一种母粒检测杂质用压片机制造技术

本实用新型专利技术公开了一种母粒检测杂质用压片机，包括上模，所述上模的底部设有加热板，所述上模带动加热板向下运动；底座，所述底座上设有可移动的底板，所述底座中设有阶梯凹槽，所述阶梯凹槽包括活动凹槽、第一凹槽、第二凹槽，所述第一凹槽中设有若干光源，所述第二凹槽中设有可移动的检测模组；所述上模将母粒压成片状后检测模组对片状母粒进行检测。本实用新型专利技术采用可加热的加热板对母粒进行压制，压制为片状后检测模组对片状母粒进行检测，生成图像并在计算机上进行比对，用于检测母粒的杂质。质。质。

【技术实现步骤摘要】
一种母粒检测杂质用压片机


[0001]本技术属于母粒检测领域，尤其涉及一种母粒检测杂质用压片机。

技术介绍

[0002]母粒全称为塑料母粒，是由超量的化学助剂、载体树脂和分散剂等组成，有色母粒通常是把超常量的颜料均匀载附于树脂中得到的聚集体。
[0003]在母粒的生产中，由于设备、环境等因素，在生产母粒的过程中常常会有杂质混入母粒中，从而影响母粒的质量，现有技术中用于检测母粒杂质的方法比较单一，通常是将母粒压成片状之后再对片状母粒进行观察，观察其表面是否存在杂质，这种检测方法不仅质量得不到保障，而且效率很低。

技术实现思路

[0004]为解决上述技术问题，本技术提供了一种母粒检测杂质用压片机，该压片机采用可加热的加热板对母粒进行压制，压制为片状后检测模组对片状母粒进行检测，生成图像并在计算机上进行比对，用于检测母粒的杂质。
[0005]具体的，本技术公开了一种母粒检测杂质用压片机，包括上模，所述上模的底部设有加热板，所述上模带动加热板向下运动；底座，所述底座上设有可移动的底板，所述底座中设有阶梯凹槽，所述阶梯凹槽包括活动凹槽、第一凹槽、第二凹槽，所述第一凹槽中设有若干光源，所述第二凹槽中设有可移动的检测模组；所述上模将母粒压成片状后检测模组对片状母粒进行检测。
[0006]通过采用上述方案，向下运动的上模及加热板将母粒压成片状后，检测模组对母粒的杂质进行对比检测。
[0007]进一步的，所述上模与加热板之间设有隔热层。
[0008]通过采用上述方案，隔热层将热量隔离在加热板中，不会传导至其他部位，保护了操作人员的安全。
[0009]进一步的，所述底板通过推拉把手在活动凹槽中运动，所述底板为高强度透明材料。
[0010]通过采用上述方案，推拉把手方便底板的拿取与放置，将母粒放在底板上，再将底板推入活动凹槽中即可，透明材质的底板可使光源及检测模组照射到母粒。
[0011]进一步的，所述活动凹槽与第一凹槽之间设有保护板，所述保护板为透明材质且保护板与底板之间留有间隙。
[0012]通过采用上述方案，保护板避免了阶梯凹槽中进入灰尘，保护板与底板之间的间隙避免底板与保护板之间发生摩擦，影响检测效果。
[0013]进一步的，所述光源均匀分布在第一凹槽中，且光源的颜色可调。
[0014]通过采用上述方案，光源均匀分布不仅提高了照射亮度，也使压制后的片状母粒受光均匀，光源的颜色可根据母粒的颜色进行调整改变，检测效果更佳。
[0015]进一步的，所述检测模组包括滑轨及摄像机，所述摄像机在第二凹槽中移动。
[0016]通过采用上述方案，摄像机在滑轨上移动，对压制后的母粒进行实时拍摄，检测方便、范围广。
[0017]进一步的，所述底座的一侧设有控制箱，所述控制箱上设有温度面板、压力面板及加热开关。
[0018]通过采用上述方案，控制箱上可实时检测加热板的温度及下压压力。
[0019]进一步的，所述底座的一侧还设有计算机，所述计算机用于控制压片机。
[0020]通过采用上述方案，上模的运动速度、方向、压力等均可通过计算机来控制，运动精度高，压力可控。
[0021]本技术的有益效果在于：采用检测模组对压制后的母粒进行实时检测；光源照射片状母粒，使母粒受光均匀，检测效果更佳。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本技术实施例中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。
[0023]图1是母粒检测杂质用压片机的轴测图；
[0024]图2是母粒检测杂质用压片机的主视图；
[0025]图3是母粒检测杂质用压片机上模与底座的剖视图；
[0026]图4是母粒检测杂质用压片机底座的轴测图；
[0027]图5是母粒检测杂质用压片机底座的俯视图。
[0028]其中附图中所涉及的标号如下：上模1，隔热层11，加热板12，底座2，底板21，活动凹槽22，第一凹槽23，光源231，第二凹槽24，摄像机241，滑轨242，保护板25，控制箱3，计算机4。
具体实施方式
[0029]下面结合附图对本技术作进一步详细的说明。
[0030]如图1
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5所示，本技术公开了一种母粒检测杂质用压片机，包括上模1，所述上模1的底部设有加热板12，上模1通过四个角的升降组件带动加热板12向下运动；底座2，底座2上设有可移动的底板21，底板21与加热板12相匹配，底座2中设有一个阶梯凹槽，阶梯凹槽包括活动凹槽22、第一凹槽23、第二凹槽24，从上至下依次为活动凹槽22、第一凹槽23、第二凹槽24，第一凹槽23中设有若干光源231，第二凹槽24中设有可移动的检测模组；上模1将母粒压成片状后检测模组对片状母粒进行检测。
[0031]本技术的有益效果在于，采用检测模组对压制后的母粒进行实时检测；光源231照射片状母粒，使母粒受光均匀，检测效果更佳。
[0032]在本技术的一些实施例中，上模1与加热板12之间设有隔热层11。
[0033]本实施例的有益效果在于，隔热层11将加热板12的温度进行隔离，防止传递至压片机的其他部件，来保护工作人员，防止烫伤。
[0034]在本技术的一些实施例中，底板21通过推拉把手在活动凹槽22中运动，底板21为高强度透明材料。
[0035]本实施例的有益效果在于，通过底板21将母粒送至压片机内，检测完成后将底板21取出，底板21的结构简单，便于操作。
[0036]在本技术的一些实施例中，活动凹槽22与第一凹槽23之间设有保护板25，保护板25为透明材质，保护板25与底板21之间留有间隙且底板21截面为凹字形。
[0037]本实施例的有益效果在于，为了避免保护板25与底板21之间接触，将底板21设为凹字形且底板21与保护板25之间留有间隙，改善了检测模组的检测效果。
[0038]在本技术的一些实施例中，光源231均匀分布在第一凹槽23的四周，光源231的颜色可调。
[0039]本实施例的有益效果在于，均布的光源231可使压制后的母粒受光均匀，在一些情况下配合特定颜色的灯光会有凸出的检测效果，可快速的发现其中的杂质。
[0040]在本技术的一些实施例中，检测模组包括滑轨242及摄像机241，滑轨242包括横向滑轨及纵向滑轨，摄像机241安装在滑轨242上并跟随滑轨242第二凹槽24中移动。
[0041]本实施例的有益效果在于，滑轨242控制摄像机241在第二凹槽24中移动，可检测更大范围的母粒，检测更加方便。
[0042]在本技术的一些实施例中，底座2的一侧设有控制箱3，控制箱3上设有温度面板、压力面板及加热开关。
[0043]本实施例的有益效果在于，温度面板、压力面板实现了温度、压力的实时监控。
[0044]在本技术的一些实施例中，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种母粒检测杂质用压片机，其特征在于，包括：上模(1)，所述上模(1)的底部设有加热板(12)，所述上模(1)带动加热板(12)向下运动；底座(2)，所述底座(2)上设有可移动的底板(21)，所述底座(2)中设有阶梯凹槽，所述阶梯凹槽包括活动凹槽(22)、第一凹槽(23)、第二凹槽(24)，所述第一凹槽(23)中设有若干光源(231)，所述第二凹槽(24)中设有可移动的检测模组；所述上模(1)将母粒压成片状后检测模组对片状母粒进行检测。2.根据权利要求1所述的母粒检测杂质用压片机，其特征在于，所述上模(1)与加热板(12)之间设有隔热层(11)。3.根据权利要求1所述的母粒检测杂质用压片机，其特征在于，所述底板(21)通过推拉把手在活动凹槽(22)中运动，所述底板(21)为高强度透明材料。4.根据权利要求1所述的母粒检测杂...

【专利技术属性】
技术研发人员：王银木，戢运云，
申请(专利权)人：优矿塑新材料科技桂林有限公司，
类型：新型
国别省市：