一种集成电路测试机构制造技术

本实用新型专利技术涉及一种集成电路测试机构，包括基座，所述基座的顶部固定安装有支撑架，所述基座的顶部设置有集成电路测试机构，所述集成电路测试机构包括固定安装于支撑架顶部的检测头组件，所述基座的顶部固定安装有底块。该集成电路测试机构，通过将集成电路板放置在两个夹板之间，随后两个电动推杆推动两个夹板相互靠拢对集成电路板的两侧进行挤压致使两个探针分别向推架的内部伸进，随后两个探针分别与两个压力传感器接触并对其进行挤压，此时两个压力传感器感受到压力便控制两个电动推杆关闭，进而即防止电动推杆用力过度将电路板夹坏，也将电路板固定在两个夹板之间，从而达到了稳定夹持测试，防止电路板损坏的效果。防止电路板损坏的效果。防止电路板损坏的效果。

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试机构


[0001]本技术涉及集成电路测试
，具体为一种集成电路测试机构。

技术介绍

[0002]集成电路是电路小型化的方式，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。
[0003]中国专利公开号为CN218546942U的提出了“一种集成电路测试装置”，该技术方案提出了“现有的集成电路测试装置在使用时需要对集成电路板进行夹持固定，以便测试工作的进行，由于夹持固定机构的结构单一，无法调节夹持的间距，使得只能针对同一个规格大小的集成电路板进行固定，导致集成电路测试装置使用时的灵活性较差，不便于集成电路测试装置的使用，”的问题，其中技术提供如下技术方案：“包括底板，底板的下端外表面安装有测试头组件，底板的上端外表面固定安装有阻尼器，阻尼器的上端外表面连接有连接板，连接板的右侧外表面固定连接有横杆，
……
，还可以利用阻尼器以及缓冲弹簧的弹性来进一步减弱集成电路板受到的挤压力，从而避免测试头组件直接贯穿电路板而损坏。”，上述方案存在以下缺陷：上述集成电路测试装置，通过利用夹持弹簧的弹性形变而让两组夹板处的防护海绵垫共同夹持集成电路板，然而当弹簧的弹性过强时容易将电路板夹坏，当弹簧的弹性过弱时对电路板的夹持又不稳定，故而提出一种集成电路测试机构来解决上述问题。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种集成电路测试机构，具备稳定夹持测试，防止电路板损坏等优点。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种集成电路测试机构，包括基座，所述基座的顶部固定安装有支撑架，所述基座的顶部设置有集成电路测试机构。
[0006]所述集成电路测试机构包括固定安装于支撑架顶部的检测头组件，所述基座的顶部固定安装有底块，所述底块的顶部固定安装有滑轨，所述支撑架的左右两侧均固定安装有贯穿至支撑架内部的电动推杆，两个所述电动推杆的内侧均固定安装有推架，两个所述推架的内侧均固定安装有推板，两个所述推板的底部均固定安装有数量为两个的钩板，两个所述推板的下底壁内部均开设有滑槽，两个所述滑槽的内部均滑动安装有滑块，两个所述滑块的顶部均固定安装有夹板，两个所述夹板的外侧均固定安装有贯穿至推架内部的探针，两个所述夹板的外侧均固定安装有套装于探针外部的弹簧，两个所述推架的内部均固定安装有压力传感器。
[0007]进一步，所述基座的底部面积大于支撑架的顶部面积，所述检测头组件贯穿至支撑架的内部，所述底块和滑轨均位于检测头组件的底部。
[0008]进一步，两个所述电动推杆的展开方向均朝向支撑架的内部，两个所述推架的外
部均为“匚”形结构，两个所述推板的外部均为“L”形结构。
[0009]进一步，四个所述钩板分别卡装于滑轨的前后两端，四个所述钩板与滑轨均为滑动连接，两个所述滑块分别左右滑动于两个滑槽的内部。
[0010]进一步，两个所述夹板的外部均为“匚”形结构，两个所述探针与推板均为滑动连接，两个所述弹簧的外侧均与推板为固定连接。
[0011]进一步，两个所述弹簧的内径均小于探针的直径，两个所述压力传感器与探针均位于同一水平线上，两个所述压力传感器分别与两个电动推杆为电连接。
[0012]与现有技术相比，本申请的技术方案具备以下有益效果：
[0013]该集成电路测试机构，通过将集成电路板放置在两个夹板之间，随后两个电动推杆推动两个夹板相互靠拢对集成电路板的两侧进行挤压致使两个探针分别向推架的内部伸进，随后两个探针分别与两个压力传感器接触并对其进行挤压，此时两个压力传感器感受到压力便控制两个电动推杆关闭，进而即防止电动推杆用力过度将电路板夹坏，也将电路板固定在两个夹板之间，从而达到了稳定夹持测试，防止电路板损坏的效果。
附图说明
[0014]图1为本技术结构示意图；
[0015]图2为本技术结构正视图；
[0016]图3为本技术结构滑轨右视图；
[0017]图4为本技术结构图一中A处放大示意图。
[0018]图中：1、基座；2、支撑架；3、检测头组件；4、底块；5、滑轨；6、电动推杆；7、推架；8、推板；9、钩板；10、滑槽；11、滑块；12、夹板；13、探针；14、弹簧；15、压力传感器。
具体实施方式
[0019]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0020]请参阅图1
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4，本实施例中的一种集成电路测试机构，包括基座1，基座1的顶部固定安装有支撑架2，基座1的底部面积大于支撑架2的顶部面积，通过基座1将此装置的底部进行支撑，基座1的顶部设置有集成电路测试机构。
[0021]集成电路测试机构包括固定安装于支撑架2顶部的检测头组件3，检测头组件3贯穿至支撑架2的内部，通过检测头组件3对电路板进行检测，基座1的顶部固定安装有底块4，底块4的顶部固定安装有滑轨5，通过底块4将滑轨5的底部托起，底块4和滑轨5均位于检测头组件3的底部，支撑架2的左右两侧均固定安装有贯穿至支撑架2内部的电动推杆6，两个电动推杆6的展开方向均朝向支撑架2的内部，两个电动推杆6的内侧均固定安装有推架7，两个推架7的外部均为“匚”形结构，两个推架7的内侧均固定安装有推板8，两个推板8的外部均为“L”形结构，通过两个电动推杆6伸缩能够带动两个推板8进行移动，两个推板8的底部均固定安装有数量为两个的钩板9。
[0022]四个钩板9分别卡装于滑轨5的前后两端，四个钩板9与滑轨5均为滑动连接，通过
四个钩板9分别将两个推板8限制在滑轨5的顶部滑动，两个推板8的下底壁内部均开设有滑槽10，两个滑槽10的内部均滑动安装有滑块11，两个滑块11分别左右滑动于两个滑槽10的内部，两个滑块11的顶部均固定安装有夹板12，两个夹板12的外部均为“匚”形结构，通过两个夹板12将电路板的两侧夹持，两个夹板12的外侧均固定安装有贯穿至推架7内部的探针13，两个探针13与推板8均为滑动连接，两个夹板12的外侧均固定安装有套装于探针13外部的弹簧14，两个弹簧14的外侧均与推板8为固定连接，两个弹簧14的内径均小于探针13的直径，通过两个夹板12推动探针13和弹簧14，两个推架7的内部均固定安装有压力传感器15，两个压力传感器15与探针13均位于同一水平线上，两个压力传感器15分别与两个电动推杆6为电连接，通过两个压力传感器15控制两个电动推杆6的关闭。
[0023]上述实施例的工作原理为：
[0024]使用时首先将集成电路板放置在两个夹板12之间，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试机构，包括基座(1)，其特征在于：所述基座(1)的顶部固定安装有支撑架(2)，所述基座(1)的顶部设置有集成电路测试机构；所述集成电路测试机构包括固定安装于支撑架(2)顶部的检测头组件(3)，所述基座(1)的顶部固定安装有底块(4)，所述底块(4)的顶部固定安装有滑轨(5)，所述支撑架(2)的左右两侧均固定安装有贯穿至支撑架(2)内部的电动推杆(6)，两个所述电动推杆(6)的内侧均固定安装有推架(7)，两个所述推架(7)的内侧均固定安装有推板(8)，两个所述推板(8)的底部均固定安装有数量为两个的钩板(9)，两个所述推板(8)的下底壁内部均开设有滑槽(10)，两个所述滑槽(10)的内部均滑动安装有滑块(11)，两个所述滑块(11)的顶部均固定安装有夹板(12)，两个所述夹板(12)的外侧均固定安装有贯穿至推架(7)内部的探针(13)，两个所述夹板(12)的外侧均固定安装有套装于探针(13)外部的弹簧(14)，两个所述推架(7)的内部均固定安装有压力传感器(15)。2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试机构，其特征在于：所述基座(1)的底部面积大...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱锦锋，
申请(专利权)人：武汉芯锋芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：