一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备制造方法及图纸

本发明专利技术涉及集成电路设计技术领域，特别涉及一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备。本发明专利技术提供的一种设计版图图形处理时间估算方法，包括以下步骤：将设计版图划分为多个分块；随机选取某一分块，并获取该分块的图形密度；获取设计版图的平均图形密度，并获得该分块图形密度与平均图形密度的分布密度关系；该分块的图形密度基于分布密度关系获得该分块出现的概率密度；基于该分块出现的概率密度、图形密度和处理时间的预设关系和预设算法估算处理设计版图的总时间。解决现有技术的估算方法估算所耗费的时间长，效力低的问题。题。题。

【技术实现步骤摘要】
一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备


[0001]本专利技术涉及集成电路设计
，特别涉及一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备。

技术介绍

[0002]随着半导体集成电路关键尺寸的缩小，光学临近衍射效应明显，设计完成的版图不能直接用于制作掩模版，而是要进行OPC(光学临近效应修正)。OPC过程要多次调用仿真的模型来计算设计图形与仿真轮廓之间的误差，这对计算资源的消耗不容忽视，往往需要多张CPU或GPU，花费若干小时完成。而花费的时间并不固定，主要依赖于实际情况，一方面，用于处理版图的OPC软件脚本由于实际需要会不定期修改；另一方面，被处理的版图(比如面积，图形数目等)也会根据实际生产需要改变。因此，在使用OPC软件进行版图处理之前，需要估算版图的处理时间，再根据估算的结果去分配对应的计算资源以保证处理进度，或根据估算的结果调整优化OPC软件的脚本。
[0003]目前估算版图处理时间的方法是先运行OPC软件处理版图一段时间后，查看完成的比例，然后推算出需要的总时间，或者运行OPC软件直至完成整张版图的处理，查看完成的时间，作为下次处理相似版图的参考。现有技术的估算方法必须要按设定的步骤运行处理版图，其估算所耗费的时间长，效力低。

技术实现思路

[0004]为了解决现有技术的估算方法估算设计版图处理效率所耗费的时间长，效力低的问题，本专利技术提供一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备。
[0005]本专利技术为解决上述技术问题，提供如下的技术方案：一种设计版图图形处理时间估算方法，包括以下步骤：
[0006]将设计版图划分为多个分块；
[0007]随机选取某一分块，并获取该分块的图形密度；
[0008]获取设计版图的平均图形密度，并获得该分块图形密度与平均图形密度的分布密度关系；
[0009]该分块的图形密度基于分布密度关系获得该分块出现的概率密度；
[0010]基于该分块出现的概率密度、图形密度和处理时间的预设关系和预设算法估算处理设计版图的总时间。
[0011]优选地，所述分布密度关系为：
[0012][0013]其中，d表示随机选取分块的图形密度，D表示平均图形密度，f(d)表示某一分块出现的概率密度表示某一分块出现的概率密度。
[0014]优选地，所述图形密度和处理时间的预设关系获得的具体步骤包括：
[0015]设置不同图形密度的多个样本，基于预设程序处理某一个样本，获取处理该样本所耗费的样本处理时间；
[0016]迭代上述过程并获取处理多个样本所耗费的样本处理时间；
[0017]基于样本数据估计算法获得样本的图形密度和样本处理时间之间的关系；
[0018]样本的图形密度和样本处理时间之间的关系为预设关系。
[0019]优选地，样本数据估计算法为：
[0020]公式一：
[0021]公式二：
[0022]公式三：t＝ad
k
[0023]其中，公式一中，d
i
表示第i个样本中的图形密度，其中，n
i
表示第i个样本中的图形数量，S块表示样本图形的面积；
[0024]公式二中，k表示处理第i个样本中的时间和图形密度之间的指数关系，a表示处理第i个样本中的时间和图形密度之间的常数关系；
[0025]公式三表示了处理时间t和图形密度d之间的关系。
[0026]优选地，所述预设算法为：
[0027][0028]其中，t＝ad
k
表示处理时间t和图形密度d之间的关系；M表示设计版图划分为分块的预设数量，G表示预设程序于多线程模式下处理设计版图的过程中所调用的算力数量，f(d)表示某一分块出现的概率密度，d表示随机选取分块的图形密度，T表示处理设计版图的总时间。
[0029]优选地，将设计版图划分为多个分块包括：获取设计版图的边界以及面积，基于边界和面积将设计版图划分为预设比例的多个分块。
[0030]优选地，将设计版图划分为多个分块具体包括：
[0031]将设计版图等分为多个分块，所述多个分块的尺寸皆相同。
[0032]本专利技术为解决上述技术问题，提供又一技术方案如下：一种装置，应用于上述设计版图图形处理时间估算方法，所述装置包括：
[0033]处理模块：用于将设计版图划分为多个分块；
[0034]识别模块：用于随机选取某一分块，并获取该分块的图形密度，或，用于识别设计版图中的图形，并获取平均图形密度；
[0035]计算模块：用于使基于该分块出现的概率密度、图形密度和处理时间的预设关系和预设算法估算处理设计版图的总时间。
[0036]优选地，将设计版图划分为多个分块具体包括：
[0037]所述装置还包括分割模块，所述分割模块用于将识别后的设计版图划分为多个分
块。
[0038]本专利技术为解决上述技术问题，提供又一技术方案如下：一种计算机设备，应用于上述的设计版图图形处理时间估算方法，包括存储器、处理器及存储在存储器上的计算机程序，所述处理器执行上述计算机程序以实现所述设计版图图形处理时间估算方法。
[0039]与现有技术相比，本专利技术所提供的一种设计版图图形处理时间估算方法、装置和计算机设备，具有如下的有益效果：
[0040]1.本专利技术实施例提供的一种设计版图图形处理时间估算方法，包括以下步骤：将设计版图划分为多个分块；随机选取某一分块，并获取该分块的图形密度；获取设计版图的平均图形密度，并获得该分块图形密度与平均图形密度的分布密度关系；该分块的图形密度基于分布密度关系获得该分块出现的概率密度；基于该分块出现的概率密度、图形密度和处理时间的预设关系和预设算法估算处理设计版图的总时间，以完成估算设计版图的处理效率。本实施例通过获取分块内的图形密度，进而获得该分块在设计版图中出现的概率密度。基于预设关系即可估算出处理设计版图的总时间。本实施例提供的方法考虑了图形密度对运行时间的影响，提升了估算精准度的同时还进一步提高了估算的效率。
[0041]2.本专利技术实施例的分布密度关系为：
[0042][0043]其中，d表示随机选取分块的图形密度，D表示平均图形密度，f(d)表示某一分块出现的概率密度表示某一分块出现的概率密度。
[0044]3.本专利技术实施例所述图形密度和处理时间的预设关系获得的具体步骤包括：设置不同图形密度的多个样本，基于预设程序处理某一个样本，获取处理该样本所耗费的样本处理时间；迭代上述过程并获取处理多个样本所耗费的样本处理时间；基于样本数据估计算法获得样本的图形密度和样本处理时间之间的关系；样本的图形密度和样本处理时间之间的关系为预设关系。通过估算单个分块在设计版图上所出现的概率，进而可供后续计算在考虑图形密度下单个分块中的图形被处理时所耗费的平均时间。
[0045]4.本专利技术实施例样本数据估计算法为：
[004本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种设计版图图形处理时间估算方法，其特征在于：包括以下步骤：将设计版图划分为多个分块；随机选取某一分块，并获取该分块的图形密度；获取设计版图的平均图形密度，并获得该分块图形密度与平均图形密度的分布密度关系；该分块的图形密度基于分布密度关系获得该分块出现的概率密度；基于该分块出现的概率密度、图形密度和处理时间的预设关系和预设算法估算处理设计版图的总时间。2.如权利要求1所述的设计版图图形处理时间估算方法，其特征在于：所述分布密度关系为：其中，d表示随机选取分块的图形密度，D表示平均图形密度，f(d)表示某一分块出现的概率密度表示某一分块出现的概率密度。3.如权利要求1所述的设计版图图形处理时间估算方法，其特征在于：所述图形密度和处理时间的预设关系获得的具体步骤包括：设置不同图形密度的多个样本，基于预设程序处理某一个样本，获取处理该样本所耗费的样本处理时间；迭代上述过程并获取处理多个样本所耗费的样本处理时间；基于样本数据估计算法获得样本的图形密度和样本处理时间之间的关系；样本的图形密度和样本处理时间之间的关系为预设关系。4.如权利要求3所述的设计版图图形处理时间估算方法，其特征在于：样本数据估计算法为：公式一：公式二：公式三：t＝ad
k
其中，公式一中，d
i
表示第i个样本中的图形密度，其中，n
i
表示第i个样本中的图形数量，S块表示样本图形的面积；公式二中，k表示处理第i个样本中的时间和图形密度之间的指数关系，a表示处理第i个样本中的时间和图形密度之间的常数关系；公式三表示了处理时间t和图形密度d之...

【专利技术属性】
技术研发人员：贾聚才，鲁李乐，
申请(专利权)人：东方晶源微电子科技北京股份有限公司，
类型：发明
国别省市：