【技术实现步骤摘要】
一种衍射光学元件的同步分区加工方法
[0001]本专利技术涉及纳米压印的
,尤其是涉及一种衍射光学元件的同步分区加工方法。
技术介绍
[0002]衍射光学元件(Diffractive Optical Elements,DOE)能够在保持较高衍射效率的同时对光强分布进行精确控制,由于其更多元化的光场调控,具有很强的灵活性和可定制性,可以实现更小和更轻量化的设计,具有更好的光学性能,因此在AR、HUD、3D传感、平面成像等领域有特殊的优势。现有的衍射光学元件一般采用纳米压印技术进行加工得到,由于DOE的结构层为压印胶(有机高分子),相较于石英、玻璃、硅等无机材料,其具有硬度差、易划伤、清洗易发生结构损伤、高温或长期光照积累无法避免会出现黄化和开裂等现象的缺陷,耐候性和硬度无法满足未来产品的需求,因此出于成本和一致性的考虑,压印转刻蚀成为了最有可能实现批量性生产的加工方式。
[0003]大部分衍射光学元件的衍射光栅需要采用不同的高度分区和/或渐变分区设计,来实现预期光学性能。参照图1,对于上述结构,目前最常采用的压印转刻蚀加工方法是多次分区加工,即在刻蚀过程中采用分步物理遮挡,实现不同高度分区的依次遮挡刻蚀。但是这种加工方式,一方面增加加工步骤会直接导致加工效率降低、加工成本上升,另一方面对于紧密连接的渐变区域,分步物理遮挡的拼接精度无法满足设计需求,而且多次遮挡刻蚀的步骤也会增加引入缺陷的概率,进而导致加工质量不稳定,有待改进。
技术实现思路
[0004]本专利技术要解决的问题是针对现有技术 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种衍射光学元件的同步分区加工方法,其特征在于:包括以下步骤,S1根据所述衍射光学元件的衍射光栅尺寸、可压印介质和无机介质的刻蚀选择比、以及不同占空比情况下的负载效应,确定压印模板表面的图案尺寸、可压印介质衬底的刻蚀速率v
n
、以及无机介质的刻蚀速率v
n
’
,并形成压印模板;S2使用所述S1得到的压印模板将图案压印到可压印介质中,并将无机介质衬底压在可压印介质表面后,使可压印介质压印固化,脱模,检测无机介质衬底表面和可压印介质的压印凹槽底面之间的残胶厚度d0;S3根据所述残胶厚度d0、以及不同分区下的无机介质衬底的刻蚀深度d
n
、可压印介质的刻蚀速率v
n
、无机介质衬底的刻蚀速率v
n
’
,设定不同分区下的刻蚀时间T
n
,并同步分区刻蚀所述S2得到的可压印介质和无机介质衬底,以在无机介质衬底表面形成衍射光栅。2.根据权利要求1所述的一种衍射光学元件的同步分区加工方法,其特征在于:在所述S1中,可压印介质的刻蚀速率v
n
为1.0~7.0nm/s,可压印介质的刻蚀速率v
n
和无机介质的刻蚀速率v
n
’
的比值为1.0~2.0。3.根据权利要求2所述的一种衍射光学元件的同步分区加工方法,其特征在于:在所述S1中,所述无机介质衬底的无机介质和所述压印模板的模板材料各自独立的选自石英、硅石、玻璃、YAG、CaF2、或者蓝宝石。4.根据权利要求3所述的一种衍射光学元件的同步分区加工方法,其特征在于:在所述S1中,包括以下步骤,S11根据所述衍射光学元件的衍射光栅的线宽w
n
和高度h
n
,将这些衍射光栅分为n个分区,n≥2,并结合衍射光学元件的周期,确定可压印介质的压印凸起线宽,进而确定压印模板表面的图案线宽;S12根据所述可压印介质的压印凸起线宽、以及不同占空比情况下的负载效应,确定不同分区下的可压印介质衬底的刻蚀速率v
n
,并根据可压印介质和无机介质的刻蚀选择比,确定不同分区下的无机介质的刻蚀速率v
n
’
;S13根据所述可压印介质的刻蚀速率v
n
、以及无机介质衬底的刻蚀速率v
n
’
,预设理论刻蚀时间T0,并确定可压印介质的压印凸起理论高度,进而确定压印模板表面的图案深度H。5.根据权利要求1所述的一种衍射光学元件的同步...
【专利技术属性】
技术研发人员:蔡璐,李晓萱,尹建军,
申请(专利权)人:慕德微纳杭州科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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