双通道自动化测试设备制造技术

本发明专利技术涉及自动测试设备技术领域，公开了一种双通道自动化测试设备，包括通用仪器、控制机箱和模块夹具，所述控制机箱包括开关模块、电源供电及通信控制电路，所述开关模块分别连接所述通用仪器、模块夹具、电源供电及通信控制电路，所述电源供电及通信控制电路还连接所述模块夹具和通用仪器，所述电源供电及通信控制电路还连接交互式界面计算机，所述模块夹具用于承载并连接被测模块。本发明专利技术提供的双通道自动化测试设备，采用相互连接的通用仪器、控制机箱和模块夹具自动运行测试，自动输出报表，结构简单，便于搭建测试，省时省力。省时省力。省时省力。

【技术实现步骤摘要】
双通道自动化测试设备


[0001]本专利技术涉及自动测试设备
，特别涉及一种双通道自动化测试设备。

技术介绍

[0002]目前关于接收机测试方法主要为手动测试，其测试的方法相当繁琐，部分测试内容在不同条件下也需要重复测试。甚至于批量生产时，需要投入大量的人力物力，费时费力。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供了一种双通道自动化测试设备，采用相互连接的通用仪器、控制机箱和模块夹具自动运行测试，自动输出报表，结构简单，便于搭建测试，省时省力。
[0004]本专利技术提供了一种双通道自动化测试设备，包括通用仪器、控制机箱和模块夹具，所述控制机箱包括开关模块、电源供电及通信控制电路，所述开关模块分别连接所述通用仪器、模块夹具、电源供电及通信控制电路，所述电源供电及通信控制电路还连接所述模块夹具和通用仪器，所述电源供电及通信控制电路还连接交互式界面计算机，所述模块夹具用于承载并连接被测模块；
[0005]所述电源供电及通信控制电路包括MCU、FPGA、交换机模块、电源\控制模块和电源模块，所述MCU分别连接所述交换机模块、FPGA、电源\控制模块，所述电源\控制模块分别连接所述电源模块、FPGA，FPGA连接模块夹具，用于进行开关逻辑控制，所述交换机模块连接所述通用仪器和交互式界面计算机；
[0006]所述控制机箱提供被测模块所需要的射频测试信号、低频控制信号、电源，并通过射频开关模组实现各种信号方向的控制，配合所述通用仪器以实现各电性能指标的自动测试、数据收集和分析。/>[0007]进一步地，所述开关模块具有多个输入输出接口，包括S_RF、S_IF、RFIN、OUT2、OUT1、CLK、IF1中频输入、IF2中频输入、RF1射频输出、RF2射频输出；所述模块夹具具有多个输入输出接口，包括IF1、IF2、CON、RF1、RF2、CLK；
[0008]所述开关模块的S_RF、S_IF口用于连接所述网络分析仪，所述开关模块的RFIN口用于连接所述信号源，所述开关模块的OUT2口用于连接所述频谱仪，所述开关模块的OUT1口用于连接峰值功率计，所述开关模块的CLK口用于连接所述模块夹具的CLK口，所述开关模块的IF1中频输入口连接所述模块夹具的IF1口，所述开关模块的IF2中频输入口连接所述模块夹具的IF2口，所述开关模块的RF1射频输出口连接所述模块夹具的RF2口，所述开关模块的RF2射频输出口连接所述模块夹具的RF1口，所述模块夹具的CON口连接FPGA。
[0009]进一步地，所述模块夹具还包括射频电缆引出口IF1、IF2，所述被测模块具有IF1口、IF2口，所述被测模块的IF1口连接所述模块夹具的射频电缆引出口IF1，所述被测模块的IF2口连接所述模块夹具的射频电缆引出口IF2。
[0010]进一步地，所述通用仪器包括网络分析仪、信号源、频谱仪和峰值功率计，所述网
络分析仪完成所述被测模块输出输入口的驻波测量，并通过所述开关模块实现通道切换；所述信号源通过开关模块切换RF1、RF2产生射频测试信号；所述频谱仪通过开关模块选择IF1、IF2中频信号输入至频谱仪以完成中频幅度测量；所述峰值功率计用于观察脉下工作状态。
[0011]进一步地，测试所需的电源由所述控制机箱内电源模块产生，并完成电流采样和开关控制，所述被测模块电源电压从夹具端口采样；交互式界面程序在交互式界面计算机中运行，通过网络交换机与通用仪器互联通信，开关模块中通道切换控制与电源控制通过机箱后串口实现通信。
[0012]进一步地，所述开关模块包括：
[0013]芯片D1的第一引脚连接电容C1的一端、电阻R2的一端，电容C1的另一端连接电阻R2的另一端并接地，芯片D1的第五引脚连接电阻R36的一端，电阻R36的另一端接地，芯片D1的第十四引脚连接电容C3的一端、电容C2的一端，电容C3的另一端连接电容C2的另一端并接地；
[0014]芯片U1的第一引脚连接电容C127的一端、芯片U1的第三引脚、电容C258的一端、电容C259的一端、电容C260的一端、电阻R1的一端，电容C127的另一端接地，电阻R1的另一端连接芯片U1的第二引脚和第四引脚，电容C258的另一端连接电容C259的另一端、电容C260的另一端、电容C111的一端、电容C112的一端、电容C97的一端、电容C98的一端并接地，电容C111的另一端连接电感T3的一端、芯片U1的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，电感T3的另一端连接电容C112的另一端、电容C97的另一端、电容C98的另一端、和芯片Y1的第十四引脚，芯片Y1的第八引脚连接电容C99的一端、电容C99的另一端连接电阻R89的一端、电阻R87的一端，电阻R89的另一端连接电阻R90的一端并接地，电阻R90的另一端连接电阻R87的另一端、电容C136的一端和SX1，电容C136的另一端连接电阻R66的一端，电阻R66的另一端连接二极管D7的一端，二极管D7的另一端连接电阻R65的一端和电容C135的一端，电容C135的另一端连接电容R65的另一端并接地；
[0015]芯片U3的第一引脚连接电容C29的一端，电容C29的另一端连接电容C28的一端并接地，电容C28的另一端连接芯片U3的第二引脚，芯片U3的第四引脚连接电容C43的一端，电容C43的另一端连接SX4，芯片U3的第八引脚连接电容C26的一端，电容C26的另一端连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端接地，芯片U3的第五引脚连接电容C44的一端，电容C44的另一端连接电容C45的一端，电容C45的另一端连接芯片U6的第三引脚；
[0016]芯片U6的第一引脚连接电容C19的一端，电容C19的另一端连接电容C18的一端并接地，电容C18的另一端连接芯片U6的第二引脚，芯片U6的第八引脚连接电容C32的一端，电容C32的另一端连接电阻R4的一端，电阻R4的另一端接地，芯片U6的第五引脚连接电容C48的一端，电容C48的另一端连接电容C49的一端，电容C49的另一端连接芯片U8的第八引脚；
[0017]芯片U8的第五引脚连接电容C55的一端，电容C55的另一端连接电容C73的一端，电容C73的另一端连接芯片U14的第五引脚，芯片U8的第一引脚连接电容C33的一端、电容C14的一端，电容C33的另一端连接电容C14的另一端并接地，芯片U8的第二引脚连接电容C34的一端、电容C15的一端，电容C34的另一端连接电容C15的另一端并接地，芯片U8的第三引脚连接电容C54的一端，电容C54的另一端连接电容C50的一端，电容C50的另一端连接芯片U4的第五引脚；
[0018]芯片U4的第八引脚连接电容C36的一端，电容C36的另一端连接SX2，芯片U4的第一引脚连接电容C30的一端、电容C13的一端，电容C30的另一端连接电容C13的另一端并接地，芯片U4的第二引脚连接电容C24的一端、电容C10的一端，电容C24的另一端连接电容C10的另一端并接地，芯片U4的第三引脚连接电容C46的一端，电容本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种双通道自动化测试设备，其特征在于，包括通用仪器、控制机箱和模块夹具，所述控制机箱包括开关模块、电源供电及通信控制电路，所述开关模块分别连接所述通用仪器、模块夹具、电源供电及通信控制电路，所述电源供电及通信控制电路还连接所述模块夹具和通用仪器，所述电源供电及通信控制电路还连接交互式界面计算机，所述模块夹具用于承载并连接被测模块；所述电源供电及通信控制电路包括MCU、FPGA、交换机模块、电源\控制模块和电源模块，所述MCU分别连接所述交换机模块、FPGA、电源\控制模块，所述电源\控制模块分别连接所述电源模块、FPGA，FPGA连接模块夹具，用于进行开关逻辑控制，所述交换机模块连接所述通用仪器和交互式界面计算机；所述控制机箱提供被测模块所需要的射频测试信号、低频控制信号、电源，并通过射频开关模组实现各种信号方向的控制，配合所述通用仪器以实现各电性能指标的自动测试、数据收集和分析。2.根据权利要求1所述的双通道自动化测试设备，其特征在于，所述开关模块具有多个输入输出接口，包括S_RF、S_IF、RFIN、OUT2、OUT1、CLK、IF1中频输入、IF2中频输入、RF1射频输出、RF2射频输出；所述模块夹具具有多个输入输出接口，包括IF1、IF2、CON、RF1、RF2、CLK；所述开关模块的S_RF、S_IF口用于连接所述网络分析仪，所述开关模块的RFIN口用于连接所述信号源，所述开关模块的OUT2口用于连接所述频谱仪，所述开关模块的OUT1口用于连接峰值功率计，所述开关模块的CLK口用于连接所述模块夹具的CLK口，所述开关模块的IF1中频输入口连接所述模块夹具的IF1口，所述开关模块的IF2中频输入口连接所述模块夹具的IF2口，所述开关模块的RF1射频输出口连接所述模块夹具的RF2口，所述开关模块的RF2射频输出口连接所述模块夹具的RF1口，所述模块夹具的CON口连接FPGA。3.根据权利要求2所述的双通道自动化测试设备，其特征在于，所述模块夹具还包括射频电缆引出口IF1、IF2，所述被测模块具有IF1口、IF2口，所述被测模块的IF1口连接所述模块夹具的射频电缆引出口IF1，所述被测模块的IF2口连接所述模块夹具的射频电缆引出口IF2。4.根据权利要求3所述的双通道自动化测试设备，其特征在于，所述通用仪器包括网络分析仪、信号源、频谱仪和峰值功率计，所述网络分析仪完成所述被测模块输出输入口的驻波测量，并通过所述开关模块实现通道切换；所述信号源通过开关模块切换RF1、RF2产生射频测试信号；所述频谱仪通过开关模块选择IF1、IF2中频信号输入至频谱仪以完成中频幅度测量；所述峰值功率计用于观察脉下工作状态。5.根据权利要求3所述的双通道自动化测试设备，其特征在于，测试所需的电源由所述控制机箱内电源模块产生，并完成电流采样和开关控制，所述被测模块电源电压从夹具端口采样；交互式界面程序在交互式界面计算机中运行，通过网络交换机与通用仪器互联通信，开关模块中通道切换控制与电源控制通过机箱后串口实现通信。6.根据权利要求1所述的双通道自动化测试设备，其特征在于，所述开关模块包括：芯片D1的第一引脚连接电容C1的一端、电阻R2的一端，电容C1的另一端连接电阻R2的另一端并接地，芯片D1的第五引脚连接电阻R36的一端，电阻R36的另一端接地，芯片D1的第十四引脚连接电容C3的一端、电容C2的一端，电容C3的另一端连接电容C2的另一端并接地；
芯片U1的第一引脚连接电容C127的一端、芯片U1的第三引脚、电容C258的一端、电容C259的一端、电容C260的一端、电阻R1的一端，电容C127的另一端接地，电阻R1的另一端连接芯片U1的第二引脚和第四引脚，电容C258的另一端连接电容C259的另一端、电容C260的另一端、电容C111的一端、电容C112的一端、电容C97的一端、电容C98的一端并接地，电容C111的另一端连接电感T3的一端、芯片U1的第五引脚、第六引脚、第七引脚、第八引脚，电感T3的另一端连接电容C112的另一端、电容C97的另一端、电容C98的另一端、和芯片Y1的第十四引脚，芯片Y1的第八引脚连接电容C99的一端、电容C99的另一端连接电阻R89的一端、电阻R87的一端，电阻R89的另一端连接电阻R90的一端并接地，电阻R90的另一端连接电阻R87的另一端、电容C136的一端和SX1，电容C136的另一端连接电阻R66的一端，电阻R66的另一端连接二极管D7的一端，二极管D7的另一端连接电阻R65的一端和电容C135的一端，电容C135的另一端连接电容R65的另一端并接地；芯片U3的第一引脚连接电容C29的一端，电容C29的另一端连接电容C28的一端并接地，电容C28的另一端连接芯片U3的第二引脚，芯片U3的第四引脚连接电容C43的一端，电容C43的另一端连接SX4，芯片U3的第八引脚连接电容C26的一端，电容C26的另一端连接电阻R3的一端，电阻R3的另一端接地，芯片U3的第五引脚连接电容C44的一端，电容C44的另一端连接电容C45的一端，电容C45的另一端连接芯片U6的第三引脚；芯片U6的第一引脚连接电容C19的一端，电容C19的另一端连接电容C18的一端并接...

【专利技术属性】
技术研发人员：黄茜，杨丹鹏，
申请(专利权)人：四川中科微芯电子有限公司，
类型：发明
国别省市：