境单元和测试数据采集单元；
[0008]所述显控单元分别与所述测试单元和所述测试数据采集单元电连接；
[0009]所述测试单元设置在所述测试环境单元内部，所述测试环境单元分别与所述测试单元和所述测试数据采集单元电连接。
[0010]进一步的，以上所述的系统，还包括：射频信号转换单元；
[0011]所述测试环境单元通过所述射频信号转换单元与所述显控单元电连接。
[0012]进一步的，以上所述的系统，所述测试环境单元，包括：低反射屏蔽箱。
[0013]进一步的，以上所述的系统，所述测试单元，包括：传导发射采集子单元、辐射发射采集子单元、滤波仿真子单元和电缆连接子单元。
[0014]进一步的，以上所述的系统，所述显控单元包括：安装有嵌入式软件的计算机和控制器。
[0015]进一步的，以上所述的系统，所述测试数据采集单元包括：频谱分析仪。
[0016]进一步的，以上所述的系统，所述射频信号转换单元包括：射频同轴开关；
[0017]所述射频同轴开关通过射频同轴线缆与所述显控单元电连接。
[0018]进一步的，以上所述的系统，还包括净化电源；
[0019]所述净化电源分别与所述显控单元、所述测试单元、所述测试环境单元和所述测试数据采集单元电连接。
[0020]本技术的有益效果为：
[0021]本申请具有显控单元、测试单元、测试环境单元和测试数据采集单元；显控单元分别与测试单元和测试数据采集单元电连接；测试环境单元分别与测试单元和测试数据采集单元电连接，本申请中通过显控单元设定合格参考值，通过测试单元对测试环境单元中的被测设备进行电磁兼容性测试，通过测试数据采集单元获取测试曲线，然后通过显控单元比较测试曲线和合格参考值，对相同型号的设备，只需设定一次合格参考值，便可直接批次进行电磁兼容检测，缩短了检测周期，解决了目前电磁兼容检测周期过长的问题。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0023]图1是本技术一种电磁兼容性检测系统一种实施例提供的结构图。
具体实施方式
[0024]为使本技术的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本技术的技术方案进行详细的描述。显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施方式，都属于本技术所保护的范围。
[0025]由于电子产品制造过程中，影响产品电磁兼容性因素繁多，产品的电磁兼容一致性不像其它指标那样稳定，这样就会造成个别产品的电磁兼容性不合格。例如，某公司生产的电源适配器产品，需要满足GJB151B中RE102试验的要求。用户在验收时，发现某些产品的RE102试验不合格，导致该批次产品召回，给企业带来了经济和声誉的损失。
[0026]为了保证电子产品的质量，对电子产品进行检验十分必要。但是由于电子产品的电磁兼容试验成本较高、周期较长，不可能对所有产品进行电磁兼容检验。
[0027]有鉴于此，本技术的目的在于提供一种电磁兼容性检测系统，以克服目前电磁兼容检测周期长，成本高的问题。
[0028]本专利技术提供了一种电磁兼容性检测系统，图1是本专利技术一种电磁兼容性检测系统一种实施例提供的结构示意图。如图1所示，所述系统，包括：
[0029]显控单元1、测试单元2、测试环境单元3和测试数据采集单元4；
[0030]所述显控单元1分别与所述测试单元2和所述测试数据采集单元4电连接；
[0031]所述测试单元1设置在所述测试环境单元3内部，所述测试环境单元3分别与所述所述测试单元2和所述测试数据采集单元4电连接。
[0032]可以理解的是，显控单元1，用于记录被测设备的型号，还用于设置被测设备的合格参考值，并存储型号的合格参考值，测试单元2，用于连接被测设备进行电磁兼容性测试，测试环境单元3，用于提供相应的测试环境，，测试数据采集单元4，用于接收被测设备的测试曲线，并将测试曲线发送给显控单元，显控单元1，还用于根据测试曲线和存储的合格参考值，判断被测设备的电磁兼容性是否合格；本实施例中，对相同型号的设备，只需设定一次合格参考值，便可直接批次进行电磁兼容性检测，缩短了检测周期，解决了目前电磁兼容
检测周期长，成本高的问题。
[0033]需要说明的是，显控单元1中具有比较器，通过比较器比较合格参考值和测试数据是否一致，从而判断被测设备是否合格。
[0034]优选的，还包括：射频信号转换单元；
[0035]测试单元2通过射频信号转换单元与显控单元1电连接。
[0036]优选的，射频信号转换单元包括：射频同轴开关；
[0037]射频同轴开关通过射频同轴线缆与显控单元1电连接。
[0038]可以理解的是，射频信号转换单元，用于测试单元同时向至少一个被测设备发射电磁兼容测试信号。
[0039]射频信号转换单元可以是射频同轴开关，微波开关又称射频开关，实现了控制微波信号通道转换作用。一个RF(射频)和微波开关是一个设备来路由高频通过传输路径的信号。射频和微波开关广泛用于微波测试系统中，用于仪器和待测设备之间的信号路由。将开关组合到开关矩阵系统中，可以将来自多个仪器的信号路由到单个或多个待测设备。这使得多个测试可以在相同的设置下执行，无需频繁的连接和断开连接。整个测试过程可以自动化，从而提高大批量生产环境本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电磁兼容性检测系统，其特征在于，包括：显控单元、测试单元、测试环境单元和测试数据采集单元；所述显控单元分别与所述测试单元和所述测试数据采集单元电连接；所述测试单元设置在所述测试环境单元内部，所述测试环境单元分别与所述测试单元和所述测试数据采集单元电连接。2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：射频信号转换单元；所述测试环境单元通过所述射频信号转换单元与所述显控单元电连接。3.根据权利要求2所述的系统，其特征在于，所述测试环境单元，包括：低反射屏蔽箱。4.根据权利要求3所述的系统，其特征在于，所述测试单元，包括：传导发...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨继深，高长春，
申请(专利权)人：东展科博北京技术有限公司，
类型：新型
国别省市：