安全性测评方法和系统技术方案

本发明专利技术实施例提供了一种安全性测评方法和系统。所述安全性测评方法由测评控制系统执行，包括：与待测芯片建立连接；控制待测芯片执行预设算法的测试代码，并检测待测芯片周围的电磁旁路信号，电磁旁路信号指示待测芯片周围的电磁场分布状态；确定电磁旁路信号的波形曲线特征与预设算法的相关程度；基于相关程度，确定待测芯片的电磁旁路安全性。在本发明专利技术实施例的方案中，确定电磁旁路信号的波形曲线特征与预设算法的相关程度，得到了待测芯片周围的电磁信号与测试代码的相关关系，使得能够通过配置测试代码的预设算法，提高了安全性测试的通用性，此外，基于相关程度，确定待测芯片的电磁旁路安全性，提高了安全性测试的便捷性。提高了安全性测试的便捷性。提高了安全性测试的便捷性。

【技术实现步骤摘要】
安全性测评方法和系统


[0001]本专利技术实施例涉及计算机
，尤其涉及一种安全性测评方法和系统。

技术介绍

[0002]电磁旁路安全性是诸如芯片等硬件产品安全性的重要考虑因素。一般而言，电磁旁路安全性的评估比较困难，目前已知针对特定硬件产品的一些安全性测评方法，例如，单一旁路分析方法。也存在其他的安全性测评方法，但是这些方法又过于繁琐，实现方式较为复杂。
[0003]因此，需要一种较为通用且便捷的安全性测评方案。

技术实现思路

[0004]有鉴于此，本专利技术实施例提供一种安全性测评方法和系统，以至少部分解决上述问题。
[0005]根据本专利技术实施例的第一方面，提供了一种安全性测评方法，由测评控制系统执行，包括：与待测芯片建立连接；控制所述待测芯片执行预设算法的测试代码，并检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，所述电磁旁路信号指示所述待测芯片周围的电磁场分布状态；确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度；基于所述相关程度，确定所述待测芯片的电磁旁路安全性。
[0006]在本专利技术的另一实现方式中，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：根据所述电磁旁路信号的波形曲线的周期数与所述预设算法指示的运算操作次数的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度。
[0007]在本专利技术的另一实现方式中，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，还包括：基于所述电磁旁路信号的波形曲线特征中的峰值出现次数进行统计处理，确定所述波形曲线的周期数。
[0008]在本专利技术的另一实现方式中，所述预设算法包括第一运算操作和第二运算操作，所述波形曲线包括第一周期特征和第二周期特征，所述第一周期特征和所述第二周期特征具有不同的峰值和/或周期长度。所述根据所述电磁旁路信号的波形曲线的周期数与所述预设算法指示的运算操作次数的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：确定所述第一周期特征的周期数和所述第二周期特征的周期数之间的第一比例、以及所述第一运算操作的操作次数和所述第二运算操作的操作次数之间的第二比例；基于所述第一比例与所述第二比例的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度。
[0009]在本专利技术的另一实现方式中，所述预设算法包括预设操作数的运算操作，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：确定所述电磁旁路信号的波形峰值与所述预设操作数的相关程度。
[0010]在本专利技术的另一实现方式中，所述确定所述电磁旁路信号的波形峰值与所述预设
操作数的相关程度，包括：根据所述电磁旁路信号的波形峰值的大小与所述预设操作数的汉明重量的匹配程度、和/或、所述波形峰值的出现次数与所述预设操作数的赋值运算次数的匹配程度，确定所述相关程度。
[0011]在本专利技术的另一实现方式中，所述预设操作数的运算操作包括预设密钥的置换加密运算。所述确定所述电磁旁路信号的波形峰值与所述预设操作数的相关程度，包括：确定包括所述预设密钥的多个参考密钥；确定所述多个参考密钥的多个汉明重量分别与所述电磁旁路信号的波形峰值之间的多个相关系数；在所述多个参考密钥中，如果预设密钥对应的相关系数大于其他参考密钥的相关系数，则判定所述波形峰值与所述预设密钥相关。
[0012]在本专利技术的另一实现方式中，所述控制所述待测芯片执行预设算法的测试代码，并检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，包括：控制所述待测芯片多次执行所述预设密钥的置换加密运算；检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，得到所述电磁旁路信号的多个波形曲线。所述方法还包括：对所述多个波形曲线的波形峰值进行统计处理，得到所述电磁旁路信号的波形峰值。
[0013]在本专利技术的另一实现方式中，所述方法还包括：对所述预设算法的初始代码进行编译，得到所述测试代码；经由与所述待测芯片连接的开发板，将所述测试代码写入到所述待测芯片。
[0014]根据本专利技术实施例的第二方面，提供了一种安全性测评系统，包括：待测芯片和测评控制系统，所述待测芯片用于：存储并执行预设算法的测试代码，所述测评控制系统用于：控制所述待测芯片执行所述测试代码；检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，所述电磁旁路信号指示所述待测芯片周围的电磁场分布状态；确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度；基于所述相关程度，确定所述待测芯片的电磁旁路安全性。
[0015]在本专利技术的另一实现方式中，所述测评控制系统包括检测装置和测评控制装置，所述检测装置用于：检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，所述测评控制装置用于：控制所述待测芯片执行所述测试代码，确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，并且基于所述相关程度，确定所述待测芯片的电磁旁路安全性。
[0016]在本专利技术的另一实现方式中，所述测评控制系统还包括开发板，所述测评控制装置还用于：对所述预设算法的初始代码进行编译，得到所述测试代码，并且经由与所述待测芯片连接的开发板，将所述测试代码写入到所述待测芯片。
[0017]在本专利技术实施例的方案中，确定电磁旁路信号的波形曲线特征与预设算法的相关程度，得到了待测芯片周围的电磁信号与测试代码的相关关系，使得能够通过配置测试代码的预设算法，提高了安全性测试的通用性，此外，基于相关程度，确定待测芯片的电磁旁路安全性，提高了安全性测试的便捷性。
附图说明
[0018]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术实施例中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0019]图1为根据本专利技术的一个实施例的安全性测评系统的示意图。
[0020]图2为根据本专利技术的另一实施例的安全性测评方法的步骤流程图。
[0021]图3A为根据图2实施例的一个示例的安全性测评方法的波特曲线特征图。
[0022]图3B为根据图2实施例的另一示例的安全性测评方法的波特曲线特征图。
[0023]图3C为根据图2实施例的另一示例的安全性测评方法的波特曲线特征图。
[0024]图3D为根据图2实施例的另一示例的安全性测评方法的波特曲线特征图。
[0025]图4为根据本专利技术的另一实施例的安全性测评系统的示意性结构框图。
[0026]图5为根据本专利技术的另一实施例的测评控制装置的结构示意图。
具体实施方式
[0027]为了使本领域的人员更好地理解本专利技术实施例中的技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、详细地描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术实施例一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术实施例中的实施例，本领域普通技术人员所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术实施例保护的范围。
[0028]下面结合本专利技术实本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种安全性测评方法，由测评控制系统执行，包括：与待测芯片建立连接；控制所述待测芯片执行预设算法的测试代码，并检测所述待测芯片周围的电磁旁路信号，所述电磁旁路信号指示所述待测芯片周围的电磁场分布状态；确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度；基于所述相关程度，确定所述待测芯片的电磁旁路安全性。2.根据权利要求1所述的方法，其中，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：根据所述电磁旁路信号的波形曲线的周期数与所述预设算法指示的运算操作次数的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度。3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，还包括：基于所述电磁旁路信号的波形曲线特征中的峰值出现次数进行统计处理，确定所述波形曲线的周期数。4.根据权利要求2所述的方法，其中，所述预设算法包括第一运算操作和第二运算操作，所述波形曲线包括第一周期特征和第二周期特征，所述第一周期特征和所述第二周期特征具有不同的峰值和/或周期长度，所述根据所述电磁旁路信号的波形曲线的周期数与所述预设算法指示的运算操作次数的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：确定所述第一周期特征的周期数和所述第二周期特征的周期数之间的第一比例、以及所述第一运算操作的操作次数和所述第二运算操作的操作次数之间的第二比例；基于所述第一比例与所述第二比例的匹配程度，确定所述波形曲线特征与所述预设算法的相关程度。5.根据权利要求1所述的方法，其中，所述预设算法包括预设操作数的运算操作，所述确定所述电磁旁路信号的波形曲线特征与所述预设算法的相关程度，包括：确定所述电磁旁路信号的波形峰值与所述预设操作数的相关程度。6.根据权利要求5所述的方法，其中，所述确定所述电磁旁路信号的波形峰值与所述预设操作数的相关程度，包括：根据所述电磁旁路信号的波形峰值的大小与所述预设操作数的汉明重量的匹配程度、和/或、所述波形峰值的出现次数与所述预设操作数的赋值运算次数的匹配程度，确定所述相关程度。7.根据权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：张帆，任轩乐，杨博麟，任奎，
申请(专利权)人：阿里巴巴中国有限公司，
类型：发明
国别省市：