本发明专利技术涉及二极管测试技术领域，具体的说是一种半导体二极管测试装置，包括安装块，所述安装块上安装有放置机构，所述安装块内部连接有测试机构，所述安装块内部安装有控制机构，所述测试机构上安装有抵触机构，所述安装块上安装有连接机构，所述安装块一端设有防护机构；通过放置机构利于快速的对二极管进行卡合放置和顶出，通过测试机构利于方便与万用表连接，实现二极管进行双向测试工作，通过放置机构对控制机构的驱动控制，实现对测试机构的电路控制，通过放置机构对抵触机构驱动，方便对测试机构的转动进行控制，通过连接机构的作用下有利于方便对放置机构拆装收纳，通过防护机构与安装块的连接，方便对放置机构遮挡防护。护。护。
【技术实现步骤摘要】
一种半导体二极管测试装置
[0001]本专利技术涉及二极管测试
，具体的说是一种半导体二极管测试装置。
技术介绍
[0002]半导体二极管是指利用半导体特性的两端电子器件，最常见的半导体二极管是PN结型二极管和金属半导体接触二极管，它们的共同特点是伏安特性的不对称性，即电流沿其一个方向呈现良好的导电性，而在相反方向呈现高阻特性，可用作为整流、检波、稳压、恒流、变容、开关、发光及光电转换等，在二极管测试过程中，需要使用万用表对二极管两端进行正反检测阻值，从而确定二极管的好坏和特性，以方便后续使用。
[0003]目前在对二极管进行检测时，通常是通过万用表的两个检测笔与二极管两个引脚抵触检测，这样检测时，稳定性差，容易造成检测笔与引脚接触不稳定，从而影响检测的质量，并且这样对多个二极管检测时，耗时耗力，操作繁琐，降低了整体的测试效率。
技术实现思路
[0004]针对现有技术中的问题，本专利技术提供了一种半导体二极管测试装置。
[0005]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：一种半导体二极管测试装置，包括安装块，所述安装块上安装有放置机构，所述安装块内部连接有测试机构，所述安装块内部安装有控制机构，所述测试机构上安装有抵触机构，所述安装块上安装有连接机构，所述安装块一端设有防护机构。
[0006]具体的，所述放置机构包括连接块，所述安装块一端连接有连接块，所述连接块内部设有放置槽，所述连接块两侧设有通槽，所述通槽与放置槽连通，所述通槽的宽度小于放置槽的宽度，所述放置槽内部设有对称的卡块，所述卡块一端通过抵触弹簧与连接块内部滑动连接，所述卡块两侧为弧形结构，所述放置槽内部安装有挡块，所述挡块通过压缩弹簧与放置槽内部滑动连接，所述挡块一端为弧形结构。
[0007]具体的，所述安装块内部中心处滑动连接有压杆，所述压杆延伸至连接块内部，所述压杆与连接块滑动连接，所述压杆一端贯穿于压缩弹簧与挡块连接，所述安装块另一端滑动连接有压块，所述压杆另一端与压块固定连接，所述安装块底部卡合连接有把手，所述把手为弧形结构。
[0008]具体的，所述测试机构包括连接座，所述安装块一侧安装有两个连接座，所述安装块一端侧壁安装有两个对称的导电块，所述连接块一侧与安装块一端中心处转动连接，所述压杆与挡块转动连接，所述连接块两侧内部滑动连接有对称的两个金属块和两个导电杆，所述金属块与导电杆之间通过连接弹簧连接，两个所述金属块一端延伸至放置槽内部，两个所述导电杆一端分别与导电块一侧抵触。
[0009]具体的，所述放置槽内部两侧分别安装有两组对称的导板，两组所述导板一端与放置槽内侧转动连接，所述导板一侧与放置槽内侧通过挤压弹簧连接，所述导板与放置槽侧壁之间夹角为30度。
[0010]具体的，所述控制机构包括活动槽，所述安装块内部中心处设有活动槽，所述压杆侧壁固定连接有金属套，所述安装块内部安装有对称的凸块，所述凸块通过伸缩弹簧与安装块内部滑动连接，两个所述凸块一端分别延伸至活动槽内部与压杆抵触，两个所述凸块一端为半球形结构。
[0011]具体的，所述抵触机构包括限位杆，所述连接块两侧内部分别安装有限位杆，所述限位杆通过复位弹簧与连接块内部横向滑动连接，两个所述限位杆一端延伸至连接块外侧与安装块一端侧壁内部抵触，两个所述限位杆上分别设有对称的驱动槽，所述驱动槽为梯形结构，所述连接块内部安装有对称的驱动杆，所述驱动杆通过按压弹簧与连接块内部纵向滑动连接，两个所述驱动杆两端分别转动连接有导轮，其中两个所述导轮延伸至驱动槽内部与限位杆内侧抵触，另外两个所述导轮分别与挡块侧壁内部抵触。
[0012]具体的，所述连接机构包括卡槽，所述把手一侧设有卡槽，所述把手顶部与安装块底部内侧卡合，所述安装块底侧内部安装有卡销，所述卡销通过驱动弹簧与安装块内部滑动连接，所述卡销为“7”字形结构，所述卡销一端延伸至卡槽内部，所述卡销另一端底部延伸至安装块外侧，所述卡销底部安装有推板，所述推板与安装块底部滑动连接，所述卡销上安装有导杆，所述导杆贯穿于驱动弹簧与安装块内部滑动连接。
[0013]具体的，所述防护机构包括盖板，所述连接块一端设有盖板，所述盖板一端内部设有插槽，所述插槽一端延伸至盖板外侧，所述盖板内部中心处安装有连接杆，所述连接杆一端安装有连接球，所述盖板一端侧壁安装有框形结构的橡胶垫。
[0014]本专利技术的有益效果是：
[0015](1)本专利技术所述的一种半导体二极管测试装置，通过放置机构的作用下有利于方便快速的对二极管进行卡合放置和顶出，操作简单方便，从而方便快速的进行二极管测试工作，即：通过连接块的安装，有利于方便对二极管测试，通过放置槽的作用下方便将二极管存放，通过通槽的作用下有利于对二极管的引脚外漏滑动，方便二极管在放置槽内部放置到位，通过二极管放入放置槽内部时，二极管对两个卡块抵触，卡块在抵触弹簧的作用下具有伸缩性，从而使卡块能够收缩，方便二极管导入放置槽内部，两个卡块在抵触弹簧的作用下复位对二极管抵触，无法滑出，同时挡块在压缩弹簧的作用下对二极管抵触，使二极管在放置槽内部放置稳定，利于进行测试工作，通过二极管与挡块抵触后，挡块驱动压杆和压块滑动，使压块滑出一定位置，测试完成后，通过按压压块，压块带动压杆对挡块驱动，挡块抵触二极管与卡块抵触，从而使二极管被抵触滑出，撤去外力后，挡块和压块复位，从而后续安装测试，通过把手的安装，有利于方便手部拿持，从而更好的对安装块操作控制。
[0016](2)本专利技术所述的一种半导体二极管测试装置，通过测试机构的作用下有利于方便与万用表连接，从而实现电路连接，迅速的对放置的二极管进行双向测试工作，即：通过二极管与放置槽内部卡合稳定后，二极管的两个引脚分别与两个金属块抵触，从而实现电性连接，通过两个连接座的作用下方便与万用表的测试笔进行插入连接，通过两个连接座与两个导电块的电性连接，使两个导电杆及两个金属块都能与万用表测试笔导通，从而有利于实现万用表对二极管的测试工作，通过转动连接块，两个导电杆在连接弹簧的作用下收缩，从而方便连接块转动顺畅，连接块转动度后，两个导电杆与两个导电块交换位置，从而实现对二极管进行反向测试工作，通过挤压弹簧的作用下使两组导板能够转动，并且与放置槽内侧之间具有一定角度，从而方便对二极管抵触导向，使二极管在放置槽内部放置
时保持在中心位置，不易发生偏移。
[0017](3)本专利技术所述的一种半导体二极管测试装置，通过放置机构对控制机构的驱动控制，实现对测试机构的电路通断控制，通过放置机构对抵触机构驱动，方便对测试机构的转动进行控制，利于起到防护的作用，即：通过两个凸块的作用下，有利于对其中一个连接座和其中一个导电块之间电性连接控制，两个凸块与压杆侧壁抵触时，连接座与导电块无法导电，通过二极管滑入放置槽内部后，挡块和压杆被抵触滑动，压杆上的金属套在活动槽内部滑动一定位置，两个凸块被金属套抵触收缩，方便金属套在凸块上滑动，凸块在伸缩弹簧的作用下与金属套抵触紧密，从而使导电性更好，实现对二极管测试工作，通过复位弹簧的作用本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种半导体二极管测试装置，其特征在于，包括安装块(1)，所述安装块(1)上安装有放置机构(2)，所述安装块(1)内部连接有测试机构(3)，所述安装块(1)内部安装有控制机构(4)，所述测试机构(3)上安装有抵触机构(5)，所述安装块(1)上安装有连接机构(6)，所述安装块(1)一端设有防护机构(7)；所述放置机构(2)包括连接块(202)，所述安装块(1)一端连接有连接块(202)，所述连接块(202)内部设有放置槽(205)，所述连接块(202)两侧设有通槽(201)，所述通槽(201)与放置槽(205)连通，所述通槽(201)的宽度小于放置槽(205)的宽度，所述放置槽(205)内部设有对称的卡块(206)，所述卡块(206)一端通过抵触弹簧(207)与连接块(202)内部滑动连接，所述卡块(206)两侧为弧形结构，所述放置槽(205)内部安装有挡块(208)，所述挡块(208)通过压缩弹簧(209)与放置槽(205)内部滑动连接，所述挡块(208)一端为弧形结构。2.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述安装块(1)内部中心处滑动连接有压杆(210)，所述压杆(210)延伸至连接块(202)内部，所述压杆(210)与连接块(202)滑动连接，所述压杆(210)一端贯穿于压缩弹簧(209)与挡块(208)连接，所述安装块(1)另一端滑动连接有压块(203)，所述压杆(210)另一端与压块(203)固定连接，所述安装块(1)底部卡合连接有把手(204)，所述把手(204)为弧形结构。3.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述测试机构(3)包括连接座(301)，所述安装块(1)一侧安装有两个连接座(301)，所述安装块(1)一端侧壁安装有两个对称的导电块(306)，所述连接块(202)一侧与安装块(1)一端中心处转动连接，所述压杆(210)与挡块(208)转动连接，所述连接块(202)两侧内部滑动连接有对称的两个金属块(303)和两个导电杆(305)，所述金属块(303)与导电杆(305)之间通过连接弹簧(304)连接，两个所述金属块(303)一端延伸至放置槽(205)内部，两个所述导电杆(305)一端分别与导电块(306)一侧抵触。4.根据权利要求1所述的一种半导体二极管测试装置，其特征在于：所述放置槽(205)内部两侧分别安装有两组对称的导板(302)，两组所述导板(302)一端与放置槽(205)内侧转动连接，所述导板(302)一侧与放置槽(205)内侧通过挤压弹簧(307)连接，所述导板(302)与放置槽(205)侧壁之间夹角为30度。5.根据权利要求2所述的一种半导体二极...
【专利技术属性】
技术研发人员：魏兴政，李浩，
申请(专利权)人：济南兰星电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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