一种光时域反射仪的鬼影识别方法、系统及介质技术方案

本发明专利技术公开一种光时域反射仪的鬼影识别方法、系统及介质，方法包括：获取OTDR曲线；对所述OTDR曲线中的反射事件进行定量计算；根据计算结果，预估所述OTDR曲线中的鬼影；将预估鬼影与OTDR曲线进行比对，在预估鬼影与采样尖峰匹配度满足预设条件时，将采样尖峰判定为鬼影。本发明专利技术可有效避免误判，提高鬼影识别准确度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
一种光时域反射仪的鬼影识别方法、系统及介质


[0001]本专利技术涉及光纤检测
，尤其涉及一种光时域反射仪的鬼影识别方法、系统及介质。

技术介绍

[0002]光时域反射仪OTDR（Optical Time Domain Reflectometer）是通过采集光脉冲在光纤中传输时发生的瑞利散射和菲涅尔反射而制成的精密的光电一体化仪表，它被广泛应用于光缆线路的维护、施工之中，可进行光纤长度、光纤的传输衰减、接头衰减和故障定位等的测量。
[0003]在OTDR曲线中，有时候会出现一些特殊的尖峰，它们并不是由于在光纤对应位置有机械连接或断裂而发生了菲涅尔反射，而是由于光纤线路中某点的大菲涅尔反射引起了二次及二次以上反射。这些尖峰并不对应真实的接头或故障点，如果不加辨别会造成误判。
[0004]对于鬼影问题，目前比较普遍的识别方法是基于鬼影的两个特征：1、曲线上鬼影处未引起明显损耗；2、沿曲线鬼影与始端的距离是强反射事件与始端距离的倍数。然而在实际工程中，以上两条判据有时会失效：当鬼影出现在成端之后，鬼影位于曲线噪声区，无法判断是否引起明显损耗，上述第一条判据失败；当鬼影与始端之间存在多个强反射事件时，它们之间可能相互多次反射，鬼影出现的位置有可能不仅仅是强反射与始端之间距离的倍数，第二条判据失败；同时，真实的反射事件有可能正好出现在强反射与始端距离倍数的位置，此时第二条判据也会失败。

技术实现思路

[0005]为克服上述现有技术的不足，本专利技术提供一种光时域反射仪的鬼影识别方法、系统及介质，用以提高鬼影的识别准确度。
[0006]根据本专利技术说明书的一方面，提供一种光时域反射仪的鬼影识别方法，包括：获取OTDR曲线；对所述OTDR曲线中的反射事件进行定量计算；根据计算结果，预估所述OTDR曲线中的鬼影；将预估鬼影与OTDR曲线进行比对，在预估鬼影与采样尖峰匹配度满足预设条件时，将采样尖峰判定为鬼影。
[0007]上述技术方案通过对OTDR曲线中反射事件的定量计算，得到其可能产生的鬼影的大小及位置，将鬼影的预估结果与OTDR曲线进行比对，如果预估鬼影与采样尖峰匹配度达到阈值则判定为鬼影。
[0008]作为进一步的技术方案，所述预估鬼影为一个或多个。当光纤链路发生的菲涅尔反射较大时，则有可能在相应位置出现鬼影，从而出现误判，影响最终事件上报。
[0009]作为进一步的技术方案，所述方法还包括：计算OTDR曲线中各反射事件处的反射率。这里计算反射率是为了计算各反射事件处的反射功率，因为鬼影的功率值也有可能很
弱， 超出了OTDR的探测动态范围下限，从而在OTDR曲线上反映不出来。
[0010]作为进一步的技术方案，所述方法还包括：根据所述反射率计算对应反射事件的预估鬼影。这里计算出的预估鬼影包括预估鬼影的大小及位置。
[0011]作为进一步的技术方案，所述方法还包括：计算原反射事件处的第一次反射功率；计算第一次反射光逆向传输至前一个反射事件处发生的第二次反射功率；计算第二次反射光反射回原反射事件处发生反射产生的第三次反射功率；计算第三次反射光传回注入端的功率，得到预估的鬼影功率（也就是原反射事件的二次反射在OTDR曲线上呈现出来的功率）；根据两个反射事件位置及发生二次发射经历的时间，得到预估鬼影在OTDR曲线上出现的位置。
[0012]上述技术方案针对光纤线路中某点的菲涅尔反射引起了二次发射的情况，从鬼影发生的原理出发，预估可能的鬼影功率，再结合该鬼影功率出现在OTDR上的时间点，预估鬼影的位置，从而得到可能存在的鬼影的大小及位置。
[0013]作为进一步的技术方案，所述方法还包括：若预估鬼影在OTDR曲线上出现的位置处出现采样尖峰，则计算预估鬼影出现位置的鬼影功率；将计算的鬼影功率与预估的鬼影功率进行比对，在两者差值的绝对值小于匹配度阈值时，将当前预估鬼影反射处的反射判定为鬼影。
[0014]由于鬼影在OTDR曲线中表现为尖峰的形式，因此将预估鬼影与采样尖峰相匹配，当两者位置重合且功率相当，则可将预估的鬼影判定为真实的鬼影。
[0015]进一步地，如果预估鬼影与采样尖峰的功率差绝对值不符合条件，则将尖峰位置判定为真实事件。
[0016]作为进一步的技术方案，所述匹配度阈值根据OTDR设备的场景测试数据统计得到。所述的匹配度阈值与OTDR的探测线性度及计算误差相关，实际操作中可以在产品开发阶段进行多次多场景测试，根据测试数据的统计结果给出一个合理的阈值。
[0017]根据本专利技术说明书的一方面，提供一种光时域反射仪的鬼影识别系统，包括相互连接的光时域反射仪和电子设备，所述电子设备被配置为执行：获取OTDR曲线；对所述OTDR曲线中的反射事件进行定量计算；根据计算结果，预估所述OTDR曲线中的鬼影；将预估鬼影与OTDR曲线进行比对，在预估鬼影与采样尖峰匹配度满足预设条件时，将采样尖峰判定为鬼影。
[0018]根据本专利技术说明书的一方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其中所述计算机程序被处理器执行时，实现所述的光时域反射仪的鬼影识别方法的步骤。
[0019]与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于：本专利技术通过对OTDR曲线中反射事件的定量计算，得到其可能产生的鬼影的大小及位置，将预估结果与OTDR曲线进行比对，如果预估鬼影与采样尖峰匹配度达到阈值则判定为鬼影。相对于现有技术而言，本专利技术方法可有效避免曲线上鬼影处未引起明显损耗、沿曲线鬼影与始端的距离是强反射事件与始端距离的倍数这两种方式所存在的弊端，明显提高
鬼影的识别准确率。
附图说明
[0020]图1为根据本专利技术实施例的光时域反射仪的鬼影识别方法的流程示意图。
[0021]图2为根据本专利技术实施例的光纤链路中各反射事件处的示意图。
具体实施方式
[0022]以下将结合附图对本专利技术各实施例的技术方案进行清楚、完整的描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所得到的所有其它实施例，都属于本专利技术所保护的范围。
[0023]为了弥补已有鬼影识别方法的不足，本专利技术通过对OTDR曲线中反射事件的定量计算，得到其可能产生的鬼影的大小及位置，将预估结果与OTDR曲线进行比对，如果预估鬼影与采样尖峰匹配度达到阈值则判定为鬼影。
[0024]如图1所示，所述光时域反射仪的鬼影识别方法，包括：获取OTDR曲线；对所述OTDR曲线中的反射事件进行定量计算；根据计算结果，预估所述OTDR曲线中的鬼影；将预估鬼影与OTDR曲线进行比对，在预估鬼影与采样尖峰匹配度满足预设条件时，将采样尖峰判定为鬼影。
[0025]OTDR利用其激光光源向被测光纤发送一光脉冲，光脉冲在光纤本身及各特性点上会有光信号反射回OTDR，反射回来的光信号又通过一个定向耦合器耦合到OTDR的接收器，并在这里转换成电信号，通过相本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光时域反射仪的鬼影识别方法，其特征在于，包括：获取OTDR曲线；对所述OTDR曲线中的反射事件进行定量计算；根据计算结果，预估所述OTDR曲线中的鬼影；将预估鬼影与OTDR曲线进行比对，在预估鬼影与采样尖峰匹配度满足预设条件时，将采样尖峰判定为鬼影。2.根据权利要求1所述一种光时域反射仪的鬼影识别方法，其特征在于，所述预估鬼影为一个或多个。3.根据权利要求1所述一种光时域反射仪的鬼影识别方法，其特征在于，所述方法还包括：计算OTDR曲线中各反射事件处的反射率。4.根据权利要求3所述一种光时域反射仪的鬼影识别方法，其特征在于，所述方法还包括：根据所述反射率计算对应反射事件的预估鬼影。5.根据权利要求4所述一种光时域反射仪的鬼影识别方法，其特征在于，所述方法还包括：计算原反射事件处的第一次反射功率；计算第一次反射光逆向传输至前一个反射事件处发生的第二次反射功率；计算第二次反射光反射回原反射事件处发生反射产生的第三次反射功率；计算第三次反射光传回注入端的功率，得到预估的鬼影功率；根据两个反射事件位置及发生二次发射经历的时间，得到预估...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈妍，王新，马延峰，周昊，
申请(专利权)人：武汉孚晟科技有限公司，
类型：发明
国别省市：