多平台测试pattern互转实现方法及系统技术方案

本申请涉及一种多平台测试pattern互转实现方法及系统，依次通过设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，这样通过设置了所述当前patternspec，也即通过设置了一个标准格式文件，使在需要进行多个实际测试平台间的转换时，只依据标准格式文件的当前patternspec进行其他实际测试平台的pattern转换即可，而避免将一个测试平台的pattern转换为另一个平台的pattern时容易出现的转换错误以及转换麻烦的问题，保证pattern的准确性，保证各测试平台pattern之间无差异，通过统一的patternspec文件，大大优化了pattern调试效率。了pattern调试效率。了pattern调试效率。

【技术实现步骤摘要】
多平台测试pattern互转实现方法及系统


[0001]本申请涉及pattern测试
，特别是涉及一种多平台测试pattern互转实现方法及系统。

技术介绍

[0002]半导体厂商在做芯片的出厂测试时，较为重要的一个测试是CP测试开发阶段。所谓CP测试即为Chip Probing，也即晶圆测试。CP测试的目的就是在封装前就把坏的芯片筛选出来，以节省封装的成本，同时可以更直接的知道晶圆的良率。
[0003]在CP测试中，较为重要的测试为Digital Functional Test，具体为跑测试向量(pattern)。pattern是设计公司的DFT工程师用ATPG(auto test pattern generation)工具生成，pattern测试基本是加激励，然后捕捉输出，再和期望值进行比较。
[0004]测试过程中，若产能遇到瓶颈需要扩展的时候，不同阶段分析工具不同的时候，故需要在多个测试平台进行测试，进而需要进行pattern的转换，如由一个测试平台的pattern装换为另一个测试平台的pattern。但是，各个测试平台的pattern需要单独生成和调试，pattern的可阅读性较差，不方便检查，并且pattern的可阅读性较差，导致错误不容易发现，无法同意保存，并且极大降低了pattern调试效率。

技术实现思路

[0005]基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高pattern调试效率的多平台测试pattern互转实现方法及系统。
[0006]本专利技术技术方案如下：
[0007]一种多平台测试pattern互转实现方法，所述方法包括：
[0008]步骤S100：设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
[0009]步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证；
[0010]步骤S300：若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
[0011]具体而言，所述特定测试平台包括多个实际测试平台；所述根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，具体包括：
[0012]步骤S310：获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
[0013]步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
[0014]具体而言，步骤S200：对所述当前patternspec进行正确性验证，具体包括：
[0015]步骤S210：将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；
[0016]步骤S220：调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前
patternspec为正确。
[0017]具体而言，步骤S100：设置当前patternspec，具体包括：
[0018]步骤S110：获取芯片测试需求；
[0019]步骤S120：根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
[0020]具体而言，一种多平台测试pattern互转实现系统，所述系统包括：
[0021]文件设置模块，用于设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；
[0022]正确验证模块，用于对所述当前patternspec进行正确性验证；
[0023]调试验证模块，用于若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。
[0024]具体而言，所述调试验证模块还用于获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；
[0025]步骤S320：根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。
[0026]具体而言，所述正确验证模块还用于：
[0027]将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。
[0028]具体而言，所述文件设置模块还用于：
[0029]获取芯片测试需求；根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。
[0030]一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
[0031]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述多平台测试pattern互转实现方法所述的步骤。
[0032]本专利技术实现技术效果如下：
[0033]上述多平台测试pattern互转实现方法及系统，依次通过设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，这样通过设置了所述当前patternspec，也即通过设置了一个标准格式文件，使在需要进行多个实际测试平台间的转换时，只依据标准格式文件的当前patternspec进行其他实际测试平台的pattern转换即可，而避免将一个测试平台的pattern转换为另一个平台的pattern时容易出现的转换错误以及转换麻烦的问题，保证pattern的准确性，保证各测试平台pattern之间无差异，通过统一的patternspec文件，大大优化了pattern调试效率。
附图说明
[0034]图1为一个实施例中多平台测试pattern互转实现方法的流程示意图；
[0035]图2为一个实施例中现有技术中多平台测试pattern互转实现方法的流程示意图；
[0036]图3为一个实施例中多平台测试pattern互转实现方法的简要流程示意图；
[0037]图4为一个实施例中多平台测试pattern互转实现系统的结构框图；
[0038]图5为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
[0039]为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
[0040]在一个实施例中，提供了一种终端，所述终端用于设置当前p本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，所述方法包括：设置当前patternspec，其中，所述当前patternspec为与所述芯片测试需求相匹配的标准格式文件；对所述当前patternspec进行正确性验证；若验证所述当前patternspec为正确，则根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，其中，所述特定pattern用于供所述特定测试平台进行调试验证。2.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，所述特定测试平台包括多个实际测试平台；所述根据所述当前patternspec生成特定测试平台的特定pattern，具体包括：获取从所述特定测试平台中各实际测试平台选定的选中测试平台；根据所述当前patternspec和所述选中测试平台生成所述选中测试平台的特定pattern。3.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，对所述当前patternspec进行正确性验证，具体包括：将所述当前patternspec转换成预设平台的测试pattern；调试所述测试pattern，当所述测试pattern为正确时，则判定所述当前patternspec为正确。4.根据权利要求1所述的多平台测试pattern互转实现方法，其特征在于，设置当前patternspec，具体包括：获取芯片测试需求；根据所述芯片测试需求设置当前patternspec。5.一种多平台测试pattern互转实现系统，其特征在于，所述系统包括：文件设置模块，用于设置当前patte...

【专利技术属性】
技术研发人员：沈卫锋，陈源鑫，
申请(专利权)人：普冉半导体上海股份有限公司，
类型：发明
国别省市：