用于陶瓷电容的电性能测量夹具制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于陶瓷电容的电性能测量夹具，其包括夹具体、驱动组件以及两夹具电极；夹具体的内部设有相对的两驱动面，两驱动面之间的间距由上往下逐渐减小；驱动组件包括推扭及相对地连接于推扭的两滑杆，两滑杆分别抵接于两驱动面，两滑杆的下端均设有夹片；两夹具电极安装于夹具体内并位于两夹片之间，两夹具电极可相对移动；当推扭驱动两滑杆沿两驱动面滑动时，可使两夹片之间的间距改变，从而通过两夹片驱动两夹具电极夹紧或打开，从而稳定地夹取陶瓷电容，减小夹偏或夹飞的概率，极大提高电性能测量效率和准确性，尤其适用于超微型陶瓷电容的电性能测量。其适用于超微型陶瓷电容的电性能测量。其适用于超微型陶瓷电容的电性能测量。

【技术实现步骤摘要】
用于陶瓷电容的电性能测量夹具


[0001]本技术涉及陶瓷电容电性能测量
，尤其涉及一种用于超微型陶瓷电容的电性能测量夹具。

技术介绍

[0002]多层陶瓷电容器(Multi
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layer Ceramic Capacitors，简称MLCC)由印好内电极的陶瓷介质膜片以错位的方式叠合后经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片，然后在陶瓷芯片的两端封上金属层(端电极)而形成。MLCC具有高可靠、高精度、高集成、高频率、低功率大容量、小型化、成本低等优点。
[0003]现在随着移动电子设备轻薄化、超小型化的发展和要求，作为通用元件的MLCC，微型化已经成为必然要求。目前，超微型MLCC的尺寸已经极其微小，例如，01005的尺寸为0.4mm*0.2mm*0.2mm，业内最小规格008004的尺寸为0.25mm*0.125mm*0.125mm。
[0004]在MLCC生产过程中，需要通过专门的电性能测试分选设备对其容量、损耗、绝缘及耐电压等电性能做出测试，以将电性能不合格的MLCC产品剔除。目前的测试方式中，都是通过人工夹取MLCC进行测试，因MLCC尺寸极小而极易夹偏或夹飞，尤其是超微型MLCC，夹取难度更大，因此测试困难且影响电性能测试的效率、准确性。
[0005]因此，有必要提供一种能够准确、稳定地夹取超微型MLCC的电性能测量夹具，以解决上述问题。

技术实现思路

[0006]本技术的目的在于提供一种能够准确、稳定地夹取超微型MLCC的电性能测量夹具，以提高MLCC电性能测量的效率、准确性。
[0007]为实现上述目的，本技术的技术方案为：提供一种用于陶瓷电容的电性能测量夹具，其包括夹具体、驱动组件以及两夹具电极；其中，夹具体的内部设有相对的两驱动面，两所述驱动面之间的间距由上往下逐渐减小；驱动组件包括推扭及相对地连接于所述推扭的两滑杆，两所述滑杆分别抵接于两所述驱动面，两所述滑杆的下端均设有夹片；两夹具电极安装于所述夹具体内并位于两所述夹片之间，两所述夹具电极可相对移动；当所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面滑动时，可使两所述夹片之间的间距改变，从而通过两所述夹片驱动两所述夹具电极夹紧或打开。
[0008]较佳地，所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面向下移动时，使两所述夹片之间的间距缩小从而驱动两所述夹具电极夹紧，所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面向上移动时，使两所述夹片之间的间距变大从而驱动所述夹具电极打开。
[0009]较佳地，两所述夹片相平行设置，从而能够稳定地推动两夹具电极相向移动而夹紧，使两夹具电极受力平衡，从而更稳定地夹取陶瓷电容。
[0010]较佳地，所述推扭的至少一端凸伸出所述夹具体之外，只需用拇指推动所述推扭即可控制夹头，使用更方便。
[0011]较佳地，所述驱动组件还包括弹性件，所述弹性件连接于所述推扭，所述推扭向下移动时使所述弹性件产生形变，所述弹性件恢复形变以驱动所述推扭复位。
[0012]较佳地，所述夹具体内还设有一固定板，两所述夹具电极的上端连接于所述固定板，两所述夹具电极的下端设有至少一部分相平行的夹头，两所述夹头凸伸于所述夹具体之外，且两所述夹具电极均呈弹性结构，因此夹具电极失去夹片的推力后可自动复位打开。
[0013]较佳地，所述夹头包括一弯折段及一夹持段，所述弯折段连接于所述夹具电极的下端，两所述夹头的弯折段向下收拢，且两所述夹头的夹持段相平行，两所述夹头的夹持段相贴合时使两所述夹具电极处于夹紧状态。通过弯折段的设置，使两夹持段之间的间距小于初始状态下的两夹具电极之间的间距，因此，两夹具电极只需要移动较小的距离即可使两夹持段相贴合，使得操作更省力。
[0014]较佳地，所述电性能测量夹具还包括凸透镜，所述凸透镜枢接于所述夹具体的外壁，所述凸透镜具有贴合于所述夹具体的外壁的收合位置及枢转脱离所述夹具体的外壁的打开位置，由于凸透镜可自由旋转，因此，可枢转至合适角度进行放大，使产品大小适宜、清晰，便于人工夹取，减小夹偏或夹飞，不用时可将凸透镜收起至收合位置，便于放置。
[0015]较佳地，所述凸透镜通过合页枢接于所述夹具体的外壁。
[0016]较佳地，所述电性能测量夹具还包括接线柱，所述接线柱设于所述夹具体的顶部并与两所述夹具电极电连接。
[0017]与现有技术相比，由于本技术的用于陶瓷电容的电性能测量夹具，其夹具体的内部设有相对的两驱动面，两驱动面之间的间距由上往下逐渐减小，其驱动组件包括推扭及相对地连接于推扭的两滑杆，两滑杆分别抵接于两驱动面，两滑杆的下端均设有夹片，并且在两夹片之间还设有两夹具电极，两夹具电极可相对移动。因此，当推扭驱动两滑杆沿两驱动面滑动时，可使两夹片之间的间距改变，从而驱动两夹具电极相向移动以夹紧或向相反反向移动以打开，通过操作推扭即可使两夹具电极稳定地夹取陶瓷电容或释放陶瓷电容，减小夹偏或夹飞的概率，可以极大提高电性能测量效率和准确性，尤其适用于超微型陶瓷电容的电性能测量。
附图说明
[0018]图1是本技术之用于陶瓷电容的电性能测量夹具的正视图。
[0019]图2是本技术之用于陶瓷电容的电性能测量夹具的侧视图。
[0020]图3是本技术之用于陶瓷电容的电性能测量夹具的初始状态示意图。
[0021]图4是图3中的滑杆移动位置示意图。
[0022]图5是图3中的电性能测量夹具的夹持状态示意图。
具体实施方式
[0023]现在参考附图描述本技术的实施例，附图中类似的元件标号代表类似的元件。需说明的是，本技术所涉及到的方位描述，例如上、下、左、右、前、后等指示的方位或位置关系均为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请的技术方案或/和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。所描述到的第一、第二等只是用于区分技术
特征，不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
[0024]先结合图1
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图5所示，本技术所提供的用于陶瓷电容的电性能测量夹具100，尤其适用于超微型陶瓷电容的电性能测量，但并不以此为限，还可以用于夹取其他相似的微型尺寸的电子器件。
[0025]继续结合图1
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图5所示，本技术之用于陶瓷电容的电性能测量夹具100，其包括夹具体110、驱动组件120以及两夹具电极130。其中，夹具体110的内部设有相对的两驱动面111，两驱动面111之间的间距由上往下逐渐减小。两夹具电极130安装于夹具体110内且两者的下端均凸伸出夹具体110的下方，两夹具电极130均呈弹性结构。驱动组件120安装于夹具体110内并位于两夹具电极130和两驱动面111之间，并且驱动组件120抵接于两驱动面111。当驱动组件120沿两驱动面111滑动时，可驱动两夹具电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于陶瓷电容的电性能测量夹具，其特征在于，包括：夹具体，其内部设有相对的两驱动面，两所述驱动面之间的间距由上往下逐渐减小；驱动组件，其包括推扭及相对地连接于所述推扭的两滑杆，两所述滑杆分别抵接于两所述驱动面，两所述滑杆的下端均设有夹片；两夹具电极，安装于所述夹具体内并位于两所述夹片之间，两所述夹具电极可相对移动；当所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面滑动时，可使两所述夹片之间的间距改变，从而通过两所述夹片驱动两所述夹具电极夹紧或打开。2.如权利要求1所述的电性能测量夹具，其特征在于，所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面向下移动时，使两所述夹片之间的间距缩小从而驱动两所述夹具电极夹紧，所述推扭驱动两所述滑杆沿两所述驱动面向上移动时，使两所述夹片之间的间距变大从而驱动所述夹具电极打开。3.如权利要求1或2所述的电性能测量夹具，其特征在于，两所述夹片相平行设置。4.如权利要求1或2所述的电性能测量夹具，其特征在于，所述推扭的至少一端凸伸出所述夹具体之外。5.如权利要求1或2所述的电性能测量夹具，其特征在于，所述驱动组件还包括弹性件，所述弹性件连...

【专利技术属性】
技术研发人员：车凯圆，江志聪，杨俊，刘傲，郭上铭，庄铭坚，唐迎春，
申请(专利权)人：东莞市东宇阳电子科技发展有限公司，
类型：新型
国别省市：