本发明专利技术公开了一种V形缺口试样粗糙度测量工装及测量方法。所述测量工装包括基座、置样台、侧板、后挡块、前挡块、固定螺栓和连接螺栓。所述置样台焊接于基座上,置样台上开有90
【技术实现步骤摘要】
一种V形缺口试样粗糙度测量工装及测量方法
[0001]本专利技术属于测量工装
,具体涉及一种V形缺口试样粗糙度测量工装及测量方法。
技术介绍
[0002]标准ASTM D7078“Standard Test Method for Shear Properties of Composite Materials by V
‑
Notched Rail Shear Method1”(由V形轨道剪切方法测定复合材料剪切性能标准试验方法)中对V形缺口试样加工面粗糙度作了严格要求,要求V形缺口处粗糙度不超过0.8μm。
[0003]对于材料力学测试试样的粗糙度测量,常用方法有比较测量法和触针法。比较法是指将对比粗糙度样块与被测表面进行比较来评定被测表面粗糙度,通常情况下,当粗糙度评定参数值较高时,可以用比较法,但是很可能造成很大误差。触针法是在被测表面上放置一根很尖的触针,测量过程中需要垂直放置,使触针做横向移动,把触针所做的位移转变为电信号后,经分析与计算后就可以获取表面粗糙度的指数,但使用触针法测量条件有:1)测量时试样的被测面必须水平;2)试样的被测面高度需要与粗糙度测量仪电传感器一端的金刚石触针触点高度相近;3)测量过程中应使试样固定,避免试样不稳定造成测量误差。
[0004]目前常用手扶试样的方法来测量V形缺口试样缺口处的粗糙度,由于手扶无法保证试样稳定不晃动,且无法保证被测面水平,故该方法可能造成一定测量误差。现有技术尚无专门针对V形缺口试样缺口处的粗糙度测量的工装及规范的测量方法,授权公开号为CN217032347U的专利技术专利公开了一种斜45度试样粗糙度测量平台,但该测量平台不适用于V形缺口试样缺口处粗糙度的测量。
技术实现思路
[0005]本专利技术针对现有技术无法稳定、精确地测量V形缺口试样粗糙度的问题,提供一种V形缺口试样粗糙度测量工装及测量方法,提高测量结果准确性,且测量方法简单易操作。
[0006]本专利技术解决上述技术问题的技术方案如下:一种V形缺口试样粗糙度测量工装,包括基座、置样台、侧板、后挡块、前挡块、固定螺栓和连接螺栓;
[0007]所述置样台固定于基座上,所述置样台上开有V形槽并用于放置待测V形缺口试样;
[0008]所述侧板与基座固定连接,所述侧板上用于放置粗糙度仪的载物台,所述载物台位于置样台上方,所述载物台开有方形槽,所述方形槽与其下方置样台对应;
[0009]所述后挡块固定于置样台上,所述固定螺栓的一端与侧板螺纹连接并穿过侧板与前挡块固定,所述后挡块与前挡块相对设置在V形槽的两侧。
[0010]优选地一些实施方式,所述基座的一边缘开有一排螺栓孔,所述侧板上开设有第二螺栓孔,所述第二螺栓孔与螺栓孔相对应设置,并通过螺栓穿过第二螺栓孔并与螺栓孔螺纹连接,实现将基座与侧板固定。
[0011]优选地一些实施方式,所述置样台垂直焊接于基座上,所述置样台前、后表面与基座上表面之间垂直度均≤0.02mm,所述V形槽角度为90
°
,所述V形槽的长边与水平方向夹角为45
°
,所述V形槽的短边与水平方向夹角也为45
°
,所述V形槽底部有一凹槽。
[0012]优选地一些实施方式,所述后挡块为方形,所述后挡块焊接于置样台的V形槽处,所述后挡块沿其厚度方向部分嵌入V形槽内。
[0013]优选地一些实施方式,所述前挡块为圆柱形,所述前挡块的一个面中心带有内螺纹孔,所述固定螺栓的一端螺纹连接在内螺纹孔上。
[0014]优选地一些实施方式,所述基座为一平板。
[0015]优选地一些实施方式,所述载物台上表面的平面度≤0.0125mm,且当侧板安装于基座上时,所述载物台上表面与基座上表面之间平行度≤0.02mm。
[0016]优选地一些实施方式,所述基座上表面平面度≤0.0125mm,且当C型夹将基座夹紧于大理石平台时,所述基座上表面与大理石平台操作面之间平行度≤0.02mm。
[0017]优选地一些实施方式,所述侧板中部开有第一螺栓孔,所述固定螺栓与第一螺栓孔螺纹连接。
[0018]一种采用如上述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装的测量方法,包括以下步骤:
[0019]S1、校准粗糙度仪:准备一大理石平台作为操作平台,大理石平台表面平面度≤0.0125mm,选择若干已知粗糙度的标准样块,将标准样块放置于大理石平台上,使用触针式粗糙度仪测试标准样块的粗糙度,并对粗糙度仪进行校准;
[0020]S2、安装测量工装:将测量工装水平放置于上述大理石平台上,使用C型夹将基座夹紧于大理石平台上,在侧板中部的第一螺栓孔中旋入固定螺栓,并在固定螺栓端部与前挡块螺纹连接,然后将侧板与基座通过连接螺栓固定连接;
[0021]S3、安装试样:将试样放置于置样台的V形槽上,通过旋转固定螺栓,使前挡块紧贴在试样正面,从而试样被夹持在前挡块与后挡块之间,然后配合使用直角尺和塞尺检查并调整试样待测面水平度;
[0022]S4、粗糙度测量:将粗糙度仪放置于载物台上,将粗糙度仪的触针放在试样的待测面上且与其垂直接触,在粗糙度仪上设定合适的取样长度,然后开始粗糙度测量,测量完毕后读取粗糙度值;
[0023]S5、转动固定螺栓,试样被松脱在前挡块与后挡块之间,取下试样并翻转试样,重复上述S3和S4对试样的V形缺口处另一个待测面进行测量,直到试样的所有待测面测量完毕。
[0024]本专利技术的技术方案带来的有益效果是:本专利技术通过使用尺寸精密的测量工装将V形缺口的试样进行夹持,并为粗糙度仪提供放置基准,解决了目前V形缺口试样缺口处粗糙度无法测量或测量不准的问题,测量方法简单易操作,测量效率高。
附图说明
[0025]下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。
[0026]图1为本专利技术的立体图;
[0027]图2为本专利技术中基座的立体图;
[0028]图3为本专利技术中基座与置样台的正视图;
[0029]图4为本专利技术中基座与后挡块的连接图;
[0030]图5为本专利技术中侧板的立体图;
[0031]图6为本专利技术装夹试样时的结构示意图;
[0032]图7为本专利技术中前挡块立体图;
[0033]图8为本专利技术中V形缺口试样图。
[0034]其中:1、基座,2、侧板,3、置样台,4、试样,5、后挡块,6、前挡块,7、固定螺栓,8、连接螺栓,11、螺栓孔,21、方形槽,22、载物台,23、第一螺栓孔,24、第二螺栓孔,31、V形槽,32、凹槽,33、后挡块与置样台之间的连接焊缝,41、待侧面,61、内螺纹孔。
具体实施方式
[0035]本专利技术下面结合实施例作进一步详述:
[0036]本专利技术不局限于下列具体实施方式,本领域一般技术人员根据本专利技术公开的内容,可以采用其他多种具体实施方式实施本专利技术的,或者凡是采用本专利技术的设计结构和思路,做简单变化或更改的,都落入本专利技术的保护本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:包括基座(1)、置样台(3)、侧板(2)、后挡块(5)、前挡块(6)、固定螺栓(7)和连接螺栓(8);所述置样台(3)固定于基座(1)上,所述置样台(3)上开有V形槽(31)并用于放置待测V形缺口试样(4);所述侧板(2)与基座(1)固定连接,所述侧板(2)上用于放置粗糙度仪的载物台(22),所述载物台(22)位于置样台(3)上方,所述载物台(22)开有方形槽(21),所述方形槽(21)与其下方置样台(3)对应;所述后挡块(5)固定于置样台(3)上,所述固定螺栓(7)的一端与侧板(2)螺纹连接并穿过侧板(2)与前挡块(6)固定,所述后挡块(5)与前挡块(6)相对设置在V形槽(31)的两侧。2.根据权利要求1所述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:所述基座(1)的一边缘开有一排螺栓孔(11),所述侧板(2)上开设有第二螺栓孔(24),所述第二螺栓孔(24)与螺栓孔(11)相对应设置,并通过螺栓穿过第二螺栓孔(24)并与螺栓孔(11)螺纹连接,实现将基座(1)与侧板(2)固定。3.根据权利要求2所述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:所述置样台(3)垂直焊接于基座(1)上,所述置样台(3)前、后表面与基座(1)上表面之间垂直度均≤0.02mm,所述V形槽(31)角度为90
°
,所述V形槽(31)的长边与水平方向夹角为45
°
,所述V形槽(31)的短边与水平方向夹角也为45
°
,所述V形槽(31)底部有一凹槽(32)。4.根据权利要求1所述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:所述后挡块(5)为方形,所述后挡块(5)焊接于置样台(3)的V形槽(31)处,所述后挡块(5)沿其厚度方向部分嵌入V形槽(31)内。5.根据权利要求4所述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:所述前挡块(6)为圆柱形,所述前挡块(6)的一个面中心带有内螺纹孔(61),所述固定螺栓(7)的一端螺纹连接在内螺纹孔(61)上。6.根据权利要求1所述的一种V形缺口试样粗糙度测量工装,其特征在于:所述基座(1)为一平板。7.根...
【专利技术属性】
技术研发人员:周妍,俞敏,许红梅,李传良,
申请(专利权)人:江苏集萃碳纤维及复合材料应用技术研究院有限公司,
类型:发明
国别省市:
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