一种驻波比测量装置，其特征在于，所述装置包括： 耦合器，用于获取入射信号和反射信号； 衰减器，用于将所述耦合器获取的入射信号和反射信号调整在对数检波器的线性范围之内； 对数检波器，用于分别将经所述衰减器调整后的入射信号和反 射信号转换成相应的模拟直流电压信号； 模／数转换器，用于分别将经所述对数检波器转换后的入射信号和反射信号的相应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号； 处理器，用于根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号的电压差值 ，对所述耦合器的隔离度进行修正；并根据修正后得到的入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号，计算驻波比。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于移动通信
，尤其涉及一种驻波比测量方法及装置。
技术介绍
在无线通信领域中，端口的驻波比是射频信号的有效传输的一个重要指标。 目前，常用的方法是采用定向耦合器分别提取传输端口的入射功率和反射功率， 并通过功率转换器件将入射功率和反射功率转换成对应的直流电压，从而计算端口驻波比，电压的最大值与最小值之比为驻波比(VSWR)。然而，采用上述传统方法来计算端口驻波比，由于定向耦合器的隔离度是 有限的，所以定向耦合器的方向性产生的误差对测试结果影响很大。要得到准 确的驻波比，就需要提高定向耦合器的方向性。因此，这种传统方法的应用有 一定的局限性。
技术实现思路
本专利技术实施例所要解决的技术问题在于提供一种P争低耦合器方向性对测量 结果的影响的驻波比测量方法及装置。为解决上述技术问题，本专利技术实施例提供一种驻波比测量装置，所述装置 包括耦合器，用于获取入射信号和反射信号；衰减器，用于将所述耦合器获取的入射信号和反射信号调整在对数检波器 的线性范围之内；对数检波器，用于分别将经所述衰减器调整后的入射信号和反射信号转换成相应的模拟直流电压信号；模/数转换器，用于分别将经所述对数检波器转换后的入射信号和反射信号的相应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号；处理器，用于根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号的电 压差值，对所述耦合器的隔离度进行修正；并根据修正后得到的入射信号和反 射信号的相应数字直流电压信号，计算驻波比。本专利技术实施例还提供一种驻波比测量方法，所述方法包括以下步骤 耦合器分别获取入射信号和反射信号；衰减器将所述耦合器获取的入射信号和反射信号调整在对数检波器的线性 范围之内；所述对数;险波器分别将经所述衰减器调整后的入射信号和反射信号转换成 相应的模拟直流电压信号；模/数转换器分别将经所述对数检波器转换后的入射信号和反射信号的相 应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号；处理器根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号的电压差 值，对耦合器的隔离度进行修正；处理器根据修正后得到的入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号， 计算驻波比。在本专利技术实施例中，通过对数检波器输出的直流电压值，修正耦合器的隔 离度，计算出实际的入射功率和反射功率，从而得出驻波比值。本专利技术实施例 有效地降低了耦合器方向性对测量结果的影响，在方向性一定的情况下，提高 了检测精度。附图说明图1是本专利技术实施例提供的驻波比测量装置的结构示意图。图2是本专利技术实施例提供的驻波比测量方法的实现流程示意图。图3是本专利技术实施例提供的双定向耦合器的原理示意图。具体实施例方式为了使本专利技术所要解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白， 以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描 述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。请参阅图1，为本专利技术实施例提供的驻波比测量装置，为了便于说明，仅示出了与本专利技术相关的部分。该驻波比测量装置包括耦合器IO、衰减器20、 对数检波器30、模/数转换器40以及处理器50。在本实施例中，该模/数转换器 40可以内置于处理器50中。耦合器10获取入射信号和反射信号；衰减器20将所述耦合器10获取的入 射信号和反射信号调整在对数检波器30的线性范围之内；所述对数检波器30 分别将经所述衰减器20调整后的入射信号和反射信号转换成相应的模拟直流射信号的相应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号；处理器50 根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号的电压差值，对耦合器 的隔离度进行修正；并根据修正后得到的入射信号和反射信号的相应数字直流 电压信号，计算驻波比。请参阅图2，为本专利技术实施例提供的驻波比测量方法，其包括以下步骤 在步骤S101中，耦合器分别获取入射信号和反射信号； 在本专利技术实施例中，耦合器可以是双定向耦合器。双定向耦合器分别获取 传输线路上的入射信号和反射信号。在步骤S102中，衰减器将所述耦合器获取的入射信号和反射信号调整在对 数检波器的线性范围之内；在本专利技术实施例中，衰减器可以是7T型衰减器。7T型衰减器调整耦合器获取的入射信号和反射信号，使所述入射信号和反射信号的变化始终落入在对数检波器的线性范围之内。在步骤S103中，所迷对数^r波器分别将经所述衰减器调整后的入射信号和 反射信号转换成相应的模拟直流电压信号；在本专利技术实施例中，对数;险波器分别将经所述衰减器调整后的入射信号和 反射信号转换成与其功率值成线性比例的相应的模拟直流电压信号。在步骤S104中，才莫/数转换器分别将经所述对数检波器转换后的入射信号 和反射信号的相应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号；在步骤S105中，处理器根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压 信号的电压差值，对耦合器的隔离度进行修正；在步骤S106中，处理器根据修正后得到的入射信号和反射信号的相应数字 直流电压信号，计算驻波比。下面结合附图，对本专利技术做进一步的详细描述。计算公式驻波比(VSWR)与入射功率P人射(入射信号)、反射功率P反# (反射信 号)的关系1+ l尸反射,VSWR=X A射--------(!)1一〖r反射/ V / r入射入射功率、反射功率的计算公式<formula>formula see original document page 8</formula>---------(2)<formula>formula see original document page 8</formula> ---------(3)其中，P入射、P反射、iV A的单位为W; C为耦合度；I为隔离度，单位 为倍数。对耦合器的隔离度进行修正是通过如下公式获得的<formula>formula see original document page 9</formula>其中，所述al、 a2、 bl、 b2、 k是常数，所述al、 a2、 bl、 b2、 k是根据 不同形式的耦合器，通过实测确定的数值。请参阅图3,由双定向耦合器分别耦合主通道的入射信号尸入射和反射信号 尸反射。其中，采样点A的信号为入射波在尸7点处的入射信号与反射波在A点 处的反射信号的合成信号；釆样点尸2的信号为入射波在A点处的入射信号与 反射波在尸2点处的反射信号的合成信号。即尸尸(户入射一C) + (P反射一/)同理可知尸2=(户入射-/) + (P反射-C)如图l所示，兀型衰减器调整采样点功率尸,和尸2，使采样点功率尸;和尸2的变化始终落入在对数-险波器的线性范围之内。对数检波器将调整后的采样点功率尸7和尸2分别转换成与其功率值(单位为t/^W)成线性比例的相应的模拟 直流电压信号，如图l所示，采^"点功率尸/、尸2经对#1才企波器处理后，输出直 流电压"7、 "2。将W、"传输至处理器中，通过才莫/数转换器将模拟直流电压信号t/;、"分别转换成相应的数字直流电压信号；根据K、仏判断是否有信 号输入，如果有输入信号，则进行后续计算；如果没有，则结束。根据t//、 t/2 计算P;、尸2;计算C/;、"的电压差值zlt本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种驻波比测量装置，其特征在于，所述装置包括： 耦合器，用于获取入射信号和反射信号； 衰减器，用于将所述耦合器获取的入射信号和反射信号调整在对数检波器的线性范围之内； 对数检波器，用于分别将经所述衰减器调整后的入射信号和反 射信号转换成相应的模拟直流电压信号； 模／数转换器，用于分别将经所述对数检波器转换后的入射信号和反射信号的相应模拟直流电压信号转换成相应的数字直流电压信号； 处理器，用于根据所述入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号的电压差值 ，对所述耦合器的隔离度进行修正；并根据修正后得到的入射信号和反射信号的相应数字直流电压信号，计算驻波比。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李晓刚，朱晓宇，延涛，
申请(专利权)人：摩比天线技术深圳有限公司，摩比科技西安有限公司，
类型：发明
国别省市：94
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