一种光纤光栅解调仪测试盒制造技术

本发明专利技术涉及一种光纤光栅解调仪测试盒，属于光学仪器的生产测试技术领域。包括测试底座，所述测试底座内设有光纤盘，所述光纤盘上盘设光纤，所述测试底座内设有光纤光栅串立板，所述光纤光栅串立板固定于测试底座内；所述光纤光栅串立板上开设置物槽单元，所述置物槽单元内设有光纤光栅串；所述测试底座上盖设测试罩盖；所述光纤盘顶端开设光纤引出槽，盘设在光纤盘上的光纤一端经光纤引出槽引出，后与光纤光栅串一端熔接，盘设在光纤盘上的光纤另一端和光纤光栅串另一端分别与双芯通信电缆熔接。本申请结构简单，操作便捷，能够快速检测光纤光栅解调仪是否损坏，而且能够判断光纤光栅解调仪在长距离数据测试环境下是否满足工作要求。工作要求。工作要求。

【技术实现步骤摘要】
一种光纤光栅解调仪测试盒


[0001]本专利技术涉及一种光纤光栅解调仪测试盒，属于光学仪器的生产测试


技术介绍

[0002]光纤光栅解调仪主要用于连接光纤光栅传感器后，向传感器发出光信号并根据传感器反射回来的光信号波长信息解调传感器测得的反射波长值，并计算成各类传感器测试的物理量。
[0003]一般光纤光栅解调仪除测试精度等参数要求外，最基本的使用性能要求为：一个通道能够采集一串包含16个传感器的波长信息数据，监测距离达到20公里以上。在光纤光栅解调仪现场使用的过程中，现场传感器可能因为线路信号衰减、光缆被破坏等原因导致现场数据无法正常测试采集，此时需要判断无法测试采集数据的原因来自于现场传感器/信号传输线路，还是光纤光栅解调仪自身出现了损坏情况。
[0004]通常验证光纤光栅解调仪损坏的直接方式是将一个或一串传感器连接至解调仪上进行测试，但不便因素有两点：1、现场一般不会常备一串满载为16个传感器的测试用传感器；2、直接采用传感器插入解调仪测试解调仪工作的情况无法判断解调仪在长距离数据测试环境下是否满足工作要求。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种光纤光栅解调仪测试盒，不仅能够快速检测光纤光栅解调仪是否损坏，而且能够判断光纤光栅解调仪在长距离数据测试环境下是否满足工作要求。
[0006]本专利技术解决上述问题所采用的技术方案为：一种光纤光栅解调仪测试盒，包括测试底座，所述测试底座内设有光纤盘，所述光纤盘上盘设光纤，所述测试底座内设有光纤光栅串立板，所述光纤光栅串立板通过底座固定于测试底座内；所述光纤光栅串立板上开设置物槽单元，所述置物槽单元内设有光纤光栅串；所述测试底座上盖设测试罩盖，所述测试底座与测试罩盖相配合，形成盒体；所述光纤盘顶端开设光纤引出槽，盘设在所述光纤盘上的光纤一端经光纤引出槽引出，后与光纤光栅串一端熔接，盘设在所述光纤盘上的光纤另一端和光纤光栅串另一端分别与双芯通信电缆熔接。
[0007]所述测试底座上设置锁紧螺杆，所述光纤盘套于锁紧螺杆，所述光纤盘上盖设保护盖，所述保护盖中心开设沉孔，所述沉孔与锁紧螺杆相配合，使得保护盖、光纤盘固定于测试底座内。
[0008]所述保护盖上表面紧贴于测试罩盖顶部。
[0009]所述光纤长度为20公里。
[0010]所述置物槽单元包括若干置物槽，若干所述置物槽沿着光纤光栅串立板竖向均匀间隔布置。
[0011]所述光纤光栅串包括多个光纤光栅，相邻所述光纤光栅之间相连接，形成连接点，
所述光纤光栅和连接点分别通过熔接保护管固定于置物槽内。
[0012]所述测试罩盖底部设置支撑保护柱，所述支撑保护柱上开设上下贯通的保护口，所述光纤光栅串立板设于保护口内。
[0013]所述测试底座内设置竖向布置的穿线立柱，所述穿线立柱上开设水平布置的穿线孔。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的优点在于：一种光纤光栅解调仪测试盒，光纤盘上盘设20公里长的光纤。盘设在光纤盘上的光纤一端经光纤引出槽引出，后与光纤光栅串一端熔接，光纤光栅串另一端和盘设在光纤盘上的光纤另一端分别与双芯通信光缆熔接。本申请结构简单，操作便捷，能够快速检测光纤光栅解调仪是否损坏，而且能够判断光纤光栅解调仪在长距离数据测试环境下是否满足工作要求。
附图说明
[0015]图1为本专利技术实施例一种光纤光栅解调仪测试盒的示意图；
[0016]图2为本专利技术实施例一种光纤光栅解调仪测试盒的爆炸二维图；
[0017]图3为本专利技术实施例一种光纤光栅解调仪测试盒的爆炸三维图；
[0018]图4为测试底座的示意图；
[0019]图5为光纤光栅串立板的示意图；
[0020]图6为光纤盘的示意图；
[0021]图7为本专利技术实施例一种光纤光栅解调仪测试盒的测试线路图；
[0022]图中1第一接头、2第二接头、3双芯通信电缆、4光纤盘、4.1光纤引出槽、5光纤光栅串、6测试罩盖、7支撑保护柱、8光纤光栅串立板、9底板、10测试底座、11锁紧螺杆、12保护盖。
具体实施方式
[0023]以下结合附图实施例对本专利技术作进一步详细描述。
[0024]如图1、2、3、4、5、6所示，本实施例中的一种光纤光栅解调仪测试盒，包括测试底座10，测试底座10上设置锁紧螺杆11，光纤盘4套于锁紧螺杆11上，光纤盘4上盘设20公里长的光纤，盘起的光纤通过光纤胶带固定。光纤盘4上盖设保护盖12，保护盖12中心开设沉孔，沉孔与锁紧螺杆11相配合，使得保护盖12、光纤盘4固定于测试底座10内。测试底座10内设有两平行布置的光纤光栅串立板8，光纤光栅串立板8设于光纤盘4外侧。光纤光栅串立板8底部通过底板9固定于测试底座10内。任一光纤光栅串立板8上开设置物槽单元，置物槽单元内设有光纤光栅串5。测试底座10上盖设测试罩盖6，测试底座10与测试罩盖6相配合，形成盒体。保护盖12上表面与测试罩盖6紧贴，对盒体起支撑作用。光纤盘4顶端开设光纤引出槽4.1，盘设在光纤盘4上的光纤一端经光纤引出槽4.1引出，后与光纤光栅串5一端熔接，光纤光栅串5另一端和盘设在光纤盘4上的光纤另一端分别与双芯通信光缆3熔接。
[0025]置物槽单元包括若干置物槽，若干置物槽沿着光纤光栅串立板8高度方向均匀间隔布置。光纤光栅串5包括16个光纤光栅，相邻光纤光栅之间相连接，形成15个连接点。光纤光栅和连接点分别通过熔接保护管固定于置物槽内。
[0026]测试罩盖6底部设置支撑保护柱7，支撑保护柱7上开设上下贯通的保护口，两光纤
光栅串立板8设于保护口内，即支撑保护柱7围设于光纤光栅串立板8外周，对光纤光栅串立板8起保护作用，而且能够使得盒体具有抗压扁作用。
[0027]测试底座10内设置竖向布置的穿线立柱，穿线立柱上开设水平布置的穿线孔。双芯通信光缆剥开后，双芯通信光缆内加强钢丝穿过穿线立柱的穿线孔并将钢丝回弯，穿线立柱顶部螺丝旋紧之后压住钢丝进行二次固定，双芯通信光缆出口处通过骑马扣压紧光缆外护套固定通信光缆；通信光缆出口处采用传感器封装同等工艺的接头引出两根尾纤：第一接头1和第二接头2。
[0028]一种光纤光栅解调仪测试盒信号传输示意如图7所示：第一接头直接与光纤光栅串相连，可判断解调仪是否能够测试到16个信号器信号(满载)。第二接头连接20公里长的光纤后与光纤光栅串相连，可判断解调仪是否能够对数据信号进行长距离测试。若第一接头和第二接头都能测到数据，说明解调仪能够正常采集运行。若第一接头能够测到数据，第二接头无法测到数据，说明解调仪无法采集20公里距离外的数据信号，解调仪抗信号衰减指标无法满足应用需求。不存在第二接头能测到数据，第一接头无法测到数据，除非测试盒内出现断线情况。
[0029]本申请结构简单，操作便捷，能够快速检测光纤光栅解调仪是否损坏，而且能够判断光纤光栅解调仪在长距离数据测试环境下是否满足工作要求。
[0030]除本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光纤光栅解调仪测试盒，其特征在于：包括测试底座，所述测试底座内设有光纤盘，所述光纤盘上盘设光纤，所述测试底座内设有光纤光栅串立板，所述光纤光栅串立板通过底座固定于测试底座内；所述光纤光栅串立板上开设置物槽单元，所述置物槽单元内设有光纤光栅串；所述测试底座上盖设测试罩盖，所述测试底座与测试罩盖相配合，形成盒体；所述光纤盘顶端开设光纤引出槽，盘设在所述光纤盘上的光纤一端经光纤引出槽引出，后与光纤光栅串一端熔接，盘设在所述光纤盘上的光纤另一端和光纤光栅串另一端分别与双芯通信电缆熔接。2.根据权利要求1所述的一种光纤光栅解调仪测试盒，其特征在于：所述测试底座上设置锁紧螺杆，所述光纤盘套于锁紧螺杆，所述光纤盘上盖设保护盖，所述保护盖中心开设沉孔，所述沉孔与锁紧螺杆相配合，使得保护盖、光纤盘固定于测试底座内。3.根据权利要求2所述的一种光纤光栅解调仪测试盒，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：宁强，刘希杰，金宏鹏，黄晓炜，沈炼杰，代春杰，苏武，许方园，
申请(专利权)人：江苏法尔胜光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：