一种共聚焦荧光实验装置、荧光信号的探测方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种共聚焦荧光实验装置、荧光信号的探测方法，涉及共聚焦荧光实验装置领域，共聚焦荧光实验装置包括第一支撑件、第一驱动组件、聚焦件、探测组件与第二驱动组件，所述第一支撑件用于放置样品、第一调试件、第二调试件中的任一种，所述第一驱动用于驱动所述第一支撑件移动，所述聚焦件用于将第二X射线反射至所述样品上，以使所述样品发出荧光信号，所述探测组件用于探测所述荧光信号，所述第二驱动组件用于驱动所述探测组件移动，所述第一驱动件与所述第二驱动能调整所述样品相对于所述探测组件的位置，以使得所述探测组件能探测到所述样品不同位置的所述荧光信号，从而能获得所述样品中元素的三维空间的分布信息情况。息情况。息情况。

【技术实现步骤摘要】
一种共聚焦荧光实验装置、荧光信号的探测方法


[0001]本专利技术涉及共聚焦荧光实验装置领域，尤其涉及一种共聚焦荧光实验装置、荧光信号的探测方法。

技术介绍

[0002]X射线荧光分析方法是一种高效成熟的多元素分析技术，可对样品进行无损分析，定性/定量地提供元素组成及空间分布信息。它具有无损、高灵敏、多元素同时检测、制样简单等优点，广泛应用于地质、考古、环境、生物和材料等学科领域中。
[0003]荧光实验装置为X射线荧光分析的实验装置，目前常规的荧光实验装置在样品深度方向上是没有分辨能力的，无法获取物质元素的三维空间分布信息。

技术实现思路

[0004]为克服现有技术中的不足，本申请提供一种共聚焦荧光实验装置、荧光信号的探测方法。
[0005]第一方面，本申请提供的一种共聚焦荧光实验装置，包括：第一支撑件、第一驱动组件、聚焦件、探测组件与第二驱动组件，所述第一支撑件用于放置样品、第一调试件、第二调试件中的任一种，所述第一驱动组件与所述第一支撑件连接，以用于驱动所述第一支撑件移动，所述聚焦件用于接收并聚焦第一X射线，以形成第二X射线，当所述样品放置于所述第一支撑件上时，所述聚焦件将所述第二X射线反射至所述样品上，以使所述样品发出荧光信号，所述探测组件与所述第二X射线呈第一角度设置，且所述探测组件用于探测所述荧光信号。所述第二驱动组件与所述探测组件连接，以用于驱动所述探测组件移动。
[0006]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述共聚焦荧光实验装置还包括：显微镜，所述显微镜与所述聚焦件活动连接，当所述样品放置于所述第一支撑件上时，所述显微镜的光标对准所述样品，且所述显微镜与所述第二X射线呈第二角度设置，所述第二角度为45
°
，所述第一角度为90
°
。
[0007]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，当所述第一调试件放置于所述第一支撑件上时，所述第二X射线在所述第一调试件上形成光斑，且所述光标对准所述光斑的中心，当所述第二调试件放置于所述第一支撑件上时，所述探测组件的焦点对准所述第二调试件的第一端部，所述第一端部位于所述第二调试件远离所述第一支撑件的一端，且所述光标对准所述第一端部。
[0008]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述探测组件包括：探测器、光学元件与连接件，所述探测器用于探测所述荧光信号，所述光学元件位于所述探测器靠近所述第一支撑件的一侧，所述光学元件用于将所述荧光信号传递给所述探测器，以使所述探测器接收并探测所述荧光信号，当所述第二调试件放置于所述第一支撑件上时，所述光学元件的焦点对准所述第二调试件的第一端部，所述连接件与所述光学元件连接。
[0009]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述共聚焦荧光实验装置还包括：第二
驱动组件，所述第二驱动组件与所述连接件连接，当所述第二调试件放置于所述第一支撑件上时，所述第二驱动组件用于驱动所述连接件摆动或转动，和/或所述第二驱动组件用于驱动所述连接件沿第一方向、第二方向、第三方向中的任一方向移动。
[0010]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，当所述样品放置于所述第一支撑件上时，所述第一驱动组件用于驱动所述第一支撑件沿第一方向、第二方向、第三方向中的任一方向移动。
[0011]结合第一方面，在一种可能的实施方式中，所述共聚焦荧光实验装置还包括：射线源，所述射线源用于将所述第一X射线发射至所述聚焦件上，所述第一X射线为非聚焦的多色X射线，所述第二X射线为聚焦的单色X射线。
[0012]第二方面，本申请提供的一种荧光信号的探测方法，采用上述的所述共聚焦荧光实验装置。
[0013]结合第二方面，在一种可能的实施方式中，包括以下步骤：通过调整样品相对于光学元件的位置，使得探测器探测样品不同位置的荧光信号。
[0014]结合第二方面，在一种可能的实施方式中，在调整样品位置前还包括显微镜位置调整的步骤与光学元件位置调整的步骤，在显微镜的位置调整过程中，第一调试件放置于所述第一支撑件上，在光学元件的位置调整过程中，第二调试件放置于所述第一支撑件上。
[0015]相比现有技术，本申请的有益效果：
[0016]本申请提供的共聚焦荧光实验装置，所述聚焦件能接收并聚焦第一X射线，以形成第二X射线，并能将所述第二X射线反射至所述样品上，以使所述样品发出荧光信号，所述探测组件能探测到所述荧光信号，且所述第一驱动件能驱动所述第一支撑件移动，所述第二驱动组件能驱动所述探测组件移动，从而能调整所述样品相对于所述探测组件的位置，以使得所述探测组件能探测到所述样品的不同位置的所述荧光信号，从而能获得所述样品中元素的三维空间的分布信息情况，以能实现对所述样品中的元素分布进行高效、原位、无损的分析。
附图说明
[0017]为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本专利技术的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
[0018]图1示出了共聚焦荧光实验装置的整体结构示意图；
[0019]图2示出了共聚焦荧光实验装置的俯视结构示意图；
[0020]图3示出了共聚焦荧光实验装置的聚焦件的结构示意图；
[0021]图4示出了共聚焦荧光实验装置的显微镜的结构示意图；
[0022]图5示出了共聚焦荧光实验装置的第二驱动组件的结构示意图；
[0023]图6示出了共聚焦荧光实验装置的探测器的结构示意图；
[0024]图7示出了共聚焦荧光实验装置的第一驱动组件的结构示意图；
[0025]图8示出了实施例二中的荧光信号的探测方法的流程示意图。
[0026]主要元件符号说明：
[0027]100
‑
第一支撑件；110
‑
第二调试件；200
‑
第一驱动组件；210
‑
第一X轴驱动件；220
‑
第一Y轴驱动件；230
‑
第一Z轴驱动件；300
‑
聚焦件；310
‑
反射端；400
‑
探测组件；410
‑
探测器；420
‑
光学元件；421
‑
焦点端；430
‑
连接件；440
‑
立柱；450
‑
第四支撑件；500
‑
第一实验台；600
‑
射线源；700
‑
第二实验台；710
‑
第二支撑件；720
‑
第三支撑件；800
‑
显微镜；900
‑
第二驱动组件；910
‑
第二X轴驱动件；920
‑
第二Y轴驱动件；930<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种共聚焦荧光实验装置，其特征在于，包括：第一支撑件，所述第一支撑件用于放置样品、第一调试件、第二调试件中的任一种；第一驱动组件，所述第一驱动组件与所述第一支撑件连接，以用于驱动所述第一支撑件移动；聚焦件，所述聚焦件用于接收并聚焦第一X射线，以形成第二X射线，当所述样品放置于所述第一支撑件上时，所述聚焦件将所述第二X射线反射至所述样品上，以使所述样品发出荧光信号；探测组件，所述探测组件与所述第二X射线呈第一角度设置，且所述探测组件用于探测所述荧光信号；第二驱动组件，所述第二驱动组件与所述探测组件连接，以用于驱动所述探测组件移动。2.根据权利要求1所述的共聚焦荧光实验装置，其特征在于，所述共聚焦荧光实验装置还包括：显微镜，所述显微镜与所述聚焦件活动连接，当所述样品放置于所述第一支撑件上时，所述显微镜的光标对准所述样品，且所述显微镜与所述第二X射线呈第二角度设置，所述第二角度为45
°
，所述第一角度为90
°
。3.根据权利要求2所述的共聚焦荧光实验装置，其特征在于，当所述第一调试件放置于所述第一支撑件上时，所述第二X射线在所述第一调试件上形成光斑，且所述光标对准所述光斑的中心；当所述第二调试件放置于所述第一支撑件上时，所述探测组件的焦点对准所述第二调试件的第一端部，所述第一端部位于所述第二调试件远离所述第一支撑件的一端，且所述光标对准所述第一端部。4.根据权利要求1所述的共聚焦荧光实验装置，其特征在于，所述探测组件包括：探测器，所述探测器用于探测所述荧光信号；光学元件，所述光学元件位于所述探测器靠近所述第一支撑件的一侧，所述光学元件用于将所述荧光信号传递给所述探测器，以使所述探测器接收并探测...

【专利技术属性】
技术研发人员：林晓胜，王旭，王苗苗，李海菁，舒淼，刘天慧，杨纯臻，
申请(专利权)人：深圳综合粒子设施研究院，
类型：发明
国别省市：